专利名称：信号产生装置及其信号产生方法
技术领域：
本发明是关于一种信号产生装置，尤指一种以锁相环为基础并具有回路 带宽补偿机制的信号产生装置(例如发射机)及其相关方法，其中回路带宽补偿 机制是依据信号产生装置的可控振荡器的合成信号来调校相位/频率电荷泵装
置(Phase/Frequency Charge Pump Device)。
背景技术：
一般而言，锁相环电路是用来合成所要的输出信号，此输出信号所具有 的频率是源信号的参考频率的倍数，而锁相环电路的回路带宽尽可能稳定地 维持于锁相环电路的输出频率的预定范围内。请参照图l，图1是先前技术Z-A N分数锁相环(Sigma-delta fractional-N phase-locked loop)发射机lO的示意 图，S-A N分数锁相环发射机lO包含有锁相环电路ll、 2-A调制器12、频道选 择器13、高斯滤波器(Gaussian filter)14与补偿滤波器15，其中锁相环电路ll 包含有相位/频率检测器lla、电荷泵电路llb、回路滤波器llc、压控振荡器lld 与分频器lle。基带数据Sb输入至高斯滤波器14以抽取出S-A N分数锁相环发 射机10所需要的频带，举例来说，若2-A N分数锁相环发射机10所欲传送的信 号是高斯最小移位键控(Gaussian Minimum Shift Keying, GMSK)信号SGMSK， 则高斯滤波器14是高斯最小移位键控滤波器。此外，因为锁相环电路ll的频 率响应如同低通滤波器的频率响应，所以补偿滤波器l 5用来在基带数据Sb被i:-A调 制器12调制前补偿基带数据Sb。锁相环电路ll会使用参考频率Sr来合成出所 需要的频率以传送基带数据Sb，而在多频带系统中，锁相环电路ll需要产生 不同频率的频带，频道选择器13用来选取出所需要的频带，通过分频器lle所 使用的分频参数的数值变化，锁相环电路ll可产生出不同频率的频带。然而， 回路带宽易受到锁相环电路ll的转换函数的参数的数值变化所影响，因此，
必须提出有效的机制来调校S-A N分数锁相环发射机10的回路带宽；关于先前
技术的详细描述，可参阅美国专利号6724265B2。
发明内容
本发明的目的之一在于提供一种以锁相环为基础并具有回路带宽补偿机 制的信号产生装置(例如发射机)及其相关方法，其中回路带宽补偿机制是依据 信号产生装置的可控振荡器的合成信号来调校相位/频率电荷泵装置(Phase/ Frequency Charge Pump Device),从而使回路带宽的稳定性得以增强。
依据本发明的一实施例，提供一种信号产生装置。信号产生装置包含有 测试数据产生器、N分数锁相环(fractional-N phase-locked loop)装置与调校装 置。测试数据产生器用来产生测试数据，而N分数锁相环装置耦合于测试数据 产生器，并用于在接收到测试数据时依据测试数据产生合成信号，以及调校 装置耦合于N分数锁相环装置，并用来测量合成信号的功率以产生用于调整N 分数锁相环装置的调校信号。
依据本发明的另一实施例，提供一种信号产生方法。此信号产生方法包 含有下列步骤产生测试数据；在接收到测试数据时依据测试数据使用N分数 锁相环装置来产生合成信号；以及测量合成信号的功率来产生用于调整N分数 锁相环装置的调校信号。
图1是先前技术2-A N分数锁相环发射机的示意图； 图2是依据本发明第一实施例的信号产生装置的示意图； 图3是图2所示的信号产生装置在回路带宽调校状态时的示意图； 图4是图3所示的信号产生装置的合成信号、第一降频信号、子频带信号、
第二降频信号与输入信号的频域图5是图2所示的信号产生装置在直流偏移调校状态时的示意图； 图6是图5所示的信号产生装置的合成信号、第一降频信号与补偿数据的
频域图7是依据本发明第二实施例的信号产生装置的示意图8是图7所示的信号产生装置的合成信号、第一降频信号与子频带信号 的频域图;
图9是图7所示的信号产生装置的N分数锁相环装置的转换特性曲线的回 路带宽变化的波特图10是图2所示的信号产生装置所使用的相关信号产生方法的流程图； 图11是图7所示的信号产生装置所使用的相关信号产生方法的流程图。
具体实施例方式
在说明书及后续的权利要求当中使用了某些词汇来指称特定的元件。所 属领域中具有通常知识者应可理解，制造商可能会用不同的名词来称呼同一 个元件。本说明书及后续的权利要求并不以名称的差异作为区分元件的方式， 而是以元件在功能上的差异作为区分的原则。在通篇说明书及后续的权利要 求当中所提及的"包含"是开放式的用语，应解释成"包含但不限定于"。 以外，"耦合" 一词在此包含任何直接及间接的电气连接手段。因此，若文 中描述第一装置耦合于第二装置，则代表第一装置可直接电气连接于第二装 置，或通过其它装置或连接手段间接地电气连接至第二装置。
请参照图2，图2是依据本发明的实施例的信号产生装置100的示意图。信 号产生装置100包含有测试数据产生器102、 N分数锁相环(fractional-N phase-locked k)op)装置104以及调校装置106。请注意，熟悉此项技术领域者应可了 解信号产生装置100可利用具有回路带宽调校机制的N分数锁相环发射机来加 以实现。测试数据产生器102产生测试数据Dtest，而N分数锁相环装置104耦合
于测试数据产生器102并用于在接收到测试数据Dtest时依据测试数据Dtest产生
合成信号F，，调校装置106则耦合于N分数锁相环装置104并用来测量合成信 号Fve。的功率(例如单位为dBm)以产生用来调整N分数锁相环装置104的回路带 宽BW的调校信号S。ab。 N分数锁相环装置104包含有i:-A调制器l()4a、分频器
104b、相位/频率电荷泵装置(Phase/Frequency Charge Pump Device, PFD/CP) 104c、回路滤波器104d以及压控振荡器104e。调校装置106包含有混频器1061、 带通滤波器(Band-pass filter)1062、模数转换器1063a、数字降频转换器(Digital Down Converter, DDC)1063b、数字滤波器1063c、寄存器1064a、第一运算器 1064b、第一查找表1065、第二查找表108a与第二运算器108b，其中模数转换 器1063a、数字降频转换器1063b、数字滤波器1063c、寄存器1064a、第一运算 器1064b、第一查找表1065组成调校模块1063。混频器1061耦合于压控振荡器
104e并依据合成信号Fve。来降频合成信号Fve。以产生第一降频信号Fd,p带通
滤波器1062耦合于混频器1061并对第一降频信号Fd。wd进行滤波以输出合成信
号Fve。的子频带信号Ssub，模数转换器1063a则耦合于带通滤波器1062并用来将
子频带信号Ssub转换成第一数字子频带信号Dsubp而数字降频转换器1063b耦合
于模数转换器1063a并将第一数字子频带信号Dsuw降频为第二降频信号Fd。^2，
数字滤波器1063c耦合于数字降频转换器1063b并对第二降频信号Fd。wn2进行滤
波来产生输入信号Sin，另外，寄存器1064a、第一运算器1064b与第一查找
表1065形成计算电路，其中第一运算器1064b用来依据补偿数据(或称为补偿值)
S^调整/补偿输入信号Sin以产生调整后的信号(或称为补偿后的信号)Sad，其中
补偿数据S^被寄存于寄存器1064a中，寄存器1064a与第一运算器1064b可被视 为补偿单元；第一査找表1065耦合于第一运算器1064b，并用来接收调整后的 信号Sad以及输出调校信号S^至相位/频率电荷泵装置104c，相位/频率电荷泵
装置104c另具有输入信号为参考频率Fref 。
请注意，为了得到补偿数据S^，信号产生装置100另包含有第一开关SW1、 第二开关SW2、第三开关SW3与第四开关SW4。第一开关SW1耦合于测试数 据产生器102与S-A调制器104a之间(亦即节点nl、 n2与n3之间)，第二开关SW2 耦合于混频器1061与带通滤波器1062之间(亦即节点n4、 n5与n6之间)，第三开 关SW3则耦合于模数转换器1063a、第二运算器108b与数字降频转换器1063b 之间(亦即节点n7、 n8与n9之间)，而第四开关SW4耦合于数字滤波器1063c、
寄存器1064a与第一运算器1064b之间(亦即节点n10、 nll与nl2之间)；请注意， 每一装置之间详细的连接方式显示于图2中。再者，直流偏移调校装置108包 含有第二查找表108a与第二运算器108b，并提供直流偏移调校值DC，其中在 测试数据Dtest输入至N分数锁相环装置104前(此时节点nl耦合于节点n3)，模数 转换器1063a会将第一降频信号Fd。wm转换成基带信号Dsub2，直流偏移调校装置 108会依据直流偏移调校值DC来调校基带信号Dsub2的直流电平以产生调校后
的基带信号S"ub，而数字滤波器1063c则会对调校后的基带信号Sesub进行滤波
以输出补偿数据Spw至寄存器1064a。
依据本发明的上述实施例，信号产生装置100的调校操作包含有两个步 骤第一是直流偏移调校步骤，而第二则为回路带宽调校步骤。在回路带宽 调校步骤中，信号产生装置100会侦测合成信号Fvc。，其中合成信号F^对应于 输入至S-A调制器104a的测试数据Dtest;然而，因为合成信号Fve。本身包含有载 波信号(carrier tone)S咖rier与多个测试信号(test tones)Stest，而在抽取出测试信号
S^的过程中测试信号Stest本身的功率易受到载波信号S^ier所影响，因此，需 要在执行回路带宽调校步骤前先执行直流偏移调校步骤。换言之，在执行直 流偏移调校步骤前需要先测量出载波信号Scarrier的功率。此外，应注意的是， 本发明并不限定于仅使用直流偏移调校来避免影响到测试信号Stest;其它方
法，例如将载波信号Sea^r的功率设定为OdBm亦可获得如使用直流偏移调校时
相同的效果。
请一并参照图3 6，图3是信号产生装置100在回路带宽调校状态时的示 意图，图4是图3所示的信号产生装置100的合成信号Fve。、第一降频信号Fd。^、
子频带信号Ssub、第二降频信号Fd,2与输入信号Sin的频域图，而图5则为信号
产生装置100在直流偏移调校状态时的示意图，以及图6为图5所示的信号产生
装置100的合成信号Fve。、第一降频信号Fd,i与补偿数据Spre的频域图。在回路
带宽调校状态下，第一开关SWl将节点nl耦合于节点n2，换言之，测试数 据Dtest会输入至S-A调制器104a，第二开关SW2将节点n4耦合于节点n5，第三
开关SW3会将节点n7耦合于节点n8，以及第四开关SW4将节点nlO耦合于节点 nll(如图3所示)。请注意，为了简化说明，第一开关SW1、第二开关SW2、第 三开关SW3、第四开关SW4与直流偏移调校装置108并未显示于图3中。在直 流偏移调校状态下，第一开关SWl会使节点nl与n2开路(open)，换言之，测试 数据Dtest不会输入至S-A调制器104a，此时，第二开关SW2将节点n4耦合于节 点n6，第三开关SW3将节点n7耦合于节点n9，而第四开关SW4将节点nlO耦合 于节点nl2(如图5所示)；同样地，为了简化说明，测试数据产生器102、第一 开关SW1、第二开关SW2、带通滤波器1062、第三幵关SW3、数字降频转换 器1063b、第四开关SW4、第一运算器1064b以及第一查找表1065并未显示于 图5中。
请再次参照图5与图6。当分频器104b接收到来自于S-A调制器104a的预设
分频参数N时，N分数锁相环装置104会产生具有载波频率为fe的载波信号S^ier， 其中载波信号S^ier的功率是P^ier，混频器1061会将载波信号S^er降频为第一 降频信号Fd。wm，而第一降频信号Fd。^是基带信号Sba^w^，并且基带信号 Sb吣ear^的功率也是Pear^。而为了调校受到混频器1061与模数转换器1063a所 影响的载波信号Se^er所产生的直流偏移，模数转换器1063a会将基带信号 Sbase—car^由模拟数据转换成为数字数据，因此，第二查找表108a会输出直流偏
移调校值DC至第二运算器108b以执行直流偏移调校，接着，调校后的基带信 号S^b会被输入至数字滤波器1063c以产生补偿数据Spre，其中数字滤波器1063c
具有仅适用于基带信号Sba"肌ier的通带(paSS-band)Pband，此外，补偿数据S^的 功率大小也是Pe肌ier，因此N分数锁相环装置104的载波信号Searrier的功率值(记 为Pcarrkr)可被寄存于寄存器1064a中。
依据图3所示的信号产生装置ioo的回路带宽调校步骤，测^;数据Dtest会被
输入至2-A调制器104a，而i:-A调制器104a会输出分频参数N'至分频器104b。 当分频器104b接收到分频参数N，时，N分数锁相环装置104会产生合成信号Fvc。，
其中合成信号Fve。包含有载波信号Sea^与两个测试信号Stest，载波信号S,ier具
有载波频率fc，而两个测试信号Stest分别位于fc- ft fe+ ft的频率范围中。此外， 载波信号Sea^的功率也是Pea^，而测试信号Stest的功率则是P涵。混频器1061 会将合成信号Fve。降频为第一降频信号Fd。w^，其中第一降频信号Fd。一包含有 基带信号Sbase，由'与四个子频带信号Stest'(如图4所示)。基带信号S^，^'的 功率是Pearrie/，而子频带信号S^'的功率则是P^'。接着，具有通带P^d'的带 通滤波器1062会对第一降频信号Fd。^u进行滤波以抽取出第一降频信号Fd。w^
内的第一子频带信号St^'。模数转换器1063a会将带通滤波器1062的输出信号 由模拟数据转换成数字数据，并将此数字数据输入至数字降频转换器1063b。
因此，第一子频带信号St^'由频率ft降频至基带来产生基带测试信号Sba^t^，
(即第二降频信号Fd。^2)，而第二降频信号Fd。wn2则接着会被数字滤波器1063c 所滤波。同样地，数字滤波器1063c具有仅适用于基带测试信号Sb^j^'的通 带P^d(即输入信号Sin)。接着，第一运算器1064b会依据补偿数据S^来调整基
带测试信号Sba3e，tr以产生调整后的信号Sad。请注意，本发明并不限定于仅使 用第一运算器1064b来调整基带测试信号S^ejesu'的功率Pt^;任何其它可将功 率P^t'恢复至功率PtestO的方法亦属于本发明的范畴。此外，调整后的信号Sad 会被输入至第一査找表1065，而第一査找表1065会依据调整后的信号Sad输出 调校信号Seab来调整N分数锁相环装置104的回路带宽BW。熟悉此项技术者应 可了解到如何使用调校信号Seab来调整回路带宽，故在此省略其详细内容以简 化本说明书的篇幅。
请一并参照图7与图8，图7是依据本发明第二实施例的信号产生装置200 的示意图，图8是图7所示的信号产生装置200的合成信号F，'、第一降频信号 Fd。wnr与子频带信号S"的频域图。信号产生装置200包含有观赋数据产生器202、 N分数锁相环装置204与调校装置206。熟悉此项技术领域者应可了解信号产生 装置200可利用具有回路带宽调校机制的N分数锁相环发射机来加以实现。测 试数据产生器202产生测试数据D^' ， N分数锁相环装置204耦合于测试数据产 生器202并用来在接收到测试数据D^'时依据测试数据D^'产生合成信号Fvc。'，
而调校装置206则耦合于N分数锁相环装置204与测试数据Dtest'，并用来测量合 成信号Fvc。'的功率(例如单位为dBm)以产生调校信号S^'，其中调校信号S^， 用来调整N分数锁相环装置204的回路带宽BW。 N分数锁相环装置204包含有 S-A调制器204a、分频器204b、相位/频率电荷泵装置204c、回路滤波器204d 与压控振荡器204e，调校装置206则包含有混频器2061、带通滤波器2062、模 数转换器2063a、第一相位检测器2063b、运算器2063c、查找表2063d、第二相 位检测器2063e与寄存器2063f。请注意，运算器2063c与寄存器2063河被视为
比较单元，用来比较第一相位值Pref与第二相位值Ptest以产生比较结果P,p。类
似于上述第一实施例，混频器2061耦合于压控振荡器204e并用来依据合成信
号Fve。，降频合成信号Fve。，以产生第一降频信号Fd。^'，其中第一降频信号Fa。；
包含有测试信号Stest"，带通滤波器2062耦合于混频器2061并用来滤波第一降
频信号Fd,r以输出合成信号Fve。'的子频带信号Ssub'来达到抽取出测试信号S^"
的目的，而模数转换器2063a耦合于带通滤波器2062并用来将子频带信号Ssub' 转换成数字子频带信号D^r，另外，第一相位检测器2063b耦合于模数转换器 2063a并用来检测数字子频带信号Dsubr的相位以产生对应于数字子频带信号 D^,，的第二相位值Ptest，而第二相位检测器2063e则耦合于测试数据产生器
202，并用来检测测试数据Dtest'的相位以产生对应于测试数据Dtest'的第一相位
值P^。为了使第一相位值P^延迟一段时间，寄存器2063f用来寄存第一相位值 Pref，其中延迟时间等于包括N分数锁相环装置204、混频器2061、带通滤波器 2062、模数转换器2063a与第一相位检测器2063b的整体路径的延迟时间。运
算器2063C用于比较第一相位值Pref与第二相位值Ptest来产生比较结果P匿p，而 査找表2063d耦合于运算器2063c并依据比较结果Pe。mp输出调校信号Seab'至相
位/频率电荷泵装置204c，相位/频率电荷泵装置204c另具有输入信号为参考频 率FJ。请注意，因为信号产生装置200的部分元件类似于信号产生装置100中 的部分元件，所以在下面段落中集中描述第一相位检测器2063b、第二相位检 测器2063e、运算器2063c、寄存器2063f与査找表2063d的运行情况。
依据本发明的第二实施例，查找表2063d存储多个相位值，其中每一相位 值对应于N分数锁相环装置204的回路带宽BW的值。请参照图9，图9是信号产 生装置200的N分数锁相环装置204的转换特性曲线的回路带宽变化的波特图。 如熟悉此项技术者所知，波特图具有对应于不同频率下的振幅响应与频率响 应；当回路带宽改变时，其各自的相位亦如图9所示会加以改变，其中振幅响 应601对应于相位响应602，振幅响应603对应于相位响应604，而振幅响应605 对应于相位响应606，以及振幅响应607对应于相位响应608。查找表2063d会 事先存储相位响应与振幅响应的对应关系，因此，查找表2063d可依据测试数
据Dtest'与对应于测试数据Dtest'的测试信号Stest'之间的相位差来决定出N分数锁
相环装置204的回路带宽。第二相位检测器2063e可侦测出测试数据D^'的相 位，而第一相位检测器2063b可侦测出测试信号Stest'的相位，以及运算器2063c
可计算出第一相位值Pref^第二相位值Ptest的相位差。请注意，熟悉此项技术领 域者应可了解在实际操作上如何依据测试数据Dtest'与测试信号Stest'之间的相 位差来决定回路带宽的大小，在此为了简化说明，其详细内容不再赘述。
请参照图IO，图10是图2所示的信号产生装置100所使用的相关信号产生 方法的流程图。换句话说，此信号产生方法是通过具有回路带宽调校机制的N
分数锁相环发射机来加以描述；此信号产生方法包含有下列步骤 步骤70h开始调校操作；
步骤702:确定是否已执行直流偏移调校 若是，进行步骤703;反之，进 行步骤712;
步骤703:输入测试数据Dtest至S-A调制器104a;
步骤704:产生对应于测试数据Dtest的合成信号Fve。，其中合成信号Fyc。包 含有载波信号S^^与测试信号S^;
步骤705:将合成信号Fve。降频为第一降频信号Fd。wm，其中第一降频信号 Fd,!包'含有基带信号Sbase—面&，与四个子频带信号Stest，；
步骤706:抽取出第一 降频信号Fa。^内的第一子频带信号Stestr;
步骤707:将第一子频带信号S^r由模拟数据转换成数字数据； 步骤708:将第一子频带信号Stestr由频率ft降频至基带以产生基带测试信
5Sbase一testl ;
步骤709:滤出基带测试信号Sba3e一testr;
步骤710:依据补偿数据S^调整基带测试信号Sb^—t^'来产生调整后的信 号Sad;
步骤711:依据调整后的信号Sad査表输出调校信号Seab以调整N分数锁相环
装置104的回路带宽BW，并进行步骤717;
步骤712:不输入任何的测试数据Dtest至i:-A调制器104a，以及产生具有载
波频率为fe的载波信号S^W
步骤713:将载波信号S^^降频为第一降频信号Fd。wm;
步骤714:将基带信号Sbas^a^r由模拟数据转换成数字数据； 步骤715:对基带信号Sbase」a^r执行直流偏移调校；
步骤716:滤出基带信号Sb咖—ear^来产生补偿数据Spre，并进行步骤710; 步骤717:结束调校操作。
请注意，信号产生装置100的直流偏移调校操作在步骤712 715中执行， 而回路带宽调校操作则在步骤703 711中进行。
请参照图11 ，图1 l是图7所示的信号产生装置200所使用的相关信号产生 方法的流程图。换言之，此信号产生方法也是通过具有回路带宽调校机制的N 分数锁相环发射机来加以描述；此信号产生方法包含有下列步骤
步骤801:开始调校操作；
步骤802:输入测试数据Dtest，至S-A调制器204a并产生对应于测试数据Dtest'
的合成信号Fve。'；
步骤803:侦测测试数据Dtest'的相位来产生第一相位值P^ 步骤804:寄存第一相位值Pref，并进行步骤809; 步骤805:将合成信号Fve。，降频为第一降频信号Fd。wnr;
步骤806:抽取出第一降频信号Fd,r内的测试信号Stest"; 步骤807:将测试信号Stea"由模拟数据转换成数字数据； 步骤808:侦测数字子频带信号DsuW'的相位来产生第二相位值Ptest; 步骤809:比较第一相位值Pref^第二相位值Ptest来产生比较结果P,p; 步骤810:依据比较结果Pe，査表输出调校信号Seab'以调整N分数锁相环 装置204的回路带宽BW;
步骤811:结束调校操作。
在步骤804中，第一相位值Pre淑延迟一段时间，其中延迟时间等于包括信
号产生装置200中的N分数锁相环装置204、混频器2061、带通滤波器2062、模 数转换器2063a与第一相位检测器2063b的整体路径的延迟时间。而在步骤809
中，比较结果P,p是测试数据Dtest'与对应于Dtest'的测试信号Stest'的相位差。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明权利要求所做的均等变 化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。
权利要求
1. 一种信号产生装置，其特征在于，所述信号产生装置包含测试数据产生器，用来产生测试数据；N分数锁相环装置，耦合于所述测试数据产生器，用于在接收到所述测试数据时依据所述测试数据来产生合成信号；以及调校装置，耦合于所述N分数锁相环装置，用来测量所述合成信号的功率以产生用于调整所述N分数锁相环装置的调校信号。
2. 如权利要求l所述的信号产生装置，其特征在于，所述调校装置包含有-混频器，耦合于所述N分数锁相环装置，用来依据所述合成信号来降频所述合成信号以产生第一降频信号；带通滤波器，耦合于所述混频器，用来对所述第一降频信号进行滤波以 输出子频带信号；以及调校模块，耦合于所述带通滤波器，用来处理所述子频带信号以产生所 述调校信号。
3. 如权利要求2所述的信号产生装置，其特征在于，所述调校模块包含有 模数转换器，耦合于所述带通滤波器，用来将所述子频带信号转换成第一数字子频带信号；数字降频转换器，耦合于所述模数转换器，用来将所述第一数字子频带 信号降频为第二降频信号；数字滤波器，耦合于所述数字降频转换器，用来对所述第二降频信号进 行滤波以产生输入信号；以及计算电路，耦合于所述数字滤波器，用来依据所述输入信号决定所述调 校信号。
4. 如权利要求3所述的信号产生装置，其特征在于，所述计算电路包含有 补偿单元，用来以补偿值对所述输入信号进行补偿以产生补偿后的信号；以及第一查找表，耦合于所述补偿单元，用来依据所述补偿后的信号输出所 述调校信号。
5. 如权利要求4所述的信号产生装置，其特征在于，所述信号产生装置还包含直流偏移调校装置，耦合于所述模数转换器，用来提供直流偏移调校值;其中在所述测试数据输入至所述N分数锁相环装置之前，所述模数转换器 另将所述第一降频信号转换成第二数字子频带信号，所述直流偏移调校装置 依据所述直流偏移调校值来调校所述第二数字子频带信号的直流电平以产生 调校后的子频带信号，以及所述数字滤波器另对所述调校后的子频带信号进 行滤波以输出所述补偿值至寄存器。
6. 如权利要求5所述的信号产生装置，其特征在于，所述直流偏移调校装 置包含有第二查找表，所述第二查找表依据所述合成信号的载波频率来输出 所述直流偏移调校值。
7. 如权利要求2所述的信号产生装置，其特征在于，所述调校模块包含有-模数转换器，耦合于所述带通滤波器，用来将所述子频带信号转换成数字子频带信号；第一相位检测器，耦合于所述模数转换器，用来侦测所述数字子频带信 号的相位以产生对应于所述数字子频带信号的第二相位值；第二相位检测器，耦合于所述测试数据产生器，用来侦测所述测试数据 的相位以产生对应于所述测试数据的第一相位值；以及计算电路，耦合于所述第一相位检测器与所述第二相位检测器，用来依 据所述第一相位值与所述第二相位值来决定所述调校信号。
8. 如权利要求7所述的信号产生装置，其特征在于，所述计算电路包含有: 比较单元，用来比较所述第一相位值与所述第二相位值以产生比较结果;以及查找表，耦合于所述比较单元，用来依据所述比较结果来输出所述调校 信号。
9. 一种信号产生方法，其特征在于，所述方法包含(a) 产生测试数据；(b) 在接收到所述测试数据时依据所述测试数据使用N分数锁相环装置来 产生合成信号；以及(c) 测量所述合成信号的功率来产生用于调整所述N分数锁相环装置的调 校信号。
10. 如权利要求9所述的信号产生方法，其特征在于，步骤(C)包含有(d) 依据所述合成信号降频所述合成信号以产生第一降频信号；(e) 对所述第一降频信号滤波以输出子频带信号；以及(f) 处理所述子频带信号以产生所述调校信号。
11. 如权利要求10所述的信号产生方法，其特征在于，步骤(f)包含有 将所述子频带信号转换成第一数字子频带信号； 将所述第一数字子频带信号降频为第二降频信号； 对所述第二降频信号进行滤波以产生输入信号；以及 依据所述输入信号来决定所述调校信号。
12. 如权利要求ll所述的信号产生方法，其特征在于，依据所述输入信号 来决定所述调校信号的步骤包含有用补偿值对所述输入信号进行补偿以产生补偿后的信号；以及 依据所述补偿后的信号输出所述调校信号。
13. 如权利要求12所述的信号产生方法，其特征在于，所述方法还包含 提供直流偏移调校值；其中在所述测试数据输入至所述N分数锁相环装置前，将所述第一降频信 号转换成第二数字子频带信号，并依据所述直流偏移调校值来调校所述第二 数字子频带信号的直流电平以产生调校后的子频带信号，以及对所述调校后 的子频带信号进行滤波以输出所述补偿值至寄存器。
14. 如权利要求13所述的信号产生方法，其特征在于，提供所述直流偏移调校值的步骤包含有依据所述合成信号的载波频率输出所述直流偏移调校值。
15. 如权利要求10所述的信号产生方法，其特征在于，步骤(f)包含有-将所述子频带信号转换成数字子频带信号；侦测所述数字子频带信号的相位来产生对应于所述数字子频带信号的第 二相位值；侦测所述测试数据的相位来产生对应于所述测试数据的第一相位值；以及 依据所述第一相位值与所述第二相位值来决定所述调校信号。
16. 如权利要求15所述的信号产生方法，其特征在于，依据所述第一相位 值与所述第二相位值来决定所述调校信号的步骤包含有比较所述第一相位值与所述第二相位值来产生比较结果；以及 依据所述比较结果来输出所述调校信号。
全文摘要
本发明提供一种信号产生装置及信号产生方法。所述信号产生装置包含有测试数据产生器、N分数锁相环装置与调校装置。测试数据产生器用来产生测试数据，而N分数锁相环装置耦合于测试数据产生器，并用于在接收到测试数据时依据测试数据来产生合成信号，以及调校装置耦合于N分数锁相环装置，并用来测量合成信号的功率或相位以产生用于调整N分数锁相环装置的调校信号。依据本发明的信号产生装置及其相关方法，可以有效地提高回路带宽的稳定性。
文档编号H03L7/089GK101394179SQ200810003418
公开日2009年3月25日 申请日期2008年1月11日 优先权日2007年9月20日
发明者余岱原, 林哲煜, 柯凌维, 陈信宏 申请人:联发科技股份有限公司