连接器的制作方法

1.本实用新型涉及通讯器件的技术领域，尤其涉及一种连接器。


背景技术：

2.存储装置作为数据存储以及转移设备，其广泛的运用在现时生活及工作中。现有的存储装置都是通过sip技术进行封装的，该技术整合了pcb基板组装及半导体封装制作流程，运用该技术将小型存储产品所需要的零部件直接封装而形成的存储卡成品。可以使数码存储产品达到完全的防水、耐高温、耐高压、读写速度快的效果，在各种恶劣的环境下依然能够正常使用,使数据得到更安全可靠的保存。该技术主要应用在数码存储卡上，如：udp模块、sd卡、mmc卡等。
3.但是，基于sip技术进行封装的存储装置，其测试、调试或者数据恢复极为不便，因为无法接触到flash闪存芯片，对操作造成一定难度。
4.现有的测试、调试或者数据恢复都得将连接器从存储模块上拆下来，此举容易导致损坏连接器。


技术实现要素：

5.本实用新型的主要目的在于提供一种连接器，旨在解决存储装置的测试、调试或者数据恢复操作不方便和损坏连接器的技术问题。
6.为实现上述目的，本实用新型提供一种连接器，用于存储模块，所述连接器与所述存储模块连接，所述存储模块包括控制单元和检测接点，所述检测接点与所述控制单元的使能信号引脚电连接，所述检测接点设置于所述存储模块的外表面上。
7.进一步地，在一实施方式中，所述连接器包括绝缘本体，所述绝缘本体为绝缘材质所制成，且为矩形平板状结构。
8.进一步地，在一实施方式中，所述绝缘本体内的两侧通过金属嵌件注塑工艺或者镶埋成型工艺设置有两个固定端子，所述两个固定端子用于和存储模块上相对应位置焊接来实现连接器和存储模块的固定连接。
9.进一步地，在一实施方式中，所述固定端子为三段结构，包括前端、中端和后端，所述前端包括第一焊接部、所述中端包括第四焊接部、所述后端包括第三焊接部；所述第一焊接部和第三焊接部用于和存储模块上相对应位置焊接来实现连接器和存储模块的固定连接；所述第四焊接部和所述存储模块外表面上的检测接点焊接。
10.进一步地，在一实施方式中，所述固定端子为两段结构，包括前端和后端，所述前端和后端之间构成一间距，所述间距大小约等于检测接点的大小。
11.进一步地，在一实施方式中，还包括第四焊接部，所述第四焊接部和所述存储模块外表面上的检测接点焊接；所述第四焊接部通过金属嵌件注塑工艺或者镶埋成型工艺设置于所述绝缘本体内的两侧且在所述固定端子与存储模块之间。
12.进一步地，在一实施方式中，所述固定端子的形状为弧形形状，所述弧形形状固定
端子的弯曲度与存储模块的垂直连接方向上构成一间隙，所述间隙的长度约等于检测接点的长度或宽度。
13.进一步地，在一实施方式中，所述固定端子与所述存储模块之间还包括第四焊接部，所述第四焊接部通过金属嵌件注塑工艺或者镶埋成型工艺设置于绝缘本体两侧内，第四焊接部和所述检测接点焊接。
14.进一步地，在一实施方式中，所述固定端子的材质为金属材质。
15.进一步地，在一实施方式中，所述绝缘本体上设置有两组导电端子，一组为平板导电端子，一组为弹臂导电端子，所述两组导电端子设置符合usb3.0的传输规格结构。
16.本实用新型提供的技术方案中所述连接器与所述存储模块连接，所述连接器设置在存储模块上，用于与主机端连接实现主机端对存储模块进行数据读写；所述存储模块包括控制单元和检测接点，所述检测接点与所述控制单元的使能信号引脚电连接，所述检测接点设置于所述存储模块的外表面上；在需要对存储装置进行测试、调试或者数据恢复的时候，通过连接所述检测接点，非常简单和方便地实现测试、调试或者数据恢复之类的操作，而无需将连接器从存储模块上拆下来，以免会损坏连接器。
附图说明
17.一个或多个实施例通过与之对应的附图进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。
18.图1为本实用新型的一个实施例的存储模块的结构示意图；
19.图2为本实用新型的一个实施例的存储装置的结构示意图；
20.图3为本实用新型的另一个实施例的存储模块的结构示意图；
21.图4为本实用新型的另一个实施例的存储模块的结构示意图；
22.图5为本实用新型的一个实施例的第一连接器的结构示意图；
23.图6为本实用新型的一个实施例的连接器和存储模块连接后的结构示意图；
24.图7为本实用新型的图5中连接器的固定端子的一a-a向剖视图；
25.图8为本实用新型的图5中连接器的固定端子的另一a-a向剖视图；
26.图9为本实用新型的图5中连接器的固定端子的另一a-a向剖视图；
27.图10为本实用新型的图5中连接器的固定端子的另一a-a向剖视图。
28.其中，100、存储装置；110、存储模块；111、检测接点；112、第一组接点；113、第三组接点；116、第二组接点；118、控制单元；119、使能信号引脚；120、连接器；122、第三焊接部；123、第四焊接部；124、第二焊接部；200、连接器；220、固定端子；230、绝缘本体；a、第一方向；b、第二方向。
具体实施方式
29.为了便于理解本实用新型，下面结合附图和具体实施例，对本实用新型进行更详细的说明。需要说明的是，当元件被表述“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。当一个元件被表述“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。本说明书所使用
的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”、“内”、“外”以及类似的表述只是为了说明的目的。在本实用新型的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，除非另有说明，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形，意为不排他的包含，可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。
30.此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，或是两个元件内部的连通。本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是用于限制本实用新型。本说明书所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
31.此外，下面所描述的本实用新型不同实施例中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
32.如图1所示，本实用新型实施例公开了一种存储装置，所述存储装置内包括存储模块110，所述存储模块包括控制单元118和检测接点111，所述检测接点111与所述控制单元118的使能信号引脚119电连接，示例性的，如xfale0引脚，所述xfale0引脚的引脚定义为flash address latch enable.其高电平有效，控制地址数据写入地址寄存器中；在需要对存储装置进行测试、调试或者数据恢复时，通过利用检测接点111短路到接地使其电压拉低，进入boot code状态，然后通过debug软件在底层底下进行强制读取存储模块110的id；如果没有出现存储模块110的id颗粒损坏或者其他硬件问题，是可以正确读到存储模块110id的，通过读到存储模块110id，进而可以进行测试、调试或者数据恢复操作。所述检测接点111设置于所述存储模块110的外表面上，优选地，检测接点111可为1个检测点，本技术实施例图1中的111为两个，其仅仅是为了附图美观而用，不应当限定本技术的保护范围。
33.在本实施例中，在存储模块110的外表面设置检测接点111，将检测接点111连接于存储模块110内控制单元118的使能信号引脚119上，将检测接点111裸露在存储模块110外，在需要对存储装置进行测试、调试或者数据恢复的时候，只需要电连接到裸露在外的检测接点111，从而接入到存储模块110的控制单元中118，进行测试、调试或者数据恢复的操作，此举使得测试、调试或者数据恢复的操作非常简单、方便。
34.如图2和3所示的一实施例中，所述存储装置100包括存储模块110和连接器120；其中，所述存储模块110包括控制单元118、检测接点111、第一组接点112和第二组接点116；所述连接器120包括第一焊接部121和第二焊接部124；所述检测接点111设置于所述存储模块110的外表面上，连接于所述控制单元118的xfale0引脚；所述第一组接点112和第二组接点116设置于存储模块110的外表面，所述第一组接点112、检测接点111和第二组接点116依序排列设置于所述存储模块110的第一方向(a方向)上，所述第一组接点和所述第二组接点分别设置于所述存储模块第一方向上的两侧，检测接点111设置于所述第一组接点112和第二组接点116之间，且在所述存储模块110的第一方向(a方向)的侧边。
35.进一步，如图2所示，所述第一焊接部121和第二焊接部124对应设置，通过第一焊
接部121和第一组接点112焊接使得所述存储模块110和所述连接器120固定连接；第二焊接部124和第二组接点116焊接使得所述存储模块110和所述连接器120固定连接和电连接；具体地，第二焊接部124与第二组接点116的焊接，外部主机端通过连接所述连接器120实现对存储模块110中的数据进行读写。
36.在需要对存储装置100进行测试、调试或者数据恢复的时候，只需要将测试的装置连接到检测接点111，从而接入到存储模块110的控制单元中118，进行测试或调试，简单、方便；其次，在平常不需要用到检测接点111的时候，连接器120覆盖住检测接点111，对检测接点111起到保护作用防止其裸露在外氧化而短路。
37.如图4所示，所述存储模块110还包括第三组接点113，所述第三组接点113设置在所述第二组接点116的两侧，且所述两侧为所述存储模块110的第一方向(a方向)的两侧。
38.如图5所示，所述连接器120包括第三焊接部122，所述第三焊接部122和所述第三组接点113焊接用于加强所述存储模块110和所述连接器120的固定。
39.通过在存储模块110上进一步设置第三组接点113和在连接器120设置的第三焊接部122进行焊接固定，加强对连接器120和存储模块110的固定，防止存储装置100使用过程中连接器120从存储模块110上松动虚焊，并且，将第三组接点113的两个接点设置于第二组接点116在第一方向上的两侧，进一步增加第二组接点116处和存储模块110的连接稳固性，防止由于松动导致第二组接点116和第二焊接部124松动脱焊，导致接触不良或断开，进而影响存储装置100的功能。
40.如图6所示，本实用新型实施例公开了一种连接器200和存储模块110连接后的存储装置100结构示意图，连接器200和存储模块110连接，主机端和所述连接器200连接，进而实现主机端对存储装置100进行数据读写，其中，存储装置100包括存储模块110，所述存储模块110包括控制单元和检测接点111，所述检测接点111与所述控制单元的使能信号引脚电连接，所述检测接点设置于所述存储模块的外表面上。
41.进一步的，所述连接器200包括绝缘本体230，其为绝缘材质所制成，且大致上为矩形平板状结构；所述绝缘本体230上设置有两组导电端子，一组为平板导电端子，一组为弹臂导电端子，两组导电端子设置符合usb3.0的传输规格结构(前四后五)。
42.进一步，两个固定端子220通过金属嵌件注塑工艺或者镶埋成型工艺设置于绝缘本体230内的两侧，所述两个固定端子用于和存储模块110上相对应位置焊接来实现连接器200和存储模块110的固定连接，所述固定端子的材质为铜、铝等金属材质。
43.进一步，在一实施例中，如图7所示，所述固定端子220的形状为弧形形状，所述弧形形状固定端子220的弯曲度与存储模块的垂直连接方向上构成一间隙，所述间隙的长度约等于检测接点的长度或宽度。
44.由于所述弧形形状固定端子220的弯曲处为金属材质的，为了防止在连接器插入主机端的接口时，所述固定端子220会和检测接点111连接，导致短路，本实施例中，在所述检测接点111上贴上绝缘胶纸/胶布(图8中未示出)，在需要测试、调试或者数据恢复操作时，撕下所述绝缘胶纸/胶布和所述检测接点111电连接。另一方面，所述绝缘胶纸/胶布较为便宜，可以较为方便地更换它，而不会由于所述实施例连接器的设置，导致检测接点111容易被氧化。
45.如图7所示，所述固定端子220为一整体，所述固定端子220被加工成一弧形形状，
固定端子的两端分别包括第一焊接部121、第三焊接部122；第一焊接部121和第一组接点112焊接使得所述存储模块110和所述连接器200固定连接；第三组接点113和所述第三焊接部122进行焊接，加强对连接器200和存储模块110的固定。
46.本实施例中，由于固定端子220是弧形形状的，所述存储模块110上的检测接点111设置于所述弧形结构固定端子220的下方，所述弧形结构固定端子和存储模块110之间产生的空隙可以用来连接检测接点111而进行检测操作的，在需要对存储装置100进行测试、调试或者数据恢复的时候，只需要和电连接检测接点111，无需将连接器120从存储模块110上拆下。
47.本实施例中，通过设置一个弧形结构固定端子220，即可以将检测接点111暴露出来，方便于后期进行测试或调试，无需将连接器120从存储模块110上拆卸下来，避免将所述连接器120损坏。
48.进一步，在一实施例中，如图8所示，所述固定端子220和第四焊接部123通过金属嵌件注塑工艺或者镶埋成型工艺设置于绝缘本体230两侧内，其中所述固定端子220和第四焊接部123是双层结构的方式设置，第四焊接部123位于所述固定端子220和所述存储模块110之间，且在所述检测接点焊接垂直方向上，第四焊接部123和所述检测接点焊接；所述两个固定端子用于和存储模块110上相对应位置焊接来实现连接器200和存储模块110的固定连接，所述固定端子的材质为铜、铝等金属材质。
49.本实施例中，通过所述第四焊接部123和所述存储模块外表面上的检测接点111焊接，在需要测试、调试或者数据恢复操作时，直接和所述第四焊接部123电连接，就可以实现第四焊接部123，而无需将连接器从存储模块上拆下来，以免会损坏连接器。进一步，所述检测接点111由于被第四焊接部123覆盖在其上，所以使得所述检测接点111不容易被氧化，而影响其功能。
50.进一步，在一实施例中，如图9所示，所述固定端子220为三段结构，包括前端、中端和后端，所述前端包括第一焊接部121、所述中端包括第四焊接部123、所述后端包括第三焊接部122；所述第一焊接部121和第三焊接部122用于和存储模块110上相对应位置焊接来实现连接器200和存储模块110的固定连接；所述第四焊接部123和所述存储模块110外表面上的检测接点焊接。
51.通过所述第四焊接部123和所述存储模块外表面上的检测接点111焊接，在需要测试、调试或者数据恢复操作时，直接和所述第四焊接部123电连接，就可以实现第四焊接部123，而无需将连接器从存储模块上拆下来，以免会损坏连接器。进一步，所述检测接点111由于被第四焊接部123覆盖在其上，所以使得所述检测接点111不容易被氧化，而影响其功能。
52.进一步，所述第四焊接部123为一端子，其两头也是通过金属嵌件注塑工艺或者镶埋成型工艺设置于绝缘本体230侧边内；同理，所述前端的端子其一头为第一焊接部121，另一头端子也是通过金属嵌件注塑工艺或者镶埋成型工艺设置于绝缘本体230侧边内；同理，所述后端的端子其一头为第一焊接部122，另一头端子也是通过金属嵌件注塑工艺或者镶埋成型工艺设置于绝缘本体230侧边内；三个端子在绝缘本体230侧边内的部分是彼此分开的。
53.进一步，在一实施例中，如图10所示，所述固定端子220为两段结构，包括前端和后
端，所述前端和后端之间构成一间距，所述间距大小约等于检测接点111的大小。
54.通过将固定端子220设置为两段结构，前端和后端之间构成一间距，在需要测试、调试或者数据恢复操作时，直接和间距处的检测接点111电连接，此种设计，在满足需将连接器从存储模块上拆下来，以免会损坏连接器的背景下，对连接器的生产难度要求较低，为了避免检测接点111容易被氧化，在所述检测接点111贴上绝缘胶纸/胶布(图10中未示出)，在需要测试、调试或者数据恢复操作时，撕下所述绝缘胶纸/胶布和所述检测接点111电连接。另一方面，所述绝缘胶纸/胶布较为便宜，可以较为方便地更换它，而不会由于所述实施例连接器的设置，导致检测接点111容易被氧化。
55.进一步，在一实施例中，所述连接器120为usb3.0连接器。
56.本实用新型提供的技术方案中所述连接器与所述存储模块连接，所述连接器设置在存储模块上，用于与主机端连接实现主机端对存储模块进行数据读写；所述存储模块包括控制单元和检测接点，所述检测接点与所述控制单元的使能信号引脚电连接，所述检测接点设置于所述存储模块的外表面上；在需要对存储装置进行测试、调试或者数据恢复的时候，通过连接所述检测接点，非常简单和方便地实现测试、调试或者数据恢复之类的操作，而无需将连接器从存储模块上拆下来，以免会损坏连接器。
57.以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；在本实用新型的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本实用新型的不同方面的许多其它变化，为了简明，它们没有在细节中提供；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。