一种吸附式键盘透光检测组件的制作方法

本实用新型涉及非标自动化领域，特别涉及一种吸附式键盘透光检测组件。

背景技术：

在键盘自动化装配作业中，往往需要在装配前对键盘的键帽进行透光检测，从而判断注塑成型的键帽是否存在质量缺陷，现有的透光检测组件存在以下几个问题：首先，由于不同的键帽尺寸规格存在或大或小的差异，采用传统的透光检测组件适配性差；其次，由于键帽较多，传统透光检测组件自动化程度低、检测效率低下。

有鉴于此，实有必要开发一种吸附式键盘透光检测组件，用以解决上述问题。

技术实现要素：

针对现有技术中存在的不足之处，本实用新型的目的是提供一种吸附式键盘透光检测组件，其具有较高的适配性及自动化程度，大大提高了检测效率及精度，具有广阔的市场应用前景。

为了实现根据本实用新型的上述目的和其他优点，提供了一种吸附式键盘透光检测组件，包括：

基板；以及

一体式地结合于基板上表面的若干个吸附柱，

其中，吸附柱在基板上间隔设置，以使得键盘上的每个键帽均有相应吸附柱与之相对应，基板及吸附柱均由透明材料制成，基板的上表面及吸附柱的侧面均涂敷有不透光的遮光涂层，以使得光线自基板的底面入射后能够从吸附柱的顶面射出。

优选的是，吸附柱的顶面开设有延伸至基板内部的至少两个吸附孔，基板的内部开设有气路组件，吸附孔与所述气路组件相连通。

优选的是，吸附柱的顶面开设有让位槽。

优选的是，所述气路组件包括：

X向气路；以及

与X向气路相连通的Y向气路，

其中，X向气路沿基板的左右方向延伸并且通过基板的左侧或右侧与外界大气相连通，Y向气路沿基板的前后方向延伸并且贯穿基板的前后两端。

优选的是，X向气路及Y向气路均沿直线方向延伸，且两者的延伸方向相互垂直。

优选的是，吸附柱呈长方体结构。

优选的是，基板及吸附柱均由透明亚克力材料制成。

本实用新型与现有技术相比，其有益效果是：其具有较高的适配性及自动化程度，大大提高了检测效率及精度，具有广阔的市场应用前景。

附图说明

图1为根据本实用新型所述的吸附式键盘透光检测组件的三维结构视图；

图2为根据本实用新型所述的吸附式键盘透光检测组件的水平方向剖视图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步的详细说明，本实用新型的前述和其它目的、特征、方面和优点将变得更加明显，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。在附图中，为清晰起见，可对形状和尺寸进行放大，并将在所有图中使用相同的附图标记来指示相同或相似的部件。在下列描述中，诸如中心、厚度、高度、长度、前部、背部、后部、左边、右边、顶部、底部、上部、下部等用词为基于附图所示的方位或位置关系。特别地，“高度”相当于从顶部到底部的尺寸，“宽度”相当于从左边到右边的尺寸，“深度”相当于从前到后的尺寸。这些相对术语是为了说明方便起见并且通常并不旨在需要具体取向。涉及附接、联接等的术语(例如，“连接”和“附接”)是指这些结构通过中间结构彼此直接或间接固定或附接的关系、以及可动或刚性附接或关系，除非以其他方式明确地说明。

参照图1及图2，吸附式键盘透光检测组件1包括：

基板11；以及

一体式地结合于基板11上表面的若干个吸附柱12，

其中，吸附柱12在基板11上间隔设置，以使得键盘上的每个键帽均有相应吸附柱12与之相对应，基板11及吸附柱12均由透明材料制成，基板11的上表面及吸附柱12的侧面121均涂敷有不透光的遮光涂层，以使得光线自基板11的底面入射后能够从吸附柱12的顶面射出。

进一步地，吸附柱12的顶面开设有延伸至基板11内部的至少两个吸附孔122，基板11的内部开设有气路组件，吸附孔122与所述气路组件相连通。

进一步地，吸附柱12的顶面开设有让位槽123。

参照图2，所述气路组件包括：

X向气路112；以及

与X向气路112相连通的Y向气路111，

其中，X向气路112沿基板11的左右方向延伸并且通过基板11的左侧或右侧与外界大气相连通，Y向气路111沿基板11的前后方向延伸并且贯穿基板11的前后两端。

进一步地，X向气路112及Y向气路111均沿直线方向延伸，且两者的延伸方向相互垂直。

在一实施方式中，吸附柱12呈长方体结构。

在优选的实施方式中，基板11及吸附柱12均由透明亚克力材料制成。

检测原理：

参照图1，首先，机械手连带着光源覆于基板11的底部，基板11固定于光源之上，以使得光线自基板11的底面入射后能够从吸附柱12的顶面射出；其次，将键帽按键盘布局倒扣式地摆放于tray盘之中，将X向气路112在侧面的气孔进行封堵，机械手连带着基板11在竖直平面翻转180°，使得基板11上吸附柱12的顶部与键帽的底部相对；再次，机械手驱动基板11下降一定高度，使得吸附柱12的顶部与键帽的底部相贴附，通过Y向气路111的前后气孔对所述气路组件进行抽真空，使得吸附柱12上的吸附孔122能够以破真空吸附的方式将键帽吸起；进一步地，机械手驱动透光检测组件1连带其上吸附的键帽平移至检测相机的正上方，使得检测相机能够对键帽的顶面进行拍照检测，用以判断这一批键帽是否存在质量缺陷，如存在质量缺陷，则对相应位置处的键帽进行标注并记录至后台控制器中，便于检测后对质量缺陷的键帽进行替换，如不存在质量缺陷，则将这一批键帽转移至键盘主体中进行装配。

这里说明的设备数量和处理规模是用来简化本实用新型的说明的。对本实用新型的应用、修改和变化对本领域的技术人员来说是显而易见的。

尽管本实用新型的实施方案已公开如上，但其并不仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本实用新型的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本实用新型并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。