一种测试装置、测试方法及显示系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种测试装置、采用所述测试装置的显示系统及一种测试方法。
【背景技术】
[0002]随着显示技术的迅速发展，出现了液晶显示(Liquid Crystal Display，LCD)技术，且其被广泛应用各种领域，如手机、电脑、及其他各种有显示需求的设备、仪器。
[0003]目前，现有2k即2560女1440分辨率以下的液晶模组图片显示测试装置，大部分使用进阶精简指令集机器(Advanced RISC Machines，ARM)作为驱动芯片。因为ARM芯片内部集成了液晶显示、图片解码等模块，大大的简化了编程的复杂性，所以使用ARM作为液晶模组显示驱动芯片受到大部分人欢迎。然而，ARM的数据处理、运算速度远远落后于现场可编程门阵列(Field — Programmable Gate Array，FPGA)，而且使用ARM芯片对于目前液晶显示领域来说，其大部分功能没有被使用到，这无疑也是一种资源的浪费。
[0004]因此，需要提供一种测试装置，该测试装置包括数据处理以及运算速度高的驱动芯片，其可以解决上述现有技术中存在的问题。
【发明内容】
[0005]鉴于以上问题，本发明提供一种测试装置，其数据处理及运算速度高，用时少，且利用率高。
[0006]本发明提供的一种测试装置，用于输出测试信号至显示设备，以判断所述显示设备是否能正常显示，所述测试装置包括安全数目卡、现场可编程门阵列及存储单元。所述安全数码卡用于存储编码数据。所述现场可编程门阵列与所述安全数码卡连接，用于读取所述安全数码卡中存储的所述编码数据，并将所述编码数据进行压缩处理。所述存储单元与所述现场可编程门阵列连接，用于将所述现场可编程门阵列压缩后的编码数据进行缓存，且所述存储单元包括多个存储器。其中，所述现场可编程门阵列还用于调用所述多个存储器中缓存的所述压缩后的编码数据，并将所述压缩后的编码数据进行解压缩及解码处理，以输出所述测试信号。
[0007]进一步地，所述压缩后的编码数据为像素的基准亮度值信息以及其亮度值与所述基准亮度值相同的像素的位置信息。
[0008]进一步地，所述像素的基准亮度值包括多个不同的像素亮度值。
[0009]进一步地，所述多个存储器的数目为两个，所述存储器为同步动态随机存储器。
[0010]进一步地，所述测试装置还包括时钟与复位模块，所述时钟与复位模块和所述安全数码卡、所述现场可编程门阵列、所述第一存储器及所述第二存储器连接并提供工作所需的时钟信号。
[0011]本发明还提供一种显示系统，所述显示系统包括显示模组及如上所述的测试装置。所述显示模组用于接收所述现场可编程门阵列输出的测试信号，并输出显示画面。
[0012]进一步地，所述显示模组为液晶显示器。
[0013]本发明还提供一种测试方法，所述测试方法用于输出测试信号至显示设备，以判断所述显示设备是否能正常显示，所述测试方法包括步骤:将编码后的数据进行存储；读取编码数据，并将所述编码数据进行压缩处理；将压缩后的编码数据进行缓存；调用所述压缩后的编码数据，并将所述压缩后的编码数据进行解压缩及解码处理，以输出所述测试信号。
[0014]进一步地，将所述编码数据进行压缩处理还包括步骤:取一像素的亮度值作为基准亮度值，并将与所述基准亮度值的灰阶差值的绝对值小于设定值的所有像素亮度值均设定为所述基准亮度值，记录所述像素的基准亮度值信息以及其亮度值与所述基准亮度值相同的像素的位置信息。
[0015]进一步地，所述基准亮度值包括多个不同的像素亮度值，且每两个相邻的像素基准亮度值之间的差值的绝对值大于或等于两倍设定值减去一的值。
[0016]本发明的测试装置、采用测试装置的显示系统及测试方法采用现场可编程门阵列作为处理器，利用现场可编程门阵列对编码数据进行压缩处理，并缓存于多个存储器中，使得测试装置数据处理及运算速度提高，提高了数据传输的效率及处理器的利用率。
【附图说明】
[0017]图1为本发明的一实施例的测试装置的模块示意图。
[0018]图2a—图2g为本发明的一实施例的测试装置的第一存储器与第二存储器的数据存取过程示意图。
[0019]图3为本发明一实施例的测试装置的部分显示画面的像素亮度值示意图。
[0020]图4为本发明的一实施例的显示系统的模块示意图。
[0021]图5为本发明的一实施例的测试方法的步骤流程图。
【具体实施方式】
[0022]为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的测试装置、显示系统及测试方法其【具体实施方式】、方法、步骤、结构、特征及功效，详细说明如后。
[0023]有关本发明的前述及其他技术内容、特点与功效，在以下配合参考图式的较佳实施例的详细说明中将可清楚的呈现。通过【具体实施方式】的说明，当可对本发明为达成预定目的所采取的技术手段及功效得以更加深入且具体的了解，然而所附图式仅是提供参考与说明之用，并非用来对本发明加以限制。
[0024]请参阅图1，图1为本发明的一实施例的测试装置的模块示意图，如图1所示，测试装置包括安全数码卡10、现场可编程门阵列12及存储单元，其中存储单元包括多个存储器。在发明一实施方式中，存储单元包括两个存储器，分别是第一存储器14及第二存储器16。可以理解的是，存储单元包括的存储器的个数不限于两个。
[0025]其中，安全数码卡10，用于存储编码数据。现场可编程门阵列12与安全数码卡10连接，用于读取安全数码卡10中存储的编码数据，并将编码数据进行压缩处理。第一存储器14及第二存储器16均与现场可编程门阵列12连接，用于将现场可编程门阵列12压缩后的编码数据进行缓存。进一步地，现场可编程门阵列10还用于调用第一存储器14及第二存储器16中缓存的压缩后的编码数据，并将压缩后的编码数据进行解压缩及解码处理，以输出测试信号。
[0026]其中，测试装置还包括时钟与复位模块(图中未示出)，时钟与复位模块和安全数码卡10、现场可编程门阵列12、第一存储器14以及第二存储器16连接，其为安全数码卡10、现场可编程门阵列12、第一存储器14及第二存储器16提供工作所需的时钟信号。此夕卜，在本实施例中，编码数据是以位图(Bitmap，BMP)的格式存在的，BMP格式数据结构包括文件信息头、位图信息头、彩色表以及RGB颜色阵列，并且，BMP数据在存储时，扫描行内是由从左到右进行存储，扫描行之间是从下到上。
[0027]请同时参阅图2a —图2g，图2a —图2g为本发明的一实施例的测试装置的第一存储器14与第二存储器16的数据存取过程示意图。如图2a —图2c所示，第一存储器14及第二存储器16均为同步动态随机存储器(Synchronous Dynamic Random Access Memory,SDRAM)。在本实施例中，可将经过现场可编程门阵列12压缩后的编码数据先存储在第一存储器14中，若第一存储器14的存储空间不足以存储所有的数据时，可将经过现场可编程门阵列12压缩后的编码数据存储在第二存储器16中。当然本领域的技术人员可以理解的是，也可将经过现场可编程门阵列12压缩后的编码数据先存储在第二存储器16中，若第二存储器16的存储空间不足以存储所有的数据时，可将经过现场可编程门阵列12压缩后的编码数据存储在第一存储器14中；此外也可将经过现场可编程门阵列12压缩后的数据同时存储在第一存储器14与第二存储器16中。
[0028]进一步地，如图2d —图2g所示，现场可编程门阵列对存储在第一存储器14与第二存储器16中的压缩后的编码数据进行调用时，可先调用第一存储器14中的压缩后的编码数据或者是第二存储器16中的压缩后的编码数据，也可以同时调用第一存储器14与第二存储器16中的压缩后的编码数据。需要说明的是，第一存储器14与第二存储器16对数据的存储与调用是同时进行的，例如，当现场可编程门阵列12对第一存储器14中的数据进行调用时，也会同时进行数据的存储，也就是说，现场可编程门阵列12将第一存储器14中的一部分数据调用后，此时，第一存储器14的的内存具有一定的空余空间，因此现场可编程门阵列12可向第一存储器14中存储数据。同样的，当现场可编程门阵列12对第二存储器16中的数据进行调用时，也会同时进行数据的存储，也就是说，现场可编程门阵列12将第二存储器16中的一部分数据调用后，此时，第二存储器16的的内存具有一定的空余空间，因此现场可编程门阵列12可向第二存储器16中存储数据。
[0029]图3为本发明一实施例的测试装置的部分显示画面的像素亮度值示意图，如图3所示，部分显示画面的3 * 3的像素阵列，每一行像素阵列均包括