一种非接触芯片卡检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于自动化设备技术领域，尤其涉及一种用于银行卡生产设备的非接触芯片卡检测装置。
【背景技术】
[0002]非接触芯片卡从卡基到成品卡，会经过多种工序处理，而某些工序有可能会对非接触芯片卡造成损坏，如在卡片个人化生产过程中，设备静电或外力有可能使IC卡片的非接芯片功能失效。为了避免此类情况的发生，虽然在静电的防护等方面做了相关的改善，但仍存在如外部环境等不可控因素导致卡片损坏，失效卡片若不及时发现就会产生大量废卡，如果不对卡片进行全检，失效卡片外流后会导致持卡人不能正常使用卡片的非接功能。为了降低卡片不良率，目前卡片生产厂商需要大量人力及时间来手工电测所有非接触芯片成品卡，但随着金融磁条卡逐渐迀移芯片卡，芯片卡生产量的增加，采用人工全检的模式，整体效率非常低，影响产品交付，如何提高非接触芯片卡的检测效率成为了一个目前亟需解决的问题。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是提供一种用于制卡设备上的可以自动检测非接触芯片卡的装置，以提高非接触芯片卡的检测效率。
[0004]为了实现上述目的，本实用新型采取如下的技术解决方案:
[0005]—种非接触芯片卡检测装置，包括:读卡器，所述读卡器产生射频信号，并接收非接触式芯片的反馈信号；控制模块，所述控制模块接收所述读卡器发送的反馈信号以及接收下述触发传感器的感应信号；触发传感器，所述触发传感器感应非接触式芯片卡，并将感应信号发送给所述控制模块。
[0006]优选的，所述读卡器和触发传感器设置于制卡设备的卡片传送路径上。
[0007]优选的，所述触发传感器位于卡片传送路径上读卡器之后。
[0008]优选的，所述触发传感器为光电传感器。
[0009]优选的，还包括控制信号传感器，所述控制信号传感器接收所述控制模块的控制信号，以控制制卡设备出卡端正常出卡通道和废卡出卡通道的开/闭。
[0010]由以上技术方案可知，本实用新型的检测装置设置于非接触式芯片卡或双芯片卡生产设备上，利用读卡器和触发传感器相结合，读卡器用于检测芯片卡的功能是否失效，配合触发传感器感应检测区域内是否有卡片经过，准确有效的检测出芯片卡是否为良品，本实用新型既不影响设备原有的生产速度，又有效提升了不良非接触式芯片检测效率。
【附图说明】
[0011]为了更清楚地说明本实用新型实施例，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012]图1为本实用新型实施例的结构框图；
[0013]图2为本实用新型检测装置设置于制卡设备上的示意图；
[0014]图3为图2中A部分的局部放大示意图。
[0015]以下结合附图对本实用新型的【具体实施方式】作进一步详细地说明。
【具体实施方式】
[0016]下面结合附图对本发明进行详细描述，在详述本发明实施例时，为便于说明，表示器件结构的附图会不依一般比例做局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本发明保护的范围。需要说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、清晰地辅助说明本发明实施例的目的。
[0017]参照图1所示，本实用新型的非接触芯片卡检测装置包括读卡器1、控制模块2以及触发传感器3，用于制卡设备上，检测卡片是否功能失效。读卡器I用于产生射频信号，并接收非接触式芯片卡反馈的信号，读卡器I接收到非接触式芯片反馈的信号后，向控制模块2发送反馈信号。触发传感器3用于感应非接触式芯片卡，当非接触式芯片卡经过触发传感器3时，触发传感器3向控制模块2发送感应信号。本实用新型的控制模块采用单片机，其接收信号并处理信号，并可进一步地反馈信号给制卡设备。触发传感器3采用光电传感器。
[0018]读卡器I和触发传感器3设置于制卡设备的卡片传送路径上，本实施例的触发传感器3位于读卡器I之后，即卡片先经过读卡器后再经过光电传感器，如图2和图3所示，读卡器I设置于卡片传送轨道的旁侧，循环扫描通过的非接触芯片卡，检测芯片卡是否为良品，如果是良品，将反馈低电平信号给控制模块2，如果是不良品，则无信息反馈。
[0019]进一步的，本实用新型的控制模块2还具有指示灯、报警单元、显示单元。判断为不良卡时，指示灯可显示为红色，报警单元发出警报信号，显示单元显示不良卡片的数量，实时提醒操作员，便于核对不良卡数量。报警单元可采用蜂鸣器，显示单元可采用两位数码管。
[0020]下面对本实用新型检测装置的工作过程进行说明:
[0021]开机后，制卡设备开始工作，制作完成的卡片沿着制卡设备的传送轨道行进；
[0022]读卡器I开始循环扫描；
[0023]当卡片经过读卡器I时，如果是功能正常的芯片卡，读卡器I发出射频信号后可接收到芯片卡反馈的信号，此时读卡器I发送一个低电平给控制模块2，控制模块2以寄存的形式保存一个标志，如令timels = 1，如果是不良芯片卡，读卡器I不会发送任何信号给控制模块2，则timels = O ；
[0024]芯片卡继续前进经过触发传感器3时，触发传感器3感应到芯片卡，并向控制模块2发送感应信号，表示在检测区域内检测到有卡片经过，控制模块2接收到触发传感器3的信号后，寻找是否存在已存储的标志，如果存在标志timels = 1，表示卡片正常，指示灯闪一下；如果无标志，说明读卡器未能收到卡片的反馈信号，卡片非接功能失效，蜂鸣器发出警报声；
[0025]当芯片卡离开触发传感器3后，读卡器重新开始扫描，此时标志timels重新变为O。
[0026]作为本实用新型的一个优选实施例，检测装置还包括控制信号传感器4，用于接收控制模块2的控制信号，该控制信号用于控制制卡设备出卡端正常出卡通道和废卡出卡通道的开/闭；当芯片卡功能失效时，控制模块2向控制信号传感器4发送一个低电平，控制信号传感器4收到信号后，控制制卡设备出卡端的废卡出卡通道打开，废卡则会自动排出至废卡槽内，通过设置该控制信号传感器当出现废卡时可以不用停止制卡设备的生产过程，人工干预拿卡，提高了生产效率，同时也无需再次确认好卡槽中的卡片。控制模块还可以保存如时间、卡号等相关记录日志，供后期随时查询核对。
[0027]本实用新型检测装置对卡片进行检测时，如果卡片没有离开触发传感器时，检测区域内不会有第二张卡片进入，即单片机在作判断处理时，读卡器不会去扫描是否有非接触卡片的。本实用新型的卡片检测装置可用于如凸字芯片卡、非凸字芯片卡、双芯片卡等。
[0028]采用本实用新型的卡片检测装置，在制作卡片的工艺中即可完成对卡片功能的检测，大大提高了检测效率，与人工检测的方式相比，准确率也更高，检测效果更好，也可解决生产工耗大的困扰。
[0029]以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非对其限制，尽管参照上述实施例对本实用新型进行了详细的说明，所属领域的普通技术人员应当理解，依然可以对本实用新型的【具体实施方式】进行修改或者等同替换，而未脱离本实用新型精神和范围的任何修改或者等同替换，其均应涵盖在本实用新型的保护范围之中。
【主权项】
1.一种非接触芯片卡检测装置，其特征在于，包括: 读卡器，所述读卡器产生射频信号，并接收非接触式芯片的反馈信号； 控制模块，所述控制模块接收所述读卡器发送的反馈信号以及接收下述触发传感器的感应信号； 触发传感器，所述触发传感器感应非接触式芯片卡，并将感应信号发送给所述控制模块。2.如权利要求1所述的非接触芯片卡检测装置，其特征在于:所述读卡器和触发传感器设置于制卡设备的卡片传送路径上。3.如权利要求2所述的非接触芯片卡检测装置，其特征在于:所述触发传感器位于卡片传送路径上读卡器之后。4.如权利要求1所述的非接触芯片卡检测装置，其特征在于:所述触发传感器为光电传感器。5.如权利要求1所述的非接触芯片卡检测装置，其特征在于:还包括控制信号传感器，所述控制信号传感器接收所述控制模块的控制信号，以控制制卡设备出卡端正常出卡通道和废卡出卡通道的开/闭。
【专利摘要】一种非接触芯片卡检测装置，包括：读卡器，所述读卡器产生射频信号，并接收非接触式芯片的反馈信号；控制模块，所述控制模块接收所述读卡器发送的反馈信号以及接收下述触发传感器的感应信号；触发传感器，所述触发传感器感应非接触式芯片卡，并将感应信号发送给所述控制模块。本实用新型的检测装置设置于非接触式芯片卡或双芯片卡生产设备上，利用读卡器和触发传感器相结合，读卡器用于检测芯片卡的功能是否失效，配合触发传感器感应检测区域内是否有卡片经过，准确有效的检测出芯片卡是否为良品，既不影响设备原有的生产速度，又有效提升了不良非接触式芯片检测效率。
【IPC分类】G06K19/077, G06K7/00
【公开号】CN205103827
【申请号】CN201520692545
【发明人】袁鑫磊, 李卫雄, 姜传和, 陈波, 孙辉锋
【申请人】珠海市金邦达保密卡有限公司
【公开日】2016年3月23日
【申请日】2015年9月7日