一种基于数学模型的密封式继电器贮存寿命预测方法与流程

技术特征：

1.一种基于数学模型的密封式继电器贮存寿命预测方法，所述基于数学模型的密封式继电器贮存寿命预测方法包括以下步骤：

整理各温度下加速寿命试验中25台密封式继电器所有样本的6种相关参数数据，通过建立相关系数分析模型得到每对触点之间的相关系数以及每个样本之间的相关系数；

建立每个参数下密封式继电器触点的得分系数模型；

确定密封式继电器贮存寿命预测的数学模型；

将接触电阻输入到数学模型进行预测，接触电阻达到失效阈值的时间即为密封式继电器的贮存寿命。

2.根据权利要求1所述的一种基于数学模型的密封式继电器贮存寿命预测方法，其特征在于：所述根据所述建立每个参数下密封式继电器触点的得分系数模型的步骤包括：

结合样本的相关系数得到原始数据矩阵X_p×m；

确定原始数据矩阵的相关系数矩阵R1；

引入正交矩阵C得到每个参数的函数系数矩阵B；

根据标准化后的数据矩阵Z，求解标准化后矩阵的协方差矩阵R2；

结合函数系数矩阵B得到样本的载荷矩阵A_p×m，在此基础上得到每个继电器参数数据的得分F_j。

3.根据权利要求1所述的一种数学模型的密封式继电器贮存寿命预测方法，其特征在于：所述根据所述确定密封式继电器贮存寿命预测的数学模型的步骤包括：

对得到的得分系数模型矩阵Y_p×m每列数据进行函数扩展，得到预测函数的自变量；

根据所述参数计算继电器的接触电阻，得到预测函数的因变量；

利用预测函数其中根据数据的变化趋势动态改变每次预测得到的数据相对于整体数据的权重，直至继电器的接触电阻达到失效阈值，接触电阻达到失效阈值的时间即为密封式继电器的贮存寿命。

4.根据权利要求2所述的建立每个参数下密封式继电器触点的得分系数模型，其特征在于：所述根据所述建立每个参数下密封式继电器触点的得分系数模型包括：求解原始数据矩阵X_p×m的相关系数矩阵引入正交矩阵将原始数据矩阵X_p×m进行最大方差正交旋转，得到每个参数的函数系数矩阵利用将原始数据标准化，得到标准化后的数据矩阵为Z，求解标准化后矩阵的协方差矩阵R2＝Z·Z^T；结合函数系数矩阵B得到样本的载荷矩阵矩阵A中的元素a_ij可以通过求出。在得到元素a_ij后，将矩阵A第i行元素平方求和得到每个继电器样本的共同度将第j列的元素求平方和得到每个参数数据相对于继电器整体的贡献度在此基础上得到每个继电器参数数据的得分公式为：

F_j＝b_j1X₁+b_j2X₂+...+b_jpX_p，j＝1，2，...，m，其中X_p代表继电器样本的参数值。

5.根据权利要求3所述的根据数据的变化趋势动态改变每次预测得到的数据相对于整体数据的权重，其特征在于：将接触电阻值按顺序依次与之后的数据相乘，进行函数链扩展，得到n(n+1)/2个函数输入值；利用函数预测得到输入值的下一个预测数据，并对得到的新数据进行判断。当得到预测数据小于接触电阻的失效阈值时，拟合出扩展值的曲线方程；并判断数据是否符合方程，当与方程拟合值的差值在阈值内时，将该值加入输入值继续输入函数进行下一步预测。

6.根据权利要求5所述的根据函数预测得到输入值的下一个数据并对得到的新的数据进行判断，其特征在于：当得到的数据大于或者等于接触电阻的失效阈值时，对运算次数进行累计，并重新对数据进行预测运算；如果预测值仍大于失效阈值，继续累计运算次数，当累计运算次数超过3次，则达到该预测值时所需时间即为密封式继电器的失效时间；所述当累计次数小于3时，对扩展得到的接触电阻值进行曲线拟合，得到接触电阻的第一个拟合值。将预测值和拟合值相减，当差值不在阈值内时，暂时将该数作为输入值输入预测函数进行预测；当连续3个数据都不在阈值内时，去除这3个数据，重新对输入值进行预测。