应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管的制作方法

文档序号:7102651阅读:364来源:国知局
专利名称:应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管的制作方法
技术领域
本发明属于半导体技术领域,特别是指应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的氮化
镓基发光二极管。
背景技术
石墨烯(Graphene)是一种由碳原子以sp2杂化轨道组成六角型呈蜂巢晶格的平面薄膜,具有高透过率(97.7%);高导热系数(5300W/m*K),高电子迁移率(15000 cm2/V s),低电阻率只约(IO-6Q因为它极低的电阻率,极高的电子迁移率,所以被期待可用来发展出更薄、导电速度更快的新一代电子元件或晶体管。现已应用于制造透明导电层,触控屏幕、光板和太阳能电池。另一方面,由于P型掺杂困难及空穴有效质量较大,导致·的电子空穴注入不对称是发光二极管中存在的主要问题。同时,为了改善电流分布不均匀性和得到更好的外延层晶体质量,不得不使用更厚的N型载流子注入层,增加了生产成本和周期。

发明内容
本发明的目的在于,提供一种应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管,该方法是通过使用石墨烯薄膜作为载流子注入层的方法,提高空穴注入,减小电子注入层厚度,降低成本。本发明提供一种应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管,包括一衬底;一载流子注入层,其制作在衬底上;—发光层,其制作在载流子注入层上面的一侧,宽度小于载流子注入层的宽度,使载流子注入层形成一台面;一石墨烯薄膜,其制作在发光层上;一下金属电极,其制作于载流子注入层的台面上;一上金属电极,其制作于石墨烯薄膜上。其中该衬底的材料为氮化镓、蓝宝石、碳化硅或硅。其中该载流子注入层的材料为氮化铟镓、氮化铝镓或氧化锌。其中该载流子注入层的导电类型为N型或P型。其中所述的制作载流子注入层,是采用金属有机物化学汽相淀积或分子束外延制备。其中该发光层为多周期结构,周期数为1-20。其中所述的制备石墨烯薄膜是采用撕胶带法、化学汽相淀积法或热氧化法。其中所述石墨烯薄膜的导电类型为N型或P型。其中所述石墨烯薄膜的材料为单层或多层石墨烯薄膜。其中所述制作下金属电极和上金属电极是采用光刻、刻蚀、沉积、腐蚀或蒸镀。


为使审查员能进一步了解本发明的结构、特征及其目的,以下结合附图及较佳具体实施例的详细说明如后,其中图I是本发明的第一实施例,芯片外延结构示意图。图2为本发明的第一实施例,芯片结构在制作石墨烯薄膜后的示意图。图3为本发明的第一实施例,芯片结构在光刻,刻蚀后的示意图。图4为本发明的第一实施例,芯片结构在制作金属电极后的示意图。
具体实施方式
本发明关键在于。通过使用石墨烯薄膜作为载流子注入层,提高载流子注入效率,改善电流扩展。请参阅图I-图4所示,本发明提供一种应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管,包括一衬底20,该衬底20的材料为氮化镓、蓝宝石、碳化硅或硅;衬底20的作用是为其上的外延材料提供晶体生长的基板和支撑,依据技术成熟度,机械强度,器件稳定性,透光率,晶格匹配程度和热应力失配程度等方面来选择不同的衬底材料。该衬底20的材料为氮化镓、蓝宝石、碳化硅或硅;衬底20的作用是为其上的外延材料提供晶体生长的基板和支撑,依据技术成熟度,机械强度,器件稳定性,透光率,晶格匹配程度和热应力失配程度等方面来选择不同的衬底材料。首先,衬底材料和外延膜晶格匹配至关重要。晶格匹配包含两个内容一是与外延生长面内的晶格匹配,即在生长界面所在平面的某一方向上衬底与外延层相匹配;另一个是沿衬底表面法线方向上的匹配,如果在这个方向上失配度过大,则衬底表面的任何不平或微小起伏都可能引入缺陷,并延伸到外延膜中。其次,外延层与衬底20材料在热膨胀系数应相近,相差过大不仅可能使外延膜在生长过程中质量下降,还可能会在器件工作过程中,由于发热而造成器件的损坏。另外,衬底材料需要有相当好的化学稳定性,不能与外延膜发生化学反应,使外延层的质量下降。一载流子注入层30,其制作在衬底20上,该载流子注入层30的材料为氮化铟镓、氮化铝镓或氧化锌,该载流子注入层30的导电类型为N型或P型,所述的制作载流子注入层30,是采用金属有机物化学汽相淀积或分子束外延制备;载流子注入层30的掺杂类型为N型或P型,作为电子或者空穴的注入层。其作用为作为电极向发光层31注入的载,向发光层31内注入电子或者空穴。在衬底20和发光层31的晶格之间存在失配的情况下,载流子注入层30还能够实现晶格从衬底20向发光层31的过渡,减少晶格失配带来的缺陷和位错的影响,提高发光层31的晶体质量。一发光层31,其制作在载流子注入层30上面的一侧,宽度小于载流子注入层30的宽度,使载流子注入层30形成一台面31’,该发光层31为多周期结构,周期数为1-20 ;发光层31的作用为实现从上下电极50和51注入的载流子,经由载流子注入层30个石墨烯薄膜40的输运,在发光层31其中的福射复合,把电能转换为光能,以产生光子;通常发光层30的禁带宽度小于载流子注入层30,以更好的容纳载流子。一石墨烯薄膜40,其制作在发光层31上,所述的制备石墨烯薄膜40是采用撕胶带法、化学汽相淀积法或热氧化法,所述石墨烯薄膜40的导电类型为N型或P型,所述石墨烯薄膜40的材料为单层或多层石墨烯薄膜;由于石墨烯薄膜40具有高电子迁移率,高透过率的,高热传导率,低电阻率的特性,不仅可以实现高效率的载流子注入,还具有透明导电层的作用,改善电流扩展,提高提取效率。 一下金属电极50,其制作于载流子注入层30的台面31’上,使金属电极50与载流子注入层30部分接触。所述制作下金属电极50是采用光刻、刻蚀、沉积、腐蚀或蒸镀;金属电极50主要起到金属焊点连接外部封装器件,以及实现电流从外部电路向载流子注入层30的注入的作用。一上金属电极51,其制作于石墨烯薄膜40上,所述制作上金属电极51是采用光亥IJ、刻蚀、沉积、腐蚀或蒸镀;所述的金属电极51与石墨烯薄膜40形成欧姆接触,实现向石墨烯薄膜中的载流子注入。并连接芯片与外部封装结构。实施例请参阅图I至图4所示,本发明一种应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管,包括如下步骤I、在蓝宝石衬底20上依次外延生长0. Iiim厚的GaN缓冲层、2 iim厚非掺杂GaN、2 u m厚的重掺杂Si的n型GaN电子注入层30、8对量子阱GaN/InGaN发光层31 (总厚度为
0.15 u m)。; 2、把制备好的石墨烯薄膜40贴敷于外延结构表面,并置于浓硝酸蒸汽中I分钟,之后真空退火3分钟;3、通过光刻,感应耦合等离子体刻蚀等工艺选择性刻蚀外延结构,将N型GaN电子注入层暴露出来,形成台面31’ ;4、经过光刻、电子束蒸发等工艺将铝(Al)/钛(Ti) /金(Au) (400/50/400nm)N型金属电极50制备在台面31’上,使其部分与N型GaN电子注入层31接触;5、经过光刻、电子束蒸发等工艺制备钛(Ti)/铝(Al)/钛(Ti)/金(Au)(50/400/50/400nm)P型金属电极51,使得P型金属电极51部分与石墨烯薄膜40接触。以上所述,仅为本发明中的具体实施方式
,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉该技术的人在本发明所揭露的技术范围内,可轻易想到的变换或替换,都应涵盖在本发明的包含范围之内。因此,本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。
权利要求
1.一种应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管,包括 一衬底; 一载流子注入层,其制作在衬底上; 一发光层,其制作在载流子注入层上面的一侧,宽度小于载流子注入层的宽度,使载流子注入层形成一台面; 一石墨烯薄膜,其制作在发光层上; 一下金属电极,其制作于载流子注入层的台面上; 一上金属电极,其制作于石墨烯薄膜上。
2.根据权利要求I所述的应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管,其中该衬底的材料为氮化镓、蓝宝石、碳化硅或硅。
3.根据权利要求I所述的应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管,其中该载流子注入层的材料为氮化铟镓、氮化铝镓或氧化锌。
4.根据权利要求3所述的应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管,其中该载流子注入层的导电类型为N型或P型。
5.根据权利要求4所述的应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管,其中所述的制作载流子注入层,是采用金属有机物化学汽相淀积或分子束外延制备。
6.根据权利要求I所述的应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管,其中该发光层为多周期结构,周期数为1-20。
7.根据权利要求I所述的应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管,其中所述的制备石墨烯薄膜是采用撕胶带法、化学汽相淀积法或热氧化法。
8.根据权利要求7所述的应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管,其中所述石墨烯薄膜的导电类型为N型或P型。
9.根据权利要求8所述的应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管,其中所述石墨烯薄膜的材料为单层或多层石墨烯薄膜。
10.根据权利要求I所述的应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管,其中所述制作下金属电极和上金属电极是采用光刻、刻蚀、沉积、腐蚀或蒸镀。
全文摘要
一种应用石墨烯薄膜作为载流子注入层的发光二极管,包括一衬底;一载流子注入层,其制作在衬底上;一发光层,其制作在载流子注入层上面的一侧,宽度小于载流子注入层的宽度,使载流子注入层形成一台面;一石墨烯薄膜,其制作在发光层上;一下金属电极,其制作于载流子注入层的台面上;一上金属电极,其制作于石墨烯薄膜上。本发明是通过使用石墨烯薄膜作为载流子注入层的方法,提高空穴注入,减小电子注入层厚度,降低成本。
文档编号H01L33/14GK102751408SQ20121021724
公开日2012年10月24日 申请日期2012年6月27日 优先权日2012年6月27日
发明者伊晓燕, 张逸韵, 汪炼成, 王国宏, 马骏 申请人:中国科学院半导体研究所
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