一种器件测试结构自动化布局布线方法与流程

技术特征：

技术总结
本发明提供了一种多个晶体管模块单元测试结构的自动化布局布线方法，其中所述的引入参数的晶体管模块单元，是由若干个晶体管组成测试结构。所述自动化方法，智能地将被测试晶体管与所对应的衬垫相连接完成布局布线。所述自动化方法，大规模地降低了新工艺下晶体管测试电路与测试结构的实现复杂度，缩短了完成时间，并提高了可靠度。

技术研发人员：陆宇
受保护的技术使用者：上海卓弘微系统科技有限公司
技术研发日：2017.06.27
技术公布日：2019.01.04