本发明涉及一种电路测试平台的评估技术，尤其是涉及一种电路测试平台的质量评估方法及装置。
背景技术：
传统的评估电路测试平台的完备性和可靠性的方式主要是通过最终所有测试用例得到的设计代码覆盖率来做评估，这样的方法需要的数据样本量大，评估周期较长，反馈结果较晚，一旦发现测试平台缺陷，需要重新进行回归测试，影响测试进度。
技术实现要素：
本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种更高效和更有针对性的电路测试平台的质量评估方法及装置。
为实现上述目的，本发明提出如下技术方案：一种电路测试平台的质量评估方法，包括：
s1，建立故障库，所述故障库用于将故障分类，并定义所述故障对应的rtl级插入方式；
s2，将所述故障库中的故障按照其对应的所述rtl级插入方式插入到电路测试平台的被测单元中，运行电路测试平台，通过所述电路测试平台是否能检测出所述故障，来评估电路测试平台的质量。
优选地，所述方法还包括：创建一个待评估的所述电路测试平台。
优选地，所述电路测试平台包括激励发生器、所述被测单元、用于模拟被测单元功能的参考模型和比较器，其中，
所述激励发生器与被测单元和参考模型均相连，用于向被测单元和参考模型发送测试用例的随机测试激励；
所述被测单元和参考模型均与比较器相连，两者的输出分别送给比较器完成结果比对，如果比对通过，说明所述测试用例通过并且被测单元无缺陷。
优选地，如果比对不通过，则说明被测单元存在缺陷，需进一步定位所述缺陷。
优选地，s1中，所述故障库将故障分为常规故障、异常故障和边界故障。
优选地，所述s2包括：
s21，从所述故障库中随机选择一个或多个不同类别的故障，按照选择的所述故障对应的所述rtl级插入方式，将所述故障插入到电路测试平台的被测单元中；
s22，运行所述电路测试平台，若所述电路测试平台定位出所述故障，则进入步骤s23，若未定位出所述故障，则进入步骤s24；
s23，判断是否需要继续遍历所述故障库，若是，则循环进入步骤s21，若否，则电路测试平台评估完成；
s24，修正所述电路测试平台，并在修正完成后重新进入步骤s22。
优选地，s24中，修正所述电路测试平台包括：调整参考模型和/或调整测试用例的约束条件。
本发明还提出了另外一种技术方案：一种电路测试平台的质量评估装置，包括：故障库建立模块、故障插入模块和质量评估模块，其中，
所述故障库建立模块用于建立故障库，所述故障库用于将故障分类，并定义所述故障对应的rtl级插入方式；
所述故障插入模块用于将所述故障库中的故障按照其对应的所述rtl级插入方式插入到电路测试平台的被测单元中；
所述质量评估模块用于在电路测试平台运行时，通过所述电路测试平台是否能检测出所述故障，来评估电路测试平台的质量。
优选地，所述故障插入模块包括：故障选择单元和与故障选择单元相连的故障插入单元，其中，
所述故障选择单元用于从故障库中随机选择一个或多个不同类别的故障；
所述故障插入单元用于按照选择的故障对应的rtl级插入方式，将所述故障选择单元选择的故障插入到电路测试平台的被测单元中。
优选地，所述质量评估模块包括：平台运行单元、故障检测判断单元、平台修正单元、遍历故障库判断单元和评估完成单元，其中，
所述平台运行单元与故障插入单元相连，用于运行所述电路测试平台；
所述故障检测判断单元与平台运行单元、遍历故障库判断单元和平台修正单元均相连，用于在电路测试平台运行时，判断所述电路测试平台是否定位出所述故障；
所述平台修正单元与电路测试平台相连，用于在故障检测判断单元判断所述电路测试平台未定位出所述故障后，修正所述电路测试平台，并在在修正完成后进入平台运行单元；
所述遍历故障库判断单元与故障检测判断单元、故障选择单元和评估完成单元均相连，用于在故障检测判断单元判断所述电路测试平台定位出所述故障后，判断是否需要继续遍历所述故障库，若是，则进入故障选择单元；若否，则进入评估完成单元。
本发明的有益效果是：本发明利用设定故障类别和故障rtl级插入方式的故障库，在被测设计的rtl级插入一些随机故障，通过回归测试过程中是否可以高效准确的定位出这些故障，来提前评估该电路测试平台是否完备和可靠，即提前电路测试平台完备性和可靠性评估工作，更高效，更有针对性的完成评估工作，为传统评估方法提供了很好的辅助作用。
附图说明
图1是本发明创建的电路测试平台的结构框图；
图2是本发明方法的流程示意图；
图3是图2中步骤a3的具体流程示意图；
图4是本发明装置的结构框图；
图5是图4中质量评估模块的原理框图。
具体实施方式
下面将结合本发明的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。
本发明所揭示的一种电路测试平台的质量评估方法及装置，通过设定故障规则库在rtl级插入一些随机故障，通过回归测试过程中是否可以高效准确的定位出这些故障，来提前评估该电路测试平台是否完备和可靠。
结合图1～图3所示，本发明实施例所揭示的一种电路测试平台的质量评估方法，包括：
a1，创建一个待评估的电路测试平台。
具体地，如图1所示，本实施例中创建的电路测试平台包括：激励发生器(drivergenerator)、被测单元(dut)、参考模型(referencemodel)和比较器(comparator)，其中，激励发生器与被测单元和参考模型的输入端均相连，用于向被测单元和参考模型发送测试用例的随机测试激励；被测单元为待测电路；参考模型为用于模拟被测单元功能的参考模型；被测单元和参考模型的输出端均与比较器相连，两者的输出分别送给比较器完成结果比对，如果比对通过，说明该测试用例通过并且被测单元无缺陷；如果比对不通过，则说明被测单元一定存在缺陷，需进一步定位该缺陷。
a2，建立故障库，所述故障库用于将故障分类，并定义所述故障对应的rtl级插入方式。
具体地，本实施例中，故障库内将故障分为常规故障、异常故障和边界故障，并定义每类故障对应的rtl级插入方式。其中，常规故障：一般指逻辑运算错误，比如：将原本的与逻辑修改为或逻辑、将原本的等于操作修改为不等于操作、删除原本存在的条件判断逻辑等。异常故障：一般指错误异常处置方面的故障，如：加入异常产生逻辑，产生fifo(firstinputfirstoutput，先入先出)的上溢或下溢故障，产生存储器纠错故障，产生逻辑异常中断故障，产生信息乱序故障等。
a3，将故障库中的故障按照其对应的rtl级插入方式插入到电路测试平台的被测单元中，运行电路测试平台，通过电路测试平台是否能检测出所述故障，来评估电路测试平台的质量。
具体地，结合图3所示，步骤a3具体包括：
a31，在测试前，先从故障库随机选择一个或者多个不同类别的故障，按照选择的所述故障对应的rtl级插入方式，将这些故障插入到电路测试平台的被测单元中。
a32，之后，设置有效的用于评估该电路测试平台定位故障能力的测试用例，运行电路测试平台，即电路测试平台按照a1中的工作原理运行。如果在有限的测试用例时间内，电路测试平台能够准备定位出被测单元中插入的相应的故障，则表示该电路测试平台对该故障的检测具有较好的侦测性，并进入步骤a33；如果未能定位出相应的故障，则表示该电路测试平台对该故障的检测存在缺陷，则进入下面步骤a34。
a33，判断是否需要继续遍历故障库，即判断是否需要继续从故障库中选择故障，并插入到电路测试平台的被测单元中进行故障检测。若需要，则循环进入步骤a31，直至遍历完故障库中针对该被测单元有效的故障；若不需要，则表示故障库内的所有故障已全部插入到被测单元中并完成定位检测，所以电路测试平台评估完成。
a34，修正电路测试平台，并在修正完成后重新进入步骤a32。
具体地，调整参考模型和/或调整测试用例的约束条件，以克服该电路测试平台对未检测出的故障的检测存在的缺陷。电路测试平台修正结束后，即电路测试平台对该故障可以定位检测出后，则重新进入步骤a32，运行电路测试平台，对该故障进行定位检测。
这样，电路测试平台评估完成后，即遍历完故障库中针对该被测单元有效的故障后，我们就能够得出该电路测试平台对于三类故障的检测成功率，从而评判出该电路测试平台的完备性和可靠性程度。
结合图4和图5所示，本发明实施例所揭示的一种电路测试平台的质量评估装置，包括：故障库建立模块、故障插入模块和质量评估模块，其中，故障库建立模块用于建立故障库，故障库用于将故障分类，并定义故障对应的rtl级插入方式，具体分类类别可参照上述步骤a2中描述。
故障插入模块用于将故障库中的故障按照其对应的rtl级插入方式插入到电路测试平台的被测单元中。本实施例中，其具体包括故障选择单元、和与故障选择单元相连的故障插入单元，故障选择单元用于从故障库中随机选择一个或多个不同类别的故障；故障插入单元用于按照选择的故障对应的rtl级插入方式，将故障选择单元选择的故障插入到电路测试平台的被测单元中。
质量评估模块用于在电路测试平台运行时，通过电路测试平台是否能检测出所述故障，来评估电路测试平台的质量。本实施例中，如图5所示，其具体包括平台运行单元、故障检测判断单元、平台修正单元、遍历故障库判断单元和评估完成单元，其中，
所述平台运行单元与故障插入单元相连，用于运行所述电路测试平台。
所述故障检测判断单元与平台运行单元、遍历故障库判断单元和平台修正单元均相连，用于在电路测试平台运行时，判断所述电路测试平台是否定位出所述故障。
所述平台修正单元与电路测试平台相连，用于在故障检测判断单元判断所述电路测试平台未定位出所述故障后，修正所述电路测试平台，并在在修正完成后进入平台运行单元。
所述遍历故障库判断单元与故障检测判断单元、故障选择单元和评估完成单元均相连，用于在故障检测判断单元判断所述电路测试平台定位出所述故障后，判断是否需要继续遍历所述故障库，若是，则进入故障选择单元；若否，则进入评估完成单元。
本发明的技术内容及技术特征已揭示如上，然而熟悉本领域的技术人员仍可能基于本发明的教示及揭示而作种种不背离本发明精神的替换及修饰，因此，本发明保护范围应不限于实施例所揭示的内容，而应包括各种不背离本发明的替换及修饰，并为本专利申请权利要求所涵盖。