一种功率igbt模块的寿命预测方法

文档序号:9579490阅读:1137来源:国知局
一种功率igbt模块的寿命预测方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及新能源发电系统可靠性技术领域,特别是涉及到一种核心变流装置功 率IGBT模块的寿命预测。
【背景技术】
[0002] 近年来,以功率IGBT模块为核心的变流装置在新能源发电、电动汽车领域广泛应 用。然而在实际应用中,负载的不稳定性和剧烈波动性,加快了作为功率变流装置核心器件 的IGBT的老化,系统可靠性降低。因此对功率IGBT模块的寿命预测显得十分重要。在影 响导致功率IGBT模块寿命的因素中,结温及结温变化是导致功率IGBT模块损坏最直接、最 重要的因素。但现有的基于结温监控预测IGBT寿命的方法,均需基于设定工况作出,只能 预测出设定工况下IGBT的寿命,而对于电动汽车、新能源发电等负载不稳定、且变化不规 律的使用场合,采用现有预测方法的预测寿命与实际寿命存在较大误差。无法对其进行准 确的实时剩余寿命预测。
[0003] 中国专利CN101087125B公开了一种具有寿命预测功能的电动汽车电机驱动系 统,该文件中指出可以通过对IGBT结温及结温变化实时预测其剩余寿命,公式及方法如 下:
[0004] LIGBT =N(Tj,Δη) ·tcycle (5)
[0005] 式中:Ν(η,Λη)是在IGBT结温η和结温变化Λη下循环功率曲线,是功 率循环时间,单位:s,这两者是由IGBT制造商给出。
[0006] 该方法中计算剩余寿命需依靠IGBT制造商给出的功率循环曲线和功率循环时 间,但这两个参数的同样是基于某种设定工况作出的,当实际工况与设定工况不符时,其预 测出的剩余寿命也并不准确,因此,提供一种能够适应各种工况,基于结温及结温变化准确 实时预测IGBT剩余寿命的方法,成为现有技术中亟待解决的问题。

【发明内容】

[0007] 为了克服上述现有技术的不足,提供一种能够适应各种工况,基于结温实时检测 准确实时预测IGBT剩余寿命的方法。
[0008] 本发明提供了一种功率IGBT模块的寿命预测方法,其特征在于该方法基于实时 温度监测,
[0009] 首先,由实时监测的温度获得其离散有限序列,将此序列进行线性拟合得到连续 函数,再经傅里叶变换为正弦量,按电路解析方法,通过寿命损耗调节函数C,求解在寿命消 耗函数R(T)和Rc上寿命损耗,进而预测出功率IGBT模块的剩余寿命。
[0010] 所述的功率IGBT模块的寿命预测方法,其特征在于IGBT模块结温以一定频率和 幅值波动时,功率IGBT模块的瞬时寿命损耗P依下(1.1)式计算
[0011]
i' )..1)
[0012] 所述式⑴中T(t)为将实时监测得到结温T的离散有限序列进行线性拟合得到 表征Τ随时间t变化的连续函数;ω为角频率,ω= 2JTfT,fT为IGBT模块结温变化频率,
[0013] 所述功率IGBT模块累积消耗的寿命Θs根据式(2. 1)计算
〇、?.d:[0015] 当IGBT以恒定结温运行时,P依下(1. 2)式计算,
[0014]
[0016]
[0017] 累积消耗寿命根据式(2. 2)计算
[0018]
[0019]ts为IGBT模块实际运行时间,tz是实际工况下的最终可运行时间
[0020] 模块剩余寿命Lr如式(3)tz是实际工况下的最终可运行时间。
[0021]Lr =L-Θs(3),L为功率IGBT总寿命,
[0022] 所述式(1)的参数中,R(T)、R。和C的获取过程如下:
[0023] 需要选取相同型号的功率IGBT模块3组,每组m个,m彡1,
[0024] 将3组模块分别在按以下步骤操作。
[0025] 1)模块组1运行在恒定结温?\下,得到ηι个采样时间点,对应的温度序列和剩余 寿命值,每组得到m个总寿命值,将总寿命值求平均值得Q。
[0026] 2)让其他两组模块围绕结温?\,分别在正弦波动下运行,所述正弦波幅值固定,频 率分别为f\、f2,分别得到对应的温度序列,m个寿命值,各自将总寿命值求平均值得L2,L3。
[0027]Q带入(1.2),L2,L3带入式(1.2)联立可得到R(T)、R。和C的离散值,改变?\,得 到不同温度状态下的R(T)、R。和C参数,将这3个参数矩阵进行拟合即可得到R(T)、Rc及 C〇
[0028]其中R(T)、R。的单位为T2/t,C的单位为t/T2,T为温度单位,t为时间单位,
[0029] 与现有技术相比,本发明的有益效果是:
[0030]本发明提供的功率IGBT模块的寿命预测方法,基于实时结温监测数据,有效推测 功率IGBT模块的剩余寿命,与现有的结温检测方法只能在结温或结温变化幅值过高时向 控制系统发出警告,并不能判断模块是否真正损坏,更不能由此推测模块的剩余寿命相比, 能够基于基于实时结温监测的功率IGBT模块的剩余寿命。本发明充分考虑到了结温这一 影响功率IGBT模块寿命的最重要因素,将模型构建在功率IGBT模块结温的实时监测之上, 综合考虑到了恒定高结温以及结温频率与幅值波动这两种影响因素。且与CN101087125B中的寿命预测方法相比,本发明提供的寿命预测方法其关键参数R(T)、Rc、C建立在对现有 所检测功率IGBT模块通过简单方法实测并推导得来,参数硬件实现简单,经济成本低,因 此在复杂工况下对功率IGBT剩余寿命的进行实施检测时,其预测结果准确度更高。
[0031] 本发明中各个参数的获取计算简单,过程明确,参数一旦获取,即可直接由实时监 测结温数据预测功率IGBT模块的寿命,具有相当的实用性。
【附图说明】
[0032] 图1为实施例1所示功率IGBT模块寿命预测方法步骤1)操作等效电路模型图
[0033] 图2为实施例1所示功率IGBT模块寿命预测方法步骤2)操作等效电路模型图。 【具体实施方式】[0034] 实施例1功率IGBT模块预测寿命方法推导[0035] 所述功率IGBT模块的瞬时寿命损耗P依下(1. 1)式计算
[0036] U!
[0037] 所述式⑴中T(t)为将实时监测得到结温T的离散有限序列进行线性拟合得到 表征T随时间t变化的连续函数;ω为角频率,ω= 2πfT,fT为IGBT模块结温变化频率,
[0038] 所述功率IGBT模块累积消耗的寿命Θs根据式(2. 1)计算
[0039]
[0040] 当IGBT以恒定结温运行时,P依下(1. 2)式计算,
[0041] 、
m···
[0042] 累积消耗寿命根据式(2. 2)计算
[0043]
[0044]ts为IGBT模块实际运行时间,tz是实际工况下的最终可运行时间
[0045] 模块剩余寿命Lr如式(3)tz
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