41)。例如，控制单元201计算η个X坐标值的平均值，将通过在平均值中加上给定偏差并且从平均值中减去给定偏差而决定的范围内包括的X坐标值设置为有效数据，将不包括在该范围内的X坐标值设置为无效数据，如图19中所示。以类似方式，控制单元201计算关于Y坐标值的有效数据和无效数据。
[0098]接下来，控制单元201判断有效数据的数量是否等于或大于阈值(步骤S42)。这里，设置单元203可改变阈值。
[0099]当确定有效数据的数量等于或大于阈值(步骤S42中的“是”)时，控制单元201判断对X坐标和Y坐标的检测是成功的(步骤S43)，本过程终止。另一方面，当确定有效数据的数量小于阈值(步骤S42中的“否”)时，控制单元201判断对X坐标和Y坐标的检测是失败的，即，错误检测到有触摸(步骤S44)，且本过程终止。在以上说明的过程中，尽管在检测X坐标之后执行检测Y坐标，但也可在检测Y坐标之后执行检测X坐标。
[0100]图24是示出当使用五布线型触摸面板100Β时图20中的步骤S3的XY坐标的检测过程的流程图。
[0101]控制单元201分别将X坐标和Y坐标的测量次数设置给计数器(步骤S21B)。这里，由于对X坐标和Y坐标的测量次数是由设置单元203设置的并且预先被保存在保存单元204中，因此控制单元201从保存单元204读取X坐标和Y坐标的测量次数并且将X坐标和Y坐标的测量次数设置给计数器。
[0102]首先，控制单元201通过导通开关31B至35B和37B并且截止开关32B和36B为电阻膜20B产生O至Vcc的电势梯度(步骤S22B)。控制单元201通过导通开关31B使电阻膜1B经由下拉电阻6接地(步骤S23B)。积聚在电阻膜1B和20B之间的电荷被放电(步骤S24B)。这里，由于放电时间是由设置单元203设置的并且被预先保存在保存单元204中，因此控制单元201从保存单元204读取放电时间并且一直等待，直到放电时间过去。
[0103]当放电时间过去时，控制单元201通过截止开关31B将电阻膜1B置于高阻抗(H1-Z)状态(步骤S25B)。然后，检测单元202检测与触摸位置的X坐标对应的电压(步骤 S26B)。
[0104]接下来，控制单元201通过导通开关32B、34B、36B和37B并且截止开关33B和35B为电阻膜20B产生O至Vcc的电势梯度(步骤S27B)。控制单元201通过导通开关31B使电阻膜1B经由下拉电阻6接地(步骤S28B)。积聚在电阻膜1B和20B之间的电荷被放电(步骤S29B)。这里，由于放电时间是由设置单元203设置的并且被预先保存在保存单元204中，因此控制单元201从保存单元204读取放电时间并且一直等待，直到放电时间过去。
[0105]当放电时间过去时，控制单元201通过截止开关31B将电阻膜1B置于高阻抗(H1-Z)状态(步骤S30B)。检测单元202检测与触摸位置的Y坐标对应的电压(步骤S31B)。然后，执行图21B的触摸检测过程(步骤S32B)。
[0106]控制单元201判断触摸检测过程是否检测到有触摸(步骤S33B)。当判断没有检测到有触摸(步骤S33B中的“否”)时，控制单元201判断对X坐标和Y坐标的检测是失败的(步骤S37B)，且本过程终止。当判断检测到有触摸(步骤S33B中的“是”)时，控制单元201将计数器的值递减I (步骤S34B)。控制单元201判断计时器的值是否是O (步骤S35B)。
[0107]当判断计数器的值不是0(步骤S35A中的“否”)时，过程返回到步骤S22B。另一方面，当判断计数器的值是O (步骤S35B中的“是”)时，控制单元201执行对错误检测到有触摸的上述判断过程(步骤S36B)，且本过程终止。这里，由于在计数器的值变成O之前如步骤S22B至S31B所示地重复执行对X坐标和Y坐标的检测，因此检测单元202检测η个X坐标(η = 2或更大)和η个Y坐标(η = 2或更大)。
[0108]在本过程中，尽管在检测X坐标之后执行检测Y坐标，但可在检测Y坐标之后执行检测X坐标。
[0109]这里，设置单元203可基于触摸面板的类型、意图的目的和使用环境来改变进行触摸检测时的放电时间、在检测XY坐标时的放电时间、对X坐标和Y坐标的测量次数、和用于划分X坐标和Y坐标的测量次数的划分数。由此，可在考虑到触摸面板的类型、意图的目的和使用环境的情况下改变进行触摸检测时的放电时间、在检测XY坐标时的放电时间、对X坐标和Y坐标的测量次数、和用于划分X坐标和Y坐标的测量次数的划分数。
[0110]根据本实施例，在检测触摸的存在与否和触摸的位置之前，控制单元201控制电压检测侧的电阻膜(例如，电阻膜20Α或10Β)上的电极所连接的开关的操作，以将电压检测侧的电阻膜上的电极接地，且使触摸面板放电。因此，在电压会聚之前不检测触摸的存在与否和触摸的位置，因此可限制诸如错误检测、触摸的坐标偏差和无法输入的故障。
[0111]上述实施例是本发明的优选实施例。然而，本发明不限于具体公开的实施例和变形形式，而且可以在不脱离本发明范围的情况下包括其它实施例和变形形式。
【主权项】
1.一种触摸面板装置(100AU00B)，其特征在于包括: 第一电阻膜和第二电阻膜(10A、10B、20A、20B)，其均包括电极(11A、12A、21A、22A、11B、22B-25B)； 开关(31A-35A、31B-37B)，其连接到所述电极； 控制器(201)，其控制所述开关的操作；以及 检测器(201、202)，当电压被施加到所述第一电阻膜和所述第二电阻膜之中的电压施加侧的电阻膜时，其基于从所述第一电阻膜和所述第二电阻膜之中的电压检测侧的电阻膜上的电极检测到的电压，检测触摸的存在与否和所述触摸的位置； 其中，在所述检测器进行检测操作之前，所述控制器控制所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极所连接的所述开关的操作，使得所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极接地。
2.根据权利要求1所述的触摸面板装置，其特征在于，所述检测器两次或更多次地交替检测指示所述触摸的位置的X坐标和Y坐标，且将检测到的X坐标和检测到的Y坐标各自的平均值设置为所述触摸的位置。
3.根据权利要求2所述的触摸面板装置，其特征在于，还包括: 设置器(203)，其设置对X坐标和Y坐标中的每个的检测次数和用于划分X坐标和Y坐标中的每个的检测次数的划分数。
4.根据权利要求2所述的触摸面板装置，其特征在于，所述检测器通过将包括在一定范围内的X坐标的数量和Y坐标的数量与给定阈值进行比较，判断是否错误地检测到所述触摸，所述范围是通过在检测到的X坐标和检测到的Y坐标各自的平均值中加上给定偏差并且通过从检测到的X坐标和检测到的Y坐标各自的平均值中减去给定偏差而决定的。
5.根据权利要求1所述的触摸面板装置，其特征在于， 所述控制器控制所述电压施加侧的所述电阻膜上的电极所连接的所述开关的操作，以在所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极接地之前，向所述电压施加侧的所述电阻膜施加给定电压， 在所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极接地之后，所述检测器基于从所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极检测到的电压，检测所述触摸的存在与否。
6.根据权利要求1至5中的任一个所述的触摸面板装置，其特征在于， 所述控制器控制所述电压施加侧的所述电阻膜上的电极所连接的所述开关的操作，以在所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极接地之前，为所述电压施加侧的所述电阻膜产生电势梯度， 在所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极接地之后，所述检测器基于从所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极检测到的电压，检测所述触摸的存在与否。
7.一种触摸面板装置，其特征在于包括: 第一电阻膜和第二电阻膜(10A、10B、20A、20B)，其均包括电极(11A、12A、21A、22A、11B、22B-25B)，所述第一电阻膜和所述第二电阻膜中的一者是电压施加侧的电阻膜，且其中另一者是电压检测侧的电阻膜； 检测器(201、202)，当电压被施加到所述电压施加侧的所述电阻膜时，其基于所述电压检测侧的所述电阻膜上的电压，检测触摸的存在与否和触摸坐标； 其中，所述检测器两次或更多次地交替检测X坐标和Y坐标，并且基于检测到的X坐标和检测到的Y坐标检测所述触摸的存在与否和所述触摸坐标。
8.一种用于控制触摸面板装置的方法，所述触摸面板装置包括电压施加侧的电阻膜(10A、10B、20B)和电压检测侧的电阻膜(10A、10B、20A)，所述电阻膜中的每个包括电极(11A、12A、21A、22A、11B、22B_25B)，其特征在于，所述方法包括: 控制所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极所连接的开关，以将所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极接地； 在所述电压检测侧的所述电阻膜上的电极接地之后，检测触摸的存在与否和所述触摸的位置。
【专利摘要】本发明公开了触摸面板装置和控制触摸面板装置的方法。一种触摸面板装置(100A)包括：第一电阻膜和第二电阻膜(10A、10B、20A、20B)，其均包括电极(11A、12A、21A、22A、11B、22B-25B)；开关(31A-35A、31B-37B)，其连接到电极；控制器(201)，其控制开关的操作；和检测器(201、202)，当电压被施加到第一电阻膜和第二电阻膜之中的电压施加侧的电阻膜时，其基于从第一电阻膜和第二电阻膜之中的电压检测侧的电阻膜上的电极检测到的电压，检测触摸的存在与否和触摸的位置；其中，在检测器进行检测操作之前，控制器控制电压检测侧的电阻膜上的电极所连接的开关的操作，使得电压检测侧的电阻膜上的电极接地。
【IPC分类】G06F3-045
【公开号】CN104657025
【申请号】CN201410645739
【发明人】一川大辅, 藤田宪一, 牧内祐仁
【申请人】富士通电子零件有限公司
【公开日】2015年5月27日
【申请日】2014年11月14日
【公告号】US20150138143