1.一种导航轨迹校正方法，其特征在于，用来将一光学导航装置产生的一第一轨迹线段转换为适应使用者操作角度的一第二轨迹线段，其特征在于，该导航轨迹校正方法包含有：
建立一基准坐标系；
读取且分析该第一轨迹线段；
计算该第一轨迹线段相对于该基准坐标系之一第一偏移量；
定义该第一轨迹线段和该第二轨迹线段之间的偏移量为一校正量，据此获取该第二轨迹线段相对该基准坐标系之一第二偏移量；以及
根据该第二偏移量与该第一轨迹线段的一长度计算该校正量之数值；
该光学导航装置是透过一导航芯片产生该第一轨迹线段，该导航轨迹校正方法另包含有：
依据该校正量转动该导航芯片；以及
设定该转动后的导航芯片产生的轨迹线段作为该光学导航装置输出的一导航轨迹。
2.如权利要求1所述之导航轨迹校正方法，其特征在于，另包含有：
利用一角度传感器感测该光学导航装置之一自旋角度；以及
根据该自旋角度之变化动态调整该校正量。
3.如权利要求2所述之导航轨迹校正方法，其特征在于，根据该自旋角度之变化动态调整该校正量的步骤是选择性地利用一轨迹线性预测理论调整该校正量。
4.如权利要求1所述之导航轨迹校正方法，其特征在于，读取且分析该第一轨迹线段的步骤是在该基准坐标系上建立一个以该第一轨迹线段为半径的一校正圆。
5.如权利要求1所述之导航轨迹校正方法，其特征在于，计算该第一轨迹线段相对于该基准坐标系之该第一偏移量的步骤是取得该第一轨迹线段在该基准坐标系上的投影长度，并利用该投影长度与该第一轨迹线段之该长度计算该第一偏移量。
6.如权利要求1所述之导航轨迹校正方法，其特征在于，根据该第二偏移量与该第一轨迹线段的该长度计算该校正量的步骤包含：
以该第二偏移量定义该第二轨迹线段在该基准坐标系的投影长度；以及利用该些投影长度、该第一轨迹线段及该第二轨迹线段的该些长度及三角形边长公式计算该校正量。
7.如权利要求1所述之导航轨迹校正方法，其特征在于，该第一偏移量与该校正量之差值为该第二偏移量。
8.一种可执行导航轨迹校正的光学导航装置，其特征在于，能将划设的一第一轨迹线段转换为适应使用者操作角度的一第二轨迹线段，该光学导航装置包含有：
一导航芯片，用来产生该些轨迹线段；
一控制单元，电连接该导航芯片以取得该些轨迹线段之信息，该控制单元利用该导航芯片划设一基准坐标系，分析该第一轨迹线段以计算该第一轨迹线段相对该基准坐标系的一第一偏移量，藉由定义该第一轨迹线段和该第二轨迹线段之间的一校正量取得该第二轨迹线段相对该基准坐标系之一第二偏移量，并根据该第二偏移量与该第一轨迹线段的一长度计算该校正量；以及
一旋转机构，用来承载该导航芯片且电连接于该控制单元，该控制单元透过该旋转机构以该校正量转动该导航芯片，且设定该旋转后的导航芯片产生的轨迹线段作为该光学导航装置输出的一导航轨迹。
9.如权利要求8所述之光学导航装置，其特征在于，该控制单元是一体于该导航芯片、或独立于该导航芯片而为一控制芯片、或独立于该导航芯片而为一计算机系统之一运算处理器。
10.如权利要求8所述之光学导航装置，其特征在于，其另包含：
一角度传感器，电连接于该控制单元，该控制单元利用该角度传感器感测该光学导航装置之一自旋角度，透过该旋转机构以该自旋角度之变化动态调整该校正量。
11.如权利要求10所述之光学导航装置，其特征在于，该控制单元选择性地利用一轨迹线性预测理论调整该校正量。
12.如权利要求8所述之光学导航装置，其特征在于，该控制单元分析该第一轨迹线段在该基准坐标系上建立一个以该第一轨迹线段为半径的一校正圆。
13.如权利要求8所述之光学导航装置，其特征在于，该控制单元取得该第一轨迹线段在该基准坐标系上的投影长度，利用该投影长度与该第一轨迹线段之该长度计算该第一偏移量。
14.如权利要求8所述之光学导航装置，其特征在于，该控制单元以该第二偏移量定义该第二轨迹线段在该基准坐标系的投影长度，利用该些投影长度、该第一轨迹线段及该第二轨迹线段的该些长度及三角形边长公式计算该校正量。
15.如权利要求8所述之光学导航装置，其特征在于，该第一偏移量与该校正量之差值为该第二偏移量。