专利名称：一种内存电压调节方法以及计算机主板的制作方法
技术领域：
本发明涉及计算枳Z页域，特别是指内存电压调节方法以及计算机主板。
背景技术：
在计算机的硬件标准配置中，主板和内存以及CPU是计算机中最重要的 部件，然而，主板、内存和CPU常常是由不同的生产厂商来生产，要想让一 台计算机稳定而高效的运行，除了对CPU有比较高的要求外，主板与内存的
兼容性问题也是一个不容忽视的问题，在实际使用中，也常常遇到由于主板和 内存的不兼容而导致计算机死机或者蓝屏的现象，这给用户带来极大不便。因 此，计算机厂商在组装计算机之前，必须要对主板和内存进行兼容性测试，由 于内存是直接插在主板的内存插槽中，由主板提供电源，内存才能工作，因此， 内存和主板的兼容性问题主要表现在主板对内存所提供的工作电压和参考电 压能不能使内存正常而稳定的运行。
目前的主板为内存所提供的工作电压(VCC_DDR)是固定的，为内存所 提供的参考电压(VDDR—REF)也是固定的，而且VDDR—REF为VCC_DDR 的一半，如图l所示，上述VDDR—REF和VCC一DDR的关系由相互串联的两 个分压电阻构成，这种情况下，经过测试，如果出现主板和内存的不兼容，可 以对工作电压和参考电压调高或者调低一些，就可以使计算机系统正常运行， 图1所示的方案在调节工作电压和参考电压时，必须对分压电阻进行更换，焊 上更合适的分压电阻使工作电压和参考电压得到一定程度上的调节，再重新进 行测试，这种操作太过复杂，使内存工作电压和参考电压调节起来不方便，而 且也做不到高精度微动调节内存供电电压，而且低效率、长时间的测试工作造 成工时的浪费，让人无法忍受。
因此，有的计算机厂商干脆直接对主板和内存进行测试，发现有不兼容的现象，就将与主板不兼容的内存淘汰下来，将该内存和其他的主板重新配合测 试，试图通过不同的配合方式来避免问题的发生，对于计算机厂商对计算机的 批量生产来说，这显然不是一个科学有效的方法。
发明内容
本发明的实施例提供一种内存电压调节方法以及计算机主板，解决计算机 的主板的内存电压调节不方便的问题。
为解决上述技术问题，本发明的实施例提供一种内存电压调节方法，包括 如下步骤
获取并输出内存的标准工作电压和标准参考电压；
以所述内存的标准工作电压为输入电压，对所述输入电压调节后产生多个 浮动工作电压，并输出所述多个浮动工作电压；
以所述内存的标准参考电压为输入电压，对所述输入电压调节后产生多个 浮动参考电压，并输出所述多个浮动参考电压。
优选的，上述对所述输入电压调节后产生多个浮动工作电压的步骤具体
为
对所述输入电压按照指令Vo_init + Nx Vo一step调节后产生多个浮动工作 电压；其中，所述Vo—init为所述内存的标准工作电压，N为整数，Vo—step为 电压调整步长；
对所述输入电压调节后产生多个浮动参考电压的步骤具体为 对所述输入电压按照指令Vf一init + K x Vf_step调节后产生多个浮动参考
电压；其中，所述Vf—init为所述内存的标准参考电压，K为整数，Vf一step为
电压调整步长。
优选的，上述方法还包括如下步骤
获取所述多个浮动工作电压和所述多个浮动参考电压；
以所述标准工作电压和所述多个浮动工作电压为行/列，以所述标准参考
电压和所述多个浮动参考电压为列/行，形成一个测试矩阵，对所述测试矩阵
中的每一个元素所对应的一对工作电压和参考电压进行内存兼容性测试，形成测试结果矩阵A;
在所述测试结果矩阵A中，获取主板与内存兼容的一对工作电压和参考 电压，并将所述获取的工作电压设置为内存的实际工作电压，将所述荻取的参 考电压设置为内存的实际参考电压。
优选的，上述在所述测试结果矩阵A中，获取主板与内存兼容的一对工 作电压和参考电压的步骤之后还包括
将所述获取的一对工作电压和参考电压保存在所述主板的芯片中。
优选的，上述所述在所述测试结果矩阵A中，获取主板与内存兼容的一 对工作电压和参考电压，并将所述获取的工作电压设置为内存的实际工作电 压，将所述获取的参考电压设置为内存的实际参考电压的步骤具体为
在所述测试结果矩阵A中，选取一个m行x n列的子测试结果矩阵B, 其中m、 n为大于1的奇数；
判断所述子测试结果矩阵B中的元素Bu、 Bln、 Bml、 B加分别对应的一 对工作电压和参考电压是否均为主板与内存兼容的一对工作电压和参考电压；
若是，则将所述子测试结果矩阵B的对称中心对应的一对工作电压和参 考电压分别设置为内存的实际工作电压和实际参考电压。
优选的，上述在所述测试结果矩阵A中，选取一个m行xn列的子测试 结果矩阵B的步骤具体为
在所述测试结果矩阵A中，以所述内存的标准工作电压和标准参考电压 为对称中心选取一个m行x n列的子测试结果矩阵B。
优选的，上述将所述获取的工作电压设置为内存的实际工作电压，将所述 获取的参考电压设置为内存的实际参考电压的步骤具体为
通过所述主板上的串行输入/输出接口或者并行输入/输出接口将所述获取
的工作电压设置为内存的实际工作电压，将所述获:f又的参考电压设置为内存的 实际参考电压。
为解决上述技术问题，还提供一种计算机主板，包括
内存电压输出模块，用于输出内存的实际工作电压和实际参考电压；
初始化模块，用于初始化所述内存电压输出模块，使所述内存电压输出模块分别^r出内存的标准工作电压和标准参考电压；
内存标准工作电压调节模块，用于以所述内存的标准工作电压为输入电 压，对所述输入电压调节后产生多个浮动工作电压，并输出所述多个浮动工作
电压；
内存标准参考电压调节模块，用于以所述内存的标准参考电压为输入电 压，对所述输入电压调节后产生多个浮动参考电压，并输出所述多个浮动参考 电压。
优选的，上述计算机主板还包括
工作电压指令产生才莫块，用于产生指令Vo一init + Nx Vo一step，并将该指 令传输给所述内存标准工作电压调节模块，使所述内存标准工作电压调节模块 对所述输入电压按照指令Vo一init + N x Vo一step调节后产生多个浮动工作电压； 其中，所述Vo—init为所述内存的标准工作电压，N为整数，Vo一step为电压调 整步长；
参考电压指令产生模块，用于产生指令Vf一init + Kx Vf一step,并将该指 令传输给所述内存标准参考电压调节模块，使所述内存标准参考电压调节模块 对所述输入电压按照指令Vfjnit + Kx Vf一step调节后产生多个浮动参考电压； 其中，所述Vfjnit为所述内存的标准参考电压，K为整数，Vf—step为电压调 整步长。
优选的，上述计算机主板还包括
测试结果矩阵形成模块，用于以所述标准工作电压和所述多个浮动工作电 压为行/列，以所述标准参考电压和所述多个浮动参考电压为列/行，形成一个 测试矩阵，对所述测试矩阵中的每一个元素所对应的一对工作电压和参考电压 进行内存兼容性测试，形成测试结果矩阵A;
获取模块，用于在所述测试结果矩阵A中，获取主板和内存兼容的一对 工作电压和参考电压，并将所述获取的工作电压和参考电压传输至所述内存电 压输出模块；
所述内存电压输出模块输出所述获取的工作电压和参考电压。 优选的，上述计算机主板还包括存储模块，用于将所述获取的一对工作电压和参考电压保存在所述主板的 芯片中。
优选的，上述计算机主板还包括
子测试结果矩阵形成模块，用于在所述测试结果矩阵A中，以所述内存 的标准工作电压和标准参考电压为对称中心选取一个m行xn列的子测试结 果矩阵B,其中m、 n为大于l的奇数；
判断冲莫块，用于判断所述子测试结果矩阵B中的元素Bll、 Bln、 Bml、 Bmn分别对应的一对工作电压和参考电压是否均为主板与内存兼容的一对工 作电压和参考电压，若是，则将所述子测试结果矩阵B的对称中心对应的一 对工作电压和参考电压分别设置为内存的实际工作电压和实际参考电压；若 否，则平移所述子测试结果矩阵B，并判断所述子测试结果矩阵B是否遍历所 述测试结果矩阵A,若否，则重新判断所述子测试结果矩阵B中的元素Bll、 Bln、 Bml、 Bmn分别对应的一对工作电压和参考电压是否均为主板与内存兼 容的一对工作电压和参考电压；若是，则认定所述主板与内存不兼容。
优选的，上述内存电压输出模块为所述主板上的串行输入/输出接口或者 并行输入/输出接口。
上述4支术方案通过对计算机主板的内存标准工作电压和内存标准参考电 压按照控制指令分别调节，在调节内存的工作电压或者参考电压时，无需对分 压电阻进行更换，使对内存电压的调节更加方便，而且对内存的标准工作电压 和标准参考电压进行调节后，形成多对工作电压和参考电压的组合，从中选取 一对主板和内存兼容的工作电压和参考电压作为内存的实际输出电压，从而解 决了主板和内存的兼容性问题，同时对工作电压和参考电压的调节可以由程序 来实现，提高了对主板和内存兼容性测试的效率。
图1为现有技术中内存的工作电压和参考电压的分压电路示意图； 图2为本发明的实施例计算机主板输出内存的工作电压和参考电压的电 路示意图；图3为本发明的实施例内存电压调节方法流程示意图4为图3所示方法中的测试结果矩阵A示意图5为内存的工作电压和参考电压影响内存的关键参数的效果示意图6为本发明的实施例计算机主板的结构示意图7为图6所示的计算机主板中的内存标准工作电压调节模块或者内存标 准参考电压调节模块的电路结构示意图8为图6所示的计算机主板中的内存标准工作电压调节模块或者内存标 准参考电压调节模块的另一种电路结构示意图。
具体实施例方式
为使本发明的实施例要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面 将结合附图及具体实施例进行详细描述。
本发明的实施例针对现有技术中内存的工作电压和参考电压不方便调节 以及计算机主板和内存存在的兼容性问题，提供一种内存电压调节方法以及一 种计算机主板。
如图2所示，为本发明的实施例计算机主板输出内存的工作电压 (VCC—DDR)和参考电压(VDDR—REF )的电路示意图，通过内存电压输出 模块的输入端口 (Port),向内存电压输出模块输入命令，使VCC一DDR的输 出电压按照命令的要求进行调整，也可以通过内存电压输出^^莫块的输入端口 (Port),向内存电压输出模块输入命令，使VDDR一REF的输出电压按照命令 的要求进行调整，也就是说，本发明的实施例中，通过Port能够控制内存电 压输出模块输出不同的工作电压和不同的参考电压，内存的工作电压和参考电 压是分别可调的，使内存工作电压和参考电压的调节更加方便，而且为解决主 板和内存的兼容性问题提供了关键的条件。
如图3所示，本发明的实施例内存电压调节方法包括如下步骤 步骤31、获取并输出内存的标准工作电压(Vo—init)和标准参考电压 (Vf—init);
步骤32、以内存的标准工作电压为输入电压，对输入电压调节后产生多个浮动工作电压，并输出该多个浮动工作电压；具体的，可以对输入电压按照 指令Vo—init + Nx Vo—step调节后产生多个浮动工作电压；其中，Vojnit为内 存的标准工作电压，N为整数，Vo_step为电压调整步长，较佳的，浮动工作 电压与标准工作电压相比，可上下浮动标准工作电压的10%,也可以#4居具 体情况灵活设置；
步骤33、以内存的标准参考电压为输入电压，对输入电压调节后产生多 个浮动参考电压，并输出该多个浮动工作电压；具体的，可以对输入电压按照 指令Vf—init + Kx Vf—step调节后产生多个浮动参考电压；其中，Vf—init为内 存的标准参考电压，K为整数，Vf—step为电压调整步长，较佳的，浮动工作 电压与标准工作电压相比，可上下浮动标准工作电压的10%,也可以根据具 体情况灵活设置。
上述方法通过输入控制指令，使内存的标准工作电压和标准参考电压按照 这些控制指令分别可调，在需要调节内存的标准工作电压或者标准参考电压 时，不需要更换分压电阻，就可以方便地实现对内存电压的调节。 上述图3所示的内存电压调节方法实施例中，还包括如下步骤 步骤34、以上述步骤31中的内存的标准工作电压和上述步骤32中的多 个浮动工作电压为行/列，以上述步骤31中的内存的标准参考电压和上述步骤 32中的多个浮动参考电压为列/行，形成一个测试矩阵，对所述测试矩阵中的 每一个元素所对应的一对工作电压和参考电压进行内存兼容性测试，形成测试 结果矩阵A;
步骤35、在测试结果矩阵A中，获取主板和内存兼容的一对工作电压和 参考电压；
步骤36、将步骤35中获取的工作电压和参考电压保存在计算机主板的芯 片中；
步骤37、将步骤36中获取的工作电压设置为内存的实际工作电压并输出， 将步骤36中获取的参考电压设置为内存的实际参考电压并输出。
上述方法中，在对内存的标准工作电压和标准参考电压调节后，经过内存 兼容性测试，形成一个测试结果矩阵A,在测试结果矩阵A中选取一对兼容性最优的内存的工作电压和参考电压，使计算机主板按照该对兼容性最优的工 作电压和参考电压输出，这样就避免了计算机主板和内存在使用过程中由于不 兼容而导致计算机死机或者蓝屏现象，解决了主板和内存的兼容性问题。
如图4所示，为上述步骤34中的测试结果矩阵A的示意图，在形成测试 结果矩阵A过程中，步骤32和步骤33是同时进行，在每得到一对浮动工作 电压和浮动参考电压时，内存电压输出模块就会输出这一对浮动工作电压和浮 动参考电压，并测试内存在这一对浮动工作电压和浮动参考电压下的兼容性， 如果测试结果是兼容的，则在该对浮动工作电压和浮动参考电压对应的方块内 增加相应的标记，如果测试结果是不兼容的，也在该对浮动工作电压和参考电 压对应的方块内增加相应的标记，最终形成测试结果矩阵A,当然最初在获取 标准工作电压和标准参考电压时，也要对标准工作电压和标准参考电压进行兼 容性测试。
从理论上讲，在形成测试结果矩阵A的过程中，步骤32和步骤33也可
以是不同步的，只要最终测试结果矩阵A中的每个元素所对应的一对工作电 压和参考电压都经过兼容性测试即可。
举例说明在上述测试结果矩阵A中选取兼容性最优的一对工作电压和参 考电压的过程，以内存的标准工作电压1.80V、标准参考电压0.900V为例， 按照上述命令Vo一init + N x Vo一step所产生的多个浮动工作电压分别为1.50V、 1.55V……2.10V,按照上述命令Vf—init + K x Vf—step所产生的多个浮动参考 电压分别为0.980V、 0.960V......0.820V;其中，标记"x"的方块表示没有
通过兼容性测试的工作电压和参考电压，标记"v7"的方块表示通过兼容性测 试的工作电压和参考电压，在该测试结果矩阵中，可以选取一对标记为"《" 的工作电压和参考电压，作为内存的调整电压，按照该调整后的电压值控制内 存的实际输出电压，就能保证主板与内存不会出现兼容性问题。
考虑到电源供电的不稳定性，内存的工作电压和参考电压常常需要一定的 余量范围，因此，上述步骤35具体为
1 )在所述测试结果矩阵A中，选取一个m行x n列的子测试结果矩阵B, 其中m、 n为大于l的奇数；优选的，为了提高兼容性测试效率，缩短测试时间，可以以内存的标准工作电压和标准参考电压为对称中心选耳又一个m行x n 列的子测试结果矩阵B;
2) 判断Bn、 Bln、 Bml、 Bmn分别对应的一对工作电压和参考电压是否均
为主板与内存兼容的一对工作电压和参考电压；
3) 若是，则将子测试结果矩阵B的对称中心对应的一对工作电压和参考 电压分别设置为内存的实际工作电压和实际参考电压，步骤结束；若否，则转 至步骤4);
4) 平移所述子测试结果矩阵B，并判断所述子测试结果矩阵B是否遍历 所述测试结果矩阵A，若否，则转向步骤2);若是，则认定所述主板与内存 不兼容。
也就是说，如果上述子测试结果矩阵B1的四个角上的工作电压和参考电 压组合都通过测试，则直接使用内存的标准工作电压和标准参考电压作为内存 的实际输出电压；
如果子测试结果矩阵B的四个角中有个别角的工作电压和参考电压组合 不能通过测试，如图4中的子测试结果矩阵B1中，包括有标记"x"的方块， 说明该子测试结果矩阵还存在兼容性问题，其对称中心(标记的方块) 所指明的工作电压和参考电压不能作为内存的实际工作电压和实际参考电压， 则平移该子测试结果矩阵B1，平移之后为子测试结果矩阵B2，再对子测试结 果矩阵B2的四个角进行判断，若四个角均标记为"《，，则以该子测试结果矩 阵B2的对称中心(如标记"V※"的方块)所指明的工作电压和参考电压作
为内存的实际工作电压和实际参考电压；
如果子测试结果矩阵B的四个角中有多个角的工作电压和参考电压组合 不能通过测试，说明该子测试结果矩阵中没有合适的工作电压和参考电压，直 接放弃该子测试结果矩阵中所有工作电压和参考电压的配合。
上述子测试结果矩阵B2中，其对称中心所对应的工作电压1.75V,参考 电压0.880V作为内存的实际调整电压时，还要保证工作电压在1.65V- 1.75V 以及1.75V- 1.85V之间，参考电压在0.900V 0.860V之间的任意组合都是兼 容的，当然对上述内存的工作电压或者参考电压所界定的余量范围并不以上述举例所限制，也可以有所变化，但也必须满足内存正常工作要求，如不能选取 高于标准工作电压太多的工作电压作为内存的调整工作电压，这样可能会烧毁 内存，也不能选取使内存信息传输失真的工作电压或者参考电压，因为内存本 身是一个数字芯片，调整内存的工作电压会影响到内存的高电平振铃容限和低 电平振铃容限，调整内存的参考电压即阈值电压，会影响内存的信号建立时间 和信号的保持时间，如图5所示，对内存的工作电压和参考电压的调整量必须 满足这四个参数的要求，也就是说，不合适的工作电压或参考电压的调整量如 果影响到这四个参数的其中之一，计算机就会死机或者蓝屏，兼容性测试就不 会通过。
上述步骤37中，可通过主板上的串行输入/输出接口或者并行输入/输出接 口输入调节标准工作电压或者标准参考电压所使用的控制命令，也可通过该串 行输入/输出接口或者并行输入/输出接口将最后获取的工作电压设置为内存的 实际工作电压输出，将最后获取的参考电压设置为内存的实际参考电压输出； 而该串行输入/输出接口或者并行输入/输出接口的源端可以与主板的芯片的输 出连接在一起，如可以与主板上的南桥芯片的输出连接在一起。
综上所述，本发明的实施例内存电压调节方法，通过使用电压调节控制命 令，使内存的工作电压和参考电压按照命令分别可调，不需要更换分压电阻， 使内存电压的调节更力口方便，在调节后的多对工作电压和参考电压中，寻找一 对兼容性较佳的工作电压和参考电压，保存到计算机主板的芯片中，并按照该 工作电压和参考电压设定和控制内存的实际输出电压，最大程度上保证了主板 和内存的兼容性，而且在上述方法中，按照控制命令调节内存的工作电压和参 考电压是可以由程序来实现的，因此相对于现有技术中的主板和内存的兼容性 测试方法，大大缩短了主板和内存兼容性测试的时间，提高了测试的效率。
如图6所示，还提供一种计算机主板，包括
内存电压输出模块，用于输出内存的实际工作电压和实际参考电压； 初始化模块，用于初始化内存电压输出模块，使内存电压输出模块分别输
出内存的标准工作电压和标准参考电压；
内存标准工作电压调节模块，用于以内存的标准工作电压为输入电压，对输入电压调节后产生多个浮动工作电压，并输出该多个浮动工作电压；
工作电压指令产生模块，用于产生指令Vo—init + Nx Vo—step,并将该指 令传输给内存标准工作电压调节模块，使内存标准工作电压调节模块对输入电 压按照Vo—init + N x Vo—step调节后产生多个浮动工作电压；其中，Vo—init为 内存的标准工作电压，N为整数，Vo_step为电压调整步长；
内存标准参考电压调节模块，用于以内存的标准参考电压为输入电压，对 输入电压调节后产生多个浮动参考电压，并输出该多个浮动参考电压；
参考电压指令产生模块，用于产生指令Vf—init + Kx Vf一step，并将该指 令传输给内存标准参考电压调节模块，使内存标准参考电压调节模块对输入电 压按照Vf—init + Kx Vf—step调节后产生多个浮动参考电压；其中，Vf一init为 内存的标准参考电压，K为整数，Vf一st印为电压调整步长；
测试结果矩阵形成模块，用于以标准工作电压和多个浮动工作电压为行/ 列，以标准参考电压和多个浮动参考电压为列/行，形成一个测试矩阵，对所 述测试矩阵中的每一个元素所对应的 一对工作电压和参考电压进行内存兼容 性测试，形成测试结果矩阵A;
获取模块，用于在测试结果矩阵A中，获取主板和内存兼容的一对工作 电压和参考电压，并将获取的工作电压和参考电压传输至内存电压输出模块，
由内存电压输出模块将获取的工作电压设置为内存的实际工作电压输出，将获 取的参考电压设置为内存的实际参考电压输出； 上述计算机主板还包括
存储模块，用于将获取的一对工作电压和参考电压保存在主板的芯片中。 子测试结果矩阵形成模块，用于在测试结果矩阵A中，以内存的标准工
作电压和标准参考电压为对称中心选取一个m行x n列的子测试结果矩阵B，
其中m、 n为大于1的奇数；
判断模块，用于判断子测试结果矩阵B中的元素Bll、 Bln、 Bml、 Bmn
分别对应的一对工作电压和参考电压是否均为主板与内存兼容的一对工作电 压和参考电压，若是，则将子测试结果矩阵B的对称中心对应的一对工作电 压和参考电压分别设置为内存的实际工作电压和实际参考电压；若否，则平移所述子测试结果矩阵B，并判断所述子测试结果矩阵B是否遍历所述测试结果矩阵A,若否，则重新判断所述子测试结果矩阵B中的元素Bll、 Bln、 Bml、Bmn分别对应的一对工作电压和参考电压是否均为主板与内存兼容的一对工作电压和参考电压；若是，则认定所述主板与内存不兼容。
优选的，上述内存电压输出模块为串行输入/输出接口或者并行输入/输出接口 ，该串行输入/输出接口或者并行输入/输出接口的源端可以与主板的芯片的输出连接在一起，如可以与主板上的南桥芯片的输出连接在一起。
另夕卜，上述内存标准工作电压调节模块可以由如图7所示的电路实现其中，V—in为输入的内存的标准工作电压，V一adj为内存标准工作电压调节模块对内存的标准工作电压的调节量，V一out为输出的浮动工作电压，R一0和RJ为专门设定的电阻，使用不同阻值的R一l,输出电压V—out将会不同；
当然上述内存标准参考电压调节模块也可以由如图7所示的电路实现此时，V—in为输入的内存的标准参考电压，V—out为输出的浮动参考电压。
即，为了实现在计算机的主板上对内存的工作电压和参考电压分别可调，可以在计算机的主板上，将内存标准工作电压调节模块和内存标准参考电压调节模块分别用如图7所示的电路代替。
上述内存标准工作电压调节模块或者内存标准参考电压调节模块也可以采用如图8所示的电路实现其中，R一l、 R—2、 R_3……R—n为专门设定的电阻，K_l、 K—2、 K_3......K—n为对应的电子开关，当对应的控制脚I一1、 1—2、
I一3......I一n为高电平时，控制开关会被打开，使对应的电阻接地，否则，对应
的电阻没有被接入电路，通过使用不同的I—1、 I一2、 1—3……1_11的组合，实现不同的V一out的输出。
图6所示计算机主板的实施例中，内存标准工作电压调节模块或内存标准参考电压调节模块在调节电压时，并不限于采用上述图7和图8所示的电路，也可以采用计算机能够控制的其他电路，达到由 一个输入电压得到多个不同输出电压的目的。
压调节模块输入控制命令，使内存的工作电压和参考电压按照命令分别可调，不需要更换分压电阻就可调节内存的标准工作电压和标准参考电压，方便了对内存电压的调节，在调节后的多对工作电压和参考电压中，寻找一对兼容性较佳的工作电压和参考电压，^:存到计算机主板的芯片中，并^^姿照该工作电压和参考电压设定和控制内存的实际输出电压，最大程度上保证了主板和内存的兼容性，而且在上述方法中，按照控制命令调节内存的工作电压和参考电压是可以由程序来实现的，因此相对于现有技术中的主板和内存的兼容性测试方法，大大缩短了主板和内存兼容性测试的时间，提高了测试的效率。
以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
权利要求
1.一种内存电压调节方法，其特征在于，包括如下步骤获取并输出内存的标准工作电压和标准参考电压；以所述内存的标准工作电压为输入电压，对所述输入电压调节后产生多个浮动工作电压，并输出所述多个浮动工作电压；以所述内存的标准参考电压为输入电压，对所述输入电压调节后产生多个浮动参考电压，并输出所述多个浮动参考电压。
2. 根据权利要求1所述的内存电压调节方法，其特征在于，对所述输入 电压调节后产生多个浮动工作电压的步骤具体为对所述输入电压按照指令Vojnit + N x Vo_step调节后产生多个浮动工作 电压；其中，所述Vo一init为所述内存的标准工作电压，N为整数，Vo_step为 电压调整步长；对所述输入电压调节后产生多个浮动参考电压的步骤具体为 对所述输入电压按照指令Vf_init + K x Vf一step调节后产生多个浮动参考电压；其中，所述Vf一init为所述内存的标准参考电压，K为整数，Vf_step为电压调整步长。
3. 根据权利要求1或2所述的内存电压调节方法，其特征在于，还包括 如下步骤获取所述多个浮动工作电压和所述多个浮动参考电压； 以所述标准工作电压和所述多个浮动工作电压为行/列，以所述标准参考 电压和所述多个浮动参考电压为列/行，形成一个测试矩阵，对所述测试矩阵 中的每一个元素所对应的一对工作电压和参考电压进行内存兼容性测试，形成 测试结果矩阵A;在所述测试结果矩阵A中，获取主板与内存兼容的一对工作电压和参考 电压，并将所述获取的工作电压设置为内存的实际工作电压，将所述获取的参 考电压设置为内存的实际参考电压。
4. 根据权利要求3所述的内存电压调节方法，其特征在于，在所述测试结果矩阵A中，获取主板与内存兼容的一对工作电压和参考电压的步骤之后 还包括将所述获取的一对工作电压和参考电压保存在所述主板的芯片中。
5. 根据权利要求3所述的内存电压调节方法，其特征在于，在所述测试 结果矩阵A中，获^^主板与内存兼容的一对工作电压和参考电压，并将所述 获取的工作电压设置为内存的实际工作电压，将所述获取的参考电压设置为内 存的实际参考电压的步骤具体为在所述测试结果矩阵A中，选取一个m行x n列的子测试结果矩阵B， 其中m、 n为大于1的奇数；判断所述子测试结果矩阵B中的元素B 、 Bln、 Bml、 Bmn分别对应的一 对工作电压和参考电压是否均为主板与内存兼容的一对工作电压和参考电压；若是，则将所述子测试结果矩阵B的对称中心对应的一对工作电压和参 考电压分别设置为内存的实际工作电压和实际参考电压。
6. 根据权利要求5所述的内存电压调节方法，其特征在于，在所述测试 结果矩阵A中，选取一个m行xn列的子测试结果矩阵B的步骤具体为在所述测试结果矩阵A中，以所述内存的标准工作电压和标准参考电压 为对称中心选耳又一个m 4亍x n列的子测试结果矩阵B。
7. 根据权利要求3所述的内存电压调节方法，其特征在于，将所述获取 的工作电压设置为内存的实际工作电压，将所述获取的参考电压设置为内存的 实际参考电压的步骤具体为通过所述主板上的串行输入/输出接口或者并行输入/输出接口将所述获取 的工作电压设置为内存的实际工作电压，将所述获取的参考电压设置为内存的 实际参考电压。
8. —种计算机主板，其特征在于，包括内存电压输出模块，用于输出内存的实际工作电压和实际参考电压； 初始化模块，用于初始化所述内存电压输出模块，使所述内存电压输出模 块分别输出内存的标准工作电压和标准参考电压；内存标准工作电压调节模块，用于以所述内存的标准工作电压为输入电压，对所述输入电压调节后产生多个浮动工作电压，并输出所述多个浮动工作电压；内存标准参考电压调节模块，用于以所述内存的标准参考电压为输入电 压，对所述输入电压调节后产生多个浮动参考电压，并输出所述多个浮动参考 电压。
9. 根据权利要求8所述的计算机主板，其特征在于，还包括 工作电压指令产生模块，用于产生指令Vo—init + Nx Vo—step,并将该指令传输给所述内存标准工作电压调节模块，使所述内存标准工作电压调节模块 对所述输入电压按照指令Vo一init + Nx Vo一step调节后产生多个浮动工作电压； 其中，所述Vo—init为所述内存的标准工作电压，N为整数，Vo—step为电压调 整步长；参考电压指令产生模块，用于产生指令Vf_init + Kx Vf—step,并将该指 令传输给所述内存标准参考电压调节模块，使所述内存标准参考电压调节^^块 对所述输入电压按照指令Vfjnit + K x Vf一step调节后产生多个浮动参考电压； 其中，所述Vf—init为所述内存的标准参考电压，K为整数，Vf—step为电压调 整步长。
10. 根据权利要求8或9所述的计算机主板，其特征在于，还包括 测试结果矩阵形成^f莫块，用于以所述标准工作电压和所述多个浮动工作电压为行/列，以所述标准参考电压和所述多个浮动参考电压为列/行，形成一个 测试矩阵，对所述测试矩阵中的每一个元素所对应的一对工作电压和参考电压 进行内存兼容性测试，形成测试结果矩阵A;获取^t块，用于在所述测试结果矩阵A中，获^F又主板和内存兼容的一对 工作电压和参考电压，并将所述获取的工作电压和参考电压传输至所述内存电 压输出模块；所述内存电压输出模块输出所述获取的工作电压和参考电压。
11. 根据权利要求10所述的计算机主板，其特征在于，还包括 存储模块，用于将所述获取的一对工作电压和参考电压保存在所述主板的芯片中。
12. 根据权利要求IO所述的计算机主板，其特征在于，还包括 子测试结果矩阵形成模块，用于在所述测试结果矩阵A中，以所述内存的标准工作电压和标准参考电压为对称中心选取一个m行xn列的子测试结 果矩阵B,其中m、 n为大于l的奇数；判断模块，用于判断所述子测试结果矩阵B中的元素Bll、 Bln、 Bml、 Bmn分别对应的 一对工作电压和参考电压是否均为主板与内存兼容的 一对工 作电压和参考电压，若是，则将所述子测试结果矩阵B的对称中心对应的一 对工作电压和参考电压分别设置为内存的实际工作电压和实际参考电压；若 否，则平移所述子测试结果矩阵B，并判断所述子测试结果矩阵B是否遍历所 述测试结果矩阵A,若否，则重新判断所述子测试结果矩阵B中的元素Bll、 Bln、 Bml、 Bmn分别对应的一对工作电压和参考电压是否均为主板与内存兼 容的一对工作电压和参考电压；若是，则认定所述主板与内存不兼容。
13. 根据权利要求10所述的计算机主板，其特征在于，所述内存电压输 出模块为所述主^1上的串行输入/输出接口或者并行输入/输出接口 。
全文摘要
本发明提供一种内存电压调节方法以及计算机主板，本发明的方法包括获取并输出内存的标准工作电压和标准参考电压；以所述内存的标准工作电压为输入电压，对所述输入电压调节后产生多个浮动工作电压，并输出所述多个浮动工作电压；以所述内存的标准参考电压为输入电压，对所述输入电压调节后产生多个浮动参考电压，并输出所述多个浮动参考电压。本发明在调节内存电压时，使内存的标准工作电压和标准参考电压分别可调，无需更换分压电阻，方便对内存电压的调节。
文档编号G06F1/26GK101551698SQ200810103108
公开日2009年10月7日 申请日期2008年3月31日 优先权日2008年3月31日
发明者陈英标 申请人:联想(北京)有限公司