一种显示面板、显示设备的制作方法

文档序号:12478602阅读:150来源:国知局
一种显示面板、显示设备的制作方法与工艺

本发明涉及显示领域,特别是涉及一种显示面板、显示设备。



背景技术:

静电积累和释放是半导体领域中造成器件破坏的主要因素之一。在现有的显示面板制造过程中,为了有效的阻隔或疏导静电,避免器件被静电破坏,一般都会加入ESD(Electro-Static discharge,静电释放)防护电路来增强玻璃制程中的静电防护能力。静电防护电路包括用于疏导静电的静电防护单元,在制造结束后再用激光切割等方法将包括静电防护单元的部分切除。因此,静电防护电路设计的合理性决定了是否能够较好的阻隔或疏导静电。

在激光切割的过程中,无机膜层容易产生碎裂并向显示区扩散而导致显示不良,因此一般会在有机膜层的切割对应区域进行挖槽处理。图1A出示了现有技术中的一种显示面板的基本结构,其中,显示面板10具有显示区域101和非显示区域102,静电防护电路103位于所述非显示区域102中。图1B出示了现有技术中的一种静电防护电路的具体结构。显示面板包括多个测试点1001与多条测试引线M1、M2…、Mn,每个测试点分别与一条测试引线电连接。无机膜1002形成于所述测试引线远离所述柔性基板的一侧。无机膜1002经过挖槽处理而形成凹槽1003,凹槽1003的形状可以为矩形。显示面板还包括分割区域1004,分割线1005位于分割区域1004中。凹槽1003用于分隔覆盖显示区域的无机层和分割区域的无机层。当所述静电防护单元使用结束后,沿所述分割线将所述分割区域与所述柔性基板分离。然而,在激光切割时,基板会由于高温而释放出大量气体,使得基板中的导电材料被溅射到附近的柔性基板上,造成显示面板上的测试引线短路,影响显示效果。



技术实现要素:

有鉴于此,本发明提供一种显示面板、显示设备,用于消除或减轻现有技术中存在的上述问题。

为实现上述目的,本发明提供了一种显示面板,其特征在于,包括:柔性基板,所述柔性基板包括显示区域和非显示区域;在所述非显示区域,还包括多个测试点和与所述测试点电连接的多条测试引线;无机层,所述无机层位于所述测试引线远离所述柔性基板的一侧,所述无机层覆盖所述显示区域和所述非显示区域;在所述非显示区域,所述无机层包括多个第一凹槽;以及设置于两个相邻第一凹槽之间的第一挡墙部;其中,两条相邻的所述测试引线之间具有至少一个所述第一挡墙部。

进一步的,所述显示面板在所述非显示区域还包括分割区域,所述分割区域还设有分割线,所述分割线与每条所述测试引线相交,在分割区域使用结束后,沿所述分割线将所述分割区域与所述柔性基板分离。可选的,所述分割线为直线分割线或曲线分割线。

进一步的,所述分割区域还包括静电防护单元,多条所述测试引线电连接至所述静电防护单元。

进一步的,所述显示面板还包括低温多晶硅薄膜晶体管,所述测试引线与所述低温多晶硅薄膜晶体管的半导体层同层设置。

进一步的,所述无机层还包括至少一个第二凹槽,所述第二凹槽用于分隔所述显示区域的所述无机层和所述非显示区域的所述无机层。

进一步的,在垂直于所述柔性基板的方向上,所述第一挡墙部的厚度为0.5微米-20微米,包括端点值。

进一步的,所述非显示区域还包括多个第二挡墙部,所述第二挡墙部具有“U”形图案,所述“U”形图案包括两个平行于所述测试引线的分支部分,其中,同一个所述“U”形图案的两个所述分支部分位于其对应的所述测试引线的两侧。

进一步的,所述分支部分距其对应的所述测试引线的垂直距离为0.5微米-5微米,包括端点值。

进一步的,所述第一和/或第二挡墙部由氮化硅材料或氧化硅材料制成。

进一步的,所述第二挡墙部部由喷墨打印工艺形成。

本发明还提供了一种显示设备,包括上述任一种显示面板。

本发明提供的显示面板、显示设备,通过在无机膜上挖槽的方式,在相邻的测试引线之间形成了多个挡墙部,该挡墙部有效的阻挡了在激光切割时溅射到测试引线之间的导电物质,避免了显示面板中测试引线短路的问题。

附图说明

为了让本发明的内容更明显易懂,请参照下文的实施例和附图的详细说明:

图1A是现有技术中的一种显示面板的基本结构;

图1B是现有技术中的一种静电防护电路的具体结构;

图2是根据本申请提供的一种显示面板的一个实施例的具体结构示意图;

图3是图2实施例在分割线A-A’处的截面图;

图4是根据本申请提供的一种显示面板的另一个实施例的具体结构示意图;

图5是图4实施例在分割线A-A’处的截面图;

图6是根据本申请提供的一种显示面板的再一个实施例的具体结构示意图;

图7图6实施例在分割线A-A’处的截面图;

图8是根据本申请本申请提供的一种显示面板的又一个实施例的具体结构示意图;

图9是图8实施例在分割线A-A’处的截面图;

图10是根据本申请提供的一种显示设备的示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂,下面将结合附图和实施例对本发明做进一步说明。

在显示面板的制造过程中,需要在显示面板上设置多条测试引线和静电防护装置来增强制造过程中的静电防护能力,在制造结束后再用激光切割的方法将静电测试电路切除。但是,在激光切割的过程中,无机膜产生碎裂并向显示区扩散而导致显示不良。因此,一般会在无机膜层的切割对应区域进行挖槽处理。然而,在激光切割时,基板会由于高温而释放出大量气体,使得基板中的导电材料被溅射到附近的柔性基板上,造成显示面板上的测试引线短路,影响显示效果。本发明提供的显示面板及其制造方法、显示设备,通过在无机层上进行挖槽处理,在两个相邻的测试引线之间形成了挡墙部,避免了显示面板中测试引线短路的问题。

为实现上述目的,本发明提供的一种显示面板包括柔性基板、多个测试点、多条测试引线和无机层。其中,柔性基板包括显示区域和非显示区域,多个测试点与多条测试引线位于非显示区域。无机层形成于测试引线远离柔性基板的一侧,并且覆盖所述显示区域和所述非显示区域。无机层包括多个第一凹槽以及设置于两个相邻第一凹槽之间的第一挡墙部。两条相邻的测试引线之间具有至少一个第一挡墙部。需要说明的是,在以下描述中阐述了具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以多种不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广。因此本发明不受下面公开的具体实施方式的限制。

请参考图2,其示出了根据本申请提供的一种显示面板的一个实施例的具体结构示意图。本实施例提供的显示面板包括柔性基板(图中未示出)、多个测试点1031、多条测试引线M1、M2…、Mn和无机层1032。其中,柔性基板包括显示区域和非显示区域,多个测试点与多条测试引线位于非显示区域,并且每个测试点分别与一条测试引线电连接。无机层位于所述测试引线远离所述柔性基板的一侧,并且覆盖显示区域和非显示区域。无机层包括多个第一凹槽以及设置于两个相邻凹槽之间的第一挡墙部。两条相邻的测试引线之间具有至少一个第一挡墙部。具体的,无机膜上的凹槽包括第一挡墙部N1、N2…、Nn,每个第一挡墙部位于相邻的两条测试引线之间。例如,测试引线M1和M2之间具有一个第一挡墙N2,测试引线M2和M3之间具有一个第一挡墙N3,以此类推。需要说明的是,在第一条测试引线M1靠近显示面板边缘的一侧,可以具有第一凹槽N1;在最末尾的一条测试引线Mn靠近显示面板边缘的一侧,可以具有第一凹槽N(n+1)。

进一步的,显示面板在所述非显示区域还包括分割区域1034,分割区域1034还设有分割线1035,分割线1035与每条测试引线相交,在分割区域使用结束后,沿分割线1035将分割区域1034与柔性基板分离。可选的,所述分割线为直线分割线或曲线分割线。

进一步的,分割区域还包括静电防护单元1037,多条测试引线通过短路棒1036相互短接后连接至静电防护单元1037。

进一步的,显示面板可以为有机发光显示面板,包括低温多晶硅薄膜晶体管,测试引线与低温多晶硅薄膜晶体管的半导体层同层设置。

请继续参考图2,无机层还包括一个第二凹槽1033,该第二凹槽用于将显示区域的无机层和非显示区域的无机层分隔开来,避免在切割时无机层的碎裂扩散至显示区。各个第二凹槽与第一凹槽连通而形成梳齿状的无机层凹槽。图3示出了图2实施例在分割线A-A’处的截面图。无机层包括多个第一挡墙部L0、L1、L2…、Ln,每个第一挡墙部完全覆盖一条测试引线,例如,第一挡墙部L1覆盖测试引线M1,第一挡墙部L2覆盖测试引线M2,以此类推。需要说明的是,在第一条测试引线M1靠近显示面板边缘的一侧,可以具有第一挡墙部L0;在最末尾的一条测试引线Mn的靠近显示面板边缘的一侧,可以具有第一挡墙部L(n+1),第一挡墙部L0和L(n+1)不覆盖任何一条测试引线。

进一步的,在垂直于显示面板的方向上,无机膜的厚度即为第一挡墙部的厚度,在本实施例中,优选的,第一挡墙部的厚度为0.5微米-20微米,包括端点值。

在本实施例中,通过在测试引线上设置第一挡墙部,有效的阻挡了在激光切割时溅射到测试引线之间的导电物质,避免了显示面板中测试引线短路的问题。第一挡墙部的厚度越厚,覆盖测试引线的范围越大,阻挡导电物质的效果越好。

在另一些可选实施例中,无机层上的第一凹槽可以具有不同的形状和位置。请参考图4,其示出了根据本申请提供的一种显示面板的另一个实施例的具体结构示意图。与图2实施例的相同之处在此不再赘述,不同之处在于,无机膜包括第一凹槽N1、N2…、N2n,第一凹槽位于每条测试引线的两侧。例如,测试引线M1的两侧具有第一凹槽N1和N2,测试引线M的两侧具有第一凹槽N3和N4,以此类推。各个第一凹槽与第二凹槽不连通,并且各个第一凹槽相互不连通。请参照图5,其示出根据图4实施例在分割线A-A’处的截面图。无机层包括多个第一挡墙部L0、L1、L2…、Ln,相邻的两条测试引线之间具有一个第一挡墙部,例如,测试引线M1和M2之间具有第一挡墙部L1,测试引线M2和M3之间具有第一挡墙部L2,以此类推。需要说明的是,在本实施例中,因为无机层形成于测试引线远离柔性基板的一侧,因此无机层至少部分覆盖其对应的测试引线。

进一步的,第一挡墙部可以由氮化硅材料或氧化硅材料制成。在本实施例中,无机层包括覆盖在测试引线M1、M2…、Mn的部分,用氮化硅材料或氧化硅材料制成的无机层在隔绝导电物质的同时,有效的防止了外部环境(如水气等)对测试引线的腐蚀或损害。

本领域技术人员可以理解,无机层上的第一凹槽可以具有不同的形状和位置。只要第一凹槽在相邻的测试引线之间形成第一挡墙部,就可以消除或减轻在激光切割过程中,导电物质溅射到相邻测试引线之间引起显示面板短路的问题。因此,本实施例不限制第一凹槽的形状和位置。本领域技术人员也可以理解,第二凹槽和第一凹槽既可以连通也可以不连通,也可以两种连通方式同时并存。

在另一些可选实施例中,非显示区域还可以包括在无机层上形成的第二挡墙部。请参考图6,其示出了根据本申请本申请提供的一种显示面板的再一个实施例的具体结构示意图。与图2实施例的相同之处在此不再赘述,不同之处在于,无机层还包括形成于无机膜上的第二挡墙部,第二挡墙部具有“U”图案P1、P2....、Pn,每条测试引线分别对应一个“U”形第二挡墙部。在本实施例中,“U”图案的开口朝向显示面板的边缘,并且各个图案P1、P2....、Pn相互不连通。请参照图7,其示出了根据图6实施例在分割线A-A’处的截面图。相邻的两条测试引线之间具有一个第二挡墙部,每个第二挡墙部分别具有一个挡墙图案。

进一步的,第二挡墙部距离测试引线的距离可以变化。具体的,请继续参考图7,在显示面板平面上,“U”形图案包括两个平行于测试引线的分支部分。其中,同一个“U”形图案的两个分支部分位于其对应的测试引线的两侧。

进一步的,分支部分距其对应的测试引线的垂直距离为d可以根据需求变化。在本实施例中,优选的,d的数值为0.5微米-5微米,包括端点值。进一步的,第二挡墙部可以由喷墨打印工艺形成。喷墨打印工艺有利于降低显示面板的制造成本。

在本实施例中,形成于无机层上的第二挡墙部将相邻的测试引线分隔开,有效的避免或减轻了在激光切割过程中溅射到相邻测试引线之间的导电物质,有效的防止了显示面板上测试引线短路的问题。

本领域技术人员可以理解,第二挡墙部的形状可以为其他公众所知的图案。第二挡墙部的设计直接影响了阻挡导电物质的效果,第二挡墙部的形状与第二挡墙部的厚度相互配合设计,达到最好的阻挡效果。因此,本实施例不限制第二挡墙部的形状,具体的,不限制第二挡墙部的边缘距测试引线中心的垂直距离大小。

在另一些可选实施例中,测试引线还包括弯折的部分。请参考图8,其示出了根据本申请本申请提供的一种显示面板的又一个实施例的具体结构示意图。与图2实施例的相同之处在此不再赘述,不同之处在于,位于第一凹槽的测试引线包括弯折的部分。请参照图9,其示出根据图8实施例在分割线A-A’处的截面图。与图3实施例的相同之处在此不再赘述,不同之处在于,在对无机层进行挖槽处理时,将测试引线上的覆盖的无机层也一并挖掉。

本领域技术人员可以理解,测试引线包括的弯折部分可以位于测试引线延长方向上的任意一个位置。无机层上第一凹槽的宽度可以互不相同,也可以部分相同。因此,在本实施例中不限制无机层上第一凹槽的宽度,也不限制测试引线弯折的位置和具体形态。本领域技术人员也可以理解,测试引线上覆盖的无机层越多,避免相邻测试引线之间短路的效果越好。因此,在本实施例中不限制测试引线上覆盖的无机层形态。

本发明还提供了一种显示设备,包括上述任一实施例所描述的显示面板。请参考图10,其示出了根据本申请提供的一种显示设备的示意图。在本实施例中所指的显示设备包括但不限于智能手表、手机、平板电脑、电视等。显示设备包括显示面板10,显示面板10可以为上述任一实施例所描述的显示面板。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明,不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干简单推演或替换,都应当视为属于本发明的保护范围。

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