专利名称：利用假模块实现光板测试的方法及其装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及光通讯技术领域，尤其是涉及一种利用假的光模块实现高速率光板测试的方法及其装置。
背景技术：
如图1所示，常规的光板测试方法是被测光板通过光纤和SDH(同步数字体系)测试仪相连，被测光板的收光口接SDH测试仪的发光口，被测光板的发光口接SDH测试仪的收光口，业务通过交叉板环回给被测光板，这样，用SDH测试仪可测试光板工作是否正常。
在SDH光传输系统中，低速率光板上的光模块比较便宜，生产时带有光模块，所以经常使用图1所示方法测试。但是，10Gbit/s速率的光板比较昂贵，主要是10Gbit/s速率的光模块(Transponder，即光收发器)比较昂贵，所以，在一般情况下光模块和光板上的其它部件(如单板)是分开制造的，当单板生产出来后，需要测试生产的单板是否正常，但是只有一个光模块可供测试使用，当采用如图1所示的常规测试方法时，需要经常把光模块卸下来装到被测试的单板上，这样做很容易损坏光模块，从而增加生产测试成本。
发明内容
本发明需要解决的技术问题是提供一种利用假模块实现光板测试的方法及其装置，采用本发明能在高速率光板测试过程中确保光模块不受损坏，从而降低生产测试成本。
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种利用假模块实现光板测试的方法，包括如下步骤(a)同步数字体系测试仪将业务通过光纤发送至带有光模块的正常光板；
(b)配置同步数字体系系统上的交叉板，将安装在交叉板上正常光板与被测光板进行收发的电信号交叉连接，从而使经正常光板转换后的业务交叉到带有假的光模块的被测光板上；(c)被测光板上的假的光模块将业务环回，经交叉板传送至正常光板上，经正常光板转换后通过光纤发送回同步数字体系测试仪，实现同步数字体系测试仪对被测光板的测试。
进一步地，本方法还具有如下特点所述假的光模块将被测光板的发送时钟端和接收时钟端相连、发送数据端与接收数据端相连、发送参考时钟端和发送端时钟端相连，并将接收端和发送端的错误锁定接口设置为无效，以实现业务环回。
进一步地，本方法还具有如下特点当检测到被测光板发生故障时，若被测光板上的电源指示灯不亮，说明被测光板上的电源工作不正常，否则说明假的光模块上设置的300针插座焊接存在问题。
为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种利用假模块实现光板测试的装置，包括有同步数字体系测试仪、带有光模块的正常光板、同步数字体系系统上的交叉板和带有假的光模块的被测光板，同步数字体系测试仪的发光口通过光纤与正常光板的收光口相连，同步数字体系测试仪的收光口通过光纤与正常光板的发光口相连；正常光板与被测光板安装在交叉板上，使得正常光板的业务能交叉到被测光板上；安装被测光板上的假的光模块是按照300针10Gbit/s光模块的多源协议设计的可实现业务环回的电路板。
进一步地，本装置还具有如下特点通过所述假的光模块，所述被测光板上的发送时钟端和接收时钟端相互连接，发送数据端与接收数据端相互连接，发送参考时钟端和发送端时钟端相互连接，接收端和发送端的错误锁定接口接入高电平。
进一步地，本装置还具有如下特点在所述被测光板上设置有母的300针插座，在假的光模块上设置有与母的300针插座相配合的公的300针插座。
本发明还提供了一种假的光模块，它按照300针10Gbit/s光模块的多源协议设计，可安装在被测光板上，并且将被测光板上的发送时钟端和接收时钟端相连、发送数据端与接收数据端相连、发送参考时钟端和发送端时钟端相连、接收端和发送端的错误锁定接口设置为无效。
与现有技术相比，本发明利用假模块实现光板测试的方法及其装置具有以下优点利用本发明对高速率光板进行测试时，只需要拆卸被测试光板上的假的光模块，或者在每个测试光板上均安装有假的光模块，而无需触碰价格昂贵的光模块，避免其受到损伤；由于假模块价格低廉，与现有技术相比，有效地降低生产测试成本。
图1是现有技术中常规的光板测试方法；图2是本发明利用假模块实现光板测试的方法及其装置的示意图；图3是本发明中所使用的假的光模块的设计示意图；图4是在被测光板上安装假的光模块的示意图。
具体实施例方式
为深入了解本发明，下面结合附图及具体实施例对本发明进行详细说明。
本发明中所使用的假的光模块是根据300PIN(300针)的10Gbit/s光模块的MSA(Multi-Source Agreement，多源协议)协议进行设计，为一块可实现业务环回的电路板，里面没有光器件，成本很低。
如图2所示，本发明中利用假模块实现光板测试的装置包括一个同步数字体系(以下简称为SDH)测试仪、一个带有光模块的正常光板，一个SDH系统上的交叉板和一个带有假的光模块的被测光板。由于假的光模块中不含光器件，不能跟SDH测试仪直接连接，所以需要一块带光模块的正常的光板。SDH测试仪通过光纤和正常光板的光口相连，正常光板的收光口接SDH测试仪的发光口，正常光板的发光口接SDH测试仪的收光口。正常光板与被测光板安装在交叉板上，配置交叉板使得正常光板的业务能交叉到被测光板上，即将安装在交叉板上正常光板与被测光板进行收发的电信号交叉连接。被测光板上带有本发明设计的假的光模块，业务通过交叉板交叉到被测光板上，假的光模块对业务进行环回，从而可以测试被测试的光板工作是否正常。
如图3所示假的光模块的设计示意图，在本实施例中，被测光板上的下游Framer(成帧器)采用美国朗讯公司的TSOT0410G芯片，根据该芯片的发送方向时钟及数据的时序图、接收方向时钟及数据的时序图，通过假的光模块，可以使得被测光板上的发送时钟端和接收时钟端相互连接、发送数据端与接收数据端相互连接，即把RXDOUT[15:0]P/N分别跟TXDIN[15:0]P/N相连，由于时钟需要反相，因此把RXPOCLKP与TXPICLKN相连、RXPOCLKN与TXPICLKP相连；使得被测光板的发送参考时钟端和发送端时钟端相互连接，即把TXREFCLKP/N与TXPCLKP/N相连；使得被测光板的接收端和发送端的错误锁定接口接入高电平，即把TXLOCKERR和RXLOCKERR接高电平VCC33，由于TXLOCKERR和RXLOCKERR是低电平有效，因此接高电平使之无效。如图4所示，假的光模块为一个电路板，其上设有公的300PIN插座，被测光板上设有与公的300PIN插座相配合的母的300PIN插座，把公的300PIN插座插进母的300PIN插座，实现假的光模块安装被测光板上，进而实现上述的各个连接，以至实现业务环回。
符合MSA协议标准的300PIN的10Gbit/s光模块里设置有+5V、+3.3V、-5V、+1.8V电源，可用指示灯指示这几种电源工作是否正常，如果灯亮表示电源正常，灯不亮就是该电源工作不正常，如果被测光板上的电源没有问题，可能就是300PIN的插座焊接存在问题。
本发明中利用假模块实现光板测试的方法包括如下步骤步骤一，SDH测试仪将业务通过光纤发送至带有光模块的正常光板；步骤二，正常光板接收业务，并将光信号转换为电信号；步骤三，配置交叉板，使得正常光板的业务能交叉到被测光板上，即将正常光板与被测光板进行收发的电信号交叉连接；步骤四，被测光板将接收到的电信号发送至假的光模块上；步骤五，假的光模块接收被测光板发送的电信号，并将该电信号转发至被测光板的发送端，实现业务环回；
步骤六，被测光板发送电信号经交叉板、正常光板返回SDH测试仪，完成SDH测试仪对被测光板的测试；其中，当检测到被测光板发生故障时，若被测光板上的电源指示灯不亮，说明被测光板上的电源工作不正常，否则说明假的光模块上设置的300针插座焊接存在问题。
本发明的关键是通过对300PIN的10G光模块的MSA协议的研究，设计一种假的光模块，把业务进行环回，通过如图2所示测试方法对光板进行测试，避免经常拆卸而导致非常昂贵的光模块损坏，是一种简单而有效的技术手段。
权利要求
1.一种利用假模块实现光板测试的方法，包括如下步骤(a)同步数字体系测试仪将业务通过光纤发送至带有光模块的正常光板；(b)配置同步数字体系系统上的交叉板，将安装在交叉板上正常光板与被测光板进行收发的电信号交叉连接，从而使经正常光板转换后的业务交叉到带有假的光模块的被测光板上；(c)被测光板上的假的光模块将业务环回，经交叉板传送至正常光板上，经正常光板转换后通过光纤发送回同步数字体系测试仪，实现同步数字体系测试仪对被测光板的测试。
2.根据权利要求1所述的利用假模块实现光板测试的方法，其特征在于所述假的光模块将被测光板的发送时钟端和接收时钟端相连、发送数据端与接收数据端相连、发送参考时钟端和发送端时钟端相连，并将接收端和发送端的错误锁定接口设置为无效，以实现业务环回。
3.根据权利要求2所述的利用假模块实现光板测试的方法，其特征在于当检测到被测光板发生故障时，若被测光板上的电源指示灯不亮，说明被测光板上的电源工作不正常，否则说明假的光模块上设置的300针插座焊接存在问题。
4.一种利用假模块实现光板测试的装置，包括有同步数字体系测试仪，其特征在于该装置还包括带有光模块的正常光板、同步数字体系系统上的交叉板和带有假的光模块的被测光板，同步数字体系测试仪的发光口通过光纤与正常光板的收光口相连，同步数字体系测试仪的收光口通过光纤与正常光板的发光口相连；正常光板与被测光板安装在交叉板上，使得正常光板的业务能交叉到被测光板上；安装被测光板上的假的光模块是按照300针10Gbit/s光模块的多源协议设计的可实现业务环回的电路板。
5.根据权利要求5所述的利用假模块实现光板测试的装置，其特征在于通过所述假的光模块，所述被测光板上的发送时钟端和接收时钟端相互连接，发送数据端与接收数据端相互连接，发送参考时钟端和发送端时钟端相互连接，接收端和发送端的错误锁定接口接入高电平。
6.根据权利要求6所述的利用假模块实现光板测试的装置，其特征在于在所述被测光板上设置有母的300针插座，在假的光模块上设置有与母的300针插座相配合的公的300针插座。
7.一种如权利要求1所述的假的光模块，其特征在于该假的光模块按照300针10Gbit/s光模块的多源协议设计，可安装在被测光板上，并且将被测光板上的发送时钟端和接收时钟端相连、发送数据端与接收数据端相连、发送参考时钟端和发送端时钟端相连、接收端和发送端的错误锁定接口设置为无效。
全文摘要
本发明公开了一种利用假模块实现光板测试的方法，包括如下步骤同步数字体系测试仪将业务通过光纤发送至带有光模块的正常光板；配置同步数字体系的交叉板，将经正常光板转换后的业务交叉到带有假的光模块的被测光板上；被测光板上的假的光模块将业务环回，经交叉板传送至正常光板上，经正常光板转换后通过光纤发送回同步数字体系测试仪，实现同步数字体系测试仪对被测光板进行测试。本发明还公开一种利用假模块实现光板测试的装置及其假的光模块。采用本发明能在高速率光板测试过程中确保光模块不受损坏，从而降低生产测试成本。
文档编号H04L12/26GK1838619SQ20051005648
公开日2006年9月27日 申请日期2005年3月24日 优先权日2005年3月24日
发明者包松清 申请人:中兴通讯股份有限公司