电源启动重置电路、电源启动重置方法及其电子装置与流程

本发明涉及涉及一种电源启动重置电路、电源启动重置方法及其电子装置，特别涉及一种可自动停止与启动的电源启动重置电路、电源启动重置方法及其电子装置。

背景技术：

现有地，电源启动重置电路常用以检测供应于电子装置的供应电源的电压升降。请同时参照图1A与图1B，图1A是现有的电源启动重置电路的电路示意图，图1B是图1A所绘示的现有的电源启动重置电路的输出电压的示意图。如图1A与图1B所示，电源启动重置电路1具有上升门槛电压值VTH_R与下降门槛电压值VTH_F。当供应电源VDD开始供应电压给电子装置且供应电源VDD的电压尚未达到上升门槛电压值VTH_R时，电源启动重置电路1便开始检测供应电源VDD的电压值，输出低电位的输出信号VOUT，表示电子装置的整体电路处于重置期间。直到供应电源VDD的电压值上升至上升门槛电压值VTH_R时，电源启动重置电路1便输出高电位的输出信号VOUT，表示重置期间已结束而使电子装置真正被启动，同时，电源启动重置电路1仍持续地检测供应电源VDD的电压值。直到再经过一段时间，当供应电源VDD的电压值下降至下降门槛电压值VTH_F时，电源启动重置电路1才转而输出低电位的输出信号VOUT，使得电子装置的整体电路切换回重置状态。

然而，于电子装置被启动后，虽然供应电源的电压值已稳定，但图1A与图1B所绘示电源启动重置电路1仍会持续地检测供应电源VDD的电压值，因此造成不必要的电力消耗。

技术实现要素：

为克服上述技术中存在的问题，本发明提供一种电源启动重置电路、电源启动重置方法及其电子装置，以解决现有技术中电源启动重置电路持续检测供应电源的电压值而造成不必要的电力消耗的技术问题。

本发明实施例提供一种电源启动重置电路，包括第一电压检测电路、第二电压检测电路与逻辑电路。第一电压检测电路用以检测供应电源的电压值，并输出第一电压信号以作为电源启动重置电路的输出信号。第二电压检测电路用以检测供应电源的电压值，并输出第二电压信号。逻辑电路耦接于第一电压检测电路与第二电压检测电路，用以接收第一电压信号与第二电压信号，并根据第一电压信号与第二电压信号产生控制信号。控制信号用以致能或禁能第一电压检测电路，以检测供应电源的电压值。其中，仅于供应电源的电压值小于第一电压检测电路的上升门槛电压值或第二电压检测电路的下降门槛电压值时，第一电压检测电路被致能以检测供应电源的电压值。

本发明实施例还提供一种电源启动重置方法，执行于电源启动重置电路。电源启动重置电路包括第一电压检测电路、第二电压检测电路与逻辑电路，且逻辑电路耦接于第一电压检测电路与第二电压检测电路。电源启动重置方法包括：通过第一电压检测电路检测供应电源的电压值，并输出第一电压信号以作为电源启动重置电路的输出信号；通过第二电压检测电路检测供应电源的电压值，并输出第二电压信号；以及由逻辑电路接收第一电压信号与第二电压信号，并根据所接收的第一电压信号与第二电压信号产生控制信号，以致能或禁能第一电压检测电路，以检测供应电源的电压值。其中，仅于供应电源的电压值小于第一电压检测电路的上升门槛电压值或第二电压检测电路的下降门槛电压值时，第一电压检测电路被致能以检测供应电源的电压值。

本发明实施例还提供一种电子装置，包括有多个电路，且多个电路之一为一种电源启动重置电路。

综上所述，本发明实施例所提出的电源启动重置电路、电源启动重置方法及其电子装置通过逻辑电路控制第一电压检测电路与第二电压检测电路，使得仅于供应电源的电压值小于第一电压检测电路的上升门槛电压值或第二电压检测电路的下降门槛电压值时，第一电压检测电路被致能以检测供应电源的电压值。换言之，本发明实施例所提出的电源启动重置电路、电源启动重置方法及其电子装置在供应电源的电压值大于第一电压检测电路的上升门槛电压值后便会自动停止检测供应电源，直到供应电源的电压值小于第二电压检测电路的下降门槛电压值，才会自动地重启检测功能。相较于全时段检测供应电压的传统电源启动重置电路，电力消耗减少，如此一来，便能节省电子装置的运作成本。

为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，但是此等说明与附图说明书附图仅用来说明本发明，而非对本发明的权利范围作任何的限制。

附图说明

图1A是现有的电源启动重置电路的电路示意图。

图1B是图1A所绘示的现有的电源启动重置电路的输出电压的示意图。

图2是本发明实施例中电源启动重置电路的方块图。

图3是本发明实施例中电源启动重置电路的输出电压的示意图。

图4是本发明实施例中电源启动重置电路的电路示意图。

图5是本发明另一实施例中电源启动重置电路的电路示意图。

图6是本发明实施例中电源启动重置方法的流程图。

附图标记说明：

1：电源启动重置电路

VDD：供应电源

VOUT：输出信号

VTH_R：上升门槛电压值

VTH_F：下降门槛电压值

2：电源启动重置电路

21：第一电压检测电路

22：第二电压检测电路

23：逻辑电路

VCON：控制信号

VPOR_OUT：输出信号

VTH_F1：下降门槛电压值

VTH_F2：下降门槛电压值

4：电源启动重置电路

41：第一电压检测电路

42：第二电压检测电路

43：逻辑电路

431：反相器

NM1：第一N型晶体管

NM2：第二N型晶体管

NM3：第三N型晶体管

NM4：第四N型晶体管

PM1：第一P型晶体管

PM2：第二P型晶体管

PM3：第三P型晶体管

PM4：第四P型晶体管

PM5：第五P型晶体管

PM6：第六P型晶体管

VOUT1：第一电压信号

VOUT2：第二电压信号

VINV_OUT：第一反相电压信号

OR：或门

C1：电容

R1：电阻

5：电源启动重置电路

51：第一电压检测电路

52：第二电压检测电路

53：逻辑电路

531：反相器

DEL：延迟缓冲器

VDEL：第一延迟电压信号

NAND：与非门

具体实施方式

在下文将参看说明书附图更充分地描述各种例示性实施例，在说明书附图中展示一些例示性实施例。然而，本发明概念可能以许多不同形式来体现，且不应解释为限于本文中所阐述的例示性实施例。确切而言，提供此等例示性实施例使得本发明将为详尽且完整，且将向熟习此项技术者充分传达本发明概念的范畴。在诸附图中，可为了清楚而夸示层及区的大小及相对大小。类似数字始终指示类似元件。

应理解，虽然本文中可能使用术语第一、第二、第三等来描述各种元件，但此等元件不应受此等术语限制。此等术语乃用以区分一元件与另一元件。因此，下文论述的第一元件可称为第二元件而不偏离本发明概念的教示。如本文中所使用，术语“和/或”包括相关联的列出项目中的任一者及一或多者的所有组合。

以下将以多种实施例配合附图来说明所述电源启动重置电路、电源启动重置方法及其电子装置，然而，下述实施例并非用以限制本发明。

〔电源启动重置电路的实施例〕

请同时参照图2与图3，图2是本发明实施例中电源启动重置电路的方块图，图3是本发明实施例中电源启动重置电路的输出电压的示意图。

如图2所示，本实施例所提供的电源启动重置电路2包括有第一电压检测电路21、第二电压检测电路22与逻辑电路23。第一电压检测电路21与第二电压检测电路22均耦接于供应电源VDD与逻辑电路23。第一电压检测电路21用以检测供应电源VDD的电压值，并输出第一电压信号VOUT1以作为电源启动重置电路2的输出信号VPOR_OUT。第二电压检测电路22亦用以检测供应电源VDD的电压值，并输出第二电压信号VOUT2。逻辑电路23用以接收第一电压信号VOUT1与第二电压信号VOUT2，并根据第一电压信号VOUT1与第二电压信号VOUT2产生控制信号VCON，其中，控制信号VCON用以致能或禁能第一电压检测电路21，以检测供应电源VDD的电压值。

值得注意地是，于本实施例中，第一电压检测电路21具有一个上升门槛电压值VTH_R且第二电压检测电路22具有一个下降门槛电压值VTH_F2。如图2与图3所示，当供应电源VDD开始供应电压给电子装置时，电源启动重置电路2便开始检测供应电源VDD的电压值，并于供应电源VDD的电压值上升至上升门槛电压值VTH_R的前，电源启动重置电路2输出低电位的输出信号VPOR_OUT，表示电子装置的整体电路处于重置期间。直到供应电源VDD的电压值上升至第一电压检测电路21的上升门槛电压值VTH_R时，电源启动重置电路2便输出高电位的输出信号VPOR_OUT，表示重置期间已结束而使电子装置真正被启动，同时，电源启动重置电路2中的逻辑电路23根据第一电压检测电路21所产生的第一电压信号VOUT1与第二电压检测电路22所产生的第二电压信号VOUT2产生控制信号VCON，以禁能第一电压检测电路21，进而使电源启动重置电路2停止检测供应电源VDD的电压值。另一方面，当供应电源VDD由稳定状态逐渐下降至第二电压检测电路22的下降门槛电压值VTH_F2时，电源启动重置电路2所输出的输出信号VPOR_OUT便由高电位转态为低电位，表示电子装置的整体电路被切换回重置状态，同时，电源启动重置电路2中的逻辑电路23根据第一电压检测电路21所产生的第一电压信号VOUT1与第二电压检测电路22所产生的第二电压信号VOUT2产生控制信号VCON，以致能第一电压检测电路21，进而使电源启动重置电路2再次开始检测供应电源VDD的电压值。

换言之，本实施例所提供的电源启动重置电路2仅于供应电源VDD的电压值小于第一电压检测电路21的上升门槛电压值VTH_R或第二电压检测电路22的下降门槛电压值VTH_F2时，第一电压检测电路21才会被致能，进而使电源启动重置电路2检测供应电源VDD的电压值。

接下来将进一步教示关于本实施例所提供的电源启动重置电路2的作动，为了方便说明本实施例，本实施例中，第一电压检测电路21为上升与下降临界电压检测电路，用以检测供应电源VDD的电压值是否上升或下降，且第二电压检测电路22为下降临界电压检测电路，用以检测供应电源VDD的电压值是否下降，然而本发明于此并不限定。其中，第一电压检测电路21具有一个上升门槛电压值VTH_R与一个下降门槛电压值VTH_F1，且第二电压检测电路22具有一个下降门槛电压值VTH_F2。须说明地是，第一电压检测电路21的下降门槛电压值VTH_F1与第二电压检测电路22的下降门槛电压值VTH_F2的间的大小关系于此亦不限定。也就是说，第一电压检测电路21的下降门槛电压值VTH_F1可大于、等于或小于第二电压检测电路22的下降门槛电压值VTH_F2，于以下叙述中将作说明。

为了方便说明关于本实施例所提供的电源启动重置电路的电路架构与细部作动，请参照图4，图4是本发明实施例中电源启动重置电路的电路示意图。如前述，于本实施例中，电源启动重置电路4包括有第一电压检测电路41、第二电压检测电路42与逻辑电路43。第一电压检测电路41与第二电压检测电路42均耦接于供应电源VDD与逻辑电路43。

如图4所示，逻辑电路43包括反相器431与或门OR。反相器431包括输出端与输入端，其输入端用以接收第一电压信号VOUT1，并由其输出端输出第一反相电压信号VINV_OUT。或门OR包括第一输入端、第二输入端与输出端，其第一输入端耦接于反相器431的输出端，用以接收第一反相电压信号VINV_OUT，其第二输入端耦接于第二电压检测电路42，用以接收第二电压信号VOUT2，且其输出端耦接于第一电压检测电路41，用以输出控制信号VCON，以禁能或致能第一电压检测电路41，并检测供应电源VDD的电压值。

第一电压检测电路41包括第一P型晶体管PM1、第二P型晶体管PM2、第一N型晶体管NM1、电阻R1、第二N型晶体管NM2、第四N型晶体管NM4、与第三P型晶体管PM3。第一P型晶体管PM1的源极耦接于供应电源VDD，且第一P型晶体管PM1的栅极与漏极耦接。第二P型晶体管PM2的源极耦接于供应电源，且第二P型晶体管PM2的栅极耦接于第一P型晶体管PM1的栅极与漏极。第一N型晶体管NM1的源极耦接于第四N型晶体管NM4的漏极与栅极，且第四N型晶体管NM4的源极耦接于接地电压。第一N型晶体管NM1的栅极耦接于逻辑电路43，以接收控制信号VCON，且第一N型晶体管NM1的漏极耦接于第一P型晶体管PM1的漏极。电阻R1包括第一端与第二端，且电阻R1的第二端耦接于接地电压。第二N型晶体管NM2的源极耦接于电阻的第一端，其栅极耦接于逻辑电路43，以接收控制信号VCON，且其漏极耦接于第二P型晶体管PM2的漏极与逻辑电路43，以输出第一电压信号VOUT1至逻辑电路43。第三P型晶体管PM3的源极耦接于供应电源VDD，其栅极耦接于逻辑电路43，以接收控制信号VCON，且其漏极耦接于第二P型晶体管PM2的漏极与逻辑电路43，以输出第一电压信号VOUT1至逻辑电路43。

第二电压检测电路42包括第五P型晶体管PM5、电容C1、第六P型晶体管PM6与第三N型晶体管NM3。第五P型晶体管PM5的源极耦接于供应电源VDD，第五P型晶体管PM5的漏极与栅极耦接。电容C1包括第一端与第二端，电容C1的第一端耦接于第五P型晶体管PM5的漏极与栅极，且电容C1的第二端耦接于接地电压。第六P型晶体管PM6的源极耦接于第五P型晶体管PM5的栅极，其栅极耦接于供应电源VDD，且其漏极耦接于逻辑电路43，以输出第二电压信号VOUT2至逻辑电路43。第三N型晶体管NM3的源极耦接于接地电压，其栅极耦接于供应电源VDD，且其漏极耦接于第六P型晶体管PM6的漏极与逻辑电路43，以输出第二电压信号VOUT2至逻辑电路43。

进一步说明，于供应电源VDD的电压值上升期间，当供应电源VDD的电压值小于第一电压检测电路41的上升门槛电压值VTH_R时，第一电压检测电路41与第二电压检测电路42分别输出低电位的第一电压信号VOUT1与第二电压信号VOUT2至逻辑电路43。

详细地说，如图4所示，逻辑电路43中的反相器431的输入端接收低电位的第一电压信号VOUT1后，便由其输出端输出高电位的第一反相电压信号VINV_OUT至或门OR的第一输入端。接着，或门OR的第一输入端接收高电位的第一反相电压信号VINV_OUT，且其第二输入端接收低电位的第二电压信号VOUT2后，便由其输出端输出高电位的控制信号VCON，以截止第一电压检测电路41中的第三P型晶体管PM3，并导通第一电压检测电路41中的第一N型晶体管NM1与第二N型晶体管NM2。也就是说，此时第一电压检测电路41被致能，且电源启动重置电路4正在检测供应电源VDD的电压。此外，由于第一电压检测电路41所输出的第一电压信号VOUT1为低电位，故电源启动重置电路4所输出的输出信号VPOR_OUT亦为低电位，表示电子装置的整体电路尚处于重置期间。

接着，当供应电源VDD的电压值大于或等于第一电压检测电路41的上升门槛电压值VTH_R时，第一电压检测电路41所输出的第一电压信号VOUT1转为高电位，而第二电压检测电路42所输出的第二电压信号VOUT2仍为低电位。

详细地说，如图4所示，逻辑电路43中的反相器431的输入端接收高电位的第一电压信号VOUT1后，便由其输出端输出低电位的第一反相电压信号VINV_OUT至或门OR的第一输入端。接着，或门OR的第一输入端接收低电位的第一反相电压信号VINV_OUT，且其第二输入端接收低电位的第二电压信号VOUT2后，便由其输出端输出低电位的控制信号VCON，以截止第一电压检测电路41中的第一N型晶体管NM1与第二N型晶体管NM2，并导通第一电压检测电路41中的第三P型晶体管PM3。也就是说，此时第一电压检测电路41被禁能，使得电源启动重置电路4停止检测供应电源VDD的电压，同时，第一电压信号VOUT1亦因为第三P型晶体管PM1被导通而维持于高电位，使电源启动重置电路4所输出的输出信号VPOR_OUT由低电位转为高电位，表示重置期间已结束而电子装置处于启动状态。

于第一电压检测电路41的下降门槛电压值VTH_F1大于第二电压检测电路42的下降门槛电压值VTH_F2的情况下，若供应电源VDD由稳定状态开始下降，于供应电源VDD的电压值下降期间，当供应电源VDD的电压值尚大于第一电压检测电路41的下降门槛电压值VTH_F1时，第一电压检测电路41所输出的第一电压信号VOUT1仍为高电位且第二电压检测电路42所输出的第二电压信号VOUT2仍为低电位。

详细地说，如图4所示，逻辑电路43中的反相器431的输入端接收高电位的第一电压信号VOUT1后，便由其输出端输出低电位的第一反相电压信号至或门的第一输入端。接着，或门的第一输入端接收低电位的第一反相电压信号VINV_OUT，且其第二输入端接收低电位的第二电压信号VOUT2后，便由其输出端输出低电位的控制信号VCON，以截止第一电压检测电路41中的第一N型晶体管NM1与第二N型晶体管NM2，并导通第一电压检测电路41中的第三P型晶体管PM3。也就是说，此时第一电压检测电路41被禁能，使得电源启动重置电路4持续地停止检测供应电源VDD的电压，同时，第一电压信号VOUT1亦因为第三P型晶体管PM3被导通而依然维持于高电位，使电源启动重置电路4所输出的输出信号VPOR_OUT维持于高电位，表示电子装置仍处于启动状态。

接着，当供应电源VDD的电压值下降至小于第一电压检测电路41的下降门槛电压值VTH_F1但尚大于第二电压检测电路42的下降门槛电压值VTH_F2时，第一电压检测电路41所输出的第一电压信号VOUT1仍为高电位且第二电压检测电路42所输出的第二电压信号VOUT2仍为低电位。

详细地说，如图4所示，逻辑电路43中的反相器431的输入端接收高电位的第一电压信号VOUT1后，便由其输出端输出低电位的第一反相电压信号VINV_OUT至或门OR的第一输入端。接着，或门OR的第一输入端接收低电位的第一反相电压信号VINV_OUT，且其第二输入端接收低电位的第二电压信号VOUT2后，便由其输出端输出低电位的控制信号VCON，以持续地截止第一电压检测电路41中的第一N型晶体管NM1与第二N型晶体管NM2，进而持续地使电源启动重置电路4停止检测供应电源VDD的电压值。同时，由于第三P型晶体管PM3仍是被导通的，故电源启动重置电路4所输出的输出信号VPOR_OUT维持于高电位，代表电子装置将于启动状态转为重置状态的瞬态。

最后，当供应电源VDD的电压值下降至小于第二电压检测电路42的下降门槛电压值VTH_F2时，第一电压检测电路41所输出的第一电压信号VOUT1由高电位转为低电位。

详细地说，如图4所示，逻辑电路43中的反相器431的输入端接收低电位的第一电压信号VOUT1后，便由其输出端输出高电位的第一反相电压信号VINV_OUT至或门OR的第一输入端。接着，或门OR的第一输入端接收高电位的第一反相电压信号VINV_OUT后，便由其输出端输出高电位的控制信号VCON，以导通第一N型晶体管NM1与第二N型晶体管NM2并截止第三P型晶体管PM3，进而致能第一电压检测电路41，使电源启动重置电路4开始检测供应电源VDD的电压值。同时，由于第三P型晶体管PM3被截止了，故电源启动重置电路4所输出的输出信号VPOR_OUT由高电位转为低电位，代表电子装置的整体电路由启动状态被切换回重置状态。

另一方面，于第二电压检测电路42的下降门槛电压值VTH_F2大于第一电压检测电路41的下降门槛电压值VTH_F1的情况下，若供应电源VDD由稳定状态开始下降，于供应电源VDD的电压值下降期间，当供应电源VDD的电压值尚大于第二电压检测电路42的下降门槛电压值VTH_F2时，第一电压检测电路41所输出的第一电压信号VOUT1仍为高电位且第二电压检测电路42所输出的第二电压信号VOUT2仍为低电位。

详细地说，如图4所示，逻辑电路43中的反相器431的输入端接收高电位的第一电压信号VOUT1后，便由其输出端输出低电位的第一反相电压信号VINV_OUT至或门OR的第一输入端。接着，或门OR的第一输入端接收低电位的第一反相电压信号VINV_OUT，且其第二输入端接收低电位的第二电压信号VOUT2后，便由其输出端输出低电位的控制信号VCON，以截止第一电压检测电路41中的第一N型晶体管NM1与第二N型晶体管NM2，并导通第一电压检测电路41中的第三P型晶体管PM3，进而持续地禁能第一电压检测电路41，使得电源启动重置电路4仍停止检测供应电源VDD的电压值。同时，因为第三P型晶体管PM3被导通，第一电压信号VOUT1依然维持于高电位，使电源启动重置电路4所输出的输出信号VPOR_OUT也维持于高电位，表示电子装置仍处于启动状态。

接着，当供应电源VDD的电压值下降至小于第二电压检测电路42的下降门槛电压值VTH_F2但尚大于第一电压检测电路41的下降门槛电压值VTH_F1时，第二电压检测电路42所输出的第二电压信号VOUT2由低电位转为高电位。

详细地说，如图4所示，逻辑电路43中的反相器431的输入端接收高电位的第一电压信号VOUT1后，便由其输出端输出低电位的第一反相电压信号VINV_OUT至或门OR的第一输入端。接着，或门OR的第一输入端接收低电位的第一反相电压信号VINV_OUT，且其第二输入端接收高电位的第二电压信号VOUT2后，便由其输出端输出高电位的控制信号VCON，以导通第一电压检测电路41中的第一N型晶体管NM1与第二N型晶体管NM2，并截止第一电压检测电路41中的第三P型晶体管PM3，进而致能第一电压检测电路41，使电源启动重置电路4再次开始检测供应电源VDD的电压值。然而，于此瞬态下，虽然第三P型晶体管PM3被截止，但由于第一电压检测电路41所输出的第一电压信号VOUT1仍为高电位，故电源启动重置电路4所输出的输出信号VPOR_OUT亦维持在高电位，此为电子装置将于启动状态转为重置状态的瞬态。

最后，当供应电源VDD的电压值下降至小于第一电压检测电路41的下降门槛电压值VTH_F1时，第一电压检测电路41所输出的第一电压信号VOUT1由高电位转为低电位。

详细地说，如图4所示，逻辑电路43中的反相器431的输入端接收低电位的第一电压信号VOUT1后，便由其输出端输出高电位的第一反相电压信号VINV_OUT至或门OR的第一输入端。接着，或门OR的第一输入端接收高电位的第一反相电压信号VINV_OUT，且其第二输入端接收低电位的第二电压信号VOUT2后，便由其输出端输出高电位的控制信号VCON，以持续地导通第一电压检测电路41中的第一N型电晶NM1体与第二N型晶体管NM2，并持续地截止第一电压检测电路41中的第三P型晶体管PM3，故第一电压检测电路41依然被致能，使电源启动重置电路4持续地检测供应电源VDD的电压值。然此时，第三P型晶体管PM3持续地被截止且第一电压检测电路41所输出的第一电压信号VOUT1已由高电位转为低电位，故电源启动重置电路4所输出的输出信号VPOR_OUT亦由高电位转为低电位，表示电子装置的整体电路已由启动状态被切换回重置状态。

另须说明的是，本实施例所提供的电源启动重置电路适用于多种电子装置，设置为电子装置中多个电路之一。举例来说，将本实施例所提供的电源启动重置电路设置于电脑主机，通过检测供应电源的上升与下降来控制电脑主机的启动与重置。此外，于供应电源于稳定状态时，本实施例所提供的电源启动重置电路并不会持续检测供应电源的电压值，如此一来，便能节省电子装置的运作成本。

〔电源启动重置电路的另一实施例〕

请参照图5，图5是本发明另一实施例中电源启动重置电路的电路示意图。须说明的是，图5所绘示的电源启动重置电路5的电路架构与图4所绘示的电源启动重置电路4的电路架构大致相同，而差异在于，如图5所示，于本实施例中，第一电压检测电路51还包括第四P型晶体管PM4，其源极与栅极耦接于供应电源VDD，且其漏极耦接于第一N型晶体管NM1与第二N型晶体管NM2的栅极，用以作为启动电路。此外，逻辑电路53中的反相器531进一步包括延迟缓冲器DEL与与非门NAND。延迟缓冲器DEL包括输入端与输出端，其输入端耦接于第一电压检测电路51，以接收第一电压信号VOUT1，且其输出端输出第一延迟电压信号VDEL。与非门NAND包括第一输入端、第二输入端与输出端，其第一输入端耦接于延迟缓冲器DEL的输出端，其第二输入端耦接于第一电压检测电路51，以接收第一电压信号OUT1，且其输出端耦接于或门OR的第一输入端，以输出第一反相电压信号VINV_OUT至或门OR。

须说明的是，图5所绘示的电源启动重置电路5的电路架构与工作原理和图4所绘示的电源启动重置电路4的电路架构与工作原理大致相同，本发明属技术领域中技术人员根据逻辑电路的概念应可了解本实施例中逻辑电路中延迟缓冲器与与非门的组合等同于图4的实施例中逻辑电路的反相器，故关于图5所绘示的电源启动重置电路的相关细节请参照上述图4所示的实施例，于此恕不赘述。

另须说明地是，本实施例所提供的电源启动重置电路适用于多种电子装置，设置为电子装置中多个电路之一。举例来说，将本实施例所提供的电源启动重置电路设置于电脑主机，通过检测供应电源的上升与下降来控制电脑主机的启动与重置。此外，于供应电源于稳定状态时，本实施例所提供的电源启动重置电路并不会持续检测供应电源的电压值，如此一来，便能节省电子装置的运作成本。

〔电源启动重置方法的实施例〕

请参照图6，图6是本发明实施例中电源启动重置方法的流程图。如图6所示，本实施例所提供的电源启动重置方法6主要包括以下步骤：通过第一电压检测电路检测供应电源的电压值，并输出第一电压信号以作为电源启动重置电路的输出信号(步骤S601)；通过第二电压检测电路检测供应电源的电压值，并输出第二电压信号(步骤S602)；以及由逻辑电路接收第一电压信号与第二电压信号，并根据所接收的第一电压信号与第二电压信号产生控制信号(步骤S603)，以致能或禁能第一电压检测电路，进而检测供应电源的电压值。此外，于本实施例中，仅于供应电源的电压值小于第一电压检测电路的上升门槛电压值或第二电压检测电路的下降门槛电压值时，第一电压检测电路才会被致能以检测供应电源的电压值。

须说明的是，本实施例所提供的电源启动重置方法用以执行于图4与图5所示的电源启动重置电路。然而，关于图4与图5所示的电源启动重置电路的工作原理与细部作动的相关细节已于上述图4与图5所示的各实施例中详细说明，故于此恕不赘述。

〔实施例的可能功效〕

综上所述，本发明实施例所提出的电源启动重置电路、电源启动重置方法及其电子装置通过逻辑电路控制第一电压检测电路与第二电压检测电路，使得仅于供应电源的电压值小于第一电压检测电路的上升门槛电压值或第二电压检测电路的下降门槛电压值时，第一电压检测电路被致能以检测供应电源的电压值。换言之，本发明实施例所提出的电源启动重置电路、电源启动重置方法及其电子装置在供应电源的电压值大于第一电压检测电路的上升门槛电压值后便会自动停止检测供应电源，直到供应电源的电压值小于第二电压检测电路的下降门槛电压值，才会自动地重启检测功能。相较于全时段检测供应电压的传统电源启动重置电路，电力消耗减少，如此一来，便能节省电子装置的运作成本。

以上所述仅为本发明的实施例，其并非用以局限本发明的专利范围。