测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备与流程

本公开涉及存储器技术领域，具体涉及一种测试程序生成方法、测试程序生成装置、计算机可读存储介质及电子设备。

背景技术：

一般而言，存储器生产厂商会提供标准的存储器测试编码程序，然而标准的存储器测试编码程序只能按照固定的时序规格和测试内容对存储器产品进行测试，存在产品验证分析效率低的问题。针对特殊的测试需求和测试条件，只能采用人工撰写的方式进行程序编码，对于数据量较大的复杂的测试程序往往容易出现编写错误。因此，如何按照存储器语言规则进行大数据测试编码程序撰写是目前亟待解决的问题。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现要素：

本公开的目的在于提供一种测试程序生成方法、测试程序生成装置、计算机可读存储介质及电子设备，进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制而导致的程序编码效率低且容易出错的技术问题。

根据本公开的一个方面，提供一种测试程序生成方法，所述测试程序用于对存储器进行功能测试，其特殊之处在于，所述方法包括：

获取待测试的所述存储器的配置信息，并获取针对所述存储器的测试逻辑；

根据所述测试逻辑从预设的测试程序组件库中获取至少一种测试程序组件；

对多个所述测试程序组件进行组合得到与所述配置信息相匹配的测试程序。

在本公开的一种示例性实施方式中，对多个所述测试程序组件进行组合得到与所述配置信息相匹配的测试程序，包括：

根据所述配置信息确定所述存储器中的多个待测试的存储单元；

根据所述测试逻辑确定所述测试程序组件与所述存储单元的匹配关系；

基于所述匹配关系对各个所述测试程序组件进行参数配置；

对经过参数配置后的多个所述测试程序组件进行组合以得到所述测试程序。

在本公开的一种示例性实施方式中，对经过参数配置后的多个所述测试程序组件进行组合以得到所述测试程序，包括：

根据所述测试逻辑确定各个所述存储单元的测试类型以及各个所述测试类型的测试顺序；

基于所述测试类型和所述测试顺序确定经过参数配置后的多个所述测试程序组件的排列顺序；

按照所述排列顺序对多个所述测试程序组件进行组合以得到所述测试程序。

在本公开的一种示例性实施方式中，对多个所述测试程序组件进行组合得到与所述配置信息相匹配的测试程序，包括：

根据所述配置信息确定所述存储器中的多个存储通道以及所述存储通道中的多个待测试的存储单元；

根据所述测试逻辑确定所述测试程序组件与每个所述存储通道中的所述存储单元的匹配关系；

基于所述匹配关系对各个所述测试程序组件进行参数配置；

对经过参数配置后的多个所述测试程序组件进行组合以得到与各个所述存储通道相对应的通道测试子程序；

对多个所述通道测试子程序进行组合以得到所述测试程序。

在本公开的一种示例性实施方式中，对经过参数配置后的多个所述测试程序组件进行组合以得到与各个所述存储通道相对应的通道测试子程序，包括：

根据所述测试逻辑确定每个存储通道中的各个所述存储单元的测试类型以及各个所述测试类型的测试顺序；

基于所述测试类型和所述测试顺序确定与各个所述存储通道相对应的经过参数配置后的多个所述测试程序组件的排列顺序；

按照所述排列顺序对多个所述测试程序组件进行组合以得到与各个所述存储通道相对应的通道测试子程序。

在本公开的一种示例性实施方式中，在对多个所述测试程序组件进行组合得到与所述配置信息相匹配的测试程序之后，所述方法还包括：

获取与所述测试逻辑相对应的时序间隔信息；

基于所述时序间隔信息，调整所述测试程序中的各个所述测试程序组件之间的时序间隔。

在本公开的一种示例性实施方式中，获取针对所述存储器的测试逻辑，包括：

获取针对所述存储器的测试任务信息以及所述存储器的历史测试记录；

基于所述测试任务信息和所述历史测试记录生成针对所述存储器的测试逻辑。

根据本公开的一个方面，提供一种测试程序生成装置，所述测试程序用于对存储器进行功能测试，其特殊之处在于，所述装置包括：

信息获取模块，被配置为获取待测试的所述存储器的配置信息，并获取针对所述存储器的测试逻辑；

组件获取模块，被配置为根据所述测试逻辑从预设的测试程序组件库中获取至少一种测试程序组件；

组件组合模块，被配置为对多个所述测试程序组件进行组合得到与所述配置信息相匹配的测试程序。

在本公开的一种示例性实施方式中，所述组件组合模块包括：

第一单元确定子模块，被配置为根据所述配置信息确定所述存储器中的多个待测试的存储单元；

第一关系确定子模块，被配置为根据所述测试逻辑确定所述测试程序组件与所述存储单元的匹配关系；

第一参数配置子模块，被配置为基于所述匹配关系对各个所述测试程序组件进行参数配置；

第一组件组合子模块，被配置为对经过所述参数配置后的多个所述测试程序组件进行组合以得到所述测试程序。

在本公开的一种示例性实施方式中，所述第一组件组合子模块包括：

第一测试顺序子模块，被配置为根据所述测试逻辑确定各个所述存储单元的测试类型以及各个所述测试类型的测试顺序；

第一排列顺序子模块，被配置为基于所述测试类型和所述测试顺序确定经过所述参数配置后的多个所述测试程序组件的排列顺序；

第一测试程序子模块，被配置为按照所述排列顺序对多个所述测试程序组件进行组合以得到所述测试程序。

在本公开的一种示例性实施方式中，所述组件组合模块包括：

第二单元确定子模块，被配置为根据所述配置信息确定所述存储器中的多个存储通道以及所述存储通道中的多个待测试的存储单元；

第二关系确定子模块，被配置为根据所述测试逻辑确定所述测试程序组件与每个所述存储通道中的所述存储单元的匹配关系；

第二参数配置子模块，被配置为基于所述匹配关系对各个所述测试程序组件进行参数配置；

第二组件组合子模块，被配置为对经过所述参数配置后的多个所述测试程序组件进行组合以得到与各个所述存储通道相对应的通道测试子程序；

程序组合子模块，被配置为对多个所述通道测试子程序进行组合以得到所述测试程序。

在本公开的一种示例性实施方式中，所述第二组件组合子模块包括：

第二测试顺序子模块，被配置为根据所述测试逻辑确定每个所述存储通道中的各个所述存储单元的测试类型以及各个所述测试类型的测试顺序；

第二排列顺序子模块，被配置为基于所述测试类型和所述测试顺序确定与各个所述存储通道相对应的经过所述参数配置后的多个所述测试程序组件的排列顺序；

第二测试程序子模块，被配置为按照所述排列顺序对多个所述测试程序组件进行组合以得到与各个所述存储通道相对应的通道测试子程序。

在本公开的一种示例性实施方式中，所述装置还包括：

时序获取模块，被配置为获取与所述测试逻辑相对应的时序间隔信息；

时序调整模块，被配置为基于所述时序间隔信息，调整所述测试程序中的各个所述测试程序组件之间的时序间隔。

在本公开的一种示例性实施方式中，所述信息获取模块包括：

记录获取子模块，被配置为获取针对所述存储器的测试任务信息以及所述存储器的历史测试记录；

逻辑生成子模块，被配置为基于所述测试任务信息和所述历史测试记录生成针对所述存储器的测试逻辑。

根据本公开的一个方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特殊之处在于，所述计算机程序被处理器执行时实现以上任一所述的测试程序生成方法。

根据本公开的一个方面，提供一种电子设备，其特殊之处在于，包括处理器和存储器；其中，存储器用于存储所述处理器的可执行指令，所述处理器被配置为经由执行所述可执行指令来执行以上任一所述的测试程序生成方法。

本公开实施例所提供的测试程序生成方法中，利用预设的测试程序组件库，选取相应的测试程序组件进行组合可以得到符合测试逻辑并适配于存储器配置信息的测试程序。这种利用测试程序组件进行组合的方式，不仅可以满足不同的测试需求并适应不同的测试条件，而且可以避免编写出错的问题，提高了存储器测试程序的生成效率和准确率

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示意性示出本公开一种示例性实施方式中测试程序生成方法的步骤流程图。

图2示意性示出本公开另一示例性实施方式中测试程序生成方法的部分步骤流程图。

图3示意性示出本公开另一示例性实施方式中测试程序生成方法的部分步骤流程图。

图4示意性示出本公开另一示例性实施方式中测试程序生成方法的部分步骤流程图。

图5示意性示出本公开另一示例性实施方式中测试程序生成方法的部分步骤流程图。

图6示意性示出本公开另一示例性实施方式中测试程序生成方法的部分步骤流程图。

图7示意性示出本公开另一示例性实施方式中测试程序生成方法的部分步骤流程图。

图8示意性示出本公开一种示例性实施方式中测试程序生成装置的组成框图。

图9示意性示出本公开另一示例性实施方式中测试程序生成装置的部分组成框图。

图10示意性示出本公开另一示例性实施方式中测试程序生成装置的部分组成框图。

图11示意性示出本公开另一示例性实施方式中测试程序生成装置的部分组成框图。

图12示意性示出本公开另一示例性实施方式中测试程序生成装置的部分组成框图。

图13示意性示出本公开另一示例性实施方式中测试程序生成装置的组成框图。

图14示意性示出本公开另一示例性实施方式中测试程序生成装置的部分组成框图。

图15示意性示出本公开示例性实施方式中一种程序产品的示意图。

图16示意性示出本公开示例性实施方式中一种电子设备的模块示意图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施例使得本公开将更加全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。

此外，附图仅为本公开的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。附图中所示的一些方框图是功能实体，不一定必须与物理或逻辑上独立的实体相对应。可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。

本公开的示例性实施方式中首先提供一种测试程序生成方法，这里的测试程序可以用于对存储器进行功能测试，其中存储器可以是同步动态随机存储器(synchronousdynamicrandomaccessmemory，sdram)，尤其可以是lowpowerdoubledatarate4(lpddr4)或者其他任意类型的存储器。

如图1所示，本示例性实施方式中提供的测试程序生成方法主要可以包括以下步骤：

步骤s110.获取待测试的存储器的配置信息，并获取针对存储器的测试逻辑。

本步骤首先获取待测试的存储器的配置信息以及针对该存储器的测试逻辑，其中配置信息可以包括存储器的存储通道、存储区域、存储单元等各种与测试内容相关的特征信息，测试逻辑是由具体的测试需求和测试条件决定的。

步骤s120.根据测试逻辑从预设的测试程序组件库中获取至少一种测试程序组件。

根据步骤s110中获取得到的测试逻辑，本步骤将从预设的测试程序组件库中获取一种或者多种测试程序组件。测试程序组件库中存储有多种不同类型的测试程序组件，每种测试程序组件可以对应于一种或者几种不同的测试功能。例如可以包括“激活”(activate，简称act)、“预充电”(precharge，简称pre)、“模式寄存器读取”(moderegisterread，简称mrr)或者“模式寄存器写入”(moderegisterwrite，简称mrw)等对应不同测试功能的测试程序组件。针对一些较为简单的测试逻辑，可能由单独一种测试程序组件即可实现，而针对其他一些较为复杂的测试逻辑，则可能需要由多种不同的测试程序组件进行组合才能实现。

步骤s130.对多个测试程序组件进行组合得到与配置信息相匹配的测试程序。

在由步骤s120获取到一种或者多种类型的测试程序组件后，本步骤将对多个测试程序组件进行组合以得到能够与步骤s110中获取到的配置信息相匹配的测试程序。这里进行组合的多个测试程序组件可以是相同类型的测试程序组件，另外也可以是不同类型的测试程序组件。测试程序组件的组合数量以及组合类型与待测试的存储器的配置信息相关，另外也与具体的测试逻辑相关。

在本示例性实施方式提供的测试程序生成方法中，利用预设的测试程序组件库，选取相应的测试程序组件进行组合可以得到符合测试逻辑并适配于存储器配置信息的测试程序。这种利用测试程序组件进行组合的方式，不仅可以满足不同的测试需求并适应不同的测试条件，而且可以避免编写出错的问题，提高了存储器测试程序的生成效率和准确率。

如图2所示，在本公开的另一示例性实施方式中，步骤s130.对多个测试程序组件进行组合得到与配置信息相匹配的测试程序可以进一步包括以下步骤：

步骤s210.根据配置信息确定存储器中的多个待测试的存储单元。

本步骤首先根据待测试的存储器的配置信息确定该存储器中的多个待测试的存储单元，其中存储单元可以是存储器中一定地址范围内的存储区域，例如可以是由一定范围的行地址(row)和列地址(column)进行限定的bank。

步骤s220.根据测试逻辑确定测试程序组件与存储单元的匹配关系。

根据步骤s110中获取得到的测试逻辑，本步骤可以确定测试程序组件与各个存储单元之间的匹配关系。换言之，本步骤可以在测试逻辑的整体框架下，确定在一定的时序条件下需要对各个存储单元进行的测试内容。

步骤s230.基于匹配关系对各个测试程序组件进行参数配置。

基于步骤s220中确定的匹配关系，本步骤将对各个测试程序组件进行参数配置，具体是为各个测试程序组件中的相关参数进行赋值，从而将原本通用化的测试程序组件转换为在不同的时序条件下与各个存储单元相关联的测试程序组件。

步骤s240.对经过参数配置后的多个测试程序组件进行组合以得到测试程序。

在由步骤s230完成测试程序组件的参数配置后，本步骤将对其进行组合以形成符合测试逻辑的测试程序。

在本示例性实施方式中，以存储器中的存储单元作为测试程序组件进行参数赋值的基础，可以对测试逻辑进行细化，以达到精准测试的目的。本示例性实施方式中的测试程序生成方法主要适用于具有单一存储通道的存储器，或者虽然具有多个存储通道，但是对各个存储通道的区分测试没有特殊要求的存储器。

如图3所示，在以上示例性实施方式的基础上，步骤s240.对经过参数配置后的多个测试程序组件进行组合以得到测试程序，可以进一步包括以下步骤：

步骤s310.根据测试逻辑确定各个存储单元的测试类型以及各个测试类型的测试顺序。

根据步骤s110中获取到的测试逻辑，本步骤可以确定各个存储单元的测试类型以及各个测试类型的测试顺序。其中，各个测试类型的测试顺序由测试逻辑中的时序条件决定。不同测试单元可以具有相同或者不同的测试类型，而且不同测试单元上的各个测试类型的测试顺序可以相互穿插。

步骤s320.基于测试类型和测试顺序确定经过参数配置后的多个测试程序组件的排列顺序。

基于步骤s310中确定的测试类型和测试顺序，本步骤可以确定经过参数配置后的多个测试程序组件的排列顺序，该排列顺序需要严格按照测试逻辑中的时序条件进行设置。

步骤s330.按照排列顺序对多个测试程序组件进行组合以得到测试程序。

按照步骤s320中确定的排列顺序，本步骤对多个测试程序组件进行组合以形成符合该排列顺序的测试程序。例如可以形成按照顺序act3、pre3、act1、pre1、act4、pre4、act2、pre2进行排列的测试程序，其中，act代表测试程序组件“激活”，pre代表测试程序组件“预充电”，而序号1、2、3、4分别代表四个不同的存储单元。

如图4所示，在本公开的另一示例性实施方式中，步骤s130.对多个测试程序组件进行组合得到与配置信息相匹配的测试程序，可以进一步包括以下步骤：

步骤s410.根据配置信息确定存储器中的多个存储通道以及存储通道中的多个待测试的存储单元。

本步骤可以根据待测试的存储器的配置信息确定该存储器中的多个存储通道(channel)，同时可以确定位于不同存储通道中的多个待测试的存储单元。其中存储单元可以是在不同存储通道中一定地址范围内的存储区域，例如可以是由一定范围的行地址(row)和列地址(column)进行限定的bank。

步骤s420.根据测试逻辑确定测试程序组件与每个存储通道中的存储单元的匹配关系。

根据步骤s110中获取得到的测试逻辑，本步骤可以确定测试程序组件与每个存储通道中的各个存储单元之间的匹配关系。换言之，本步骤可以在测试逻辑的整体框架下，确定在一定的时序条件下需要对每个存储通道中的各个存储单元进行的测试内容。

步骤s430.基于匹配关系对各个测试程序组件进行参数配置。

基于步骤s420中确定的匹配关系，本步骤将对各个测试程序组件进行参数配置，具体是为各个测试程序组件中的相关参数进行赋值，从而将原本通用化的测试程序组件转换为在不同的时序条件下与各个存储通道中的各个存储单元相关联的测试程序组件。

步骤s440.对经过参数配置后的多个测试程序组件进行组合以得到与各个存储通道相对应的通道测试子程序。

针对每一个存储通道，本步骤可以分别对经过参数配置后的多个测试程序组件进行组合，以得到与各个存储通道相对应的通道测试子程序。

步骤s450.对多个通道测试子程序进行组合以得到所述测试程序。

再将步骤s440中得到的与各个存储通道相对应的多个通道测试子程序进行组合即可得到针对存储器整体的测试程序。

本示例性实施方式中的测试程序生成方法主要适用于具有多个存储通道，并且对各个存储通道具有明确功能测试区分的存储器。

如图5所示，在以上示例性实施方式的基础上，步骤s440.对经过参数配置后的多个测试程序组件进行组合以得到与各个存储通道相对应的通道测试子程序，可以进一步包括以下步骤：

步骤s510.根据测试逻辑确定每个存储通道中的各个存储单元的测试类型以及各个测试类型的测试顺序。

根据步骤s110中获取到的测试逻辑，本步骤可以确定每个存储通道中的各个存储单元的测试类型以及各个测试类型的测试顺序。其中，各个测试类型的测试顺序由测试逻辑中的时序条件决定。不同测试单元可以具有相同或者不同的测试类型，而且不同测试单元上的各个测试类型的测试顺序可以相互穿插。

步骤s520.基于测试类型和测试顺序确定与各个存储通道相对应的经过参数配置后的多个测试程序组件的排列顺序。

基于步骤s510中确定的测试类型和测试顺序，本步骤可以确定与各个存储通道相对应的经过参数配置后的多个测试程序组件的排列顺序，该排列顺序需要严格按照测试逻辑中的时序条件进行设置。

步骤s530.按照排列顺序对多个测试程序组件进行组合以得到与各个存储通道相对应的通道测试子程序。

按照步骤s520中确定的排列顺序，本步骤对多个测试程序组件进行组合以形成与各个存储通道相对应的符合排列顺序的测试程序。例如，针对一个存储通道，可以形成按照顺序act1、pre1、act2、pre2、act2、pre2、act1、pre1进行排列的测试程序；针对另一个存储通道，则可以形成按照顺序act3、pre3、act1、pre1、act4、pre4、act2、pre2进行排列的测试程序。其中，act代表测试程序组件“激活”，pre代表测试程序组件“预充电”，而序号1、2、3、4分别代表四个不同的存储单元。

如图6所示，基于以上示例性实施方式，在步骤s130.对多个测试程序组件进行组合得到与配置信息相匹配的测试程序之后，测试程序生成方法还包括：

步骤s610.获取与测试逻辑相对应的时序间隔信息。

针对步骤s130中组合得到的测试程序，本步骤首先获取与测试逻辑相对应的时序间隔信息，该时序间隔信息可以反映测试程序中各个测试程序组件的间隔时间。

步骤s620.基于时序间隔信息，调整测试程序中的各个测试程序组件之间的时序间隔。

基于步骤s610中确定的时序间隔信息，本步骤可以调整测试程序中各个测试程序组件之间的时间间隔。不同的时序间隔信息不会改变各个测试程序组件的运行顺序，但是会对测试程序的整体运行效果产生影响。

更进一步地，如图7所示，步骤s110中的获取针对存储器的测试逻辑，可以包括以下步骤：

步骤s710.获取针对存储器的测试任务信息以及存储器的历史测试记录。

本步骤可以获取针对存储器的测试任务信息，同时还可以获取该存储器的历史测试记录。其中，测试任务信息用于反映测试目的，即可以包括针对存储器的哪些功能进行测试。在对存储器进行测试的过程中会同步生成日志信息，基于该日志信息即可形成历史测试记录。通过历史测试记录可以获知对存储器已经进行了哪些测试，每次测试中使用了哪些测试程序组件以及每次测试的测试结果等信息。

步骤s720.基于测试任务信息和历史测试记录生成针对存储器的测试逻辑。

基于步骤s710中获取到的测试任务信息和历史测试记录，本步骤将生成针对存储器的测试逻辑，并基于该测试逻辑进行后续的生成测试程序的步骤。

需要说明的是，虽然以上示例性实施方式以特定顺序描述了本公开中方法的各个步骤，但是，这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤，或者必须执行全部的步骤才能实现期望的结果。附加地或者备选地，可以省略某些步骤，将多个步骤合并为一个步骤执行，以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等。

在本公开的示例性实施方式中，还提供一种测试程序生成装置，测试程序用于对存储器进行功能测试。其中，存储器可以是sdram，尤其可以是lpddr4或者其他任意类型的存储器。

如图8所示，测试程序生成装置800主要可以包括：信息获取模块810、组件获取模块820和组件组合模块830。

其中，信息获取模块810被配置为获取待测试的存储器的配置信息，并获取针对存储器的测试逻辑。

信息获取模块810可以用于获取待测试的存储器的配置信息以及针对该存储器的测试逻辑，其中配置信息可以包括存储器的存储通道、存储区域、存储单元等各种与测试内容相关的特征信息，测试逻辑是由具体的测试需求和测试条件决定的。

组件获取模块820被配置为根据测试逻辑从预设的测试程序组件库中获取至少一种测试程序组件。

根据信息获取模块810获取得到的测试逻辑，组件获取模块820将从预设的测试程序组件库中获取一种或者多种测试程序组件。测试程序组件库中存储有多种不同类型的测试程序组件，每种测试程序组件可以对应于一种或者几种不同的测试功能。例如可以包括act、pre、mrr或者mrw等对应不同测试功能的测试程序组件。针对一些较为简单的测试逻辑，可能由单独一种测试程序组件即可实现，而针对其他一些较为复杂的测试逻辑，则可能需要由多种不同的测试程序组件进行组合才能实现。

组件组合模块830被配置为对多个测试程序组件进行组合得到与配置信息相匹配的测试程序。

在由组件获取模块820获取到一种或者多种类型的测试程序组件后，组件组合模块830将对多个测试程序组件进行组合以得到能够与信息获取模块810获取到的配置信息相匹配的测试程序。这里进行组合的多个测试程序组件可以是相同类型的测试程序组件，另外也可以是不同类型的测试程序组件。测试程序组件的组合数量以及组合类型与待测试的存储器的配置信息相关，另外也与具体的测试逻辑相关。

在本示例性实施方式提供的测试程序生成装置中，利用预设的测试程序组件库，选取相应的测试程序组件进行组合可以得到符合测试逻辑并适配于存储器配置信息的测试程序。这种利用测试程序组件进行组合的方式，不仅可以满足不同的测试需求并适应不同的测试条件，而且可以避免编写出错的问题，提高了存储器测试程序的生成效率和准确率。

如图9所示，在本公开的一种示例性实施方式中，组件组合模块830主要可以包括：第一单元确定子模块910、第一关系确定子模块920、第一参数配置子模块930和第一组件组合子模块940。

其中，第一单元确定子模块910被配置为根据配置信息确定存储器中的多个待测试的存储单元。

第一单元确定子模块910可以根据待测试的存储器的配置信息确定该存储器中的多个待测试的存储单元，其中存储单元可以是存储器中一定地址范围内的存储区域，例如可以是由一定范围的行地址(row)和列地址(column)进行限定的bank。

第一关系确定子模块920被配置为根据测试逻辑确定测试程序组件与存储单元的匹配关系。

根据第一单元确定子模块910获取得到的测试逻辑，第一关系确定子模块920可以确定测试程序组件与各个存储单元之间的匹配关系。换言之，第一关系确定子模块920可以在测试逻辑的整体框架下，确定在一定的时序条件下需要对各个存储单元进行的测试内容。

第一参数配置子模块930被配置为基于匹配关系对各个测试程序组件进行参数配置。

基于第一关系确定子模块920确定的匹配关系，第一参数配置子模块930将对各个测试程序组件进行参数配置，具体是为各个测试程序组件中的相关参数进行赋值，从而将原本通用化的测试程序组件转换为在不同的时序条件下与各个存储单元相关联的测试程序组件。

第一组件组合子模块940被配置为对经过参数配置后的多个测试程序组件进行组合以得到测试程序。

在由第一参数配置子模块930完成测试程序组件的参数配置后，第一组件组合子模块940将对其进行组合以形成符合测试逻辑的测试程序。

在本示例性实施方式中，以存储器中的存储单元作为测试程序组件进行参数赋值的基础，可以对测试逻辑进行细化，以达到精准测试的目的。本示例性实施方式中的测试程序生成装置主要适用于具有单一存储通道的存储器，或者虽然具有多个存储通道，但是对各个存储通道的区分测试没有特殊要求的存储器。

如图10所示，在以上示例性实施方式的基础上，第一组件组合子模块940可以进一步包括：第一测试顺序子模块1010、第一排列顺序子模块1020和第一测试程序子模块1030。

其中，第一测试顺序子模块1010被配置为根据测试逻辑确定各个存储单元的测试类型以及各个测试类型的测试顺序。

根据信息获取模块810获取到的测试逻辑，第一测试顺序子模块1010可以确定各个存储单元的测试类型以及各个测试类型的测试顺序。其中，各个测试类型的测试顺序由测试逻辑中的时序条件决定。不同测试单元可以具有相同或者不同的测试类型，而且不同测试单元上的各个测试类型的测试顺序可以相互穿插。

第一排列顺序子模块1020被配置为基于测试类型和测试顺序确定经过参数配置后的多个测试程序组件的排列顺序。

基于第一测试顺序子模块1010确定的测试类型和测试顺序，第一排列顺序子模块1020可以确定经过参数配置后的多个测试程序组件的排列顺序，该排列顺序需要严格按照测试逻辑中的时序条件进行设置。

第一测试程序子模块1030被配置为按照排列顺序对多个测试程序组件进行组合以得到测试程序。

按照第一排列顺序子模块1020确定的排列顺序，第一测试程序子模块1030对多个测试程序组件进行组合以形成符合该排列顺序的测试程序。例如可以形成按照顺序act3、pre3、act1、pre1、act4、pre4、act2、pre2进行排列的测试程序，其中，act代表测试程序组件“激活”，pre代表测试程序组件“预充电”，而序号1、2、3、4分别代表四个不同的存储单元。

如图11所示，在本公开的另一示例性实施方式中，组件组合模块830主要可以包括：第二单元确定子模块1110、第二关系确定子模块1120、第二参数配置子模块1130、第二组件组合子模块1140和程序组合子模块1150。

其中，第二单元确定子模块1110被配置为根据配置信息确定存储器中的多个存储通道以及存储通道中的多个待测试的存储单元。

第二单元确定子模块1110可以根据待测试的存储器的配置信息确定该存储器中的多个存储通道(channel)，同时可以确定位于不同存储通道中的多个待测试的存储单元。其中存储单元可以是在不同存储通道中一定地址范围内的存储区域，例如可以是由一定范围的行地址(row)和列地址(column)进行限定的bank。

第二关系确定子模块1120被配置为根据测试逻辑确定测试程序组件与每个存储通道中的存储单元的匹配关系。

根据信息获取模块810获取得到的测试逻辑，第二关系确定子模块1120可以确定测试程序组件与每个存储通道中的各个存储单元之间的匹配关系。换言之，第二关系确定子模块1120可以在测试逻辑的整体框架下，确定在一定的时序条件下需要对每个存储通道中的各个存储单元进行的测试内容。

第二参数配置子模块1130被配置为基于匹配关系对各个测试程序组件进行参数配置。

基于第二关系确定子模块1120确定的匹配关系，第二参数配置子模块1130将对各个测试程序组件进行参数配置，具体是为各个测试程序组件中的相关参数进行赋值，从而将原本通用化的测试程序组件转换为在不同的时序条件下与各个存储通道中的各个存储单元相关联的测试程序组件。

第二组件组合子模块1140被配置为对经过参数配置后的多个测试程序组件进行组合以得到与各个存储通道相对应的通道测试子程序。

针对每一个存储通道，第二组件组合子模块1140可以分别对经过参数配置后的多个测试程序组件进行组合，以得到与各个存储通道相对应的通道测试子程序。

程序组合子模块1150被配置为对多个通道测试子程序进行组合以得到测试程序。

将第二组件组合子模块1140得到的与各个存储通道相对应的多个通道测试子程序进行组合即可得到针对存储器整体的测试程序。

本示例性实施方式中的测试程序生成装置主要适用于具有多个存储通道，并且对各个存储通道具有明确功能测试区分的存储器。

如图12所示，在以上示例性实施方式的基础上，第二组件组合子模块1140可以进一步包括：第二测试顺序子模块1210、第二排列顺序子模块1220和第二测试程序子模块1230。

其中，第二测试顺序子模块1210被配置为根据测试逻辑确定每个存储通道中的各个存储单元的测试类型以及各个测试类型的测试顺序。

根据信息获取模块810获取到的测试逻辑，第二测试顺序子模块1210可以确定每个存储通道中的各个存储单元的测试类型以及各个测试类型的测试顺序。其中，各个测试类型的测试顺序由测试逻辑中的时序条件决定。不同测试单元可以具有相同或者不同的测试类型，而且不同测试单元上的各个测试类型的测试顺序可以相互穿插。

第二排列顺序子模块1220被配置为基于测试类型和测试顺序确定与各个存储通道相对应的经过参数配置后的多个测试程序组件的排列顺序。

基于第二测试顺序子模块1210确定的测试类型和测试顺序，第二排列顺序子模块1220可以确定与各个存储通道相对应的经过参数配置后的多个测试程序组件的排列顺序，该排列顺序需要严格按照测试逻辑中的时序条件进行设置。

第二测试程序子模块1230被配置为按照排列顺序对多个测试程序组件进行组合以得到与各个存储通道相对应的通道测试子程序。

按照第二排列顺序子模块1220确定的排列顺序，第二测试程序子模块1230对多个测试程序组件进行组合以形成与各个存储通道相对应的符合排列顺序的测试程序。例如，针对一个存储通道，可以形成按照顺序act1、pre1、act2、pre2、act2、pre2、act1、pre1进行排列的测试程序；针对另一个存储通道，则可以形成按照顺序act3、pre3、act1、pre1、act4、pre4、act2、pre2进行排列的测试程序。其中，act代表测试程序组件“激活”，pre代表测试程序组件“预充电”，而序号1、2、3、4分别代表四个不同的存储单元。

如图13所示，基于以上示例性实施方式，测试程序生成装置800还可以包括：时序获取模块1310和时序调整模块1320。

其中，时序获取模块1310被配置为获取与测试逻辑相对应的时序间隔信息。

针对组件组合模块830组合得到的测试程序，时序获取模块1310可以获取与测试逻辑相对应的时序间隔信息，该时序间隔信息可以反映测试程序中各个测试程序组件的间隔时间。

时序调整模块1320被配置为基于时序间隔信息，调整测试程序中的各个测试程序组件之间的时序间隔。

基于时序获取模块1310确定的时序间隔信息，时序调整模块1320可以调整测试程序中各个测试程序组件之间的时间间隔。不同的时序间隔信息不会改变各个测试程序组件的运行顺序，但是会对测试程序的整体运行效果产生影响。

更进一步地，如图14所示，信息获取模块810至少可以包括：记录获取子模块1410和逻辑生成子模块1420。

其中，记录获取子模块1410被配置为获取针对存储器的测试任务信息以及存储器的历史测试记录。

记录获取子模块1410可以获取针对存储器的测试任务信息，同时还可以获取该存储器的历史测试记录。其中，测试任务信息用于反映测试目的，即可以包括针对存储器的哪些功能进行测试。在对存储器进行测试的过程中会同步生成日志信息，基于该日志信息即可形成历史测试记录。通过历史测试记录可以获知对存储器已经进行了哪些测试，每次测试中使用了哪些测试程序组件以及每次测试的测试结果等信息。

逻辑生成子模块1420被配置为基于测试任务信息和历史测试记录生成针对存储器的测试逻辑。

基于记录获取子模块1410获取到的测试任务信息和历史测试记录，逻辑生成子模块1420将生成针对存储器的测试逻辑，并基于该测试逻辑进行后续的生成测试程序的步骤。

应当注意，尽管在上文详细描述中提及了用于动作执行的设备的若干模块或者单元，但是这种划分并非强制性的。实际上，根据本公开的实施方式，上文描述的两个或更多模块或者单元的特征和功能可以在一个模块或者单元中具体化。反之，上文描述的一个模块或者单元的特征和功能可以进一步划分为由多个模块或者单元来具体化。

在本公开的示例性实施方式中，还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时可实现本公开的上述的测试程序生成方法。在一些可能的实施方式中，本公开的各个方面还可以实现为一种程序产品的形式，其包括程序代码；该程序产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是cd-rom、u盘或者移动硬盘等)中或网络上；当所述程序产品在一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、终端装置或者网络设备等)上运行时，所述程序代码用于使所述计算设备执行本公开中上述各示例性实施例中的方法步骤。

参见图15所示，根据本公开的实施方式的用于实现上述方法的程序产品1500，其可以采用便携式紧凑磁盘只读存储器(cd-rom)并包括程序代码，并可以在计算设备(例如个人计算机、服务器、终端装置或者网络设备等)上运行。然而，本公开的程序产品不限于此。在本示例性实施例中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。

所述程序产品可以采用一个或者多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。

可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线或半导体的系统、装置或器件、或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件或者上述的任意合适的组合。

可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读信号介质还可以是可读存储介质以外的任意可读介质，该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。

可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于无线、有线、光缆、rf等，或者上述的任意合适的组合。

可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本公开操作的程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言，诸如java、c++等，还包括常规的过程式程序设计语言，诸如c语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户计算设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中，远程计算设备可以通过任意种类的网络(包括局域网(lan)或广域网(wan)等)连接到用户计算设备；或者，可以连接到外部计算设备，例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接。

在本公开的示例性实施方式中，还提供一种电子设备，所述电子设备包括至少一个处理器以及至少一个用于存储所述处理器的可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为经由执行所述可执行指令来执行本公开中上述各示例性实施例中的方法步骤。

下面结合图16对本示例性实施方式中的电子设备1600进行描述。电子设备1600仅仅为一个示例，不应对本公开实施例的功能和使用范围带来任何限制。

参见图16所示，电子设备1600以通用计算设备的形式表现。电子设备1600的组件可以包括但不限于：至少一个处理单元1610、至少一个存储单元1620、连接不同系统组件(包括处理单元1610和存储单元1620)的总线1630、显示单元1640。

其中，存储单元1620存储有程序代码，所述程序代码可以被处理单元1610执行，使得处理单元1610执行本公开中上述各示例性实施例中的方法步骤。

存储单元1620可以包括易失性存储单元形式的可读介质，例如随机存取存储单元1621(ram)和/或高速缓存存储单元1622，还可以进一步包括只读存储单元1623(rom)。

存储单元1620还可以包括具有一组(至少一个)程序模块1625的程序/实用工具1624，这样的程序模块包括但不限于：操作系统、一个或者多个应用程序、其他程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。

总线1630可以为表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储单元总线或者存储单元控制器、外围总线、图形加速端口、处理单元或者使用各种总线结构中的任意总线结构的局域总线。

电子设备1600也可以与一个或多个外部设备1700(例如键盘、指向设备、蓝牙设备等)通信，还可以与一个或者多个使得用户可以与该电子设备1600交互的设备通信，和/或与使得该电子设备1600能与一个或多个其他计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等)通信。这种通信可以通过输入/输出(i/o)接口1650进行。并且，电子设备1600还可以通过网络适配器1660与一个或者多个网络(例如局域网(lan)、广域网(wan)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图16所示，网络适配器1660可以通过总线1630与电子设备1600的其他模块通信。应当明白，尽管图中未示出，可以结合电子设备1600使用其他硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、raid系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。

本领域技术人员能够理解，本公开的各个方面可以实现为系统、方法或程序产品。因此，本公开的各个方面可以具体实现为以下形式，即：完全的硬件实施方式、完全的软件实施方式(包括固件、微代码等)，或硬件和软件结合的实施方式，这里可以统称为“电路”、“模块”或“系统”。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由所附的权利要求指出。

上述所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中，如有可能，各实施例中所讨论的特征是可互换的。在上面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本公开的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本公开的技术方案而没有特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组件、材料等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、材料或者操作以避免模糊本公开的各方面。