专利名称：前向感测信号生成的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于扫描记录载体的设备，其中所述记录载体具
有用于记录由标记所表示的信息的轨道，所述设备包括扫描装置， 其包括辐射源和光学元件，所述光学元件用于生成从所述辐射源通过 所述轨道上的扫描光斑到检测器的辐射光束以便检测至少一个扫描信 号；传感器，其用于从所述光束生成感测信号；以及功率控制装置， 其用于在具有不同长度的控制周期的序列中设置辐射功率，同时根据 采样的感测信号来控制所述辐射功率，其中每一个控制周期具有多个 不同功率电平的其中之一。
本发明还涉及一种针对在所述设备中的采样的感测信号的生成进 行适配的方法。
背景技术：
可以从US 2005/0083828获知一种用于记录光学记录载体的设备 和方法。 一种高速光盘记录设备包括用于生成多脉冲辐射的激光二极 管和输出表示所述辐射的功率的感测信号的光电二极管。由一个编码 器生成具有不同长度的控制周期的序列，同时根据采样的感测信号来 控制所述辐射功率，其中每一个控制周期具有多个不同功率电平的其 中之一。为了校准采样的感测信号，所述设备把根据写入策略的功率 控制模式提供给激光二极管驱动器，从而使得所述激光二极管输出具 有两个功率电平的固定占空比的多脉冲。利用低通滤波器对所测量的 功率求平均、对其进行采样保持并且根据所述所述固定占空比对其进 行校准。把所述光脉冲的所测量的功率的经过校准、保持的平均输出 与预定电平进行比较，以便控制所述激光二极管驱动器的输出电压。 但是应用专门的功率控制模式将需要所述记录栽体上的一个区域以及 可用于校准的启动时间。此外，基于对所述感测信号求平均的校准似 乎并不精确，并且可能特别依赖于操作条件
发明内容
因此，本发明的一个目的是提供一种用于在各种操作条件下可靠 地生成采样的感测信号的设备和方法。
根据本发明的第一方面，利用一种如在开头段落中所描述的用于 记录信息的设备来实现所述目的，所述设备包括感测装置，所述感测
装置用于通过以下操作来生成采样的感测信号在所选控制周期中的 采样时间Ts处对所述感测信号进行采样，以便确定第一样本值，其中 所选控制周期是基于至少具有所选的最小长度Lsel而被选择的，Ts位 于所选控制周期的开始于Lsel的一部分内；在所选控制周期内的不同 于Ts的检测时间Tdet处进一步在所选控制周期内对所述感测信号进 行采样，以便确定第二样本值；确定所述第一样本值与第二样本值之 间的差；以及根据所述差针对采样的感测信号的生成进行适配。
根据本发明的第二方面，利用一种如在开头段落中所描述的用于 生成感测信号的方法来实现所述目的，所述方法包括以下步骤在所 选控制周期中的采样时间Ts处对所述感测信号进行采样，以便确定第 一样本值，其中所选控制周期是基于至少具有所选的最小长度Lsel而 被选择的，Ts位于所选控制周期的开始于Lsel的一部分内；在所选控 制周期内的不同于Ts的检测时间Tdet处进一步在所选控制周期内对 所述感测信号进行采样，以便确定第二样本值；确定所述第一样本值 与第二样本值之间的差；以及根据所述差针对采样的感测信号的生成 i44于il酉己。
所述措施的效果在于，在控制所述辐射源的序列中在所选控制周 期内对所述第一和第二样本值进行采样，其中所述序列通常是用于激 光二极管的多脉冲驱动信号。所述用户采样的控制周期被选择成至少 具有所述最小长度Lsel。通过在所选控制周期中的Lsel之后的部分内 进行采样，所述感测信号已经足够稳定，从而可以被可靠地采样。通 过确定在所选控制周期内的不同时刻所取得的两个样本值之间的差， 可以检测出在取得所述样本之前来自于在前一个控制周期内应用不同 的(例如高得多的)功率电平的暂态效应是否已经充分衰减，或者可 以考虑剩余的效应以便针对采样的感测信号的生成进行适配。有利的 是，这种采样的感测信号精确地表示所述辐射光束的功率，并且可以 在任何时间被生成(例如在数据的记录操作期间生成)。
本发明还基于以下认识。随着各种光学记录系统中的写入速度的提高，写入策略中的对应于各功率电平的时间间隔变得更短。在传统 上，对于多脉冲写入策略来说，即使在相对较低的速度下也只能对擦 除电平进行采样，但是利用蓝色激光的高速记录(其也利用多脉沖策 略)将具有非常短的擦除电平，从而使得采样变得非常困难并且/或者 非常昂贵。
本发明的发明人已经看到，在选择较长的控制周期时，可以在这 种所选周期的相对稳定的末端部分内取得样本。但是在考虑到所有可 能的干扰源的当今系统中，只可能选择最长的标记，这将会大大限制 采样的数值的数量，从而将会限制采样的感测信号的可靠性，或者甚 至可能需要专门的校准程序。通过检测所述第 一样本与第二样本之间 的差并且监控所述差以及针对采样的感测信号的生成进行动态适配， 可以在操作使用期间基于数目足够多的样本来考虑剩余的不稳定性和 暂态效应。
在所述设备的一个实施例中，所述感测装置被设置成根据所述差
来适配Lsel。通过适配Lsel，对所选控制周期的选择可以^皮适配成仅 仅选择具有足够长度和稳定性的周期，以便在通过所述差监控稳定性 的同时对所述感测信号进行可靠地采样。这样做的优点在于，所述选 择被适配于影响所述差的操作条件。
在所述设备的一个实施例中，所述感测装置被设置成增大Lsel, 直到所述差低于一个预定阈值为止，在一种特定情况下，直到所述差 小于所述第一样本值或第二样本值的1%为止。
所述感测信号代表所检测到的功率电平，所述第 一样本与第二样 本之间的差表示所述感测信号的稳定性。在增大Tsel的同时应用所述 阈值的优点在于，可以把所述稳定性控制在预定水平，同时允许在满 足所述稳定性要求的任何间隔期间进行采样。
在一个实施例中，在所述记录载体上，所述轨道中的标记的长度 对应于某一整数数目的通道比特长度T，最短标记的长度是一个预定 义的最小数目Lmin的通道比特长度T，所述感测装置被设置成把Lsel 适配到一个大于Lmin的数值。特别地，可以选择这样的标记，其中所
而被创建的。这样做的优点在于，可::M艮容易地通过监控将被写二的
标记来选择具有相对较长的长度的控制周期。在所述设备的一个实施例中，所述感测装置包括用于根据至少一 个校正参数来生成采样的感测信号的处理装置，并且被设置成根据所 述差来确定所述至少一个校正参数。通过在所选控制周期内的两个或 多个采样时间处对所述感测信号进行采样，可以检测出所述感测信号 的改变方式。有利的是，在处理所述样本值时可以使用具有一个或多 个校正参数的所述传感器的转移函数的模型来应用，以便精确地生成 采样的感测信号。
在所附权利要求书中给出了根据本发明的设备和方法的其他优选 实施例，其公开内容被合并在此以作参考。
f说砂
图，本发明的上述和其他方面将变得显而易见，其中 图l示出了扫描设备中的光学记录处理； 图2示出了具有感测信号生成的记录设备；
图3示出了所记录的数据标记与相关联的功率控制信号之间的关
系
图4示出了对应于高速记录的写入策略；
图5示出了生成采样的感测信号；以及
图6示出了感测信号中的慢拖尾和选择性采样。
在附图中，与已经描述过的元件相对应的元件具有相同的附图标
记,
具体实施例方式
图1示出了扫描设备中的光学记录处理。所述扫描设备包括用于 围绕轴3在如箭头5所示的方向上旋转盘形记录载体4的转盘1和驱动 电动才几2以及写入光头6。
所述记录载体4包括辐射敏感记录层，所述记录层在曝光于强度 足够高的辐射之后会发生光学可检测的改变(比如反射率的改变)， 从而在轨道ll中形成代表信息的标记8。所述轨道ll可以由用于生成 伺服寻轨信号的伺服模式来表示，所述伺服寻轨信号用于相对于所述 轨道定位光头。所述伺服模式例如可以是通常被称作预刻沟槽的浅抖动沟槽，并且/或者可以是通常被称作预刻坑或伺服坑的凹槽模式。
相对于所述旋转中的记录载体来设置所述写入光头6。所述写入光 头6包括用于生成写入光束13的辐射源(比如固态激光器)。可以按 照惯常的方式依照控制信号Vs来调制所述写入光束13的强度I。所述 写入光束13的强度I在写入强度Iw与强度In之间改变，其中所述强 度Iw足以引发所述辐射敏感记录层的光学属性的可检测的改变，所述 强度In用于产生空间。
所述标记可以具有任何光学可读形式，例如具有其反射系数不同 于周围的区域的形式，这是在诸如染料、合金或相变材料中进行记录 时所获得的，或者具有其极化方向不同于周围的区域的形式，这是在 磁光材料中进行记录时所获得的。
在扫描期间，反射自所述记录载体的光束依照所扫描的信息模式 而被调制。可以借助于辐射敏感检测器按照惯常的方式来检测所述读 取光束的调制，其中所述辐射敏感检测器生成表示所述光束调制的读 取信号。
例如根据CD或DVD通道编码方案，可以通过具有离散长度(其 长度单位被称作通道比特)的标记把用户数据记录在所述记录载体上。 所述标记的长度对应于某一整数数目的通道比特长度T。所使用的最 短标记的长度是一个预定义的最小数目d的通道比特长度T，以便能 够通过所述轨道上的聚焦光斑检测到，所述聚焦光斑的有效直径通常 大致等于所述最短标记的长度。
图2示出了具有感测信号生成的记录设备。所述设备配备有用于 扫描记录载体11上的轨道的装置，该装置包括用于旋转所述记录载体 11的驱动单元21、光头22、用于把所述光头22定位在所述轨道上的 伺服单元25以及控制单元20。所述光头22包括一个用于生成辐射光 束24的已知类型的光学系统，所述辐射光束24被引导经过各光学元 件并且被聚焦到所述记录载体的信息层的一条轨道上的辐射光斑23。 所述辐射光束24由例如激光二极管的辐射源生成。所述光头22包括 通常被称作前向感测二极管或监视器二极管的传感器33,其用于检测 来自所述辐射光束的感测信号32。所述光头还包括聚焦致动器(未示 出)和寻轨致动器(未示出)，其中所述聚焦致动器用于沿着所述辐 射光束24的光轴移动所述光束的聚焦，所述寻轨致动器用于在径向方
8向上把所述光斑23精细定位在所述轨道的中心处。所述聚焦和寻轨致 动器由来自所述伺服单元25的致动器信号驱动。
为了进行读取，通过所述光头22中的通常类型的检测器(比如四 象限二级管)来检测由所述数据层所反射的辐射以用于生成检测器信 号，所述检测器信号将由通常类型的读取处理单元30 (其中包括解调 器、去格式化器和输出单元)进行处理以便获取所述信息。
为了进行写入，所述设备配备有用于在可写或可重写类型的记录 载体(比如CD-R、 CD-RW、 DVD+RW或者BD )上记录信息的记录 装置。所述记录装置与所述光头22协作来生成写入辐射光束，并且包 括写入处理装置以用于处理输入信息从而生成用来驱动所述光头22的 写入信号，所述写入处理装置包括输入单元27、格式化器28和功率控 制单元29。所述功率控制单元29控制所述光头22中的辐射源(通常 是激光器)的功率，以便在所述记录层中产生光学可检测的标记。
所述控制单元20控制信息的扫描和获取，并且可以被配置成接收 来自用户或主计算机的命令。所述控制单元20通过控制线26 (例如系 统总线)连接到所述设备中的其他单元。所述控制单元20包括用于执 行如下所述的程序和功能的控制电路(例如微处理器)、程序存储器 和接口。还可以用逻辑电路把所述控制单元20实现为状态机。应当注 意到，如下所述的聚焦调节功能也可以被实现为所述控制单元20中的 软件函数。
所述输入单元27可以包括用于输入信号的压缩装置，所述输入信 号比如是模拟音频和/或视频或者数字未压缩音频/视频。在MPEG标 准中描述了针对视频的适当的压缩装置，在ISO/IEC 11172中定义了 MPEG-l,在ISO/IEC 13818中定义了 MPEG-2。所述输入信号或者也 可以已经根据上述标准被编码。
在一个实施例中，所述记录设备仅仅是存储系统，比如用在计算 机中的光盘驱动器。所述控制单元20被设置成通过标准化的接口与所 述主计算机系统中的处理单元进行通信。数字数据被直接接口到所述 格式化器28和所述读取处理单元30。
在一个实施例中，所述设备被设置成独立单元，例如用于消费者 使用的视频记录设备。所述控制单元20或者被包括在所述设备中的附 加的主机控制单元被设置成直接由用户控制来例如执行文件管理系统
9的功能。
所述功率控制单元29通过功率控制信号来驱动所述辐射源。利用包含其频率高于所述通道速率本身的更高频分量的脉冲序列来驱动所述激光器。所述脉冲序列具有多电平脉冲的形式，其目的是实现具有所述光学介质的给定长度的"标记，，或"空间，，，从而使其与来自格式化器28中的编码器的已编码数据相匹配。把已编码数据转换成具有更高时间分辨率和多个电平的脉冲串被称作写入策略。此外，所述功率控制单元29根据所述写入策略生成具有不同长度的控制周期的一个序列，其中的每一个控制周期具有多个不同功率电平的其中之一。通常来说，所述写入策略被适配于记录栽体的类型和记录速度。为了把所述辐射功率控制到每一个所期望的功率电平，所述功率控制单元29接收基于所述感测信号32的采样的感测信号34。
图3示出了所记录的数据标记与相关联的功率控制信号之间的关系。功率控制信号50是根据直接覆写现有数据的多脉冲写入策略。在垂直轴上示出了温度Tmelt和温度Tcryst，所述数据层中的记录材料在温度Tmelt所对应的辐射功率下熔化，并且所述记录层中的记录材料在温度Tcryst所对应的辐射功率下结晶。上方的轨道53示出了将由擦除功率电平52擦除的旧数据标记，下方的轨道54示出了对应于所述写入功率电平下的脉沖部分51的写入之后的新标记。
图4示出了对应于高速记录的写入策略的例子。应当注意到，对于其他介质和写入速度知道其他的写入策略。第一条曲线示出了对应于可重写类型的记录载体的第一功率控制信号61，比如24倍正常速度下的CD-RW或者8倍正常速度下的DVD+RW。垂直虚线表示通道比特定时。其中使用了擦除功率电平E、写入功率电平W和低功率电平B(比如读取功率电平)，电平可以在所述通道比特的两倍速度下改变，这通常被称作2T写入策略。所述第一功率控制信号61表示用于写入长度为7个通道比特的标记(17)的脉冲序列。
第二条曲线示出了对应于相同的可重写类型的记录载体的第二功率控制信号62,其表示用于写入具有8个通道比特的标记(18)的脉沖序列。
第三条曲线示出了对应于一次性写入类型的记录载体的第三功率控制信号63,比如2.4倍正常速度下的DVD+R。所述功率电平在甚至
10更高的时间分辨率下改变。第四条曲线示出了对应于另一种一次性写
入类型的记录载体的第四功率控制信号64，比如高达16倍正常速度下的DVD-R或DVD+R。应当注意到使用了其他功率电平C、 W3和W4。
为了执行对应于图3和4中示出的功率控制信号各种写入策略，需要精确地表明所述辐射源的实际功率的感测信号。此外，所述设备还包括感测单元31，以用于生成表示所述辐射光束的功率的采样的感测信号34。所述感测信号32被输入到所述感测单元31。采样的感测信号34被连接到所述功率控制单元29,以便把所述辐射源控制到所期望的功率电平。所迷控制单元20可以与所述感测单元31和其他单元通信，以便如下面所详细讨论的那样执行采样感测信号生成功能的校准。
所述感测单元31如下生成采样的感测信号。在所选控制周期内的采样时间Ts处对所述感测信号进行采样，所选控制周期是基于至少具有所选的最小长度Lsel而被选择的。所述采样时间Ts位于所选控制周期的开始于Lsel的一部分内，以便确定第一样本值。此外，在所选控制周期内的不同于Ts的检测时间Tdet处在所选控制周期内对所述感测信号进行采样，以便确定第二样本值。优选地，所述第一样本值和第二样本值是从相同的所选控制周期中选择的。随后确定所述第 一样本值与第二样本值之间的差。由于所述第 一样本值与第二样本值具有预定的时间差，因此所述样本值之间的差表示所述感测信号的稳定性。应当注意到，在所选周期内，假设所述辐射功率稳定在单一期望功率电平下。因此，在理想情况下，所述感测信号也应当是稳定的。但是由于噪声并且特别由于已知的干扰源，如下面所详细讨论的那样，所述感测信号将仅仅在所述序列中的相对较长的控制周期的末尾处才是足够稳定的。最后，所述感测单元根据所检测到的差针对采样的感测信号的生成进行适配。
图5示出了生成采样的感测信号的过程。所述感测单元31通过(可变)输入放大器(如果存在的话)接收来自所述传感器的感测信号32。在采样单元71中，在定时单元70的控制下取得样本。所述样本可以被转换成数字样本值，所述数字样本值被耦合到差单元74以便确定一个差。处理单元75接收所述差和所述样本值，并且生成采样的感测信号。所述感测单元可以具有第二采样单元72以用于在所选周期内的不同时刻取得第二样本，或者可以由所述第一采样单元71取得所述第二样本。所述定时单元被设置成在至少具有最小长度Lsd的所选周期的末端部分中选择对应于所述所选周期中的所述第一和第二样本的采样时刻。此外，所述定时单元可以从所述功率控制单元29接收表示具有相同功率电平的周期的长度的控制数据78，并且还可以通过控制线与所述控制单元20进行通信。
在所述设备的一个实施例中，所述感测单元31被设置成根据由所述差单元74检测到的所述差来适配所述最小长度Lsel。例如，可以根据实际存在于所述设备中的记录载体的类型把Lsel设置到某一数值。随后检测到所述差，并且只要所述差保持较小就可以把对应于Lsel的数值适配到一个较低值。此外，所述感测单元31可以被设置成增大Lsel，直到所述差低于一个预定阈值为止。在一个实际的例子中，可以把Lsel增大到使得所述差小于所述第 一或第二样本值的1 %。
一般来说，在所述记录载体上，所述轨道中的标记的长度对应于某一整数数目的通道比特长度T,最短标记的长度是一个预定义的最小数目Lmin的通道比特长度T。对应于CD和DVD的Lmin是3个通道比特，所述标记的最大长度Lmax通常是ll到14。所述感测单元31可以,皮设置成把Lsel适配到一个远大于Lmin但是小于Lmax的数值，例如在8到IO之间。
从图3和4中的写入策略可以看出，具有相同功率电平的较长周期在读取或擦除功率下出现。此外，所述感测单元31可以被设置成选择具有读取功率电平或擦除功率电平的所选控制周期。应当注意到，所述感测单元可以被设置成在不同的功率电平下(例如在擦除功率电平下以及在写入功率电平下)生成采样的感测信号，前提是这种写入策略在所述序列中的足够长的控制周期内可用。应当注意到，在不同功率电平下的采样可能需要对应于每一个电平的不同的最小选择长度，这是因为所述慢拖尾的效应取决于所述电平以及与先前功率电平的差。
所述感测单元可以包括平均单元76和另 一个平均单元77，以便根据所述感测信号的样本值序列来确定所述第一和/或第二样本值。通过所述平均单元(其是公知的并且例如包括大量样本的积分或加法)，可以把数字采样值的有效分辨率(其在实践中在输入端可能是5或6
12比特)提高到10或12比特。
基于作为辐射功率反馈信号的单元76或77中的平均样本信号，
it此外，来自单元74的所k差信号或者来自单元75 "^述经过处理的差信号可以被用来校正所述光功率反馈信号或者所述功率设置点信号/数值，这样做可以消除或者减轻所述激光功率控制环路中的剩余的"慢拖尾"的影响。
所述感测单元31具有以下目的。高速多脉沖写入策略具有非常短的擦除电平，从而使得直接采样变得非常困难并且/或者非常昂贵。这是因为随着激光波长从CD减小到DVD再减小到BD，可用于使得所述前向感测(FS)信号的放大器稳定下来的时间变得更短，这意味着需要特殊的FS设计和/或非常快的放大器与更高增益相组合。此外，所述感测二极管可能固有地较慢。所述感测二极管的速度可以取决于所述辐射的波长和所述辐射穿透到各半导体层中的深度。例如，较短波长的红色或红外辐射将穿透得较深，并且可能到达所述FS二极管的耗尽层，从而降低响应速度。继前一周期内的较高感测电平之后稳定到新感测电平的效应被称作FS "慢拖尾"。应当注意到，特别对于高写入电平之后的低电平(例如一次性写入记录中的读取功率电平)来说，所述慢拖尾关于将被检测的感测电平相对较强。
在所述感测单元31的一个实施例中，所述处理单元75被设置成根据至少一个校正参数来生成采样的感测信号。所述感测单元31被设置成根据所述差来确定所述至少一个校正参数。校正参数可以是由于前一周期内的(较高)功率电平而存在于所述感测信号中的衰减效应(慢拖尾)的斜率。可以从取自不同时刻的两个样本计算所述斜率。还可以实现一种具有几个校正参数的更为复杂的模型，同时可以基于两个或多个样本值来拟合从所述模型所得到的曲线。例如在介绍部分中提到的US 2005/0083828中描述了所述感测处理的模型的其他例子。
图6示出了感测信号中的慢拖尾以及选择性采样。其中的曲线图示出了来自前向感测二极管的感测信号80。在加上使得所述激光器开始生成激光所需要的阈值电流83时，所述信号对应于驱动激光器的功率控制信号86。所述功率控制信号的脉冲序列包括写入功率电平Wl和W2以及读取功率电平R。对所述感测信号的采样是在相对较长的读
13取电平周期内发生的。信号84表示将由所述辐射产生的相应的标记。所述标记具有一个初始部分(通过虚线表示通道比特)，其间采样被阻止。短于所述最小选择长度Lsel87的标记被拒绝采样。当前标记超出Lsel，并且被选择来在所述功率控制信号的读取电平周期的末端部分85内进行采样。第一采样间隔88开始于Lsel，第二采样间隔开始于Lsel+1。
在本发明中解决了关于如何设置第英语FS采样的最小选择长度Lsel的问题。当前系统动态地调节采样的感测信号的生成，并且把各单独驱动器的行为纳入考虑(例如FS路径增益扩展)。在校准程序中，如图6中的88、 89所示，对于 =0，1，2...测量在利用N个通道周期游程长度拒绝进行采样与利用N+l个通道周期游程长度拒绝进行采样之间的采样的FS输出的差异，直到所述差小于给定容限(例如测量值的1%)为止。随后把N的该数值选择为所述最小选择长度Lsel。可以在工厂中一次性执行该校准，以便在存储器中设置一个Lsel数值。还可以在现场执行所述校准，例如在所述设备中插入新的记录载体时执行。
在操作使用期间，在初始地设置了所述最小选择长度Lsel之后，为了保持精确的功率控制，仅仅需要N-1 (或N+l)与N的比较。例如，可以在第二 (并行)采样通道上保持N-l或N+l的值以作为检查。
此外，在所选周期中的已知距离下的所述第一样本值与第二样本值的差可以;故用来计算FS上的功率缩放效应。此外，在所述感测通道的模型中将确定并考虑其他参数，比如对应于给定的起始功率的已知的差。基于所述慢拖尾的模型、前一周期内的已知功率以及当前周期内的样本值的计算允许校正所述样本感测信号，这是通过减去剩余的慢拖尾贡献而实现的。所述模型还取决于所述辐射源、所迷波长或者实际被扫描的记录栽体或记录层的类型，其实际类型可能会影响所述感测通道的操作。可以从获取自所述记录载体(例如获取自预先记录的区域或者获取自已调制的抖动预刻沟槽)的盘信息中检测出所述盘类型。
应当注意到，在本文献中，"包括" 一词并不排除未列出的其他元件或步骤的存在，元件之前的"一个"并不排除多个这种元件的存在，任何附图标记都不限制所附权利要求书的范围，可以通过硬件和软件来实现本发明，并且可以用同一项硬件或软件来表示几个"装置"或"单元，，。此外，本发明不限于所述实施例，而是在于上面描述的每一个新颖特征或特征组合。
权利要求
1、用于扫描记录载体(4)的设备，所述记录载体(4)具有用于记录由标记(8)表示的信息的轨道(11)，所述设备包括扫描装置(22)，其包括辐射源和光学元件，所述光学元件用于生成从所述辐射源通过所述轨道上的扫描光斑到检测器的辐射光束以便检测至少一个扫描信号；传感器(33)，其用于从所述光束(24)生成感测信号(32)；功率控制装置(29)，其用于在具有不同长度的控制周期的序列中设置辐射功率，同时根据采样的感测信号来控制所述辐射功率，其中每一个控制周期具有多个不同功率电平的其中之一；以及感测装置(31)，其用于通过以下操作来生成采样的感测信号在所选控制周期内的采样时间Ts处对所述感测信号进行采样，以便确定第一样本值，其中所选控制周期是基于至少具有所选的最小长度Lsel而被选择的，Ts位于所选控制周期的开始于Lsel的一部分内；在所选控制周期内的不同于Ts的检测时间Tdet处进一步在所选控制周期内对所述感测信号进行采样，以便确定第二样本值；确定所述第一样本值与第二样本值之间的差；以及根据所述差针对采样的感测信号的所述生成进行适配。
2、 如权利要求l所述的设备，其中，所述感测装置(31)被设置成根据所述差来适配Lsel。
3、 如权利要求2所述的设备，其中，所述感测装置(31)被设置成增大Lsel直到所述差低于预定阈值，在一种特定情况下直到所述差小于第一或第二样本值的1%。
4、 如权利要求2所述的设备，其中，在所述记录栽体上，所述轨道中的标记的长度对应于整数数目的通道比特长度T,最短标记的长度是预定义的最小数目Lmin的通道比特长度T，并且所述感测装置(31)被设置成把Lsel适配到大于Lmin的数值。
5、 如权利要求l所述的设备，其中，所述感测装置(31)被设置成选择具有读取功率电平或擦除功率电平的所选控制周期。
6、 如权利要求l所述的设备，其中，所述感测装置(31)包括用于根据至少一个校正参数来生成采样的感测信号的处理装置，并且被设置成根据所述差来确定所述至少一个校正参数。
7、 如权利要求l所述的设备，其中，所述感测装置(31)包括平 均装置，其用于根据所述感测信号的样本值序列来确定所述第一和/或 第二样本值。
8、 针对在用于扫描记录载体(4)的设备中的采样的感测信号的 生成进行适配的方法，所述记录载体(4)具有用于记录由标记(8) 表示的信息的轨道(11)，所述设备包括扫描装置(22)，其包括辐射源和光学元件，所述光学元件用于 生成从所述辐射源通过所述轨道上的扫描光斑到检测器的辐射光束以 便检测至少 一 个扫描信号；传感器(33)，其用于从所述光束(24)生成感测信号(32);功率控制装置(29)，其用于在具有不同长度的控制周期的序列 中设置辐射功率，同时根据采样的感测信号来控制所述辐射功率，其 中每一个控制周期具有多个不同功率电平的其中之一，所述方法包4舌在所选控制周期内的采样时间Ts处对所述感测信号进行采样，以 便确定第一样本值，其中所选控制周期是基于至少具有所选的最小长 度Lsel而被选择的，Ts位于所选控制周期的开始于Lsel的一部分内；在所选控制周期内的不同于Ts的检测时间Tdet处进一步在所选 控制周期内对所述感测信号进行采样，以便确定第二样本值；确定所述第一样本值与第二样本值之间的差；以及根据所述差针对采样的感测信号的所述生成进行适配。
9、 如权利要求8所述的方法，其中，所述方法包括根据所述差适 配Lsel。
全文摘要
本发明涉及一种用于在记录载体(4)上记录信息的设备，其具有辐射源、用于生成感测信号(32)的传感器(33)、用于根据采样的感测信号设置辐射功率的功率控制单元(29)以及用于生成采样的感测信号的感测单元(31)。在基于至少具有所选的最小长度Lsel所选择的周期的末端部分中的Ts处对所述感测信号进行采样。在所选控制周期内的不同于Ts的检测时间Tdet处对所述感测信号进行采样，以便确定第二样本值。确定所述第一样本值与第二样本值之间的差，并且根据所述差针对采样的感测信号的所述生成进行适配。特别地，可以根据所述差来适配Lsel，以便消除更高功率下的前一周期的剩余影响。
文档编号G11B7/125GK101479795SQ200780022301
公开日2009年7月8日 申请日期2007年6月5日 优先权日2006年6月15日
发明者J·J·A·麦科尔马克 申请人:皇家飞利浦电子股份有限公司