择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。
[0121]另外，在本发明各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理单元中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
[0122]本领域普通技术人员可以理解:实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括:移动存储设备、只读存储器(ROM, Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM, Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0123]或者，本发明实施例上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括:移动存储设备、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM, Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0124]以上所述，仅为本发明的【具体实施方式】，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
【主权项】
1.一种信息处理方法,应用于电子设备,所述方法包括: 获得条纹结构光图像； 对所述条纹结构光图像执行第一区域识别，获得所述图像中的至少一个第一区域，每个所述第一区域中包括各自对应的第一物体的完整图像； 对每个所述第一区域分别执行基准条纹检测，获得每个所述第一区域内的基准条纹集，每个所述基准条纹集中包括至少一条基准条纹； 基于每个所述基准条纹集中各基准条纹的完整性和覆盖在第一物体上的条纹长度，对每个所述基准条纹集进行条纹筛选，获得用于第一物体深度恢复的参考条纹。2.根据权利要求1所述信息处理方法，其特征在于，所述基于每个基准条纹集中各基准条纹的完整性和覆盖在第一物体上的条纹长度，对每个基准条纹集进行条纹筛选，获得用于第一物体深度恢复的参考条纹，包括: 对每个所述基准条纹集分别执行第一筛选处理，获得第一基准条纹子集，所述第一基准条纹子集由所述基准条纹集中有效数据量最大的第一预设数量的基准条纹组成； 对每个所述第一基准条纹子集分别执行第二筛选处理，获得第二基准条纹子集，所述第二基准条纹子集由所述第一基准条纹子集中分段数最少的第二预设数量的基准条纹组成； 对每个所述第二基准条纹子集分别执行第三筛选处理，获得第三基准条纹子集，所述第三基准条纹子集由所述第二基准条纹子集中经过所述第一物体的基准条纹组成； 对每个所述第三基准条纹子集分别执行第四筛选处理，选定落在所述第一物体上的最长基准条纹为用于第一物体深度恢复的参考条纹。3.根据权利要求2所述信息处理方法，其特征在于，所述对每个基准条纹集分别执行第一筛选处理，获得第一基准条纹子集，包括: 统计每个所述基准条纹集中各基准条纹所包含的位置点的数量，从所述基准条纹集中选择位置点的数量最多的第一预设数量的基准条纹组成所述第一基准条纹子集。4.根据权利要求2所述信息处理方法，其特征在于，所述对每个第一基准条纹子集分别执行第二筛选处理，获得第二基准条纹子集，包括: 根据每个所述第一基准条纹子集中的基准条纹所包含的位置点的坐标，统计每个基准条纹的连通域的数量，从所述第一基准条纹子集中选择连通域最少的第二预设数量的基准条纹组成所述第二基准条纹子集； 其中，每个基准条纹的所述连通域由所述基准条纹中坐标连续的位置点组成。5.根据权利要求2所述信息处理方法，其特征在于，所述对每个第二基准条纹子集分别执行第三筛选处理，获得第三基准条纹子集，包括: 判断所述第二基准条纹子集中的每条基准条纹是否与所述第一物体有重叠的位置点，将与所述第一物体没有重叠位置点的基准条纹从所述第二基准条纹子集中去除，所述第二基准条纹子集中剩余的基准条纹组成所述第三基准条纹子集。6.根据权利要求2所述信息处理方法，其特征在于，所述对每个第三基准条纹子集分别执行第四筛选处理，选定落在第一物体上的最长基准条纹为用于第一物体深度恢复的参考条纹，包括: 根据所述每个第三基准条纹子集中各基准条纹与所述第一物体重叠的位置点的坐标，计算所述各基准条纹落在第一物体上的长度，选定所述长度最大的基准条纹为用于第一物体深度恢复的参考条纹。7.根据权利要求1至6任一项所述信息处理方法，其特征在于，所述对条纹结构光图像执行第一区域识别，获得所述图像中的至少一个第一区域，包括: 通过边缘提取算法，提取所述条纹结构光图像中的每个第一物体的边缘信息，并根据每个第一物体的边缘信息，确定每个第一物体对应的第一区域； 其中，第一区域覆盖所述第一物体的边缘信息。8.—种电子设备,包括: 图像获得单元，用于获得条纹结构光图像； 区域识别单元，用于对所述条纹结构光图像执行第一区域识别，获得所述图像中的至少一个第一区域，每个所述第一区域中包括各自对应的第一物体的完整图像； 基准条纹检测单元，用于对每个所述第一区域分别执行基准条纹检测，获得每个所述第一区域内的基准条纹集，每个所述基准条纹集中包括至少一条基准条纹； 条纹筛选单元，用于基于每个所述基准条纹集中各基准条纹的完整性和覆盖在第一物体上的条纹长度，对每个所述基准条纹集进行条纹筛选，获得用于第一物体深度恢复的参考条纹。9.根据权利要求8所述电子设备，其特征在于，所述条纹筛选单元进一步用于， 对每个所述基准条纹集分别执行第一筛选处理，获得第一基准条纹子集，所述第一基准条纹子集由所述基准条纹集中有效数据量最大的第一预设数量的基准条纹组成； 对每个所述第一基准条纹子集分别执行第二筛选处理，获得第二基准条纹子集，所述第二基准条纹子集由所述第一基准条纹子集中分段数最少的第二预设数量的基准条纹组成； 对每个所述第二基准条纹子集分别执行第三筛选处理，获得第三基准条纹子集，所述第三基准条纹子集由所述第二基准条纹子集中经过所述第一物体的基准条纹组成； 对每个所述第三基准条纹子集分别执行第四筛选处理，选定落在所述第一物体上的最长基准条纹为用于第一物体深度恢复的参考条纹。10.根据权利要求9所述电子设备，其特征在于，所述条纹筛选单元进一步用于，统计每个所述基准条纹集中各基准条纹所包含的位置点的数量，从所述基准条纹集中选择位置点的数量最多的第一预设数量的基准条纹组成所述第一基准条纹子集。11.根据权利要求9所述电子设备，其特征在于，所述条纹筛选单元进一步用于，根据每个所述第一基准条纹子集中的基准条纹所包含的位置点的坐标，统计每个基准条纹的连通域的数量，从所述第一基准条纹子集中选择连通域最少的第二预设数量的基准条纹组成所述第二基准条纹子集； 其中，每个基准条纹的所述连通域由所述基准条纹中坐标连续的位置点组成。12.根据权利要求9所述电子设备，其特征在于，所述条纹筛选单元进一步用于，判断所述第二基准条纹子集中的每条基准条纹是否与所述第一物体有重叠的位置点，将与所述第一物体没有重叠位置点的基准条纹从所述第二基准条纹子集中去除，所述第二基准条纹子集中剩余的基准条纹组成所述第三基准条纹子集。13.根据权利要求9所述电子设备，其特征在于，所述条纹筛选单元进一步用于，根据所述每个第三基准条纹子集中各基准条纹与所述第一物体重叠的位置点的坐标，计算所述各基准条纹落在第一物体上的长度，选定所述长度最大的基准条纹为用于第一物体深度恢复的参考条纹。14.根据权利要求8至13任一项所述电子设备，其特征在于，所述区域识别单元进一步用于，通过边缘提取算法，提取所述条纹结构光图像中的每个第一物体的边缘信息，并根据每个第一物体的边缘信息，确定每个第一物体对应的第一区域； 其中，第一区域覆盖所述第一物体的边缘信息。
【专利摘要】本发明公开了一种信息处理方法和电子设备，方法包括：获得条纹结构光图像；对所述条纹结构光图像执行第一区域识别，获得所述图像中的至少一个第一区域，每个所述第一区域中包括各自对应的第一物体的完整图像；对每个所述第一区域分别执行基准条纹检测，获得每个所述第一区域内的基准条纹集，每个所述基准条纹集中包括至少一条基准条纹；基于每个所述基准条纹集中各基准条纹的完整性和覆盖在第一物体上的条纹长度，对每个所述基准条纹集进行条纹筛选，获得用于第一物体深度恢复的参考条纹。
【IPC分类】G06T7/00
【公开号】CN105631848
【申请号】CN201410602806
【发明人】杨晨, 陈柯, 肖蔓君, 刘文静
【申请人】联想(北京)有限公司
【公开日】2016年6月1日
【申请日】2014年10月31日