记录是否有擦除时掉电的方法、装置、存储介质和终端与流程

[0001]
本发明涉及半导体存储技术领域，尤其涉及的是一种记录是否有擦除时掉电的方法、装置、存储介质和终端。


背景技术：

[0002]
nor flash在擦除区块a过程中发生掉电，如果内部算法流程正在处于擦除的步骤（如图1所示），还没有到修复“过擦除”单元的步骤，那么重新上电后读此区块，可能造成此区块的数据丢失，读出的数据是一个随机值(取决于a区块“过擦除”单元的数量和分布，如图2所示)。这样会造成以下的问题：（1）对用户而言：现有nor flash没有一个指令来反馈用户指定的区块是否有掉电发生。只能通过重新对掉电的区块进行重新擦除，但如果用户系统也无法定位掉电的区块，对系统应用造成风险，那就必须对全芯片重新擦除，再编程。
[0003]
（2）nor flash内部没有一个标记位给用户知晓哪个区块有过擦除发生：对nor flash内部擦除算法而言，nor flash只能在下一次擦除的步骤中去修复发生过过擦除的区块，内部算法需要检测此区块的所有位线的漏电情况，来判断是否需要对此区块进行“过擦除”修复，而遍历所有的位线会非常耗时。
[0004]
因此，现有的技术还有待于改进和发展。


技术实现要素：

[0005]
本发明的目的在于提供一种记录是否有擦除时掉电的方法、装置、存储介质和终端，旨在解决现有的nor flash没有一个指令来反馈用户指定的区块是否有掉电发生的问题。
[0006]
本发明的技术方案如下：一种记录是否有擦除时掉电的方法，其中，具体包括以下步骤：对需要进行擦除的区块进行擦除处理；对进行擦除处理后的区块进行过擦除修复；对进行过擦除修复后的区块内的掉电标志单元进行编程处理。
[0007]
所述的记录是否有擦除时掉电的方法，其中，所述掉电标志单元为在需要进行擦除的区块内增加的位线上的单元。
[0008]
所述的记录是否有擦除时掉电的方法，其中，所述掉电标志单元为在需要进行擦除的区块内增加的至少一根位线上的单元。
[0009]
所述的记录是否有擦除时掉电的方法，其中，所述输出该掉电标志单元的编程结果，包括以下过程：读取需要进行擦除的区块内的状态寄存器的对应标志位的数据并输出。
[0010]
所述的记录是否有擦除时掉电的方法，其中，所述输出该掉电标志单元的编程结果，包括以下过程：读取需要进行擦除的区块内任意位置的数据并输出。
[0011]
一种采用如上述任一所述的记录是否有擦除时掉电的方法的装置，其中，包括：
对需要进行擦除的区块进行擦除处理的擦除模块；对进行擦除处理后的区块进行过擦除修复的过擦除修复模块；对进行过擦除修复后的区块内的掉电标志单元进行编程处理的掉电标志编程模块。
[0012]
所述的装置，其中，还包括读取需要进行擦除的区块内的状态寄存器的对应标志位的数据的状态寄存器读取模块。
[0013]
所述的装置，其中，还包括读取需要进行擦除的区块内任意位置的数据的区块数据读取模块。
[0014]
一种存储介质，其中，所述存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行上述任一项所述的方法。
[0015]
一种终端设备，其中，包括处理器和存储器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器通过调用所述存储器中存储的所述计算机程序，用于执行上述任一项所述的方法。
[0016]
本发明的有益效果：本发明通过提供一种记录是否有擦除时掉电的方法、装置、存储介质和终端，通过在常规擦出流程结束后增加对掉电标志单元的检测，以此来记录这次擦除操作的完整性有效性，解决了用户无法定位掉电的区块时需要进行全芯片擦除的问题，使用户能够知晓掉电的发生；只需要检测掉电检测单元的特定内容来判断是否需要执行过擦除修复，系统无需遍历所有的位线上的单元，极大地节省了擦除流程时间。
附图说明
[0017]
图1是现有技术中擦除的步骤流程图。
[0018]
图2是现有技术中a区块过擦除单元的数量和分布示意图。
[0019]
图3是本发明中掉电标志单元的示意图。
[0020]
图4是本发明中记录是否有擦除时掉电的方法的步骤。
[0021]
图5是本发明中装置的示意图。
[0022]
图6是本发明中终端的示意图。
具体实施方式
[0023]
下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0024]
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0025]
如图4所示，一种记录是否有擦除时掉电的方法，具体包括以下步骤：s1：对需要进行擦除的区块进行擦除处理。
[0026]
s2：对进行擦除处理后的区块进行过擦除修复。
[0027]
s3：对进行过擦除修复后的区块内的掉电标志单元进行编程处理。
[0028]
其中，在用户发送read指令时和其他字线一起读出该掉电标志单元的编程结果；或者在用户再次发送擦除指令时内部算法读取该掉电标志单元的编程结果。
[0029]
其中，所述掉电标志单元通过在需要进行擦除的区块内增加至少一根位线，在该位线上的“非易失”单元即为掉电标志单元。
[0030]
通过在需要进行擦除的区块内增加一根（或几根）nor flash的位线，位线上的掉电标志单元用来记录该区块是否发生过擦除掉电，如图3所示。在原有的擦除算法流程中，掉电检测单元和其他的正常单元同时擦除，而在擦除流程最后阶段（经过“过擦除”修复之后）对这根（或几根）位线上的单元进行编程操作，如果位线上的单元被编程了，代表了擦除过程的正常结束，如图4所示；否则该需要进行擦除的区块存在擦除时掉电的情况。
[0031]
其中，增加的位线的数量按实际需要而设定，增加的位线数量越多，越能准确检测出该区块是否存在擦除时掉电的情况（只要有任一位线上的单元不能被编程，该区块即存在擦除时掉电的情况），但相应的整个区块的物理单元结构和算法流程也会相应复杂。
[0032]
其中，所述输出该掉电标志单元的编程结果，可以通过以下方式实现：（1）通过读取需要进行擦除的区块内的状态寄存器（因为状态寄存器存放体现当前指令执行结果的各种状态信息（条件码））的对应标志位来判断此区块是否发生擦除掉电，该标志位与掉电标志单元的状态对应，输出该状态寄存器对应标志位的数据，用户根据该数据即可得知该区块是否存在擦除时掉电，若得出该区块存在擦除掉电时，则该区块没有正常执行擦除操作，默认该区块存在过擦除单元。（2）读取该区块的数据并输出：若掉电检测单元没有编程成功，即掉电检测单元处于擦除状态，系统自动将该区块内的数据置为“0”（表示体改区块处于编程状态，代表擦除掉电之后，擦除未成功），这样读取该区块内的任意位置，然后输出读出的数据，用户根据该数据即可得知该区块是否存在擦除时掉电，若得出该区块存在擦除掉电时，则该区块没有正常执行擦除操作，默认该区块存在过擦除单元。这样，通过对该区块进行擦除时掉电的检测，可以得知该区块是否存在过擦除单元，若该区块存在擦除时掉电，系统即可在执行下一次擦除命令时自动执行过擦除修复，无需遍历所有的位线进行过擦除判断，极大地节省了擦除时间。
[0033]
如图5所示，一种采用如上述所述的记录是否有擦除时掉电的方法的装置：包括：对需要进行擦除的区块进行擦除处理的擦除模块101；对进行擦除处理后的区块进行过擦除修复的过擦除修复模块102；对进行过擦除修复后的区块内的掉电标志单元进行编程处理的掉电标志编程模块103。
[0034]
在某些具体实施例中，所述装置还包括读取需要进行擦除的区块内的状态寄存器的对应标志位的数据的状态寄存器读取模块104。
[0035]
在某些具体实施例中，所述装置还包括读取该需要进行擦除掉电检测的区块数据的区块数据读取模块105。
[0036]
请参照图6，本发明实施例还提供一种终端。如示，终端300包括处理器301和存储器302。其中，处理器301与存储器302电性连接。处理器301是终端300的控制中心，利用各种接口和线路连接整个终端的各个部分，通过运行或调用存储在存储器302内的计算机程序，以及调用存储在存储器302内的数据，执行终端的各种功能和处理数据，从而对终端300进
行整体监控。
[0037]
在本实施例中，终端300中的处理器301会按照如下的步骤，将一个或一个以上的计算机程序的进程对应的指令加载到存储器302中，并由处理器301来运行存储在存储器302中的计算机程序，从而实现各种功能：对需要进行擦除的区块进行擦除处理；对进行擦除处理后的区块进行过擦除修复；对进行过擦除修复后的区块内的掉电标志单元进行编程处理。
[0038]
存储器302可用于存储计算机程序和数据。存储器302存储的计算机程序中包含有可在处理器中执行的指令。计算机程序可以组成各种功能模块。处理器301通过调用存储在存储器302的计算机程序，从而执行各种功能应用以及数据处理。
[0039]
本申请实施例提供一种存储介质，所述计算机程序被处理器执行时，执行上述实施例的任一可选的实现方式中的方法，以实现以下功能：对需要进行擦除的区块进行擦除处理；对进行擦除处理后的区块进行过擦除修复；对进行过擦除修复后的区块内的掉电标志单元进行编程处理。其中，存储介质可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器（static random access memory, 简称sram），电可擦除可编程只读存储器（electrically erasable programmable read-only memory, 简称eeprom），可擦除可编程只读存储器（erasable programmable read only memory, 简称eprom），可编程只读存储器（programmable red-only memory, 简称prom），只读存储器（read-only memory, 简称rom），磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。
[0040]
在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
[0041]
另外，作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
[0042]
再者，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。
[0043]
在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
[0044]
以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。