本实用新型涉及一种电气寿命试验技术，尤其涉及一种电气寿命试验设备专用的银触桥。
背景技术：
电器寿命试验是检测电器在设定条件下工作寿命的必要过程，试验设备结构上需要尽量模拟电器结构，一般电器结构中电接触元件为由银合金触点与铜质触桥以铆接的形式固定在一起而形成的银触桥，通过电磁线圈和衔铁的动作协同完成电流的接通与分断工作。如图1-2所示，电接触元件由铜带1’和铆接在铜带上的铆钉触点2’组成；电接触元件中在制备过程中需要经过银合金线材冷镦的工艺形成相应规格的铆钉触点，然后该铆钉触点再与打孔的铜带铆接在一起，该制作过程中涉及到线材冷墩，热处理和冲压模具等复杂工序，所以单次电器寿命试验成本较高。
技术实现要素：
针对电接触元件中的银触桥制作工序复杂且成本高，本发明对银触桥进行了低成本改进。本实用新型的目的在于提供一种电气寿命试验设备专用的银触桥，该银触桥可以反复使用，理论寿命无限，简单实用。
本实用新型的目的采用如下技术方案实现：一种电气寿命试验设备专用的银触桥，包括铜质触桥片、至少一根银合金线段以及铜质螺丝；
所述铜质触桥片的上表面开设有供银合金线段穿过的竖向通孔；铜质触桥片的侧壁开设有供铜质螺丝穿过的横向通孔，该横向通孔与竖向通孔连通；所述横向通孔内设有与所述铜质螺丝的外螺纹匹配的内螺纹；所述银合金线段插入至铜质触桥片的竖向通孔内，并被铜质螺丝固定在铜质触桥片上。
进一步地，所述银合金线段呈圆柱状，该银合金线段与现有技术中的铆钉触点的直径一致。
进一步地，所述横向通孔分别位于铜质触桥片的左右两个侧壁。
进一步地，所述铜质螺丝为两排，分别对应插设在铜质触桥片的左右两侧壁的横向通孔内。
进一步地，所述铜质螺丝的数量为银合金线段数量的两倍。
进一步地，所述银合金线段为四根。
相比现有技术，本实用新型的有益效果在于：
本申请在铜质触桥片上开设横向通孔，通过铜质螺丝将银合金线段固定在铜质触桥片上，避免了现有技术的制作银触桥所需的繁琐工序，即减少冷墩铆钉所需的工序，减少铆钉铆接和热处理工序，减少以上工序所需要额外使用的铜材和设备；该银触桥可以反复使用，理论寿命无限，简单实用。
附图说明
图1为现有技术中银触桥的结构示意图；
图2为现有技术中银触桥的正视图；
图3为本实用新型较佳实施例电气寿命试验设备专用的银触桥的结构示意图；
图4为本电气寿命试验设备专用的银触桥的俯视图；
图5为本电气寿命试验设备专用的银触桥的正视图。
图中：1’、铜带；2’、铆钉触点；1、铜质触桥片；2、银合金线段；3、铜质螺丝。
具体实施方式
下面，结合附图以及具体实施方式，对本实用新型做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
如图3-5所示，一种电气寿命试验设备专用的银触桥，包括铜质触桥片1、至少一根银合金线段2以及铜质螺丝3；
所述铜质触桥片的上表面开设有供银合金线段穿过的竖向通孔；铜质触桥片的侧壁开设有供铜质螺丝穿过的横向通孔，该横向通孔与竖向通孔连通；所述横向通孔内设有与所述铜质螺丝的外螺纹匹配的内螺纹；所述银合金线段插入至铜质触桥片的竖向通孔内，并被铜质螺丝固定在铜质触桥片上。
本申请在铜质触桥片上开设横向通孔，通过铜质螺丝将银合金线段固定在铜质触桥片上，避免了现有技术的制作银触桥所需的繁琐工序，即减少冷墩铆钉所需的工序，减少铆钉铆接和热处理工序，减少以上工序所需要额外使用的铜材和设备；该银触桥可以反复使用，理论寿命无限，简单实用。
具体地，所述银合金线段呈圆柱状，该银合金线段与现有技术中的铆钉触点的直径一致。
作为进一步优选方案，所述横向通孔分别位于铜质触桥片的左右两个侧壁。所述铜质螺丝为两排，分别对应插设在铜质触桥片的左右两侧壁的横向通孔内。所述铜质螺丝的数量为银合金线段数量的两倍。
设置两个横向相对的横向通孔，通过两个铜质螺丝将一个银合金线段夹紧在铜质触桥片上，其固定强度更好，能加符合电器寿命测试设备的测试要求。当然，本申请也可以通过一个铜质螺丝将一个银合金线段夹紧在铜质触桥片上，也能满足电器寿命测试设备的测试要求。
作为进一步优选方案，所述银合金线段为四根。设置四根银合金线段可以满足一器多用，无需更换整条银触桥，只需调整银触桥的位置即可。当然，银合金线段的数量也不限于四根，可以为两根或两根以上，根据实际需要进行设置。
上述实施方式仅为本实用新型的优选实施方式，不能以此来限定本实用新型保护的范围，本领域的技术人员在本实用新型的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本实用新型所要求保护的范围。