技术特征：
1.一种红外发码芯片发码功能测试的方法，其特征在于，所述方法包括：通过记录设备记录待测红外发码芯片的按键所发码型的编码格式信息，并将所述编码格式信息传送给测试设备；在所述红外发码芯片测试时，所述测试设备触发相同的按键，并记录所述按键所发码型的编码格式信息；以及所述测试设备判断其记录的编码格式信息和从所述记录设备接收到的编码格式信息的误差是否在所述测试误差内；若是，则所述红外发码芯片的发码功能正常。2.如权利要求1所述的红外发码芯片发码功能测试的方法，其特征在于，所述编码格式信息包括：码型每一个有载波部分的时间长度和码型每一个无载波部分的时间长度。3.如权利要求1所述的红外发码芯片发码功能测试的方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述记录设备记录的时长达到总记录时长时，所述记录设备停止记录。4.如权利要求1所述的红外发码芯片发码功能测试的方法，其特征在于，所述记录设备和所述测试设备可以是同一个设备，所述设备具备载波记录功能和模拟按键功能。5.一种红外发码芯片发码功能测试的装置，其特征在于，所述装置包括：记录模块，用于通过记录设备记录待测红外发码芯片的按键所发码型的编码格式信息，并将所述编码格式信息传送给测试设备；以及测试模块，用于在所述红外发码芯片测试时，所述测试设备触发相同的按键，并记录所述按键所发码型的编码格式信息；以及所述测试设备判断其记录的编码格式信息和从所述记录设备接收到的编码格式信息的误差是否在所述测试误差内；若是，则所述红外发码芯片的发码功能正常。6.如权利要求5所述的红外发码芯片发码功能测试的装置，其特征在于，所述记录模块还用于：在所述记录设备记录的时长达到总记录时长时，所述记录设备停止记录。7.一种电子设备，其特征在于，包括：至少一个处理器；以及存储器，所述存储器存储指令，当所述指令被所述至少一个处理器执行时，使得所述至少一个处理器执行如权利要求1至4中任一项所述的红外发码芯片发码功能测试的方法。8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述的红外发码芯片发码功能测试的方法的步骤。
技术总结
本发明公开了一种红外芯片发码功能测试方法及装置、电子设备和存储介质，该方法包括以下步骤：通过记录设备记录待测红外发码芯片的按键所发码型的编码格式信息，并将所述编码格式信息传送给测试设备；在所述红外发码芯片测试时，所述测试设备触发相同的按键，并记录所述按键所发码型的编码格式信息；以及所述测试设备判断其记录的编码格式信息和从所述记录设备接收到的编码格式信息的误差是否在所述测试误差内；若是，则所述红外发码芯片的发码功能正常。该方法无论红外集成电路发出来的码型是需要奇偶帧校验的，还是带简码重复功能的，需要测试一帧还是测试多帧，该测试方法都可以准确测试码型正确性，进而判断红外集成电路的功能是否正常。路的功能是否正常。路的功能是否正常。
技术研发人员：张飞飞 吴登娥
受保护的技术使用者：苏州华芯微电子股份有限公司
技术研发日：2022.05.17
技术公布日：2022/6/14