一种基于扩展汉明码的二维乘积码编码装置及编码方法_3

文档序号:8284306阅读:来源:国知局
汉明码的二维乘积码编码装置图。
[0056]在此装置中,编码数据流以4比特位宽送入编码信息存储矩阵,编码矩阵为8*8的矩阵,其中包含4个4比特位宽的信息寄存器,4个4比特位宽的行校验寄存器,4个4比特位宽的列校验寄存器,4个4比特位宽的双重校验寄存器,寄存器中存储矩阵元素信息。
[0057]在编码开始时,信息矩阵存放编码信息,耗时k = 4个周期;然后再经过k = 4个周期,行校验矩阵和列校验矩阵中都存满了校验信息;在进行双重校验编码时,同步进行行编码信息的输出,具体为首先输出第一行的信息,即由信息位寄存器I与行校验寄存器I组成一行,进行输出,在n-k = 4个时钟周期之后,输出了 4行的编码信息,同时双重校验信息编码完毕;在接下来的k = 4个时钟周期内,继续进行行编码信息的传输。
[0058]此编码装置在整个时序调度周期内的具体流程如下:
[0059]第一步:将信息经过位宽变换FIFO进行数据比特位宽的变换,转化为4比特并行数据输入值编码信息存储电路。同时向编码控制电路输入编码使能信号。
[0060]第二步:编码控制电路内部的计数器在收到编码使能信号之后开始计数,计数范围为I?16。每一个计数阶段有以下操作:
[0061](I)计数值为I?4,信息位寄存器依次存储原始编码信息。
[0062](2)计数值为4?8:行码编码与列码编码同步进行,并将编码之后的校验信息存入至行校验寄存器I?4,列校验寄存器I?4。
[0063](3)计数值为9?12:双重校验编码开始,将列校验寄存器I?4的第4位(最高位)取出组成4比特数据,进行编码,编码之后的校验信息存入至双重校验寄存器I中。如此进行,直至4个双重寄存器全部存满。同时进行第I?4行编码矩阵的信息输出。信息位寄存器为高4位,行校验信息寄存器为低4位输出。
[0064](4)计数值为13?16:进行列校验信息与双重校验信息的输出,具体输出操作如图5所示,图5(a)和图5(b)中,信息矩阵中的信息以I为开头,行校验信息以R为开头,列校验信息以C为开头,双重校验信息以D为开头。在编码矩阵中,各数据存放如该图所示,输出时按行输出,贝1J对应的输出编码信息依次为矩阵每一行的信息。
[0065]如此,经过16个时钟周期,编码与编码输出全部完成,共输出64比特信息。
【主权项】
1.一种基于扩展汉明码的二维乘积码编码装置,其特征在于,该装置包括:信息输入缓存模块、编码控制电路模块、编码信息存储电路模块和子码编码逻辑电路模块,所述信息输入缓存模块用于利用FIFO存储器将编码原始信息进行存储并输出编码数据流至所述编码信息存储电路模块,同时输出编码使能信号至所述编码控制电路模块;所述编码控制电路模块,用于在所述编码使能信号有效后启动电路内部的计数器,并在时钟周期内利用选择器控制信号和地址控制信号对所述编码信息存储电路模块进行控制,最终输出编码信息和编码输出使能信号;所述编码信息存储电路模块,用于在所述时钟周期内对所述编码数据流进行存储,然后根据所述选择器控制信号和所述地址控制信号利用所述子码编码逻辑电路模块进行子码编码,并将信息位数据流和校验位数据流输送至所述编码控制电路模块用于输出所述编码信息。
2.根据权利要求1所述的基于扩展汉明码的二维乘积码编码装置,其特征在于,所述编码信息存储电路模块包括:四个选择器、含有k个k位的信息位寄存器的信息位寄存器组、含有k个n-k位的行校验寄存器的行校验寄存器组、含有k个n-k位的列校验寄存器的列校验寄存器组、含有n-k个n-k位的双重校验寄存器的双重校验寄存器组,每个寄存器组的输入端都连接相应选择器的输出,其中η为所述编码信息子码长度,k为所述信息位数据的长度。
3.根据权利要求2所述的基于扩展汉明码的二维乘积码编码装置,其特征在于,所述编码控制电路模块内部计数器的计数范围为I?n+2k。
4.根据权利要求1所述的基于扩展汉明码的二维乘积码编码装置,其特征在于,所述子码编码逻辑电路模块包括: 可重构行码编码运算电路,用于对所述编码信息存储电路模块存储的行信息数据流进行扩展汉明码编码,并将编码后的行校验数据流反馈给所述编码信息存储电路模块进行存储; 可重构列码编码运算电路,用于对所述编码信息存储电路模块存储的列信息数据流进行扩展汉明码编码,并将编码后的列校验数据流反馈给所述编码信息存储电路模块进行存储; 所述可重构列码编码运算电路和所述可重构行码编码运算电路采用相同的电路结构。
5.一种基于扩展汉明码的二维乘积码编码方法,其特征在于,该方法包括以下步骤: (1)信息输入缓存模块利用FIFO存储器将编码原始信息进行存储并输出编码数据流至编码信息存储电路模块,同时输出编码使能信号至编码控制电路模块; (2)所述编码控制电路模块在所述编码使能信号有效后启动电路内部的计数器,并在时钟周期内利用选择器控制信号和地址控制信号对所述子码编码逻辑电路模块进行控制; (3)所述编码信息存储电路模块在所述时钟周期内对所述编码数据流进行存储,然后根据所述选择器控制信号和所述地址控制信号利用子码编码逻辑电路模块进行子码编码,并将所得到的校验位信息进行存储,以及将信息位数据流和校验位数据流输送至所述编码控制电路模块。 (4)所述编码控制电路模块根据所述信息位数据流和所述校验位数据流得到完整的编码信息并进行输出,同时输出编码输出使能信号。
6.根据权利要求5所述的基于扩展汉明码的二维乘积码编码方法,其特征在于,所述编码控制电路模块内部计数器的计数范围为I?n+2k,其中η为所述编码信息子码长度,k为所述信息位数据的长度。
7.根据权利要求6所述的基于扩展汉明码的二维乘积码编码方法,其特征在于,所述编码信息存储电路模块包括:选择器、信息位寄存器组、行校验寄存器组、列校验寄存器组、双重校验寄存器组,每个寄存器组分别与对应的选择器连接,所述子码编码逻辑电路模块包括可重构行码编码运算电路和可重构列码编码运算电路,步骤(3)中所述编码信息存储电路模块在所述时钟周期内进行数据存储、子码编码和数据流的输送,包括以下步骤: 计数值为I?k:依次将所述编码数据流存入编码信息存储电路模块中的信息位寄存器组中,所述信息位寄存器组包含k个k位的信息位寄存器; 计数值为k+Ι?2*k:将信息位寄存器组中存储的数据作为行信息数据流依次送至所述可重构行码编码运算电路进行编码得到行校验位数据,并将所述行校验数据依次存储至行校验寄存器组中,所述行校验寄存器组包含k个n-k位的行校验寄存器;同时,将信息位寄存器组的比特数据从最高位到最低位依次取出,且信息位寄存器I的比特位为最高位,信息位寄存器k的相同比特位为最低位合并后作为列信息数据流依次送至所述可重构列码编码运算电路进行编码得到列校验位数据,并将所述列校验位数据依次存储至列校验寄存器组,所述列校验寄存器组包含k个n-k位的列校验寄存器; 计数值为2*k+l?n+k:每计数一次将所述列校验寄存器组的最高位至最低位作为行信息数据流送入所述重构行码编码运算电路,并将得到的行信息数据流依次存入双重校验寄存器组,所述双重校验寄存器组包含n-k个n-k位的双重校验寄存器; 同时,在此计数范围内,同步进行编码信息的输出,将信息位寄存器中存储的数据与对应的行校验寄存器中存储的数据,前者作为高位后者作为低位,合并为一个η比特的编码数据送至所述编码控制电路模块,所述编码控制电路模块输出编码信息,同时编码输出使能有效; 计数值为η+k+l?n+2*k:在计数范围η+k+l?2*k内,继续将所述编码信息存储电路模块中的编码信息输出;在计数范围2*k+l?3*k内,输出的编码信息由信息位寄存器中的数据与行校验寄存器中的数据合并而成的并行η比特数据;在计数范围3*k+l?n+2*k内,输出的编码信息由列校验寄存器和双重校验寄存器中的数据合并而成的并行η比特数据。
【专利摘要】本发明公开了一种基于扩展汉明码的二维乘积码编码装置及编码方法。该编码装置包括:信息输入缓存模块、编码信息存储电路模块、子码编码逻辑电路模块、编码控制电路模块,子码编码逻辑电路模块包括:可重构行码编码运算电路和可重构列码编码运算电路。该装置通过采用寄存器组进行信息存储,再利用编码运算电路模块进行二维乘积编码,同时通过编码控制电路模块对每个时序进行控制使得行、列编码同步进行以及在编码信息输出的同时进行双重校验位的生成,大大降低了编码延时,提高编码电路的吞吐率。
【IPC分类】H03M13-29
【公开号】CN104601180
【申请号】CN201510073415
【发明人】张萌, 李保申, 李红, 郭仲亚, 黄成 , 田茜
【申请人】东南大学
【公开日】2015年5月6日
【申请日】2015年2月11日
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