一种内存测试分析系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及半导体制造技术领域，特别是涉及一种内存测试分析系统。
【背景技术】
[0002]模组产线现有的在分析ET和AT异常不良的时候需要先搜集大量的数据(TestLog，收率，实际不良资材)；接着读取所有不良资材的SPD (Serial Presence Detect)信息，即是通过 IIC 串行接口的 EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-OnlyMemory,电可擦可编程只读存储器)对内存插槽中的模组存在的信息检查；最后根据STO信息将所有数据汇总整理至EXCEL得出结论。由此可见，现有的分析过程冗长和繁琐，缺乏直观的数据反映。
【发明内容】
[0003]鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种内存测试分析系统，解决现有技术分析结果冗长繁琐的问题。
[0004]为实现上述目标及其他相关目标，本发明提供一种内存测试分析系统，包括:测试数据库，用于存储来自AT测试设备及ET测试设备的内存测试结果的原始数据；数据分析模块，用于根据所述原始数据生成运算分析结果；显示模块，用于显示所述运算分析结果，以供区分真性不良与假性不良；查询模块，用于将所述运算分析结果按AT测试及ET测试划分分类，以供分类查询。
[0005]可选的，所述ET测试，是通过ET测试设备根据内存电压、电流、及频率参数来检测内存的各个线路以及元器件之间的开路、短路、或漏电现象；所述AT测试，是通过AT测试设备对内存的每个颗粒是否能够正常读与写以完成基本的功能性测试。
[0006]可选的，所述划分分类包括:AT设备类别的量产进行履历、AT设备类别的内存健康寿命损失年、直流电性类别测试结果、及每日最差被测试器件自动通知。
[0007]可选的，所述HITEMS软件用于查询存入EIS DB的Lot及测试设备信息。
[0008]可选的，所述HITEMS软件数据库，用于保存各个内存产品的信息基本信息在SPD中并与各自测试结果相关联；HITEMS识别模块，根据所述自动识别产品种类与参数，自动显示产品信息的测试结果，以确保每一个内存产品信息独立与完整。
[0009]可选的，所述的内存测试分析系统，还包括:备份模块，用于在内存测试结果向服务器发送时进行备份。
[0010]如上所述，本发明提供一种内存测试分析系统，包括:测试数据库，用于存储来自AT测试设备及ET测试设备的内存测试结果的原始数据；数据分析模块，用于根据所述原始数据生成运算分析结果；显示模块，用于显示所述运算分析结果，以供区分真性不良与假性不良；查询模块，用于将所述运算分析结果按AT测试及ET测试划分分类，以供分类查询；全自动化作业系统替代了人工操作，自动导出数据，直观反映数据图表；通过内存测试分析系统与原有人工整理数据对比的差异性，减少量产异常Fail ;根据SH)信息的唯一性(Serial N0.)可以确保每一个产品的信息有据可依；根据内存测试分析系统的数据查询，量产收率的真实性与精确性大大提高。
【附图说明】
[0011]图1显示为本发明一实施例中的内存测试分析系统的结构示意图。
[0012]元件标号说明:1_内存测试分析系统，11-测试数据库，12-数据分析模块，13-显示模块，14-查询模块。
【具体实施方式】
[0013]以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的【具体实施方式】加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0014]如图1所示，本发明提供一种本发明提供一种内存测试分析系统1，包括:测试数据库11，用于存储来自AT测试设备及ET测试设备的内存测试结果的原始数据；数据分析模块12，用于根据所述原始数据生成运算分析结果；显示模块13，用于显示所述运算分析结果，以供区分真性不良与假性不良，利用概率统计学对数据结果分析即可区分真性不良与假性不良；查询模块14，用于将所述运算分析结果按AT测试及ET测试划分分类，以供分类查询。
[0015]在一实施例中，所述ET测试，是通过ET测试设备根据内存电压、电流、及频率参数来检测内存的各个线路以及元器件之间的开路、短路、或漏电现象；所述AT测试，是通过AT测试设备对内存的每个颗粒是否能够正常读与写以完成基本的功能性测试。
[0016]在一实施例中，优选可采用Hitems软件来进行数据存储及显示等，例如，利用计算机语言(C/C++)将数据库的原始数据以及运算结果显示于软件HITEMS (Test EquipmentManagement System,用于查询存入EIS DB的Lot和设备信息)之中，以便更直观的查看数据结果:对于ET测试(电压、电流、频率)，检测内存的各个线路以及元器件之间的Open、Short、Leakage等问题，对于AT测试，Module的每个颗粒是否能够正常的读与写，完成基本的功能性测试用。
[0017]在一实施例中，所述划分分类包括:AT设备类别的量产进行履历、AT设备类别的内存健康寿命损失年、直流电性类别测试结果、及每日最差被测试器件自动通知，具体的，即通过软件设计将Hitems各个模块分类划分(AT量产进行的履历，AT设备别YLDMornitoring,ELEC DC Item别 Test 结果及 Daily Worst Dut Auto Mailing)，以便有针对性的查询)。
[0018]在一实施例中，所述HITEMS软件用于查询存入EIS DB的Lot及测试设备信息。
[0019]在一实施例中，所述HITCMS软件数据库，用于保存各个内存产品的信息基本信息在SPD (例如256Byte EEPR0M)中并与各自测试结果相关联；HITEMS识别模块，根据所述自动识别产品种类与参数，自动显示产品信息的测试结果，以确保每一个内存产品信息独立与完整。
[0020]在一实施例中，所述的内存测试分析系统1，还包括:备份模块，用于在内存测试结果向服务器发送时进行备份，具体的，例如，为了保证内存测试结果的精确性，该系统开发了系统自检模块，测试结果发送Server的同时设备会进行Backup，不管测试结果是良品还是不良品，都可以进行下载真实Log进行参考。
[0021]综上所述，本发明提供一种内存测试分析系统，包括:测试数据库，用于存储来自AT测试设备及ET测试设备的内存测试结果的原始数据；数据分析模块，用于根据所述原始数据生成运算分析结果；显示模块，用于显示所述运算分析结果，以供区分真性不良与假性不良；查询模块，用于将所述运算分析结果按AT测试及ET测试划分分类，以供分类查询；全自动化作业系统替代了人工操作，自动导出数据，直观反映数据图表；通过内存测试分析系统与原有人工整理数据对比的差异性，减少量产异常Fail ;根据SH)信息的唯一性(Serial N0.)可以确保每一个产品的信息有据可依；根据内存测试分析系统的数据查询，量产收率的真实性与精确性大大提高。
[0022]上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。
【主权项】
1.一种内存测试分析系统，其特征在于，包括: 测试数据库，用于存储来自AT测试设备及ET测试设备的内存测试结果的原始数据； 数据分析模块，用于根据所述原始数据生成运算分析结果； 显示模块，用于显示所述运算分析结果，以供区分真性不良与假性不良； 查询模块，用于将所述运算分析结果按AT测试及ET测试划分分类，以供分类查询。
2.根据权利要求1所述的内存测试分析系统，其特征在于，所述ET测试，是通过ET测试设备根据内存电压、电流、及频率参数来检测内存的各个线路以及元器件之间的开路、短路、或漏电现象；所述AT测试，是通过AT测试设备对内存的每个颗粒是否能够正常读与写以完成基本的功能性测试。
3.根据权利要求1所述的内存测试分析系统，其特征在于，所述划分分类包括:AT设备类别的量产进行履历、AT设备类别的内存健康寿命损失年、直流电性类别测试结果、及每日最差被测试器件自动通知。
4.根据权利要求1所述的内存测试分析系统，其特征在于，所述HITEMS软件用于查询存入EIS DB的Lot及测试设备信息。
5.根据权利要求1所述的内存测试分析系统，其特征在于，所述HITCMS软件数据库，用于保存各个内存产品的信息基本信息在SPD中并与各自测试结果相关联；HITEMS识别模块，根据所述自动识别产品种类与参数，自动显示产品信息的测试结果，以确保每一个内存产品信息独立与完整。
6.根据权利要求1所述的内存测试分析系统，其特征在于，还包括:备份模块，用于在内存测试结果向服务器发送时进行备份。
【专利摘要】本发明提供一种内存测试分析系统，包括：测试数据库，用于存储来自AT测试设备及ET测试设备的内存测试结果的原始数据；数据分析模块，用于根据所述原始数据生成运算分析结果；显示模块，用于显示所述运算分析结果，以供区分真性不良与假性不良；查询模块，用于将所述运算分析结果按AT测试及ET测试划分分类，以供分类查询；全自动化作业系统替代了人工操作，自动导出数据，直观反映数据图表；通过内存测试分析系统与原有人工整理数据对比的差异性，减少量产异常Fail；根据SPD信息的唯一性（Serial NO.）可以确保每一个产品的信息有据可依；根据内存测试分析系统的数据查询，量产收率的真实性与精确性大大提高。
【IPC分类】G11C29-56
【公开号】CN104599719
【申请号】CN201410775071
【发明人】沈泽斌
【申请人】海太半导体（无锡）有限公司
【公开日】2015年5月6日
【申请日】2014年12月15日