红外芯片发码功能测试方法及装置、电子设备和存储介质与流程

1.本发明是关于芯片测试领域，特别是关于一种红外芯片发码功能测试方法及装置、电子设备和存储介质。


背景技术：

2.红外遥控是一种无线、非接触控制技术，具有抗干扰能力强，信息传输可靠，功耗低，成本低，易实现等显著特点，被诸多电子设备特别是家用电器广泛采用，应用中的各种红外遥控系统的原理都大同小异，区别只是在于各系统的信号编码格式不同。遥控编码脉冲对38khz的载波进行脉冲幅度调制(pam)后便形成遥控信号，经驱动电路由红外发射管发射出去，红外接收头接收到调制后的遥控信号，经前置放大、限幅放大、带通滤波、峰值检波和波形整形，从而解调出与输入遥控信号反相的遥控脉冲。
3.由于各种码型编码格式差异较大，很难做到统一识别其格式。在集成电路的生产过程中，集成电路的功能可能出现异常，因此，在焊接到pcb线路板上之前，都需要对每一颗集成电路进行测试，以确保其功能正确无误。但是由于红外编码码型较多，因此自动测试工具需要经常修改来适应这种变化，给生产测试带来诸多不便。
4.红外发码集成电路的传统测试方式是对其发出的红外编码进行完整解码，通过解码得到该次按键的码型、键值、用户码等信息，再判断这些信息是否正确。这种方式要求测试设备具备解码所有红外码型的能力，否则无法判断集成电路的功能是否正确。因此需要不定期的更新解码程序，添加新码型的解码功能，这种方式给生产和维护带来了一定的风险和困难。
5.公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本发明的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。


技术实现要素：

6.本发明的目的在于提供一种红外芯片发码功能测试方法及装置、电子设备和存储介质，解决红外发码集成电路的传统测试方法需要不定期的更新解码程序，添加新码型的解码功能的问题。
7.为实现上述目的，本发明的实施例提供了一种红外发码芯片发码功能测试的方法。
8.在本发明的一个或多个实施方式中，所述方法包括：通过记录设备记录待测红外发码芯片的按键所发码型的编码格式信息，并将所述编码格式信息传送给测试设备；在所述红外发码芯片测试时，所述测试设备触发相同的按键，并记录所述按键所发码型的编码格式信息；以及所述测试设备判断其记录的编码格式信息和从所述记录设备接收到的编码格式信息的误差是否在所述测试误差内；若是，则所述红外发码芯片的发码功能正常。
9.在本发明的一个或多个实施方式中，所述编码格式信息包括：码型每一个有载波部分的时间长度和码型每一个无载波部分的时间长度。
10.在本发明的一个或多个实施方式中，所述方法还包括：在所述记录设备记录的时长达到总记录时长时，所述记录设备停止记录。
11.在本发明的一个或多个实施方式中，所述记录设备和所述测试设备可以是同一个设备，所述设备具备载波记录功能和模拟按键功能。
12.在本发明的另一个方面当中，提供了一种红外发码芯片发码功能测试的装置，其包括记录模块和测试模块。
13.记录模块，用于通过记录设备记录待测红外发码芯片的按键所发码型的编码格式信息，并将所述编码格式信息传送给测试设备。
14.测试模块，用于在所述红外发码芯片测试时，所述测试设备触发相同的按键，并记录所述按键所发码型的编码格式信息；以及所述测试设备判断其记录的编码格式信息和从所述记录设备接收到的编码格式信息的误差是否在所述测试误差内；若是，则所述红外发码芯片的发码功能正常。
15.在本发明的一个或多个实施方式中，所述记录模块还用于：在所述记录设备记录的时长达到总记录时长时，所述记录设备停止记录。
16.在本发明的一个或多个实施方式中，所述编码格式信息包括：码型每一个有载波部分的时间长度和码型每一个无载波部分的时间长度。
17.在本发明的一个或多个实施方式中，所述记录设备和所述测试设备可以是同一个设备，所述设备具备载波记录功能和模拟按键功能。
18.在本发明的另一个方面当中，提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及存储器，所述存储器存储指令，当所述指令被所述至少一个处理器执行时，使得所述至少一个处理器执行如上所述的红外发码芯片发码功能测试的方法。
19.在本发明的另一个方面当中，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如所述的红外发码芯片发码功能测试的方法的步骤。
20.与现有技术相比，根据本发明实施方式的红外芯片发码功能测试方法及装置、电子设备和存储介质，其能够通过对记录设备和测试设备记录的编码格式信息比较，进而判断红外发码芯片发码功能是否正常，该方法无需对红外集成电路发出来的码型进行解码，当有新码型时也不需要修改测试程序即可正确测试，无论红外集成电路发出来的码型是需要奇偶帧校验的，还是带简码重复功能的，需要测试一帧还是测试多帧，该测试方法都可以准确测试码型正确性，进而判断红外集成电路的功能是否正常。
附图说明
21.图1是根据本发明一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的方法的流程图；图2是根据本发明一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的方法的3010码型编码格式示意图；图3是根据本发明一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的方法的6122码型编码格式示意图；图4是根据本发明一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的方法的9012码型编码格式示意图；
图5是根据本发明一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的方法的5104码型编码格式示意图；图6是根据本发明一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的方法的编码格式信息示意图；图7是根据本发明一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的装置的结构图；图8是根据本发明一实施方式的红外发码芯片发码功能测试的计算设备的硬件结构图。
具体实施方式
22.下面结合附图，对本发明的具体实施方式进行详细描述，但应当理解本发明的保护范围并不受具体实施方式的限制。
23.除非另有其它明确表示，否则在整个说明书和权利要求书中，术语“包括”或其变换如“包含”或“包括有”等等将被理解为包括所陈述的元件或组成部分，而并未排除其它元件或其它组成部分。
24.以下结合附图，详细说明本发明各实施例提供的技术方案。
25.实施例1如图1至图6所示，介绍本发明的一个实施例中红外发码芯片发码功能测试的方法，该方法包括如下步骤。
26.在步骤s101中，通过记录设备记录待测红外发码芯片的按键所发码型的编码格式信息，并将编码格式信息传送给测试设备。
27.初始化设置记录设备的总记录时长和允许的测试误差。通过记录设备将待测红外发码芯片的某一按键发送码型的所有信息（编码格式信息）记录下来，码型包括但不限于3010码型、6122码型、9012码型、5104码型，上述码型的编码格式示意图如图2-5所示，记录下来的编码格式信息包括码型每一个有载波部分的时间长度和码型每一个无载波部分的时间长度，在记录设备记录的时长达到总记录时长时，记录设备停止记录。
28.如图6所示，其中d0-d17为需要记录的时长，有载波部分的时长是d0，d2，d4，d6，d8等，无载波部分的时长是d1，d3，d5，d7，d9等，d18为总记录时长。
29.在步骤s102中，在红外发码芯片测试时，测试设备触发相同的按键，并记录按键所发码型的编码格式信息。
30.在红外发码芯片测试时，由测试设备按下与记录设备相同的按键，由测试设备将所发码型的所有信息（编码格式信息）记录下来，记录下来的编码格式信息包括码型每一个有载波部分的时间长度和码型每一个无载波部分的时间长度，在记录设备记录的时长达到总记录时长时，记录设备停止记录。
31.在步骤s103中，测试设备判断其记录的编码格式信息和从记录设备接收到的编码格式信息的误差是否在测试误差内。
32.测试设备将自己记录的编码格式信息，即码型每一个有载波部分和每一个无载波部分的时长，与记录设备记录的编码格式信息（即d0-d17）逐个进行比对，如果每一部分时长的比较误差在允许的测试误差之内，则测试通过，该红外发码芯片的发码功能正常。
33.在步骤s104中，红外发码芯片的发码功能正常。
34.根据本发明实施方式的红外芯片发码功能测试方法及装置、电子设备和存储介质，其能够通过对记录设备和测试设备记录的编码格式信息比较，进而判断红外发码芯片发码功能是否正常，该方法无需对红外集成电路发出来的码型进行解码，当有新码型时也不需要修改测试程序即可正确测试，无论红外集成电路发出来的码型是需要奇偶帧校验的，还是带简码重复功能的，需要测试一帧还是测试多帧，该测试方法都可以准确测试码型正确性，进而判断红外集成电路的功能是否正常。
35.如图7所示，介绍根据本发明具体实施方式的红外发码芯片发码功能测试的装置。
36.在本发明的实施方式中，红外发码芯片发码功能测试的装置包括记录模块701和测试模块702。
37.记录模块701，用于通过记录设备记录待测红外发码芯片的按键所发码型的编码格式信息，并将编码格式信息传送给测试设备。
38.测试模块702，用于在红外发码芯片测试时，测试设备触发相同的按键，并记录按键所发码型的编码格式信息；以及测试设备判断其记录的编码格式信息和从记录设备接收到的编码格式信息的误差是否在测试误差内；若是，则红外发码芯片的发码功能正常。
39.记录模块701还用于：在记录设备记录的时长达到总记录时长时，记录设备停止记录。
40.在本实施例中，编码格式信息包括：码型每一个有载波部分的时间长度和码型每一个无载波部分的时间长度。记录设备和测试设备可以是同一个设备，设备具备载波记录功能和模拟按键功能。
41.图8示出了根据本说明书的实施例的用于红外发码芯片发码功能测试的计算设备80的硬件结构图。如图8所示，计算设备80可以包括至少一个处理器801、存储器802(例如非易失性存储器)、内存803和通信接口804，并且至少一个处理器801、存储器802、内存803和通信接口804经由总线805连接在一起。至少一个处理器801执行在存储器802中存储或编码的至少一个计算机可读指令。
42.应该理解，在存储器802中存储的计算机可执行指令当执行时使得至少一个处理器801进行本说明书的各个实施例中以上结合图1-8描述的各种操作和功能。
43.在本说明书的实施例中，计算设备80可以包括但不限于：个人计算机、服务器计算机、工作站、桌面型计算机、膝上型计算机、笔记本计算机、移动计算设备、智能电话、平板计算机、蜂窝电话、个人数字助理(pda)、手持装置、消息收发设备、可佩戴计算设备、消费电子设备等等。
44.根据一个实施例，提供了一种比如机器可读介质的程序产品。机器可读介质可以具有指令(即，上述以软件形式实现的元素)，该指令当被机器执行时，使得机器执行本说明书的各个实施例中以上结合图1-8描述的各种操作和功能。具体地，可以提供配有可读存储介质的系统或者装置，在该可读存储介质上存储着实现上述实施例中任一实施例的功能的软件程序代码，且使该系统或者装置的计算机或处理器读出并执行存储在该可读存储介质中的指令。
45.根据本发明实施方式的红外芯片发码功能测试方法及装置、电子设备和存储介质，其能够通过对记录设备和测试设备记录的编码格式信息比较，进而判断红外发码芯片发码功能是否正常，该方法无需对红外集成电路发出来的码型进行解码，当有新码型时也
不需要修改测试程序即可正确测试，无论红外集成电路发出来的码型是需要奇偶帧校验的，还是带简码重复功能的，需要测试一帧还是测试多帧，该测试方法都可以准确测试码型正确性，进而判断红外集成电路的功能是否正常。
46.本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质（包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等）上实施的计算机程序产品的形式。
47.本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备（系统）、和计算机程序产品的流程图和／或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和／或方框图中的每一流程和／或方框、以及流程图和／或方框图中的流程和／或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
48.这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
49.这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
50.前述对本发明的具体示例性实施方案的描述是为了说明和例证的目的。这些描述并非想将本发明限定为所公开的精确形式，并且很显然，根据上述教导，可以进行很多改变和变化。对示例性实施例进行选择和描述的目的在于解释本发明的特定原理及其实际应用，从而使得本领域的技术人员能够实现并利用本发明的各种不同的示例性实施方案以及各种不同的选择和改变。本发明的范围意在由权利要求书及其等同形式所限定。