专利名称：较佳操作条件检出方法
技术领域：
本发明涉及一种操作条件检出方法，特别是涉及一种应用于制造光资讯储存媒体的较佳操作条件检出方法。
背景技术：
由于数位多媒体的高度发展，对于光资讯储存媒体容量的要求也相对加大，故使光资讯储存媒体的预录轨距(track pitch)与讯坑(pre-pit)皆大幅缩小，使预刻沟轨讯号及预录讯坑讯号的品质成为目前对光资讯储存媒体需求的重要条件之一。
就预录讯坑讯号及预刻沟轨讯号而言，都是在制作母版时就已定型，故母版在制造光资讯储存媒体的过程中占有重要的地位；在现有习知技术中的母版制作过程中，母版主要材料为玻璃基板，首先，在玻璃基板准备前制作业(resist mastering preparation，R.M.P制程)，将玻璃基板涂布光阻剂以作为刻板机讯号刻录的基材，即形成准备好的玻璃基板，再经过激光刻板作业(laser beam recorder，L.B.R制程)，即刻板、显影化及金属化，形成刻有资料的玻璃基板，最后经由母版电铸作业(galvanic，GAL.制程)，形成母版。
在母版制作过程之后，经由后续的薄膜制程处理，则完成最终的光资讯储存媒体，并利用检测以维护光资讯储存媒体的品质。
由于在激光刻板作业的刻板制程中，是利用编码机输入刻板资料，再经由编码产生预录讯坑讯号刻蚀及预刻沟轨讯号，并输入至刻板机，以将预录讯坑讯号刻蚀及预刻沟轨讯号刻蚀于玻璃基板上，此时玻璃基板上已经具有不能改变的资料，故母版上亦为已固定的资料，倘若在检测光资讯储存媒体时，发现光资讯储存媒体的品质不良，则必须丢弃原来的母版，并重新使用玻璃基板，改变刻板资料，重复母版制作过程以得到新的母版，如此重复上述过程，直到制得好的光资讯储存媒体品质。
但是，为得到好的光资讯储存媒体品质，而一再重复玻璃基板制作母版的过程，并将品质不好的母版丢弃，且一次的制程后的检测，仅得到一种刻板资料的检测结果，如此，不但提高制造成本，更浪费制程时间，且玻璃基板及母版的使用率则大大降低。
由此可见，上述现有的光资讯储存媒体操作条件检出方法在与使用上显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般方法又没有适切的方法能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此，如何提供一种能够解决上述问题的较佳操作条件检出方法，正是当前的重要课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。
有鉴于上述现有的光资讯储存媒体操作条件检出方法存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新的较佳操作条件检出方法，能够改进一般现有的光资讯储存媒体操作条件检出方法，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经反复试作及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。
发明内容
本发明的目的在于，克服现有的光资讯储存媒体操作条件检出方法存在的缺陷，而提供一种能够避免重复无谓的母版制程，而可以得到最佳操作条件来制造适用的母版的较佳条件检出方法。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种较佳操作条件检出方法，是用于制造一光碟片，其包括下列步骤输入复数组操作条件至一编码机；由该编码机依据该复数组操作条件控制一刻板机分别刻蚀(ablation)一玻璃基板的复数个区域；检测该等区域以得到相对应的复数个检测结果；以及依据该等检测结果取得最佳的该复数组操作条件之一。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述的较佳操作条件检出方法，其中所述的检测该等区域的步骤包括下列步骤检测该等区域的错误抖动偏差值(jitter)、不对称性、沟轨的资讯振幅大小值、或几何形状，以取得相对应的该等检测结果。
前述的较佳操作条件检出方法，其中所述的几何形状是为沟轨的宽度或讯坑的宽度和长度。
前述的较佳操作条件检出方法，其中所述的玻璃基板是用以制造该光碟片的基板。
前述的较佳操作条件检出方法，其中所述的检测该等区域的步骤是检测该光碟片的基板以取得相对应的该等检测结果。
前述的较佳操作条件检出方法，其中所述的检测该等区域的步骤包括下列步骤检测该光碟片的基板的错误抖动偏差值(jitter)、不对称性、沟轨的资讯振幅大小值、或几何形状，以取得相对应的该等检测结果。
前述的较佳操作条件检出方法，其中所述的几何形状是为沟轨(groove)的宽度或讯坑(pit)的宽度和长度。
前述的较佳操作条件检出方法，其中所述的光碟片是为一DVD、一CD或一BD。
前述的较佳操作条件检出方法，其中所述的操作条件包括设定刻蚀讯坑(pit)的功率以及刻蚀讯坑的速度。
前述的较佳操作条件检出方法，其中所述的该等区域是在该玻璃基板上以同心圆方式排列。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上可知，为了达到上述目的，依本发明的一种较佳操作条件检出方法，包括下列步骤首先，输入复数组操作条件至一编码机；接着，由编码机依据复数组操条件控制一刻板机分别刻蚀一玻璃基板的复数个区域；然后，检测该等区域以得到相对应的复数个检测结果；最后，依据该等检测结果取得一组最佳的操作条件。
借由上述技术方案，本发明较佳操作条件检出方法至少具有下列的优点承上所述，因为依本发明的较佳操作条件检出方法，是将复数组操作条件输入一编码机，经由编码机编码后输入并控制一刻板机，依据各操作条件刻蚀于一玻璃基板的复数个区域，亦即在玻璃基板上会同时具有依据不同操作条件制得的区域，接着在刻蚀后将各区域作检测以取得最佳操作条件。与现有技术相较，本发明依据复数个操作条件同时刻蚀于玻璃基板上的复数个区域，故在刻蚀后，可经由一次检测，就可得到依据不同操作条件形成的各区域的检测结果，并比较各检测结果而得到最佳操作条件，如此不但可以节省制造成本，提高玻璃基板的使用率，并可以有效的缩短检测次数，进而能够减低制作及检测时间，而可以在短时间内得到最佳操作条件，非常适于实用。
综上所述，本发明新颖的较佳操作条件检出方法，能避免重复无谓的母版制程，可得到最佳的操作条件来制造适用的母版，可节省制造成本，减低制作及检测时间，能够在短时间内得到最佳的操作条件。本发明具有上述诸多优点及实用价值，其不论在方法或功能上皆有较大的改进，在技术上有显著的进步，并产生了好用及实用的效果，且较现有的光资讯储存媒体操作条件检出方法具有增进的多项功效，从而更加适于实用，并具有产业的广泛利用价值，诚为一新颖、进步、实用的新设计。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
图1是依本发明较佳实施例的较佳操作条件检出方法的流程图。
图2是依本发明较佳实施例的编码机控制刻板机刻蚀玻璃基板的复数个区域的示意图。
图3是依本发明较佳实施例的玻璃基板的复数个区域的示意图。
图4是图1的检测该等区域的步骤的流程图。
图5是依本发明较佳实施例的五组操作条件的示意图。
11编码机12刻板机2操作条件 21讯坑的功率22讯坑的速度23第一组24第二组G玻璃基板G1第一区域 G2第二区域S01-S04较佳操作条件检出方法的步骤S031-S034检测该等区域的步骤具体实施方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的较佳操作条件检出方法其具体实施方式
、方法、步骤、特征及其功效，详细说明如后。
请同时参阅图1与图2所示，图1是依本发明较佳实施例的较佳操作条件检出方法的流程图，图2是依本发明较佳实施例的编码机控制刻板机刻蚀玻璃基板的复数个区域的示意图。本发明较佳实施例的较佳操作条件检出方法，包括下列步骤首先，步骤S01输入复数组操作条件2至一编码机11。
接着，步骤S02由编码机11依据复数组操作条件2控制一刻板机12分别刻蚀一玻璃基板G的复数个区域。在本实例中，操作条件2包括设定刻蚀讯坑的功率21以及刻蚀讯坑速度22，而玻璃基板的复数个区域则以同心圆方式排列(如图3所示)。当然，依本发明的操作条件可以是任何一种适用的操作设定。
然后，步骤S03检测该等区域以得到相对应的复数个检测结果。
最后，步骤S04依据该等检测结果从所有操作条件中取得一组最佳的操作条件。
另外，为使本发明更易于了解，以下将针对本实施例的步骤S03中，检测该等区域的步骤加以说明。请参阅图4所示，是图1的检测该等区域的步骤的流程图，其更包括下列步骤步骤S031，检测该等区域的错误抖动偏差值，以取得相对应的该等检测结果；步骤S032，检测该等区域的不对称性，以取得相对应的该等检测结果；步骤S033，检测该等区域的沟轨的资讯振幅大小值，以取得相对应的该等检测结果；步骤S034，检测该等区域的几何形状，以取得相对应的该等检测结果。在本实施例中，几何形状是为沟轨的宽度或讯坑的宽度和长度。当然，在本发明中，步骤S03更可以检测该等区域的错误抖动偏差值、不对称性、沟轨的资讯振幅大小值及几何形状等四种条件的任意组合，以取得相对应的该等检测结果。
为使本发明的内容更加清楚，以下将列举一实例以说明依本发明较佳实施例的较佳操作条件检出方法的运作。
请同时参阅图1、图2与图5所示，在刻板作业制程时，设定五组分别为讯坑的功率21以及讯坑的速度22的操作条件2的参数，并输入至一编码机11，再经由编码机11将操作条件2编码后，以输出控制一刻板机12，使刻板机12依据各组的讯坑的功率21以及讯坑的速度22分别刻蚀一玻璃基板G的复数个区域，请再参阅图3所示，刻板机12依据第一组23的讯坑的功率以及讯坑的速度之值，刻蚀于玻璃基板G的第一区域G1上，依据第二组24的讯坑的功率以及讯坑的速度之值，则刻蚀于玻璃基板G的第二区域G2上，以此类推，使每组操作条件皆对应一个区域。
当刻板机12将玻璃基板G的各区域刻蚀制作完成后，请再同时参阅图4所示，对玻璃基板G的各区域进行检测，此时，可同时检测各区域的错误抖动偏差值、检测检测各区域的抖动偏差值、不对称性及沟轨的资讯振幅大小值及几何形状，即沟轨的宽度或讯坑的宽度和长度，以得到各区域的总检测结果，并比较检测结果；或是，检测各区域的错误抖动偏差值而得到各区域的误抖动偏差值的检测结果，检测各区域的不对称性得到各区域的不对称性的检测结果，检测各区域的沟轨的资讯振幅大小值得到各区域的沟轨的资讯振幅大小值的检测结果，检测各区域的几何形状，即沟轨的宽度或讯坑的宽度和长度得到各区域的几何形状的检测结果，比较各区域的各种检测结果；自检测结果中，找出具有最佳检测结果所对应的区域，并对照此区域而取得最佳操作条件，再进行后段制程。
需要注意的是，在本实施例中，除了可将玻璃基板G在刻蚀后进行检测外，亦可在玻璃基板G经由碟片制程，而制造成一光碟片的基板之后，再利用检测各区域的步骤，检测光碟片的基板，亦可以达到检出最佳操作条件的功效。
由于可依据复数个操作条件2刻蚀于一玻璃基板G上的复数个区域，故只需经由一次的检测，而检测出于各种不同操作条件2下的检测结果，并比较各检测结果以得到最佳操作条件。
综上所述，因为依本发明的较佳操作条件检出方法，是将复数组操作条件输入一编码机，经由编码机编码后输入并控制一刻板机，依据各操作条件刻蚀于一玻璃基板的复数个区域，亦即在玻璃基板上会同时具有依据不同操作条件制得的区域，接着在刻蚀后将各区域作检测以取得最佳操作条件。与现有习知技术相较，本发明依据复数个操作条件同时刻蚀于玻璃基板上的复数个区域，故在刻蚀后，可经由一次检测，就可得到依据不同操作条件形成的各区域的检测结果，并比较各检测结果而得到最佳操作条件，如此不但可以节省制造成本，提高玻璃基板的使用率，并可以有效的缩短检测次数，进而能够减低制作及检测时间，以在短时间内得到最佳操作条件。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，仅为举例性，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
权利要求
1.一种较佳操作条件检出方法，是用于制造一光碟片，其特征在于其包括下列步骤输入复数组操作条件至一编码机；由该编码机依据该复数组操作条件控制一刻板机分别刻蚀(ablation)一玻璃基板的复数个区域；检测该等区域以得到相对应的复数个检测结果；以及依据该等检测结果取得最佳的该复数组操作条件之一。
2.根据权利要求1所述的较佳操作条件检出方法，其特征在于其中所述的检测该等区域的步骤包括下列步骤检测该等区域的错误抖动偏差值(jitter)、不对称性、沟轨的资讯振幅大小值、或几何形状，以取得相对应的该等检测结果。
3.根据权利要求2所述的较佳操作条件检出方法，其特征在于其中所述的几何形状是为沟轨的宽度或讯坑的宽度和长度。
4.根据权利要求1所述的较佳操作条件检出方法，其特征在于其中所述的玻璃基板是用以制造该光碟片的基板。
5.根据权利要求4所述的较佳操作条件检出方法，其特征在于其中所述的检测该等区域的步骤是检测该光碟片的基板以取得相对应的该等检测结果。
6.根据权利要求5所述的较佳操作条件检出方法，其特征在于其中所述的检测该等区域的步骤包括下列步骤检测该光碟片的基板的错误抖动偏差值(jitter)、不对称性、沟轨的资讯振幅大小值、或几何形状，以取得相对应的该等检测结果。
7.根据权利要求6所述的较佳操作条件检出方法，其特征在于其中所述的几何形状是为沟轨(groove)的宽度或讯坑(pit)的宽度和长度。
8.根据权利要求1所述的较佳操作条件检出方法，其特征在于其中所述的光碟片是为一DVD、一CD或一BD。
9.根据权利要求1所述的较佳操作条件检出方法，其特征在于其中所述的操作条件包括设定刻蚀讯坑(pit)的功率以及刻蚀讯坑的速度。
10.根据权利要求1所述的较佳操作条件检出方法，其特征在于其中所述的该等区域是在该玻璃基板上以同心圆方式排列。
全文摘要
本发明是有关于一种较佳操作条件检出方法，包括下列步骤输入复数组操作条件至一编码机；由编码机依据复数组操作条件控制一刻板机分别刻蚀一玻璃基板的复数个区域；检测该等区域以得到相对应的复数个检测结果；以及依据该等检测结果取得一组最佳的操作条件。本发明依据复数个操作条件同时刻蚀于玻璃基板上的复数个区域，故在刻蚀后，可经由一次检测，就可得到依据不同操作条件形成的各区域的检测结果，并比较各检测结果而得到最佳操作条件，如此不但可以节省制造成本，提高玻璃基板的使用率，并可以有效缩短检测次数，进而能减低制作及检测时间，而可以在短时间内得到最佳操作条件，非常适于实用。
文档编号G11B7/26GK101055741SQ20061007235
公开日2007年10月17日 申请日期2006年4月14日 优先权日2006年4月14日
发明者蔡昇龙 申请人:精碟科技股份有限公司