技术总结
本发明提供一种基于数学模型的密封式继电器贮存寿命预测方法，所述基于数学模型的密封式继电器贮存寿命的预测方法包括以下步骤：整理各温度下加速寿命试验中25台密封式继电器所有样本的6种相关参数数据，通过建立相关系数分析模型得到每对触点之间的相关系数以及每个样本之间的相关系数；建立每个参数下密封式继电器触点的得分系数模型；确定密封式继电器贮存寿命预测的数学模型；将接触电阻输入到数学模型进行预测，接触电阻达到失效阈值的时间即为密封式继电器的贮存寿命。本发明相对准确地预测出密封式继电器的贮存寿命，且稳定性较高。
技术研发人员：李文华;周露露
受保护的技术使用者：河北工业大学
文档号码：201610382992
技术研发日：2016.06.01
技术公布日：2017.02.22