测试插头组的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种用于插上到串联接线端子组上的测试插头组，其具有多个相互连接的测试插头和两个布置在多个测试插头两侧上的固定件，固定件通过把手件相互连接，其中，固定件分别具有带有插入区段的壳体，该插入区段可被插入容纳区段中，该容纳区段构造在串联接线端子组的固定接线端子的接线端子壳体中。
【背景技术】
[0002]几十年来，电气串联接线端子已经已知，并且数以百万次地使用在电气装置和设备的接线中。接线端子通常被卡在承载轨道上，承载轨道自身常常大量地布置在开关箱中。在开关、测量和调节技术中，现有技术是带有断开可能性的直通式接线端子(Durchgangsklemme)。在这种类型的直通式接线端子中通过在电流梁(Strombalken)中构造断开部位实现的断开可能性在此实现，将带有不同功能的不同插头插入串联接线端子的端子壳体中，之后其在断开部位处接触电流梁。在此，除了简单的断开插头或直通式连接部(Durchgangsverbinder)，尤其地也可将测试_或检验插头用作插头，其可具有特殊的结构元件并且实现对联接到串联接线端子处的电流回路的规定的功能的测试。
[0003]通常构造成盘形的电气串联接线端子常常与其它多个电气串联接线端子插接成串联接线端子组并且被卡到承载轨道上或者装配在例如开关箱的壁凹口(Wandausschnitt)中。相应地，单个测试插头(其在其宽度上通常相应于串联接线端子的宽度)也被连接成测试插头组并且共同地被插上到对应的串联接线端子组上。在此，存在这样的要求，即可自由地选择相互连接的串联接线端子数量以及相互组合成测试插头组的测试插头的数量。然而，同时应尽可能简单地共同操纵组合成测试插头组的测试插头，也就是说，能将其共同地插上到串联接线端子组上。
[0004]文件DE 10 2006 052 894 Al公开了一种串联接线端子，测试插头和由多个并排布置的串联接线端子和相应数量的测试插头组成的测试接线端子组。通过使用两个固定接线端子和两个分别布置在串联接线端子组或测试插头组的两侧上的固定件，可自由选择能组合成串联接线端子组或测试插头组的串联接线端子数量以及测试插头数量。两个固定件经由把手件相互连接，从而可将测试插头组与两个固定件一起简单地并且舒适地借助于把手件插入或插上到串联接线端子组和两个固定接线端子中。在此，把手件布置在固定件的具有比测试插头更大的空腔的上端部处，从而把手件跨接布置在两个固定件之间的测试插头且由此可舒适地用手握住。
[0005]为了在将测试插头插入测试孔中的情况中保证限定的接触状态，在由文件DE102006 052 894 Al中已知的电气串联接线端子中将电流梁构造成使得其形成在测试插头的插上方向上彼此相继布置的两个接触区域。由此，在已知的串联接线端子中，由汇流排的一端部区域形成的断开部位构造成二级的。通过构造在接触插头的插入方向上布置在第一接触区域之前的限定的第二接触区域来保证在插入接触插头时首先引起在接触插头与两个电流梁之间的可靠的电连接，继之在进一步插入接触插头时断开第一接触区域，由此两个电流梁随后彼此电分离。
[0006]对于以上说明的已知的串联接线端子或测试接线端子组来说共同的是，两个电流梁彼此接触，使得在当没有将插头插入串联接线端子中时，导体联接元件导电地相互连接。相反地，如果插头(完全)被插入串联接线端子中，则断开接触区域，使得导体联接元件彼此电分离。
[0007]测试插头组的单个测试插头常常具有不一样长的接触插头。那么，在插上测试插头组时，单个测试插头的较长的接触插头首先伸入在串联接线端子的接线端子壳体中的对应的孔中并且在这里接触两个电流梁的在测试插头的插上方向上第一前面的接触区域。如果进一步将测试插头组插上到串联接线端子组上，则较长的接触插头伸入第二接触区域中，由此打开该接触区域，从而断开在两个电流梁之间且由此也在两个与电流梁相连接的导体联接元件之间的电导连接。如果接触插头是导电的，则由此经由测试插头改变电流引导。如果将测试插头组进一步插上到串联接线端子组上，则在较短的接触插头也断开第二接触区域且由此也断开该串联接线端子的电流引导并且必要时经由测试插头改变电流引导之前，较短的接触插头首先相应地接触在串联接线端子中的前面的接触区域来作为下一步。
[0008]在从串联接线端子组中拉出测试插头组时，在多种应用情况中需要或者至少期望的是，较长的接触插头仍断开相关联的串联接线端子的接触区域，而较短的接触插头已从相关联的串联接线端子的第二接触区域中被拉出，使得相应的串联接线端子的两个电流梁又接触，由此经由串联接线端子实现电流引导。然而，在此在已知的测试接线端子组中存在的风险是，通过过快地或者不均匀地从串联接线端子组中拉出测试接线端子组不能可靠地或者无障碍地保证以上说明的顺序，依该顺序，一些串联接线端子的接触区域通过较长的接触插头仍打开，而经由其它串联接线端子(其关联有具有较短的接触插头的测试插头)已经实现了电流转变。由此，可得到串联接线端子组的单个串联接线端子不稳定或非限定的电子状态。
【发明内容】
[0009]因此，本发明目在于说明一种测试插头组，在其中避免了以上说明的缺点。除此之夕卜，测试插头组的处理、尤其地测试插头组到串联接线端子组上的插上对于装配工来说应尽可能简单且舒适。
[0010]在开头说明的带有权利要求1所述的特征的测试插头组的情况中，该目标由此实现，即至少一个固定件的插入区段具有至少两个卡锁元件，该卡锁元件与固定接线端子的对应的配合卡锁元件一起确定固定件在固定接线端子中的第一卡锁位置和第二卡锁位置，其中，两个卡锁位置彼此相继布置在测试插头组的插上方向上。通过卡锁元件优选地构造成卡锁钩的构造方案实现两个卡锁位置，由此，测试插头组不仅可被锁止在其完全被插上的位置中而且可被锁止在第二部分被拉出的位置中。在此，通过第二卡锁位置可确保，测试插头组首先仅仅如此程度地从串联接线端子组中被拉出，即单个测试插头的较短的接触插头不再打开相关联的串联接线端子的接触区域，而其它串联接线端子的接触区域通过与该串联接线端子相关联的测试插头的较长的接触插头仍打开。
[0011]为了实现两个卡锁位置的期望的解锁，此外在至少一个固定件的壳体中可移动地布置有解锁元件，其可通过把手件的旋转运动从基础位置中被带到第一解锁位置中以及第二解锁位置中，其中，通过解锁元件在第一解锁位置中松开第一卡锁位置的锁止而在第二解锁位置中松开第二卡锁位置的锁止。如果解锁元件被带到第一解锁位置中，则松开在卡锁元件与第一卡锁位置的配合卡锁元件之间的锁止，从而测试插头组可稍微地从串联接线端子组中被拉出。由于测试插头组从串联接线端子组中的拉出受到第二卡锁位置的限制，为了完全拉出测试插头组首先必须将解锁元件带到第二解锁位置中，由此松开第二卡锁位置，使得之后测试插头组可被完全从串联接线端子组中拉出。
[0012]通过由把手件的旋转运动产生的解锁元件的移动使得两个卡锁位置的解锁和测试插头组从串联接线端子组中的拉出可仅仅由一只手且在不握住的情况下进行，这使得装配工的手操作尤其简单。例如，可借助于偏心驱动装置实现把手件的期望的旋转运动到解锁元件的平移运动的转换，把手件经由该偏心驱动部与解锁元件相连接。
[0013]测试插头组的、尤其地测试插头组到串联接线端子组上的插上为了装配工由此进一步被简易化，即至少一个固定件具有至少一个限制元件，该限制元件限制把手件相对于壳体的可能的旋转。
[0014]如开头已经阐述的那样，由多个并排布置的串联接线端子和两个布置在串联接线端子两侧上的固定接线端子组成的串联接线端子组通常被卡在承载轨道上，该承载轨道被固定在开关箱中。此外备选地，这种类型的串联接线端子组也可被直接插入在箱壁中的相应的孔中。在此，在两种应用情况中，测试插头组通常被水平地插上到串联接线端子组上，为此，使用者用一只手在把手件处握住根据本发明的测试插头组且之后以水平的插塞运动将其插上到串联接线端子组上。
[0015]尤其地，当测试插头组具有数量略微更多的测试插头时，由于测试插头组的自重可导致当使用者在把手件处握紧测试插头组时，测试插头组的背离把手件的前侧由于其自重向下翻倾，也就是说，测试插头组可顺时针地绕把手件的旋转轴线翻倾。测试插头组的这种类型的翻倾可能使简单地利用仅一只手将测试插头组插上到串联接线端子组上更困难，因为可能不再能在仅利用一只手在把手件处握紧测试插头组的情况中实现简单的水平的插上运动。通过在根据本发明的测试插头组的情况中使至少一个固定件具有至少一个限制把手件的旋转运动的限制元件，防止了以上说明的在插上时测试插头组绕把手件的旋转轴线的非期望翻倾；由此实现了机械的自锁。使用者可简单地利用一只手在把手件处握紧测试插头组并且通过水平的运动将其插上到串联接线端子组上。
[0016]除了测试插头组的前侧绕把手件的旋转轴线的非期望的翻倾，通过构造限制元件还防止了解锁元件在两个固定件的壳体中的非期望的移动，从而在将测试插头组插上到串联接线端子组上的情况中解锁元件不会位于非限定的位置中。
[0017]作为限制元件，例如可使用足够强的弹簧元件、尤其球体压力弹簧，其弹簧力与把手件相对于壳体的非期望的旋转运动相反地作用并且由此与测试插头组由于其自重引起的翻倾相反地作用。然而优选地，在固定件的壳体中设置至少一个止挡部和对应的配合止挡部作为限制元件，其中，止挡部固定地布置在壳体中且配合止挡部与把手的旋转运