叶面积指数测定方法及装置的制造方法

文档序号:9472241阅读:448来源:国知局
叶面积指数测定方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及生态学领域,尤其设及一种叶面积指数测定方法及装置。
【背景技术】
[0002] 叶面积指数LAULeaf Area Idex)又叫叶面积系数,是一块地上作物叶片的总面 积与占地面积的比值。叶面积指数是反映作物群体大小的较好的动态指标,亦是表征作物 长势和预测作物产量的重要农学指标之一。
[0003] 目前,叶面积测量方法很多,主要包括纸重法、干重法、长宽系数法、叶面积仪法、 扫描仪法、回归方程法等,运些方法都具有各自的优点,但同样存在费时费力、测量具有破 坏性等缺点。
[0004] 随着计算机图像处理技术、图像采集部件CCD的发展,计算机图像处理技术逐渐 被用于作物长势监测。因此,如果能够提供一种可实现方便测量、即时获取信息且经济有效 的叶面积指数测量方法将对农作物长势监测、产量估算等领域具有十分重要的意义。

【发明内容】

[0005] 本发明所要解决的技术问题是:如何提供一种叶面积指数测定方法或测定装置, W实现方便、即时且经济有效地测量叶面积指数。
[0006] 为此目的,本发明一方面提出了一种叶面积指数测定方法,该方法包括W下步 骤:
[0007] 获取待测植被的冠层图像;
[0008] 利用图像处理技术对获取的冠层图像进行图像分割,提取所述冠层图像中的待测 植被对应的图像区域;
[0009] 计算所述待测植被对应的图像区域的面积与所述冠层图像的总面积的比值,得到 所述待测植被的叶面积指数;
[0010] 对计算出的叶面积指数与实际测得的叶面积指数进行拟合,得到所述待测植被的 叶面积指数模型。
[0011] 优选地,所述获取待测植被的冠层图像,还包括:
[0012] 在阴天或多云天气,于10:00~14:00的条件下获取所述待测植被的冠层图像。
[0013] 优选地,所述利用图像处理技术对获取的冠层图像进行图像分割,具体为:
[0014] 将所述冠层图像分成多个子图像,所述多个子图像中任一两个相邻子图像之间具 有50 %的重叠区域;
[0015] 作出每个子图像的直方图,选择直方图为双峰直方图的子图像,根据对应的双峰 直方图确定该子图像的阔值;
[0016] 根据确定出的子图像的阔值,采用插值法得到所有子图像的阔值;
[0017] 根据所有子图像的阔值对所述冠层图像进行切割。
[0018] 优选地,在利用图像处理技术对获取的冠层图像进行图像分割前,该方法还包 括:
[0019] 利用色度强度饱和度HIS颜色模型对所述冠层图像进行处理。
[0020] 优选地,所述方法还包括:
[0021] 针对所述待测植被的不同生长时期,分别建立所述待测植被的叶面积指数模型。
[0022] 优选地,该方法还包括:
[0023] 对所述待测植被的叶面积指数模型进行评价;
[0024] 所述对所述待测植被的叶面积指数模型进行评价,具体为利用统计量相关系数的 平方来度量所述叶面积指数模型的数据变异性。 阳02引优选地,所述根据对应的双峰直方图确定该子图像的阔值,具体为:
[00%] 根据对应的双峰直方图采用最佳阔值计算方法确定子图像的阔值;
[0027] 其中,最佳阔值的计算公式是
[0028] 其中,iii、y,-一分别为背景和物体的均值;0-一围绕均值的标准偏差;Pi、 P2-一分别为背景和物体的概率。
[0029] 另一方面,本发明提出一种叶面积指数测定装置,其特征在于,包括:
[0030] 图像获取单元,用于获取待测植被的冠层图像;
[0031] 图像分割提取单元,用于利用图像处理技术对获取的冠层图像进行图像分割,提 取所述冠层图像中的待测植被对应的图像区域;
[0032] 叶面积指数计算单元,用于计算所述待测植被对应的图像区域的面积与所述冠层 图像的总面积的比值,得到所述待测植被的叶面积指数;
[0033] 叶面积指数模型建立单元,用于对计算出的叶面积指数与实际测得的叶面积指数 进行拟合,得到所述待测植被的叶面积指数模型。
[0034] 优选地,所述图像分割提取单元,具体包括:
[0035] 所述图像分割提取单元,具体包括:
[0036] 子图像划分模块,用于将所述冠层图像分成多个子图像,所述多个子图像中任一 两个相邻子图像之间具有50%的重叠区域;
[0037] 直方图制作模块,用于作出每个子图像的直方图,选择直方图为双峰直方图的子 图像,根据对应的双峰直方图确定该子图像的阔值;
[0038] 阔值确定模块,用于根据确定出的子图像的阔值,采用插值法得到所有子图像的 阔值;
[0039] 图像分割模块,用于根据所有子图像的阔值对所述冠层图像进行切割。
[0040] 优选地,在利用图像处理技术对获取的冠层图像进行图像分割前,所述图像分割 提取单元还用于:
[0041] 利用色度强度饱和度HIS颜色模型对所述冠层图像进行处理。
[0042] 本发明提供的叶面积指数测定方法及装置,可实现叶面积指数的方便测量、具有 获取信息及时且经济有效的优点,对农作物长势监测、产量估算等领域具有十分重要的意 义。
【附图说明】
[0043]通过参考附图会更加清楚的理解本发明的特征和优点,附图是示意性的而不应理 解为对本发明进行任何限制,在附图中: W44] 图1示出了本发明实施例提供的叶面积指数测定方法的流程图;
[0045] 图2a示出了本发明实施例提供的水稻的冠层图像拍摄效果图;
[0046] 图化示出了本发明实施例提供的玉米的冠层图像拍摄效果图;
[0047] 图3示出了本发明实施例提供的叶面积指数测定方法中进行冠层图像分割的流 程图; W48]图4示出了本发明实施例提供的待测植被的像素提取效果示意图;
[0049] 图5示出了本发明实施例提供的实际叶面积指数与图像叶面积指数拟合回归示 意图;
[0050] 图6示出了本发明实施例提供的叶面积指数测定装置的结构示意图;
[0051]图7示出了本发明实施例提供的图像分割提取单元结构示意图。
【具体实施方式】
[0052] 下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终 相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附 图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明,而不能解释为对本发明的限制。
[0053] 本技术领域技术人员可W理解,除非特意声明,运里使用的单数形式"一"、"一 个"、"所述"和"该"也可包括复数形式。应该进一步理解的是,本发明的说明书中使用的措 辞"包括"是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件,但是并不排除存在或添加 一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。
[0054] 本技术领域技术人员可W理解,除非另外定义,运里使用的所有术语(包括技术 术语和科学术语),具有与本发明所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应 该理解的是,诸如通用字典中定义的那些术语,应该被理解为具有与现有技术的上下文中 的意义一致的意义,并且除非被特定定义,否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。
[0055] 图1示出了本发明实施例提供的叶面积指数测定方法的流程图;如图1所示,本实 施例提供的叶面积指数测定方法包括W下步骤:
[0056] S1:获取待测植被的冠层图像。
[0057] S2:利用图像处理技术对获取的冠层图像进行图像分割,提取所述冠层图像中的 待测植被对应的图像区域。
[0058] S3:计算所述待测植被对应的图像区域的面积与所述冠层图像的总面积的比值, 得到所述待测植被的叶面积指数。
[0059] 具体地,分别获得只含检测植被的叶片的彩色数字图像,由于数字图像由成点阵 排列的像素点组成,因此在可W求得每个像素点所等价的真实面积的条件下,可W通过计 算图像中目标区域总的像素数来求出其实际面积。利用计算机图像处理技术分别统计出图 像总像素数Mwii和绿色叶片像素数M1。。:,从而可知它们的像素数比,也即面积比: LAI備ge=Mleaf/Msoilo
[0061] S4:对计算出的叶面积指数与实际测得的叶面积指数进行拟合,得到所述待测植 被的叶面积指数模型,W通过所述叶面积指数模型实现叶面积指数的测定。
[0062] 本实施例提供的叶面积指数测定方法操作简单、测量方便、获取信息及时且经济 有效,可实现对农作物长势及产量的监测和估算。
[0063] 图2a示出了本发明实施例提供的水稻的冠层图像拍摄效果图;图化示出了本发 明实施例提供的玉米的冠层图像拍摄效果图。如图2曰、图化所示,在上一实施例基础上,为 减弱光线直接照射造成的反光效应W及减少由于太阳高度角和光线强弱造成的图像偏差, 优选在阴天或多云天气、并控制于10:00~14:00的条件下拍摄所述冠层图像。
[0064] 进一步地,图3示出了本发明实施例提供的叶面积指数测定方法中进行冠层图像 分割的流程图;如图3所示,本实施例中利用图像处理技术对获取的冠层图像进行图像分 割的步骤具体为:
[0065]F1:将所述冠层图像分成多个子图像,所述多个子图像中任一两个相邻子图像之 间具有50%的重叠区域;
[0066]F2:作出每个子图像的直方图,选择直方图为双峰直方图的子图像,根据对应的双 峰直方图确定该子图像的阔值;
[0067]F3:根据确定出的子图像的阔值,采用插值法得到所有子图像的阔值。
[0068]F4:根据所有子图像的阔值对所述冠层图像进行切割。 W例优选地,所述根据对应的双峰直方图确定该子图像的阔值,具体
当前第1页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1