专利名称：产生长度偏差统计的方法与系统及应用其的方法与系统的制作方法
技术领域：
本发明关于一种光学储存装置的参数调整，特别关于一种用来产生长度偏差统计的方法与系统及应用其的方法与系统。
背景技术：
随着多媒体应用(multimedia application)持续发展，储存大量数字数据的需求迅速地增加。于是，储存容量高且外型精巧的光学储存媒体(optical storage medium)如早期的普通光盘片(Compact Disc，CD)(例如CD-R或CD-RW规格的光盘片)或数字多用途光盘片(Digital VersatileDisc，DVD)遂日趋普及，并且光学储存装置(optical storage device)如光盘播放装置(CD drive)或数字多用途光盘播放装置(DVD drive)已成为个人计算机的标准配备，以配合上述的多媒体应用所需。
于所述光学储存装置中，依据一再生信号(reproduced signal)，如射频信号(radio frequency signal，RF signal)所分析而得的一些品质参数，如位错误率(bit error rate，BER)或再生数据对时钟抖动值(data-to-clock jitter)...等的品质参数(index)通常可用来评量数据写入的品质。由光学储存装置扫描光盘片中利用某一控制参数，如一写入程序的记录功率，所写入的一段数据，将获得一对应的品质参数；接着根据所获得的品质参数来针对控制参数作适当的调整，进而获得对应最佳品质参数的最佳的控制参数。然而，依据相关技术，在上述扫描运作时，该品质参数相对于该控制参数，在该最佳值附近通常会有轻微的变动。以图1所示状况为例，图1绘示相对于该控制参数来分别扫描数据对时钟抖动值与位错误率的分布曲线，其中所述分布曲线被对准以易于互相比较。需要注意的是，数据对时钟抖动值与位错误率相对于该控制参数，在它们的最小值附近会有轻微的变化，且该控制参数的精度相对较高。因此，最佳值的精确度显然偏低。
发明内容
本发明的目的在于提供利用一长度偏差统计(length deviationstatistics)以调整至少一控制参数(例如一伺服参数(servo parameter)或一写入策略参数(write strategy parameter))以控制一光学储存装置的运作的方法与系统，并提供利用长度偏差统计以控制光学储存装置的运作的系统及方法。。
本发明的一实施例中提供一种用来调整至少一控制参数的方法，该控制参数用来控制一光学储存装置的运作，该方法包含有检测复数个型样长度(pattern length)，每一型样长度对应于该光学储存装置所存取(access)的光学储存媒体(optical storage medium)上的数据；依据所述这些型样长度进行计算，以产生与所述这些型样长度关联的长度偏差统计(lengthdeviation statistics)；以及利用(utilize)该长度偏差统计来调整该控制参数。
本发明于提供上述方法的同时，也对应地提供一种用来调整至少一控制参数的系统，该控制参数用来控制一光学储存装置的运作，该系统包含有一检测器，用来检测复数个型样长度，每一型样长度对应于该光学储存装置所存取的光学储存媒体上的数据；一计算模块，耦接至该检测器，用来依据所述这些型样长度进行计算，以产生与所述这些型样长度关联的长度偏差统计；以及一控制器，耦接至该计算模块，该控制器利用该长度偏差统计来调整该控制参数。
本发明的一实施例中提供一种用来产生长度偏差统计的方法，该长度偏差统计用来控制一光学储存装置的运作，该方法包含有检测复数个型样长度，每一型样长度对应于该光学储存装置所存取的光学储存媒体上的数据；以及依据所述这些型样长度进行计算，以产生与所述这些型样长度关联的长度偏差统计。
本发明于提供上述方法的同时，也对应地提供一种用来产生长度偏差统计的系统，该长度偏差统计用来控制一光学储存装置的运作，该系统包含有一检测器，用来检测复数个型样长度，每一型样长度对应于该光学储存装置所存取的光学储存媒体上的数据；以及一计算模块，耦接至该检测器，用来依据所述这些型样长度进行计算，以产生与所述这些型样长度关联的长度偏差统计。
综上所述，本发明的用来调整控制参数以及产生长度偏差统计的方法与系统可以实现更好的品质参数，以及更佳的数据写入的品质。
图1绘示相对于一控制参数来分别扫描数据对时钟抖动(data-to-clockjitter)与位错误率(bit error rate，BER)的分布曲线，其中所述分布曲线被对准以易于互相比较；图2为本发明一种用来调整(tune)至少一控制参数的系统的一实施例的示意图，其中该控制参数用来控制一光学储存装置(optical storagedevice)的运作；图3为本发明一种计算模块的一实施例的示意图，其中该计算模块可应用于图2所示的系统；图4为本发明一种用来调整至少一控制参数的方法的一实施例的流程图，其中该控制参数用来控制一光学储存装置的运作；图5绘示相对于一控制参数来扫描长度偏差统计(length deviationstatistics)的分布曲线，并且绘示相对于该控制参数来分别扫描数据对时钟抖动与位错误率的分布曲线以供对照，其中所述分布曲线被对准以易于互相比较；图6绘示本发明于不同的实施例中可分别通过利用(utilize)该长度偏差统计来调整的写入策略参数(write strategy parameter)；图7绘示本发明于不同的实施例中可分别通过利用该长度偏差统计来调整的写入策略参数；图8为本发明一种计算模块的一实施例的示意图，其中该计算模块可应用于图2所示的系统；图9为本发明一种用来调整至少一控制参数的方法的一实施例的流程图，其中该控制参数用来控制一光学储存装置的运作；图10为本发明一种用来调整至少一控制参数的系统的一实施例的示意图，其中该控制参数用来控制一光学储存装置的运作。
主要元件符号说明100，200光学储存装置100C，200C 系统102 光学储存媒体110 光学读取头111，113，115，133，135， 信号135-1，135-2，S_sd 信号112 波形等化器114 分切器120 锁相回路130 长度偏差统计产生器132 型样长度检测器134，134-1，134-2 计算模块134C计算单元134P型样分类器134S选择单元140 写入脉冲控制器
150写入功率控制器160伺服参数控制器220振荡器910，930 方法910S，910E，910R，912，步骤914，...，920 步骤930S，930E，930R，932，步骤934，...，940 步骤CLK，CLK2 参考时钟Ttop1，Ttop2，Tmp，Tlast1，写入策略参数Tlast2，Ttopr，Todf，Todr，Tlast，Tcool具体实施方式
以下结合附图对本发明进行详细说明。
本发明提供通过利用长度偏差统计(length deviation statistics)来调整(tune)至少一控制参数的系统，其中该控制参数用来控制一光学储存装置(optical storage device)的运作。依据一第一观点，所述这些系统中的一系统为一种用来调整该控制参数的电路，其中该电路位于该光学储存装置中。依据一第二观点，所述这些系统中的一系统实质上(substantially)为该光学储存装置本身。为了简明起见，该第一观点用于以下说明。然而，该第二观点也可应用于以下这些详细的实施例。
于某些实施例中，本发明提供的所述这些系统及其对应的方法所调整的该至少一(即所述或所述这些)控制参数可为一伺服参数(servo parameter)，例如一失焦(defocus)控制参数、一倾斜(tilt)控制参数、一循轨误差偏移(tracking error offset，TE offset)控制参数、或一射频提升(radiofrequency boost，RF boost)控制参数。于其它实施例中，该至少一(即所述或所述这些)控制参数可为一写入策略参数(write strategy parameter)，例如一边缘延迟、一脉冲宽度、或一功率准位(power level)，其中该功率准位可为一写入功率准位、一偏压(bias)功率准位、或一过驱(overdrive，OD)功率准位。
请参考图2，图2为本发明一种用来调整(tune)至少一控制参数的系统100C的一第一实施例的示意图，其中该控制参数用来控制一光学储存装置(optical storage device)100的运作，且系统100C为存取(access)一光学储存媒体(optical storage medium)102的光学储存装置100中的电路。请注意，为了简明起见，本实施例采用一可记录式光盘片(CD-Recordable disc，CD-R disc)作为光学储存媒体102，并采用一光盘播放装置(CD drive)作为光学储存装置100。熟悉此项技艺者应可理解，其它种类的光学储存媒体如数字多用途光盘片(Digital Versatile Disc，DVD)(例如DVD-R规格、DVD-RW规格、DVD+R规格、DVD+RW规格、或DVD-RAM规格的数字多用途光盘片)、高密度数字多用途光盘片(High Definition Digital Versatile Disc，HD-DVD)、或蓝光光盘片(Blu-ray disc，BD)，以及其对应的光学储存装置如数字多用途光盘播放装置(DVD drive)、高密度数字多用途光盘播放装置(HD-DVDdrive)、或蓝光光盘播放装置(BD drive)，也可应用于本发明以达到类似功效。
如图2所示，光学储存装置100的一光学读取头110于光学储存装置100的一读取模式中，自光学储存媒体102读取数据以产生一原始射频信号(rawradio frequency signal，raw RF signal)111。光学储存装置100的一波形等化器(waveform equalizer)112等化原始射频信号111以产生一再生信号(reproduced signal)，该再生信号于本实施例中为射频信号113。另外，光学储存装置100的一分切器(slicer)114将射频信号113分切(slice)以产生一分切信号115，分切信号115即本实施例的系统100C所利用(utilize)的序列数字信号(serial digital signal)S_sd。上述的光学读取头110、波形等化器112、与分切器114的运作原理均为熟悉此项技艺者所知悉，故不在此赘述其细节。
依据本实施例，系统100C包含有一锁相回路(phase-locked loop，PLL)120、一长度偏差统计产生器130、以及复数个控制器，所述控制器例如一写入脉冲(write pulse)控制器140、写入功率控制器150、一伺服参数控制器160。另外，长度偏差统计产生器130包含有一检测器，例如图2所示的型样长度(pattern length)检测器132，并另包含有一计算模块134。为了简明起见，于光学储存装置100中、沿着图2下方路径分别从所述这些控制器(如控制器140、150、160)往光学读取头110的驱动/控制元件均未显示于图2中，所述这些驱动/控制元件例如一调变器(modulator)、一写入脉冲产生器、一发射源驱动器(radiation source driver)、致动器(actuator)、...等。沿着图2下方路径的所述这些被省略的元件均为熟习本技艺的人员所熟知，故不在此赘述其细节。
锁相回路120依据分切信号115来产生一参考时钟(reference clock)CLK，例如一个八对十四调变数据时钟(EFM data clock)，此运作通过锁定分切信号115的通道位率(channel bit rate)，即1/T，其中八对十四调变数据时钟的周期通常被视为1T。此外，型样长度检测器132依据参考时钟CLK来取得分切信号115所携带(carry)的八对十四调变信息，并检测复数个型样长度X，例如Xi，j(本实施例中i＝1、2、...、n；且j＝3T、4T、...、11T)，其中每一型样长度Xi，j对应于记录在光学储存媒体102上的数据，索引(index)i代表型样长度计数(pattern length count)，且索引j代表一对应的目标长度(target length)。请注意，典型的分切信号115为一方波，其上升边缘(rising edge)与下降边缘(falling edge)之间的间距(interval)以及下降边缘与上升边缘之间的间距均可有各种不同长度。于本实施例中，型样长度检测器132量测分切信号115的上升边缘与下降边缘之间的间距及/或分切信号115的下降边缘与上升边缘之间的间距，以决定上述的型样长度X，其中每一间距对应于记录在光学储存媒体102上的一凹洞(pit)或一平面(land)。于是，所述这些型样长度X包含对应于复数个凹洞的复数个凹洞长度P，以及对应于复数个平面的复数个平面长度L。每个凹洞长度P代表沿着光学储存媒体102上的一沟槽(groove)所记录的一凹洞，而每个平面长度L则代表沿着该沟槽所记录的一平面。
于该第一实施例中，于该可记录式光盘片的一理想状况下，得自分切信号115的所述这些型样长度X均为时钟周期T的倍数，且所述这些型样长度X的分布范围从3T至11T。也就是说，一型样长度X(即一凹洞的长度P或一平面的长度L)可为3T、4T、...、或11T。所以，甚为合理的是，用来量测所述型样长度X的一参考信号(例如上述的参考时钟CLK)具有小于或等于T的周期。依据本实施例，输入至型样长度检测器132的参考信号为参考时钟CLK，其中参考时钟CLK的周期为T。于该可记录式光盘片的一实际状况下，型样长度检测器132的输出信号133所携带的所述这些型样长度X通常并非T的确切倍数，即通常不是T的整数倍。计算模块134可依据所述这些型样长度X进行计算，以产生与所述这些型样长度X关联的长度偏差统计，其中该长度偏差统计由计算模块134的输出信号135所携带。
图3为本发明一种计算模块134-1的一实施例的示意图，其中计算模块134-1可应用于图2所示的系统100C，且计算模块134-1及其输出信号135-1分别代表上述的计算模块134及输出信号135。如图3所示，计算模块134-1包含一型样分类器(pattern classifier)134P与一计算单元134C。计算单元134C计算复数个长度偏差(length deviation)(Xi，j-X_targei，j)(于本实施例中i＝1、2、...、n；且j＝3T、4T、...、11T)，其中每一长度偏差(Xi，j-X_targeti，j)为一型样长度Xi，j与一目标长度X_targeti，j之间的差值，且本实施例的目标长度X_targeti，j等于索引j。型样分类器134P分类(classify)型样长度Xi，j，以决定目标长度X_targeti，j，且计算单元134C依据所述长度偏差(Xi，j-X_targeti，j)进行计算，以产生上述的该长度偏差统计。
图4为本发明一种用来调整至少一控制参数的方法910的一实施例的流程图，其中该控制参数用来控制一光学储存装置的运作，且方法910可通过利用图2所示的系统100C以及图3所示的计算模块134-1来实施。
于步骤910R中，在光学储存装置100中的一微处理单元(micro-processing unit，MPU)所执行的一韧体码(firmware code)的控制下，系统100C递归(iterate)n次以执行步骤912、914、与916。另外，索引i如以上所述从1变化至n。此外，计算模块134-1，于本实施例尤其是型样分类器134P，于步骤914中针对每一型样长度Xi，j及其对应的目标长度X_targeti，j来取得索引j。需要注意的是，依据图2所示的架构，可针对索引i不同的值同时执行步骤912、914、与916中的至少两步骤，这是因为型样长度检测器132、型样分类器134P、与计算单元134C可分别相对于索引i继续执行各自随后的运作。
于步骤912中，型样长度检测器132检测型样长度Xi，j。
于步骤914中，型样分类器134P分类型样长度Xi，j以决定目标长度X_targeti，j。依据本实施例，若型样长度Xi，j满足下列不等式(j-0.5*T)≤Xi，j＜(j+0.5*T)，则型样分类器134P可决定型样长度Xi，j对应目标长度X_targeti，j。
于步骤916中，计算单元134C计算长度偏差(Xi，j-X_targeti，j)。
于步骤918中，计算单元134C依据长度偏差(Xi，j-X_targeti，j)来进行计算，以产生上述的该长度偏差统计。依据本实施例，该长度偏差统计可依据下列方程式取得LDS=Σi=1n(Xi,j-X_targeti,j)2n....................................(1);]]>其中LDS代表该长度偏差统计。
于步骤918中，执行该韧体码的该微处理单元利用(utilize)该长度偏差统计，其中该长度偏差统计用来调整该控制参数。依据本实施例，执行该韧体码的该微处理单元相对于该控制参数来扫描(scan)该长度偏差统计，以取得该长度偏差统计的分布的一极值，并依据该极值来调整该控制参数。
依据本实施例的一变化例，计算单元134C计算对所述这些长度偏差(Xi，j-X_targeti，j)的平方值进行总和(summing)运算的结果的平方根(squareroot)，以产生该长度偏差统计，这是因为对所述平方值进行总和运算的结果与对所述这些平方值进行平均(averaging)运算的结果成正比。
依据本发明的另一实施例，该长度偏差统计可依据下列方程式取得LDS=Σi=1n|Xi,j-X_targeti,j|n.......................................(2).]]>依据本实施例的一变化例，计算单元134C对所述这些长度偏差(Xi，j-X_targeti，j)的绝对值(absolute value)进行总和运算，以产生该长度偏差统计，这是因为对所述这些绝对值进行总和运算的结果与对同一组绝对值进行平均运算的结果成正比。
依据本发明的另一实施例，上述执行该韧体码的该微处理单元可代换为一控制器，该控制器于典型的实施方式中为一硬件控制器，且被设计成用来执行如同图4所示的流程图的工作流程。
请参阅图5，图5绘示相对于上述的控制参数来扫描该长度偏差统计的分布曲线，并且绘示相对于该控制参数来分别扫描数据对时钟抖动(data-to-clock jitter)与位错误率(bit error rate，BER)的分布曲线以供对照，其中所述这些分布曲线被对准以易于互相比较。需要注意的是，相较于相关技术的一品质参数，例如数据对时钟抖动或位错误率，该长度偏差统计相对于该控制参数的变化在其极值附近相当剧烈。因此，通过相对于该控制参数来扫描(scan)该长度偏差统计所取得的最佳值的精确度显然较相关技术高。也就是，在以同一扫描分辨率(scanning resolution)应用于上述扫描运作的相同条件下，通过利用该长度偏差统计可以精确地决定该最佳值，而通过利用位错误率或数据对时钟抖动所决定的最佳值可能在附近漂移、每次不一定会相同。
请注意，图5所示的该控制参数可为一伺服参数，例如上述的失焦控制参数、倾斜控制参数、循轨误差偏移控制参数、或射频提升控制参数，或为一写入策略参数，例如上述的边缘延迟、脉冲宽度、写入功率准位、偏压功率准位、或过驱功率准位。
于该第一实施例的一变化例中，型样长度检测器132可以只量测分切信号115的上升边缘与下降边缘之间的间距，以决定所述这些型样长度X；因此，所述这些型样长度X包含复数个凹洞长度P。于该第一实施例的另一变化例中，型样长度检测器132可以只量测分切信号115的下降边缘与上升边缘之间的间距，以决定所述这些型样长度X；因此，所述这些型样长度X包含复数个平面长度L。此外，本发明的另一实施例的分切信号115可携带有加强型八对十四调变(EFM plus，EFM+)信息(例如应用DVD-R规格的实施例)或其它兼容于八对十四调变/加强型八对十四调变的变化规格的信息。
图6绘示本发明于不同的实施例中可分别通过利用该长度偏差统计来调整的写入策略参数，其中图6所示的写入策略参数可应用于写入DVD-R规格的光盘片，且关于一种用于多脉冲(multi-pulses)的写入策略以及一种用于单脉冲(single pulse)的写入策略的所述这些写入策略参数分别相对于一理想序列数字信号详列于此。写入策略参数Ttop1、Ttop2、Tlast1、Tlast2、Ttopr、Todf、Todr、与Tlast分别对应于某些边缘延迟(或边缘位移——edgeshift)，且写入策略参数Tmp对应于某一脉冲宽度。另外，所述这些写入策略参数如图6所示的过驱功率、写入功率、与偏压功率分别对应于某些功率准位。
图7绘示本发明于不同的实施例中可分别通过利用该长度偏差统计来调整的写入策略参数，其中图7所示的写入策略参数可应用于写入DVD-RW规格的光盘片，且关于一第一写入策略(即图7所示的“写入策略1”)以及一第二写入策略(即图7所示的“写入策略2”)的所述这些写入策略参数分别相对于一理想序列数字信号详列于此。写入策略参数Ttop1、Ttop2、Tlast1、Tlast2、与Tcoo1别对应于某些边缘延迟(或边缘位移)，且写入策略参数Tmp对应于某一脉冲宽度。另外，所述写入策略参数如图7所示的写入功率、与偏压功率分别对应于某些功率准位。
图8为本发明一种计算模块134-2的一实施例的示意图，其中计算模块134-2可应用于图2所示的系统100C，且计算模块134-2及其输出信号135-2分别代表上述的计算模块134及输出信号135。如图8所示，计算模块134-2包含一选择单元(selecting unit)134S与上述的计算单元134C。选择单元134S可依据一选择信号从所述这些型样长度Xi，j(于本实施例中i＝1、2、...、n)选出一(些)型样长度Xi，j0，其中j0代表索引j的范围中的一特定值(specific value)(例如对CD-R/RW规格的光盘片而言可为3T、4T、...、与11T中的一特定值；对数字多用途光盘片而言可为3T、4T、...、11T、与14T中的一特定值)。另外，选择单元134S通过利用对应于该选择信号的一预定值(predetermined value)来决定目标长度X_targeti，j0。于本实施例中，该预定值例如j0。
图9为本发明一种用来调整至少一控制参数的方法930的一实施例的流程图，其中该控制参数用来控制一光学储存装置的运作，且方法930可通过利用图2所示的系统100C以及图8所示的计算模块134-2来实施。
于步骤930R中，在光学储存装置100的该微处理单元所执行的另一韧体码的控制下，系统100C递归n次以执行步骤932、934、与936，其中索引i如以上所述从1变化至n。依据图2所示的架构，可针对索引i不同的值同时执行步骤932、934、与936中的至少两步骤，这是因为型样长度检测器132、选择单元134S、与计算单元134C可分别相对于索引i继续执行各自随后的运作。
于步骤932中，型样长度检测器132检测型样长度Xi，j。
于步骤934中，选择单元134S依据上述的该选择信号选出型样长度Xi，j0，并决定目标长度X_targeti，j为上述的预定值j0。依据本实施例，若型样长度Xi，j满足下列不等式(j0-0.5*T)≤Xi，j＜(j0+0.5*T)，则选择单元134S可决定型样长度Xi，j为型样长度Xi，j0。
于是，若上式被满足，则选择单元134S输出型样长度Xi，j作为型样长度Xi，j0；否则，选择单元134S丢弃(discard)型样长度Xi，j。只要该选择信号指出(indicate)j0为索引j的各种可能的值中的选出值(selected value)，选择单元134S可继续输出j0作为目标长度X_targe ti，j0。
于步骤936中，计算单元134C计算长度偏差(Xi，j0-X_targeti，j0)。
于步骤938中，计算单元134C依据长度偏差(Xi，j0-X_targeti，j0)来进行计算，以产生上述的该长度偏差统计。依据本实施例，该长度偏差统计可依据下列方程式取得LDS(j0)=Σi=1n(Xi,j0-X_targeti,j0)2n..............................(3).]]>于步骤940中，执行该韧体码的该微处理单元利用该长度偏差统计，其中该长度偏差统计用来调整该控制参数。相仿地，执行该韧体码的该微处理单元相对于该控制参数来扫描该长度偏差统计，以取得该长度偏差统计的分布的一极值，并依据该极值来调整该控制参数。
依据本实施例的一变化例，计算单元134C计算对所述这些长度偏差(Xi，j0-X_targeti，j0)的平方值进行总和运算的结果的平方根，以产生该长度偏差统计，这是因为对所述这些平方值进行总和运算的结果与对所述这些平方值进行平均运算的结果成正比。
依据本发明的另一实施例，该长度偏差统计可依据下列方程式取得
LDS(j0)=Σi=1n|Xi,j0-X_targeti,j0|n.................................(4).]]>依据本实施例的一变化例，计算单元134C对所述这些长度偏差(Xi，j0-X_targeti，j0)的绝对值进行总和运算，以产生该长度偏差统计，这是因为对所述这些绝对值进行总和运算的结果与对同一组绝对值进行平均运算的结果成正比。
图10为本发明一种用来调整至少一控制参数的系统200C的一第二实施例的示意图，其中该控制参数用来控制一光学储存装置200的运作。该第二实施例与该第一实施例相似，其差异说明如下。由于输入至型样长度检测器132的参考信号为一振荡器220所产生的参考时钟CLK2，所以该第二实施例在此处的实施不需要如该第一实施例中所设置的锁相回路120。另外，参考时钟CLK2的频率不需要等于序列数字信号S_sd的数据时钟的频率。
需要注意的是，本发明可通过使用具有多个元件组合而成的硬件、或通过使用执行软件或轫体程序的计算机来实施。另外，于申请专利范围或上述说明中所揭露的系统元件当中，有些元件可通过使用同一硬件或软件装置来实现。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。
权利要求
1.一种用来调整控制参数的方法，所述控制参数用来控制一光学储存装置的运作，其特征在于，所述方法包含有如下步骤检测复数个型样长度，每一型样长度对应于所述光学储存装置所存取的光学储存媒体上的数据；依据所述这些型样长度进行计算，以产生与所述这些型样长度关联的长度偏差统计；以及利用所述长度偏差统计以调整所述控制参数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，检测所述这些型样长度的步骤还包含有依据存取所述光学储存媒体的所述光学储存装置所产生的一再生信号来检测所述这些型样长度。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包含有分切所述再生信号以产生一分切信号；其中检测所述这些型样长度的步骤还包含依据所述分切信号检测所述这些型样长度。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，检测所述这些型样长度的步骤还包含有检测所述分切信号的复数个上升边缘与复数个下降边缘之间的复数个间距和/或所述分切信号的复数个下降边缘与复数个上升边缘之间的复数个间距，以决定所述这些型样长度，其中每一间距对应于一凹洞或一平面。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据所述这些型样长度进行计算的步骤还包含有计算复数个长度偏差，每一长度偏差为一型样长度与一目标长度之间的差值；以及依据所述这些长度偏差进行计算，以产生所述长度偏差统计。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，依据所述这些型样长度进行计算的步骤还包含有分类所述型样长度，以决定所述目标长度。
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，依据所述这些型样长度进行计算的步骤还包含有依据一选择信号从所述这些型样长度选出所述型样长度；以及通过利用对应于所述选择信号的一预定值来决定所述目标长度。
8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，依据所述长度偏差进行计算的步骤还包含有计算对所述这些长度偏差的平方值进行总和或平均运算的结果的平方根，以产生所述长度偏差统计。
9.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，依据所述这些长度偏差进行计算的步骤还包含有对所述这些长度偏差的绝对值进行总和或平均运算，以产生所述长度偏差统计。
10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，利用所述长度偏差统计的步骤还包含有相对于所述控制参数来扫描所述长度偏差统计，以取得所述长度偏差统计的分布的一极值；以及依据所述极值来调整所述控制参数。
11.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制参数为一伺服参数或一写入策略参数。
12.一种用来调整控制参数的系统，所述控制参数用来控制一光学储存装置的运作，所述系统包含有一检测器，用来检测复数个型样长度，每一型样长度对应于所述光学储存装置所存取的光学储存媒体上的数据；一计算模块，耦接至所述检测器，用来依据所述这些型样长度进行计算，以产生与所述这些型样长度关联的长度偏差统计；以及一控制器，耦接至所述计算模块，所述控制器利用所述长度偏差统计来调整所述控制参数。
13.根据权利要求12所述的系统，其特征在于，所述检测器依据存取所述光学储存媒体的所述光学储存装置所产生的一再生信号来检测所述这些型样长度。
14.根据权利要求13所述的系统，其特征在于，所述的系统还包含有一分切器，用来分切所述再生信号以产生一分切信号；其中所述检测器依据所述分切信号检测所述这些型样长度。
15.根据权利要求14所述的系统，其特征在于，所述检测器检测所述分切信号的复数个上升边缘与复数个下降边缘之间的复数个间距和/或所述分切信号的复数个下降边缘与复数个上升边缘之间的复数个间距，以决定所述型样长度，以及每一间距对应于一凹洞或一平面。
16.根据权利要求12所述的系统，其特征在于，所述计算模块包含有一计算单元，用来计算复数个长度偏差，每一长度偏差为一型样长度与一目标长度之间的差值，其中所述计算单元依据所述这些长度偏差进行计算，以产生所述长度偏差统计。
17.根据权利要求16所述的系统，其特征在于，所述计算单元还包含有一型样分类器，耦接于所述检测器与所述计算单元之间，用来分类所述型样长度，以决定所述目标长度。
18.根据权利要求16所述的系统，其特征在于，所述计算单元还包含有一选择单元，耦接于所述检测器与所述计算单元之间，用来依据一选择信号从所述这些型样长度选出所述型样长度，以及通过利用对应于所述选择信号的一预定值来决定所述目标长度。
19.根据权利要求16所述的系统，其特征在于，所述计算单元计算对所述这些长度偏差的平方值进行总和或平均运算的结果的平方根，以产生所述长度偏差统计。
20.根据权利要求16所述的系统，其特征在于，所述计算单元对所述这些长度偏差的绝对值进行总和或平均运算，以产生所述长度偏差统计。
21.根据权利要求12所述的系统，其特征在于，所述控制器相对于所述控制参数来扫描所述长度偏差统计，以取得所述长度偏差统计的分布的一极值，以及依据所述极值来调整所述控制参数。
22.根据权利要求12所述的系统，其特征在于，所述控制参数为一伺服参数或一写入策略参数。
23.一种用来产生长度偏差统计的方法，所述长度偏差统计用来控制一光学储存装置的运作，其特征在于，所述方法包含有如下步骤检测复数个型样长度，每一型样长度对应于所述光学储存装置所存取的光学储存媒体上的数据；以及依据所述这些型样长度进行计算，以产生与所述这些型样长度关联的长度偏差统计。
24.根据权利要求23所述的方法，其特征在于，检测所述这些型样长度的步骤还包含有依据存取所述光学储存媒体的所述光学储存装置所产生的一再生信号来检测所述这些型样长度。
25.根据权利要求24所述的方法，其特征在于，所述的方法还包含有分切所述再生信号以产生一分切信号；其中检测所述这些型样长度的步骤还包含依据所述分切信号检测所述这些型样长度。
26.根据权利要求25所述的方法，其特征在于，检测所述这些型样长度的步骤还包含有检测所述分切信号的复数个上升边缘与复数个下降边缘之间的复数个间距和/或所述分切信号的复数个下降边缘与复数个上升边缘之间的复数个间距，以决定所述这些型样长度，其中每一间距对应于一凹洞或一平面。
27.根据权利要求23所述的方法，其特征在于，依据所述这些型样长度进行计算的步骤还包含有计算复数个长度偏差，每一长度偏差为一型样长度与一目标长度之间的差值；以及依据所述这些长度偏差进行计算，以产生所述长度偏差统计。
28.根据权利要求27所述的方法，其特征在于，依据所述这些型样长度进行计算的步骤还包含有分类所述型样长度，以决定所述目标长度。
29.根据权利要求27所述的方法，其特征在于，依据所述这些型样长度进行计算的步骤还包含有依据一选择信号从所述这些型样长度选出所述型样长度；以及通过利用对应于所述选择信号的一预定值来决定所述目标长度。
30.根据权利要求27所述的方法，其特征在于，依据所述这些长度偏差进行计算的步骤还包含有计算对所述这些长度偏差的平方值进行总和或平均运算的结果的平方根，以产生所述长度偏差统计。
31.根据权利要求27所述的方法，其特征在于，依据所述这些长度偏差进行计算的步骤还包含有对所述这些长度偏差的绝对值进行总和或平均运算，以产生所述长度偏差统计。
32.一种用来产生长度偏差统计的系统，所述长度偏差统计用来控制一光学储存装置的运作，其特征在于，所述系统包含有一检测器，用来检测复数个型样长度，每一型样长度对应于所述光学储存装置所存取的光学储存媒体上的数据；以及一计算模块，耦接至所述检测器，用来依据所述这些型样长度进行计算，以产生与所述这些型样长度关联的长度偏差统计。
33.根据权利要求32所述的系统，其特征在于，所述检测器依据存取所述光学储存媒体的所述光学储存装置所产生的一再生信号来检测所述这些型样长度。
34.根据权利要求33所述的系统，其特征在于，所述的系统还包含有一分切器，用来分切所述再生信号以产生一分切信号；其中所述检测器依据所述分切信号检测所述这些型样长度。
35.根据权利要求34所述的系统，其特征在于，所述检测器检测所述分切信号的复数个上升边缘与复数个下降边缘之间的复数个间距和/或所述分切信号的复数个下降边缘与复数个上升边缘之间的复数个间距，以决定所述这些型样长度，以及每一间距对应于一凹洞或一平面。
36.根据权利要求32所述的系统，其特征在于，所述计算模块包含有一计算单元，用来计算复数个长度偏差，每一长度偏差为一型样长度与一目标长度之间的差值，其中所述计算单元依据所述这些长度偏差进行计算，以产生所述长度偏差统计。
37.根据权利要求36所述的系统，其特征在于，所述计算模块还包含有一型样分类器，耦接于所述检测器与所述计算单元之间，用来分类所述型样长度，以决定所述目标长度。
38.根据权利要求36所述的系统，其特征在于，所述计算模块还包含有一选择单元，耦接于所述检测器与所述计算单元之间，用来依据一选择信号从所述这些型样长度选出所述型样长度，以及通过利用对应于所述选择信号的一预定值来决定所述目标长度。
39.根据权利要求36所述的系统，其特征在于，所述计算单元计算对所述这些长度偏差的平方值进行总和或平均运算的结果的平方根，以产生所述长度偏差统计。
40.根据权利要求36所述的系统，其特征在于，所述计算单元对所述这些长度偏差的绝对值进行总和或平均运算，以产生所述长度偏差统计。
全文摘要
本发明提供一种产生长度偏差统计的方法与系统及应用其的方法与系统，该长度偏差统计用来控制一光学储存装置的运作。该调整控制参数的方法具有如下步骤检测复数个型样长度，每一型样长度对应于该光学储存装置所存取的光学储存媒体上的数据；以及依据所述型样长度进行计算，以产生与所述型样长度关联的长度偏差统计；以及利用该长度偏差统计以调整该控制参数。通过本发明，该调整光学储存装置的控制参数的方法与系统可以得到更好的品质参数，来实现更佳的数据写入的品质。
文档编号G11B7/0045GK1996468SQ200610172290
公开日2007年7月11日 申请日期2006年12月30日 优先权日2006年1月3日
发明者游志青 申请人:联发科技股份有限公司