来电开机功能的测试方法及系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及计算机功能测试领域，特别是涉及一种来电开机功能的测试方法及系统。
【背景技术】
[0002]来电开机功能是指，给机器供电时，机器不需要按开关键就可以开机的功能。来电开机功能是普通计算机不常用的功能，但对于部分工业控制应用的计算机，或网络主机，来电开机是不可缺少的功能。因此，很多时候都需要对来电开机功能进行测试。
[0003]然而，对于来电开机功能的一些现有的测试方法都需要专用设备，通用性差、成本高，或实现原理复杂，难于在实际工作中广泛应用。
【发明内容】
[0004]基于此，有必要提供一种通用性好、低成本且容易实现的来电开机功能的测试方法。
[0005]此外，还提供一种来电开机功能的测试系统。
[0006]一种来电开机功能的测试方法，用于对待测设备的来电开机功能的可靠性进行测试，包括:
[0007]设置供电周期的时长，所述供电周期包括一次来电和一次掉电，所述供电周期时长为来电时长与掉电时长的和；
[0008]控制所述供电周期进行循环；
[0009]记录来电次数和待测设备的开机次数；
[0010]将所述来电次数与所述待测设备的开机次数进行比较，并根据比较结果获取测试结果。
[0011]在其中一个实施例中，所述供电周期的来电时长不小于所述待测设备来电开机、对开机次数进行存储以及系统关机所需的总时长。
[0012]在其中一个实施例中，所述来电次数通过计数器进行记录，所述待测设备的开机次数通过待测设备的内部计数程序进行记录。
[0013]在其中一个实施例中，将所述来电次数与所述待测设备的开机次数进行比较，并根据比较结果获取测试结果的步骤具体为:
[0014]将所述来电次数与所述待测设备的开机次数进行比较，若比较结果为来电次数等于开机次数，则获取的测试结果为正常；若比较结果为来电次数大于开机次数，则获取的测试结果为异常；若比较结果为来电次数小于开机次数，则获取的测试结果为来电次数记录有误。
[0015]在其中一个实施例中，在将所述来电次数与所述待测设备的开机数进行比较，并根据比较结果获取测试结果的步骤之前还包括:
[0016]判断所述来电次数是否不小于循环次数阈值，若是，将所述来电次数与所述待测设备的开机次数进行比较，并根据比较结果获取测试结果；若否，每隔预设时间控制所述供电周期进行一次循环。
[0017]在其中一个实施例中，所述循环次数阈值为10000次。
[0018]在其中一个实施例中，所述掉电时长为10秒。
[0019]一种来电开机功能的测试系统，用于对待测设备的来电开机功能的可靠性进行测试，包括供电电源、定时开关装置、计数器及待测设备；
[0020]所述定时开关装置用于设置所述供电电源的供电周期的时长，并控制所述供电周期进行循环，所述供电周期包括一次来电和一次掉电，所述供电周期时长为来电时长与掉电时长的和；
[0021]所述计数器用于记录来电次数；
[0022]所述待测设备内部安装有用于记录待测设备的开机次数的计数程序。
[0023]在其中一个实施例中，所述供电周期的来电时长不小于所述待测设备来电开机、对开机次数进行存储以及系统关机所需的总时长。
[0024]在其中一个实施例中，所述定时开关装置和所述计数器为一体式设计。
[0025]上述来电开机功能的测试方法及系统，通过设置供电周期的时长并对供电周期进行循环控制，然后再分别记录来电次数和待测设备的开机次数，将所述来电次数与所述开机次数进行比较就可以获取测试结果，其测试过程不依赖于特定的配件或仪器，通用性好、成本低、容易实现，实现原理简单，便于在实际工作中广泛应用。
【附图说明】
[0026]图1为一实施例中来电开机功能的测试方法流程图；
[0027]图2为一实施例中来电开机功能的测试系统结构示意图。
【具体实施方式】
[0028]为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的【具体实施方式】做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。
[0029]请参照图1，为一实施例中来电开机功能的测试方法流程图。
[0030]该来电开机功能的测试方法，用于对待测设备的来电开机功能的可靠性进行测试。在本实施例中，所述待测设备与外部设备没有信号传递，只有供电连接，可以理解，在其他实施例中，若所述待测设备与外部设备有信号的传递也不会影响本测试方法的效果。
[0031]该来电开机功能的测试方法具体包括以下步骤:
[0032]步骤SllO:设置供电周期的时长。
[0033]在本实施例中，所述供电周期包括一次来电和一次掉电，所述供电周期时长为来电时长与掉电时长的和。其中，所述供电周期的来电时长不小于所述待测设备来电开机、对开机次数进行存储以及系统关机所需的总时长。
[0034]假设来电时长为T_Jgaw，掉电时长为，待测设备来电开机所需时长为T__im备开机，对开机次数进彳丁存储所需时长为T-待测设备存盘，系统关机兀I成时间设备关机。即τ_定时开〉=T-待测设备开机+T-待测设备存盘+T-待测设备关机，这很谷易理解，在设置供电周期的来电时长时，需要保证待测设备有充足时间完成来电开机，运行其内部程序或自动关机等一系列动作。
[0035]步骤S120:控制所述供电周期进行循环。
[0036]供电周期的循环是指一个供电周期完成后马上又进入下一个供电周期。因为一个供电周期的时长等于来电时长与掉电时长的和，所以前一个供电周期的掉电到后一个供电周期的来电之间的时长即为掉电时长。在本实施例中，所述掉电时长为10秒。这是因为待测设备(如计算机)本身电路有电容电感，放电有一定时间，关机并间隔10秒后再开机有利于延长计算机寿命。可以理解，在其他实施例中，还可以根据实际情况将掉电时长控制为O?15秒以进行特别的测试。
[0037]步骤S130:记录来电次数和待测设备的开机次数。
[0038]在本实施例中，所述来电次数通过计数器进行记录，所述开机次数通过待测设备的内部计数程序进行记录。
[0039]特定情况下，若设置的供电周期的来电时长小于所述待测设备来电开机、对开机次数进行存储以及系统关机所需的总时长，可以对待测设备在非正常关机状态下，再来电是否可以正常开机的情况进行测试。假设来电时长为，掉电时长为，待测设备来电开机所需时长为对开机次数进行存储所需时长为，系统关机完成时间在此特定情况下的测试，须保证来电时长大于待测设备来电开机所需时长加上对开机次数进行存储所需时长，即要保证来电情况下，待测设备有足够时间运行计数程序以完成开机次数的记录并存储。
[0040]步骤S140:将所述来电次数与所述待测设备的开机次数进行比较，并根据比较结果获取测试结果。
[0041]设来电次数为N，开机次数为M。在本实施例中，步骤S140具体为:
[0042]将来电次数N与开机次数M进行比较，若比较结果为来电次数等于开机次数，即N=M，则说明待测设备在每次来电时都能正常开机，因此获取的测试结果为正常。
[0043]若比较结果为来电次数N大于开机次数M，即N>M，则说明来电开机功能测试异常，来电次数与开机次数的差为来电不开机的次数，因此获取的测试结果为异常。
[0044]若比较结果为来电次数N小于开机次数M，即N〈M，说明设置有问题或计数出错，应重新设定或校验计数器，因此获取的测试结果为来电次数记录有误。
[0045]进一步地，在本实施例中，步骤S140之前还包括:
[0046]判断所述来电次数是否不小于循环次数阈值，若是，直接执行步骤S140 ;若否，跳回至步骤S120。
[0047]来电开机功能的可靠性测试可以采用时间法或次数法衡量，如测试24小时没有出现异常