用于监视存储器数据错误状态的方法与装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种存储器，更特别地涉及一种用于监视存储装置数据错误状态的方法与装置。
【背景技术】
[0002]传送至存储装置或自存储装置传送来的数据可能会遗失或损坏。为了减轻或解决这问题，可在一条数据(也称为用户数据或用户码)中加入错误校验码(error correctingcode, ECC)，这条数据被写入到存储装置的存储阵列之中。ECC可由存储器控制器中的ECC产生器产生，存储器控制器控制存储装置的操作。一般而言，用户数据与对应的ECC储存在存储器阵列的不同部分。储存用户数据的部分也可称为一般阵列，而储存ECC的部分也可称为ECC阵列。
[0003]当从存储装置读取或传送用户数据时，可使用ECC以确认对应的用户数据是否包含任何错误。如果存在可校验的错误，在读取或传送用户数据时，也可以使用ECC来校验用户数据。根据所采用的机制与ECC的位元数量，ECC可校验对应的用户数据中特定量的失败位元。如果用户数据包含零个失败位元，用户数据会跳过此确认步骤。如果用户数据中失败位元的数量小于或等于ECC所能校验的失败位元的最大数量，用户数据是可校验的。然而，如果用户数据中失败位元的数量大于ECC所能校验的失败位元的最大数量，用户数据是不可校验的。举例来说，依据汉明编码方案(Hamming code scheme)，可以在一个含有128位的用户数据块中加入八个ECC位元的ECC。这个ECC可以允许在128位元中的一个失败位元被校验。
[0004]众所周知，错误校验是在存储器控制器中执行。用户可能无法了解一条输出数据初始是否没有错误或是否在之后被校验过。也就是说，用户无法获知，因此也不能确认存储装置中储存数据的数据错误状态。
【发明内容】
[0005]有鉴于此，本发明提出了一种用于监视存储装置数据错误状态的方法。该方法包括:由一存储器控制器产生一数据状态指示码以表示由该存储器控制器所传送的一数据块(data chunk)的错误状态；以及由该存储器控制器输出该数据状态指示码至一用户界面。
[0006]本发明还提出了一种存储器控制器，包括:一错误校验码产生器，被配置以产生一数据状态指示码以指示由该存储器控制器传送的一数据块的错误状态；以及一状态引脚，被配置以输出该数据状态指示码，该状态引脚不同于用于输出该数据块的一数据排线引脚。
[0007]本发明还提出了一种存储器控制器，包括:一错误校验码产生器，被配置以产生一数据状态指示码以指示由该存储器控制器传送的一数据块的错误状态；以及一数据处理电路，被配置以合并该数据状态指示码与该数据块以产生一输出信号，以及输出该信号到一数据排线引脚。
[0008]本发明的特征与优点将部分地被阐述在下面的说明书中，并且部分可从说明书推知，或可以经由本发明的实践而得知。这些特征和优点可通过所附权利要求书特别指明的元件与结合的方式而被实现与达成。
[0009]应当理解的是，前述的广义描述和以下的详细描述都只是示例和说明性的，并不限制所请求的本发明。
[0010]包含在说明书中并构成本说明书的一部分的所附图示，阐示出了本发明的几个实施例，并且与本说明书一起用于解释本发明的原理。
[0011]为了对本发明的上述及其他方面有更佳的了解，下文特举优选实施例，并配合所附附图，作详细说明如下:
【附图说明】
[0012]图1表示根据一范例性实施例的用于监视存储装置数据错误状态的方法的流程图；
[0013]图2表示根据一范例性实施例的存储装置的结构的方框示意图；
[0014]图3表示根据一范例性实施例在输出数据错误状态时的信号波形图；
[0015]图4表示根据另一范例性实施例的存储装置的结构的方框示意图；
[0016]图5表示根据另一范例性实施例在输出数据错误状态时的信号波形图；
[0017]图6表示根据再一范例性实施例的存储装置的结构的方框示意图；
[0018]图7A及图7B表示根据再一范例性实施例在输出数据错误状态时的信号波形图；
[0019]图8表示根据又一范例性实施例在输出数据错误状态时的信号波形图。
[0020]【附图标记说明】
[0021]100:用于监视存储装置数据错误状态的方法
[0022]102 ?110:步骤
[0023]200、400、600:存储装置
[0024]200-1、400-1:存储阵列
[0025]200-2、400-2、600-2:存储器控制器
[0026]202:一般阵列
[0027]204:ECC 阵列
[0028]206:第一感测放大器
[0029]208:第二感测放大器
[0030]210:错误状态解码电路
[0031]212:校验电路
[0032]214、614:数据处理电路
[0033]216、402-1、402_2:状态引脚
[0034]CS#、SCLK、S10、Pinl、Pin2:信号
【具体实施方式】
[0035]为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明作进一步的详细说明。
[0036]根据本发明的实施例包含用于处理指令以监视存储装置数据错误状态的方法与
目.Ο
[0037]以下，将参照【附图说明】本发明的实施例。若可能，相同的附图标记会在附图中用以标引相同或相似的部件。
[0038]图1表示根据一范例性实施例的用于监视存储装置数据错误状态的方法100的流程图。存储装置包含存储器阵列，存储器阵列储存用户数据与对应的错误校验码(errorcorrect1n codes，ECC)。存储器阵列包含多个单元，各个单元可储存一个或多个数据位元。在一些实施例中，用户数据与对应的错误校验码储存在存储器阵列中的不同部分。储存用户数据的部分也可被称为一般阵列，而储存ECC的部分也可被称为ECC阵列。存储装置可包含存储器控制器以控制存储装置的操作。
[0039]如图1所示，在步骤102，存储器控制器从存储器阵列读取一条用户数据，并从ECC阵列读取一个对应的ECC。这条用户数据可称为数据块。数据块例如可以包含128位的用户数据。对应的例如可以包含8位ECC。
[0040]在步骤104，存储器控制器通过参照ECC确认数据块是否包含任何错误。如果有，存储器控制器执行运算以产生用于校验此错误的信息，如图1的步骤106。这条信息例如可以包含失败位元的位址信息，失败位元位址信息指示数据块中失败位元的位置，或者存储器阵列中失败位元的位址。
[0041]在步骤106用于校验错误的信息经运算后、或如果在步骤104决定数据块并不包含任何错误时，存储器控制器产生数据状态指示码指示数据块的错误状态，如图1的步骤108。数据状态指示码可指示失败位元数量、失败位元位置及失败位元临界电压中的至少之一。根据本发明，失败位元数量是参照数据块中失败位元的数量，失败位元位置是参照数据块中失败位元的位置，而失败位元临界电压是参照储存失败位元的单元的临界电压。
[0042]在一些实施例中，数据状态指示码包含两位元。举例来说，“00”码指示“跳过”，也就是说从一般阵列读取的数据块并不包含任何错误；“01”码指示“可校验”，也就是说从一般阵列读取的数据块包含一错误，但该错误可被校验，而存储器控制器校验此错误并输出校验后数据块；“ 10”码指示“不可校验”，也就是说从一般阵列读取的数据块包含一个不可被校验的错误。
[0043]在步骤110，存储器控制器输出数据态指示码至用户界面，使得用户接收有关传送数据块数据错误的信息。用户界面例如可以为显示在屏幕上的界面。
[0044]图2表示根据本发明实施例的存储装置200的结构方框示意图。存储装置200包含存储器阵列200-1与存储器控制器200-2，存储器阵列200-1被配置以保存数据，存储器控制器200-2控制存储装置200的操作，例如是从存储器阵列200-1中读取数据或将数据写入到存储器阵列200-1中，输出数据到存储装置200外面，例如是输出数据到数据排线引脚。
[0045]如图2所示，存储器阵列200-1包含一般阵列202与ECC阵列204，一般阵列202储存用户数据，ECC阵列204储存多个ECC。
[0046]存储器控制器200-2包含第一感测放大器206、第二感测放大器208、错误状态解码电路210(在附图中标示为ECC)、校验电路212(在附图中标示为“校验”)、数据处理电路214(在附图中标示为“数据处理”)、及状态引脚216。根据本发明，校验电路212与数据处理电路214例如可以各自包含多频道合成器。第一感测放大器206与一般阵列202相互作用而例如从一般阵列202读取用户数据。第二感测放大器208与ECC阵列204相互作用而例如从ECC阵列204读取多个ECC。第一感测放大器206输出所取得的用户数据至校验电路212。再则，第一及第二感测放大器206与208分别输出所取得的用户数据与多个ECC至错误状态解码电路210，错误状态解码电路210检查用户数据是否包含任何错误，如果包含，则错误状态解码电路210产生用于校验此错误的信息。错误状态解码电路210接着输出此校验信息至校验电路212，校验电路212使用此校验信息以校验从第一感测放大器206所接收的用户数据。校验后的用户数据接着被输出至数据处理电路214以输出至例如数据排线引脚。如果由第一感测放大器206从一般阵列202所读取的用户数据并不包含任何错误，这些用户数据接着会被校验电路212传递(pass)至数据处理电路214以用于s输出，且校验并不会被执行。
[0047]根据本发明的实施例，错误状态解码电路210也产生数据状态指示码指示从一般阵列202读取的对应数据的错误状态，并输出数据状态指示码至状态引脚216。状态引脚216接着输出数据状态指示码至用户界面以呈现给用户。
[0048]根据本发明的存储