专利名称：参数数据测试方法
技术领域：
本发明涉及一种参数数据测试技术，详而言之，涉及一种可得知基 板管理控制器对用于储存参数数据的储存单元读写正确性及读取稳定 性的参数数据测试方法。
背景技术：
目前应用于服务器的基板管理控制器(Baseboard Management Controller; BMC)的参数数据分别储存于各种可替换式硬件组件单元 (Field Replaceable Unit, FRU)及SDR (Sensor Data Record)式内存单元，而该参数数据对基板管理控制器来说具有相当的重要性，当服务 器在休眠或关机的状态下，可通过该参数数据协助基板管理控制器继续 进行工作，例如远程信息的接收、服务器内部信号传递等等，让服务器 在休眠或关机状态下还可以进行部份工作，不因服务器进入休眠或关机 状态而闲置。
由于目前的服务器制造商在基板管理控制器的各种可替换式硬件 组件单元(Field Replaceable Unit, FRU)及SDR (Sensor Data Record)式内存单元在各种平台的开发上，有可能无法百分之百完全无误的写入 参数数据或将该参数数据稳定的读出，若参数数据无法正确在各种可替 换式硬件组件单元(Field Replaceable Unit, FRU)及SDR (Sensor Data Record)式内存单元进行稳定的读写，则会使该基板管理控制器在工作 时读取到错误的参数数据，而以读取到错误的参数数据进行工作时，也 有可能使服务器运作不稳或是停机，进而产生客诉问题，故对于服务器 制造商的商品形象及口碑影响相当大。
因此，如何提供一种参数数据读写是否正确及稳定的测试方法，实为业界亟待解决的问题。
发明内容
鉴于上述现有技术的缺点，本发明主要目的在于提供一种对参数数 据的读写测试是否正确及稳定的参数数据测试方法。
为达上述的目的，本发明提供一种参数数据测试方法，应用于具有 基板管理控制器、参数数据储存单元以及缓存单元的计算机装置，该参 数数据测试方法包括以下步骤(1)令该基板管理控制器将储存于该参 数数据储存单元内的参数数据读出，且将该参数数据传送至该缓存单元 储存；(2)令该基板管理控制器清除该参数数据储存单元内的参数数 据；(3)令该基板管理控制器自该缓存单元读出该参数数据，并将该参 数数据重新写入该参数数据储存单元；以及(4)令该基板管理控制器 对比该参数数据储存单元与该缓存单元内的参数数据是否相符。
另该参数数据测试方法还包括输入循环数值，若该计算机装置执行 该步骤(1)至步骤(4)的次数未达该循环数值，则重还执行该步骤(1) 至步骤(4);若执行该步骤(1)至步骤(4)的次数已达该循环数值则 结束该参数数据测试方法。
在上述步骤(1)中，该缓存单元所提供的储存空间至少等于用于 储存该参数数据的大小，或者该缓存单元所提供的储存空间可等于或大 于该参数数据储存单元所提供的储存空间。
上述步骤(2)中，该清除方式是以电性抹除或填00h、 FFh方式清 除该参数数据储存单元内的参数数据。
上述步骤(4)中，对比该参数数据储存单元与该缓存单元的参数 数据的长度大小及内容是否一致，且将对比后的数据信息记录并输出， 以供查询。
本发明的参数数据测试方法的另一实施例中，在执行该步骤(1) 至步骤(4)的次数已达该循环数值时，则输出对比后数据信息，而该 数据信息是指该参数数据储存单元与该缓存单元内的参数数据对比一致及对比不一致的比值。
综上所述，本发明的参数数据测试方法，用于判断参数数据储存单 元读写参数数据是否正确及稳定，以确保基板管理控制器将参数数据在 该参数数据储存单元进行读写的正确性以及稳定性。
图1为运作本发明的参数数据测试方法的系统架构方块示意图；以及
图2为本发明的参数数据测试方法的流程示意图。
1 计算机装置
11 基板管理控制器
12 参数数据储存单元
13 缓存单元
S1 S8 步骤
具体实施例方式
以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员 可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其它优点与功效。
请参阅图1，其为运作本发明的参数数据测试方法的系统架构方块示意图，如图所示，该测试方法应用于计算机装置1，该计算机装置1包含有基板管理控制器(Baseboard Management Controller, BMC) 11、 参数数据储存单元12以及缓存单元13，其中，该参数数据储存单元12 是由各种可替换式硬件组件单元(Field Replaceable Unit, FRU) 121及 SDR (Sensor Data Record)式内存单元122所组成，而该缓存单元13 是可为电性抹除式可程序化只读存储器(EEPROM)或闪存(Flash RAM) 等内存。
该基板管理控制器11工作所需的参数数据储存于该参数数据储存单元12，因此，为了确保该基板管理控制器11由该参数数据储存单元 12读写出的参数数据完全正确及稳定，故利用测试程序对该基板管理控制器11至该参数数据储存单元12读写所需的参数数据是否正确及稳定 进行测试，且使用缓存单元i3配合测试，将读出的参数数据储存于该缓存单元13，以确保该参数数据自该参数数据储存单元12读写不会产 生错误。
该测试程序令该基板管理控制器11将储存于该参数数据储存单元 12内的参数数据读出且传送至该缓存单元13储存，该缓存单元13所提 供的储存空间至少需等于可用于储存该参数数据的大小，或者该缓存单元13所提供的储存空间可等于或大于该参数数据储存单元12所提供的储存空间，供储存该参数数据内容，该基板管理控制器11则以电性抹 除或填00h、FFh方式清除原先储存于该参数数据储存单元12的参数数据，再自该缓存单元13读出储存的参数数据，并重新写入该参数数据储存单元12，且令该基板管理控制器11对比该参数数据储存单元12与 该缓存单元13内的参数数据长度大小及内容是否相同，以确认该参数数据无误。
请参阅图2并配合参考图1，图2为本发明的参数数据测试方法的流程示意图，如图所示，该参数数据测试方法应用于计算机装置1，该 计算机装置1具有基板管理控制器11、参数数据储存单元12以及缓存 单元13,该计算机装置1执行本发明的参数数据测试方法包括下列步骤
首先在该步骤Sl中，输入循环数值n，例如输入循环数值n为6，该循环数值n用于增加测试的精确度，可依精确度需求增减该循环数值 n，接着进至步骤S2。
在该步骤S2中，判断该循环数值n是否等于零，若是，则进至步骤S8;若否，则进至步骤S3。
在该步骤S3中，令该基板管理控制器11将储存于该参数数据储存单元12内的参数数据读出，且将该所读取的参数数据储存至该缓存单
元13，接着进至步骤S4。
在该步骤S4中，令该基板管理控制器11以电性抹除或填00h、 FFh 方式清除该参数数据储存单元12内的参数数据，接着进至步骤S5。
在该步骤S5中，令该基板管理控制器11自该缓存单元13读取该 参数数据，并将该参数数据重新写入该参数数据储存单元12,接着进至 步骤S6。
在该步骤S6中，令该基板管理控制器11对比该参数数据储存单元 12与该缓存单元13内的参数数据长度大小及内容是否一致，并记录对 比的结果，也即，若对比结果为一致，则表示该参数数据储存单元12 对于参数数据的读写正确，且记录该对比结果为正确；反之，若对比结 果为不一致，则表示该参数数据储存单元12对于参数数据的读写错误， 且记录该对比结果为错误，接着进至步骤S7。
在该步骤S7中，递减该循环数值n，也即设定循环数值n二 (循环 数值n-l)，例如该循环数值n若为6时，在执行该步骤S7后，即变为 5，且返回步骤S2，直到该循环数值n等于零为止。
在该步骤S8中，将对比后的结果予以显示，并结束测试程序。在 本实施例中，所显示的对比结果是例如正确及错误的比值，由此可供测 试者可参考该输出的正确及错误比值大小，作为该参数数据储存单元12 对于参数数据的读写正确性的判断。
在本实施例中，所输入的循环数值n为6，测试程序判断该循环数 值6是否等于零，若否，则该测试程序重复执行步骤S2至S7，每当循 环执行完一次，该循环数值n则会递减.l，直到该循环数值n符合步骤 S2的条件，则执行步骤S8将对比后的正确及错误结果的比值输出给测 试者知道并结束测试程序，且该循环数值则视测试者欲想的测试次数而 定，以确保该参数数据储存单元12对于参数数据的经过多次的读写同 样正确无误，进而不会影响到基板管理控制器的运作，此外，而该循环 数值n的循环判断模式则依测试者的需求而有不同的实施方式，例如， 可修改步骤S1、步骤S2及步骤S7 (在此未示出)，具体而言，在该歩骤Sl中新增设定参数值m，且设定该参数值m为零，执行步骤S3至 S6后，将步骤S7改为递增该参数值m，也即设定该参数值m二 (参数 值m+l )，且将该步骤S2改为判断该参数值m与循环数值n是否相等， 右氺目寺则近王2J^求S8，右不氺日寺则狩5头近灯EI^衆S3芏S/，且到该麥效 值m与循环数值n相等为止，也即，端视循环判断需求而有不同的设计 方式，故在此不再详细叙述。
因此，本发明的参数数据测试方法是利用测试程序对基板管理控制 器(BMC)参数数据读写至参数数据储存单元的正确性及稳定性进行测 试，测试结束产生测试报告，以依据该测试报告得知该基板管理控制器 (BMC)对该参数数据储存单元12的读写正确性及读取稳定性。
上述的实施例仅为例示性说明本发明的特点及其功效，而非用于限 制本发明的实质技术内容的范围。任何本领域技术人员均可在不违背本 发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰与变化。因此，本发明的 权利保护范围，应如后述的权利要求范围所列。
权利要求
1.一种参数数据测试方法，应用于具有基板管理控制器、参数数据储存单元以及缓存单元的计算机装置，该数据参数测试方法包括以下步骤(1)令该基板管理控制器将储存于该参数数据储存单元内的参数数据读出，且将该参数数据传送至该缓存单元储存；(2)令该基板管理控制器清除该参数数据储存单元内的参数数据；(3)令该基板管理控制器自该缓存单元读出该参数数据，并将该参数数据重新写入该参数数据储存单元；以及(4)令该基板管理控制器对比该参数数据储存单元与该缓存单元内的参数数据是否一致。
2. 根据权利要求1所述的参数数据测试方法，该方法还包括输入循 环数值，若该计算机装置执行该步骤(1)至步骤(4)的次数未达该循 环数值，则重还执行该步骤(1)至步骤(4);若执行该步骤(1)至步 骤(4)的次数已达该循环数值则结束该参数数据测试方法。
3. 根据权利要求1所述的参数数据测试方法，其中，该缓存单元所 提供的储存空间至少等于可用于储存该参数数据的大小。
4. 根据权利要求1所述的参数数据测试方法，其中，该缓存单元所 提供的储存空间等于该参数数据储存单元所提供的储存空间。
5. 根据权利要求1所述的参数数据测试方法，其中，该缓存单元所 提供的储存空间大于该参数数据储存单元所提供的储存空间。
6. 根据权利要求1所述的参数数据测试方法，其中，在该步骤(2)中，该清除方式是以电性抹除或填00h、 FFh方式清除该参数数据储存 单元内的参数数据。
7. 根据权利要求1所述的参数数据测试方法，其中，在该步骤(4) 中，对比该参数数据储存单元与该缓存单元的参数数据的长度大小及内 容是否一致。
8. 根据权利要求1所述的参数数据测试方法，该方法还包括将对比 后的数据信息记录并输出。
9.根据权利要求2所述的参数数据测试方法，其中，在执行该步骤 (1)至步骤(4)的次数已达该循环数值时，输出对比后数据信息，而 该数据信息是指该参数数据储存单元与该缓存单元内的参数数据对比 一致及对比不一致的比值。
全文摘要
一种参数数据测试方法，应用于具有基板管理控制器、参数数据储存单元以及缓存单元的计算机装置，其主要由基板管理控制器将储存于参数数据储存单元内的参数数据读出，并传送至缓存单元储存，且清除该参数数据储存单元内的参数数据，再将暂存于该缓存单元的参数数据读出并重新写入参数数据储存单元，以对比该参数数据储存单元与该缓存单元内的参数数据是否一致，由此达到测试该参数数据读写是否正确的目的。
文档编号G06F11/22GK101201780SQ20061016942
公开日2008年6月18日 申请日期2006年12月14日 优先权日2006年12月14日
发明者林大华 申请人:英业达股份有限公司