技术特征：
1.一种待测芯片的模数转换校准方法，其特征在于，包括：步骤s1，控制待测芯片输出固定的参考电压值，并对所述参考电压值进行模数转换，得到模数转换后的参考量化值；步骤s2，控制所述待测芯片正常工作并输出当前工作电压值，对所述当前工作电压值进行模数转换，得到模数转换后的当前量化值；步骤s3，根据所述参考电压值、所述参考量化值和所述当前量化值，获取所述待测芯片的所述当前工作电压值。2.根据权利要求1所述的模数转换校准方法，其特征在于，所述步骤s3采用下述公式处理得到所述当前工作电压值：其中，v
当前
用于表示所述当前工作电压值；v
参考
用于表示所述参考电压值；d
参考
用于表示所述参考量化值；d
当前
用于表示所述当前量化值。3.根据权利要求1所述的模数转换校准方法，其特征在于，所述步骤s1中，采用下述公式对所述参考电压值进行模数转换以获取所述参考量化值；其中，d
参考
用于表示所述参考量化值；v
参考
用于表示所述参考电压值；v
ref
用于表示进行模数转换时采用的量化基准电压；n用于表示进行模数转换时采用的分辨率的位数。4.根据权利要求3所述的模数转换校准方法，其特征在于，所述步骤s1，控制所述待测芯片输出固定的所述参考电压值，并采用所述量化基准电压对所述参考电压值进行模数转换，得到模数转换后的所述参考量化值，存储所述参考电压值、所述量化基准电压和所述参考量化值；所述步骤s3，获取存储的所述参考电压值、所述量化基准电压和所述参考量化值，并根据所述当前量化值，处理得到所述待测芯片的所述当前工作电压值。5.一种待测芯片的模数转换校准系统，其特征在于，具体包括：一第一控制模块，用于预先控制待测芯片输出一固定的参考电压值；一第二控制模块，用于控制所述待测芯片正常工作并输出当前工作电压值；一模数转换模块，用于对输出的所述参考电压值进行模数转换并输出模数转换后的参考量化值，以及对所述当前工作电压值进行模数转换后并输出模数转换后的当前量化值；一处理模块，连接第一控制模块、所述第二控制模块和所述模数转换模块，用于根据所述参考电压值、所述参考量化值和所述当前量化值，获取所述待测芯片的所述当前工作电压值。
6.根据权利要求5所述的模数转换校准系统，其特征在于，所述处理模块采用下述公式处理得到所述当前工作电压值：其中，v
当前
用于表示所述当前工作电压值；v
参考
用于表示所述参考电压值；d
参考
用于表示所述参考量化值；d
当前
用于表示所述当前量化值。7.根据权利要求5所述的模数转换校准系统，其特征在于，所述模数转换模块采用下述公式对所述参考电压值进行模数转换以生成所述参考量化值；其中，d
参考
用于表示所述参考量化值；v
参考
用于表示所述参考电压值；v
ref
用于表示进行所述模数转换模块采用的量化基准电压；n用于表示进行所述模数转换模块采用的分辨率的位数。8.根据权利要求7所述的模数转换校准系统，其特征在于，所述模数转换模块，采用所述量化基准电压对所述参考电压值进行模数转换，得到模数转换后的所述参考量化值；还包括一存储模块，分别连接所述第一控制模块、所述模数转换模块和所述处理模块，用于获取并存储所述参考电压值、所述量化基准电压和所述参考量化值；所述处理模块，从所述存储模块获取所述参考电压值、所述量化基准电压和所述参考量化值，并根据所述当前量化值，处理得到所述待测芯片的所述当前工作电压值。
技术总结
本发明涉及到芯片测试领域，尤其涉及一种待测芯片的模数转换校准方法及系统。其中的方法，具体包括：步骤S1，控制待测芯片输出一固定的参考电压值，并对所述参考电压值进行模数转换，获取模数转换后的参考量化值；步骤S2，控制所述待测芯片正常工作并输出一当前工作电压值，对所述当前工作电压值进行模数转换，获取模数转换后的当前量化值；步骤S3，根据所述参考电压值、所述参考量化值和所述当前量化值，获取所述待测芯片的所述当前工作电压值。本发明的技术方案有益效果在于：提供一种待测芯片的模数转换校准方法及系统，不仅能够解决芯片一致性的问题，还能够简化校准电路结构、提升校准精度。校准精度。校准精度。
技术研发人员：黄继成 王磊
受保护的技术使用者：苏州磐启微电子有限公司
技术研发日：2021.06.24
技术公布日：2021/9/7