一种Android设备测试方法及测试装置的制造方法_4

文档序号:9929462阅读:来源:国知局
件和出错界面的截屏图片。
[0104]再次参考图3、图4,沿用第二实施例中的具体例子说明本实施例中的运行监控器3和测试结果生成器4。假设在音乐播放器功能测试中,音乐搜索界面B2出现CRASH错误,此时运行监控器3记录出错情况,提取并独立保存出错相关日志文件,同时对出错的音乐搜索界面B2截屏保存。测试结果生成器4对音乐播放器这个功能模块的测试结果包进行命名,例如命名“Player”,由于其测试中出现了错误,则名称中加入错误标识“FAIL”。此时音乐播放器的测试结果包名为“Player-FAIL”。测试结果包“Player-FAIL”里包含运行监控器3提取的出错相关日志文件,以及音乐搜索界面B2截屏图片。若其他短信功能、图库功能测试均通过,则其测试结果包的包名加入测试通过标识“PASS”。短信功能测试结果包名为“Message-PASS”;图库功能测试结果包名为“Picture-PASS”。其他功能也是同样方式生成测试结果包。最后的测试结果,是按照所有功能生成的若干测试结果包。测试人员可以一目了然的看出哪些功能模块出现错误。对出现错误的功能,点开其测试结果包可以看到出错相关曰志文件,以及出错界面的截屏图片。
[0105]本发明中一个或多个处理器,含单核处理器或多核处理器,用于执行本发明涉及的系统、程序、用户和应用界面以及Android设备的任何其他功能。处理器也可称为一个或多个微处理器、中央处理单元(CPU)等等。更具体地,处理器可为复杂的指令集计算(CISC)微处理器、精简指令集计算(RISC)微处理器、超长指令字(VLIW)微处理器、实现其他指令集的处理器,或实现指令集组合的处理器。处理器还可为一个或多个专用处理器,诸如专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)、数字信号处理器(DSP)、网络处理器、图形处理器、网络处理器、通信处理器、密码处理器、协处理器、嵌入式处理器、或能够处理指令的任何其他类型的逻辑部件。处理器用于执行本发明所讨论的操作和步骤的指令。
[0106]要由一个或多个处理器处理的指令或者数据可以存储在计算机可读介质中,例如存储器。存储器可包括一个或多个易失性存储设备,如随机存取存储器(RAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、静态RAM(SRAM)或其他类型的存储设备。存储器可存储包括由处理器或任何其他设备执行的指令序列的信息。例如,多种操作系统、设备驱动程序、固件(例如,输入输出基本系统或B1S)和/或应用程序的可执行代码和/或数据可被加载在存储器中并且由处理器执行。
[0107]应当说明的是,上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种Android设备测试方法,其特征在于,包括如下步骤: SlO获取Android设备当前界面的布局; S20解析该布局获得当前界面的各控件的内容,对各控件中可操作的控件按照已设置的操作方式进行操作; S30监控所述操作进行时是否发生错误,以及; S40根据是否发生错误记录测试结果。2.根据权利要求1所述的Android设备测试方法,其特征在于,还包括, 测试时按照界面遍历算法依次对各个界面执行步骤S10-S40,进行遍历测试; 当任意一界面测试中发生错误,则放弃当前界面的测试,继续对下一待测界面进行测试。3.根据权利要求1或2所述的Android设备测试方法,其特征在于,步骤S20中,所述已设置的操作方式的设置包括: 控件Android, widge.TextView操作方式设置为点击; 控件Android.widge.1mageView操作方式设置为长按; 控件Android, widge.ListView操作方式设置为点击; 控件Android.widge.Button操作方式设置为按键; 控件Android.widge.EditText操作方式设置为输入文本; 控件Android.widge.CheckBox操作方式设置为点击; 控件Android.widge.ProgressBar操作方式设置为滑动。4.根据权利要求1或2所述的Android设备测试方法,其特征在于,步骤S20解析该布局获得当前界面的各控件的内容,对各控件中可操作的控件按照已设置的操作方式进行操作具体为: 在解析该布局获得当前界面的各控件的内容后对其中可操作控件进行排序,排序方式包括从左到右、从上到下,或从右到左、从上到下,或从左到右、从下到上,或从右到左、从下到上; 之后按照所述排序对各控件中可操作的控件按照已设置的操作方式进行操作。5.根据权利要求1或2所述的Android设备测试方法,其特征在于,所述S40根据是否发生错误记录测试结果具体为:对每个包括至少一个界面的功能模块进行命名,并记录该功能模块的测试结果,若遍历该功能模块的所有界面没有出现错误,则该功能模块的测试结果为通过;若其中任一界面出现错误,则对该功能模块标注错误标识并记录所述出现错误的界面;最后根据上述通过和/或错误情况呈现整体测试结果。6.一种Android设备测试装置,其特征在于,包括: Android界面布局获取器,其获取Android设备当前界面的布局,并解析该布局获得当前界面的各控件的内容; 控件操作器,对各控件中可操作的控件按照已设置的操作方式进行操作; 运行监控器,监控所述操作进行时是否发生错误,以及; 测试结果生成器,根据是否发生错误记录测试结果。7.根据权利要求6所述的Android设备测试装置,其特征在于,所述运行监控器监控所述操作进行时是否发生错误进一步包括: 所述运行监控器按照界面遍历算法,控制对各个界面进行遍历测试; 当任意一界面测试中发生错误,则所述运行监控器放弃当前界面的测试,关闭出错提示窗口并继续对下一待测界面进行测试。8.根据权利要求6或7所述的Android设备测试装置,其特征在于,所述运行监控器,监控所述操作进行时是否发生错误,当发生错误时,所述运行监控器记录出错情况,提取并独立保存出错相关日志文件,同时对出错界面截屏保存。9.根据权利要求8所述的Android设备测试装置,其特征在于,测试结果生成器,根据是否发生错误记录测试结果; 所述测试结果生成器对每个包括至少一个界面的功能模块进行命名,并记录该功能模块的测试结果,若遍历该功能模块的所有界面没有出现错误,则该功能模块的测试结果为通过;若其中任一界面出现错误,则对该功能模块标注错误标识并记录所述出现错误的界面; 所述测试结果生成器根据上述通过和/或错误情况呈现整体测试结果。10.根据权利要求9所述的Android设备测试装置,其特征在于,所述整体测试结果为按照功能模块命名的若干测试结果包;每个测试结果包的名称含有测试结果通过标识或者错误标识;对于测试出现错误的功能模块,其测试结果包中包括出错相关日志文件和出错界面的截屏图片。
【专利摘要】本发明提供一种Android设备测试方法及系统。本发明Android设备测试方法,包括如下步骤:S10获取Android设备当前界面的布局;S20解析该布局获得当前界面的各控件的内容,对各控件中可操作的控件按照已设置的操作方式进行操作;S30监控所述操作进行时是否发生错误,以及;S40根据是否发生错误记录测试结果。该测试方法及测试装置能任意测试Android设备,无需脚本录制,而且支持进行跨应用的测试。
【IPC分类】G06F11/36
【公开号】CN105718370
【申请号】CN201610040884
【发明人】韩继梁
【申请人】上海斐讯数据通信技术有限公司
【公开日】2016年6月29日
【申请日】2016年1月21日
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