专利名称：高传输损耗头戴式受话器缓冲垫的制作方法
技术领域：
本发明涉及增加头戴式受话器缓冲垫的机械或者声学阻抗以减少外界声音的可听度而不明显增加缓冲垫的轴向刚度。
背景技术：
作为背景技术，参照通过引用将全部内容结合于此的第4，922，452号和第 6，597，792号共有美国专利。
发明内容
在第一方面中，一种头戴式受话器包括耳机，具有适于与用户的耳朵相邻的前开口 ；隔板，设置于耳机内以限定前腔和后腔；缓冲垫，在耳机的前开口的外围周围延伸并且构造和布置成容纳用户的耳朵，缓冲垫具有第一密度、内径向部分以及与该内径向部分相对的外径向部分；缓冲垫盖，基本上包围缓冲垫以形成头戴式受话器缓冲垫组件；以及高阻抗部件，具有第二密度并且与外径向部分邻近设置以增加缓冲垫沿着径向方向的传输损
^^ ο在各种实施方式中，头戴式受话器可以包括耳机内部的变换器。第二密度可以明显高于第一密度。在某些实施方式中，高阻抗部件插入于缓冲垫的外径向部分与缓冲垫盖之间。在其他实施方式中，高阻抗部件插入于缓冲垫的内径向部分与缓冲垫盖之间。在某些实施方式中，高阻抗部件与缓冲垫盖相邻设置。在某些实施方式中，高阻抗部件包括基本上刚性的环。在更多实施方式中，高阻抗部件包括胶体环、例如凝胶层。在某些实施方式中， 高阻抗部件包括聚安酯泡沫。在某些实施方式中，缓冲垫盖包括多个开口，沿着缓冲垫的内径向部分延伸，以在声学上向耳机的体积添加缓冲垫的体积并且增强头戴式受话器的无源衰减。在某些实施方式中，缓冲垫盖包括沿着缓冲垫的内径向部分的声学透明网，以在声学上向耳机的体积添加缓冲垫的体积并且增强头戴式受话器的无源衰减。在某些具体实施方式
中，缓冲垫的外径向部分具有大于约0. 03g/cm2的平均面积密度，而头戴式受话器缓冲垫组件具有少于约8gf/mm/cm2的每接触面积的轴向刚度。在某些实施方式中，头戴式受话器缓冲垫组件具有少于约4gf/mm/Cm2的每接触面积的轴向刚度。头戴式受话器缓冲垫组件可以基本上为环形形状，例如护耳式或者耳上式。在某些实施方式中，头戴式受话器还包括麦克风，在耳机内部与驱动器相邻；以及有源降噪电路，将麦克风与驱动器相互耦合，构造和布置成提供有源去噪。在某些实施方式中，缓冲垫盖的内径向部分被构造和布置成供应额外阻尼以帮助平滑在用户的耳朵的音频响应并且在头戴式受话器未佩戴于用户的头部上时控制稳定性。在某些实施方式中，缓冲垫盖包括多个开口，从而在声学上向耳机的体积添加缓冲垫的体积。在某些具体实施方式
中，缓冲垫粘附于缓冲垫盖而剥离强度大于约0. lgf/mm，而在其他实施方式中，泡沫粘附于缓冲垫盖而剥离强度大于约0.4gf/mm。在某些实施方式中，缓冲垫包括开孔泡沫并且具有在约 2pcf与约6pcf之间的体密度，并且可以具有在约IkPa与约IOkPa之间的弹性模量或者在约2kPa与约5kPa之间的弹性模量。在某些实施方式中，高阻抗部件包括有机硅材料。在第二方面中，一种用于阻隔声音的装置包括耳机，具有适于与用户的耳朵相邻的前开口 ；以及头戴式受话器缓冲垫组件，在耳机的前开口的外围周围延伸，缓冲垫组件具有内径向部分以及与内径向部分相对的外径向部分，并且头戴式受话器缓冲垫组件的每接触面积的径向刚度与轴向刚度之比大于约10cm2。在某些实施方式中，加强部件附接到头戴式受话器缓冲垫组件的外径向部分。在更多其他实施方式中，加强部件附接到头戴式受话器缓冲垫组件的外径向部分。在各种实施方式中，加强部件包括基本上刚性的支撑环和/ 或凝胶层。在某些实施方式中，头戴式受话器缓冲垫组件可以是基本上环形形状。在另一方面中，一种头戴式受话器缓冲垫组件包括缓冲垫，包括开孔泡沫并且适于与用户的耳朵相邻；内缓冲垫盖，基本上覆盖缓冲垫的与用户的耳朵邻近的内部分，内缓冲垫盖包括多个开口 ；以及外缓冲垫盖，基本上覆盖缓冲垫的与用户的耳朵较远的外部分， 外缓冲垫盖包括平均面积密度少于约0. 03g/cm2的第一层和附接到该第一层的第二层，第二层具有大于约0. 045g/cm2的平均面积密度。
图1是头部上的头戴式受话器组件的示意图。图2A是包括加强部件的头戴式受话器缓冲垫的一个实施方式的透视图，而图2B 是头戴式受话器缓冲垫的一个实施方式的平面图。图3是包括加强环的头戴式受话器缓冲垫的截面图。图4是包括高密度层的头戴式受话器缓冲垫的截面图。图5是包括高密度层的外盖的示意图。图6是耳机组件的截面图。图7是如在测试固定装置上测量的经过包括加强环的头戴式受话器组件的声音衰减曲线图。图8是如在头部上测量的经过包括加强环的头戴式受话器组件的声音衰减曲线图。图9是如在测试固定装置上测量的经过包括高密度层的头戴式受话器组件的声音衰减曲线图。图10是如在头部上测量的经过包括高密度层的头戴式受话器组件的声音衰减曲线图。图11是用于测量轴向刚度的测试方法的截面图。图12是用于测量径向刚度的测试方法的截面图。图13是用于测量剥离强度的测试方法的截面图。图14是包括有源降噪电路的耳机组件的截面图。
具体实施例方式参照图1，示出了用户在具有耳朵104的人类头部102上佩戴的头戴式受话器组件 100的一个实施方式的示意图。头戴式受话器组件100包括悬挂组件106、变换器组件108、 加强部件110、头戴式受话器缓冲垫112、音频开口 114和盖116。示出了头戴式受话器组件100覆盖并且基本上包围耳朵104，因而称之为护耳式头戴式受话器。备选地，头戴式受话器组件100可以是一副耳朵上(耳上式)头戴式受话器。加强部件110适于增加缓冲垫的外盖的阻抗，因此减少经过头戴式受话器组件100的声音传输，由此为头戴式受话器收听者提高与外界噪声的隔离。在某些实施方式中，加强部件并未明显改变缓冲垫的轴向刚度以免影响头戴式受话器组件给用户的舒适度。通过组合变换器组件108、头戴式受话器缓冲垫112和盖116来形成耳机组件。可选地，可以在耳机组件中包括加强部件110。耳机组件可以具有基本上环形形状以套在耳朵104上。加强部件110可以成形为如下支撑环的形式，该支撑环围绕头戴式受话器缓冲垫 112。盖116可以在头戴式受话器缓冲垫112的外部分之上延伸。盖116可以在头戴式受话器缓冲垫112的内部分之上延伸。内腔118由变换器组件108、头戴式受话器缓冲垫112 和头部102形成。头戴式受话器缓冲垫112可以由开孔泡沫构造。如果头戴式受话器缓冲垫112由开孔泡沫构造，则音频开口 114允许头戴式受话器缓冲垫112的体积与内部体积 118组合。该组合体积可用于调节头戴式受话器组件100的音频特性。音频开口 114被构造和布置成供应额外阻尼以帮助平滑头戴式受话器组件100的音频响应并且在未佩戴头戴式受话器组件100时控制稳定性。为了描述使用音频开口和组合体积来调节，参照美国专利 4，922，542 和 6，597，792。将泡沫的体密度定义为泡沫在其膨胀状态中的密度。在某些实施方式中，头戴式受话器缓冲垫112可以具有约2至约6英镑-质量每立方英尺(pcf)的体密度。在一个实现中，头戴式受话器缓冲垫112包括具有体密度约为5pcf的泡沫。在某些实施方式中，头戴式受话器缓冲垫112包括具有弹性模量在1与10千帕斯卡(kPa)之间的泡沫。在一个实现中，头戴式受话器缓冲垫112包括具有弹性模量在约2与约之间的泡沫。高刚度泡沫可用于减少经过头戴式受话器缓冲垫112的声音传输。然而，太硬的泡沫可能减少头戴式受话器的舒适度。参照图2A和图2B，在一个实施方式中，头戴式受话器缓冲垫组件200包括垫圈 202、内盖204、外盖206、加强环208和前表面210。描绘了用于仅一只耳朵的头戴式受话器缓冲垫组件，但是本领域普通技术人员理解在一副头戴式受话器中包括用于两只耳朵的头戴式受话器缓冲垫组件。前表面210在使用头戴式受话器之时与收听者的头部相抵配合。垫圈202配合于头戴式受话器缓冲垫组件200与变换器组件108之间以在接口实现密封。内盖204和外盖206在某些实施方式中可以是一个连续材料件。内盖204和外盖206 可以由塑料、皮革、人造革或者皮革式塑料(也称为塑料皮革)材料制成。在图2A中，加强环208附接于外盖206的外侧。备选地，加强环208可以附接于外盖206的内侧。头戴式受话器缓冲垫组件200可以具有基本上环形形状以配合人耳的形状。在某些实施方式中， 头戴式受话器缓冲垫组件200还包括多个开口 212(图2B)，这些开口沿着内盖204设置成暴露下层泡沫并且由此用下层泡沫的体积来增加耳机的有效体积。在这些实施方式中，如在第6，597，792号共有美国专利中更完全说明的那样，增强无源衰减并且提供额外阻尼以帮助平滑音频响应并且控制有源降噪系统的反馈回路的稳定性。参照图3，示出了头戴式受话器缓冲垫组件的另一实施方式的截面图。在图3中， 头戴式受话器衬垫组件300包括开口 302、垫圈304、外盖306、内盖308、加强环310、头戴式受话器缓冲垫312和前表面314。在该实施方式中，加强环310附接于外盖306的内侧。
通过在沿着头戴式受话器缓冲垫组件300的环形形状的半径的方向上压缩头戴式受话器缓冲垫组件300的一侧并且测量为了将头戴式受话器缓冲垫组件300压缩已知距离而必需的力来测量头戴式受话器缓冲垫组件300的径向刚度。通过将力除以压缩距离来计算刚度。类似地，在沿着环形形状的轴的方向上计算轴向刚度。径向方向垂直于轴向方向。为了实现高衰减的同时具有良好的舒适度，每接触面积的径向刚度与轴向刚度之比应当大于10cm2。参照图4，示出了头戴式受话器缓冲垫组件的另一实施方式的截面图。为了增加外缓冲垫盖的机械阻抗，高密度层400附接于外盖306的内侧。外盖306形成第一层。高密度层400形成第二层。在一个实施方式中，外盖306具有少于0. 03g/cm2的平均面积密度， 而高密度层400具有大于0. 045g/cm2的平均面积密度。高密度层可以是高顺应、块状和耗散材料。高密度层可以是硅凝胶。可以可选地仅向外盖306的外侧或者向外盖306的内侧和外侧均涂敷高密度层。参照图5，示出了在头戴式受话器缓冲垫盖展开于头戴式受话器缓冲垫周围之前的头戴式受话器缓冲垫盖。在该情况下，头戴式受话器缓冲垫盖是表示为盖500的布或者类似材料的平坦件。示出了高密度层400附接于盖500。将平均面积密度定义为在图5中所示区域之上平均的每单位面积的质量。例如，盖500的平均面积密度是盖500的总质量除以如图5中所示盖500的面积。高密度层400的平均面积密度是高密度层400的总质量除以如图5中所示层400的面积。参照图6，示出了在顶板630与底板640之间按压的头戴式受话器缓冲垫组件的截面图。如散列标记650所示，底板640是不可移动的。盖600覆盖缓冲垫670。盖600的外部分680在头戴式受话器缓冲垫组件的外侧并且从盖600与顶板630之间的接触点向盖 600与底板640之间的接触点延伸。缓冲垫600的内部分690在头戴式受话器缓冲垫组件的内侧并且从盖600与顶板630之间的接触点向盖600与底板640之间的接触点延伸。在盖600中还示出了音频开口 660。在一个实施方式中，头戴式受话器组件在盖的如下部分中具有音频开口，该部分在头戴式受话器缓冲垫的内表面之上延伸。音频开口工作用于在声学上向内部体积118添加头戴式受话器缓冲垫112的体积，这增强无源衰减。音频开口为盖的内表面的总表面积的近似30%。内腔的近似体积为lOOcc，头戴式受话器组件的一半质量为95g，而头戴式受话器缓冲垫的刚度为IOOg力/mm。头戴式受话器缓冲垫中的开孔泡沫的近似体积为40cc， 因而内腔与头戴式受话器缓冲垫的组合体积为140cc。在头戴式受话器的轴向振动模式的共振以上的频率可能存在经过缓冲垫的径向传输的第二模式——尤其在具有音频开口的低阻抗缓冲垫中。通过添加加强环来增加径向刚度或者通过涂敷硅凝胶来增加质量和阻尼可以提高缓冲垫对外界噪声的衰减。增加的缓冲垫盖刚度、质量和阻尼一般与更高的衰减相关。轴向刚度会影响头戴式受话器的舒适度。 希望轴向刚度低以提高舒适度。对于无加强环的头戴式受话器缓冲垫组件，轴向刚度近似为80gf/mm。对于有加强环的相同头戴式受话器缓冲垫组件，轴向刚度近似为100gf/mm。加强环比轴向刚度更多地增加径向刚度。该刚度差产生既有优良舒适度又有外界噪声高衰减的头戴式受话器。参照图7，示出了在头戴式受话器组件装配于测试固定装置上之时经过头戴式受话器组件的一个实施方式的测量声音衰减(以dB为单位)比对频率(以赫兹为单位)的曲线图。有别于人类头部，测试固定装置是平坦的，从而它没有在头戴式受话器缓冲垫与测试固定装置之间的泄漏。同样，固定装置与人类测试对象的顺应得多的表面(皮肤)相比为刚性的。图7中的曲线形状依赖于受测试的头戴式受话器组件的物理尺度和材料性质。曲线700示出了经过如下头戴式受话器组件的声音衰减，该组件具有在头戴式受话器缓冲垫之上的外盖而无内盖。曲线702示出了经过如下头戴式受话器组件的声音衰减，该组件具有在头戴式受话器缓冲垫之上的外盖和内盖。曲线704示出了经过如下头戴式受话器组件的声音衰减，该组件具有在头戴式受话器缓冲垫之上的外盖、在内盖中的孔(或者无内盖) 和附接于外盖外侧的加强环。曲线704示出了在近似500Hz以上从加强环获得的高衰减益处。具有加强环和在内盖中的孔的头戴式受话器的衰减近似等于来自具有内盖和外盖的头戴式受话器组件的衰减。使用内盖中的孔和加强环而不是内盖和外盖的优点在于头戴式受话器缓冲垫的体积可以用来帮助调节头戴式受话器的音频特性。由于可以利用缓冲垫所封装的体积，所以头戴式受话器组件可以制作得更小而仍然实现与在内盖中没有孔的更大一副头戴式受话器类似的性能。参照图8，示出了在头戴式受话器组件装配于人类头部上之时经过头戴式受话器组件的一个实施方式的测量声音衰减(以dB为单位)比对频率(以赫兹为单位)的曲线图。图8中的曲线代表从多个个人头部平均的数据。该副头戴式受话器未理想地配合于各头部上，因而在该副头戴式受话器与头部之间出现泄漏。图8中所示曲线的形状依赖于头部的物理尺度以及受测试的该副头戴式受话器的物理尺度和材料性质。曲线800示出了经过如下一副头戴式受话器的声音衰减，该副头戴式受话器具有在头戴式受话器缓冲垫之上的外盖而无内盖。曲线802示出了经过如下一副头戴式受话器的声音衰减，该副头戴式受话器具有在头戴式受话器缓冲垫之上的外盖和内盖。曲线804示出了经过如下头戴式受话器组件的声音衰减，该组件具有在头戴式受话器缓冲垫之上的外盖、在内盖中的孔(或者无内盖)和附接于外盖外侧的加强环。曲线804示出了在近似500Hz以上从加强环获得的高衰减益处。参照图9，示出了在头戴式受话器组件装配于测试固定装置上之时经过头戴式受话器组件的一个实施方式的测量声音衰减(以dB为单位)比对频率(以赫兹为单位)的曲线图。图9中所示曲线的形状依赖于受测试的头戴式受话器组件的物理尺度和材料性质。 曲线900示出了经过如下头戴式受话器组件的声音衰减，该组件具有在头戴式受话器缓冲垫之上的外盖而无内盖。曲线902示出了经过如下头戴式受话器组件的声音衰减，该组件具有在头戴式受话器缓冲垫之上的外盖和内盖。曲线904示出了经过如下头戴式受话器组件的声音衰减，该组件具有在头戴式受话器缓冲垫之上的外盖、在内盖中的孔(或者无内盖)和附接于外盖内侧的高密度层。曲线904示出了在近似500Hz以上从高密度层获得的高衰减益处。具有高密度层和在内盖中的孔的头戴式受话器的衰减近似等于来自具有内盖和外盖的头戴式受话器组件的衰减。参照图10，示出了在头戴式受话器组件装配于人类头部上之时经过头戴式受话器组件的一个实施方式的测量声音衰减(以dB为单位)比对频率(以赫兹为单位)的曲线图。图10中的曲线代表从多个个人头部平均的数据。图10中所示曲线的形状依赖于头部的物理尺度以及受测试的该副头戴式受话器的物理尺度和材料性质。曲线1000示出了经过如下一副头戴式受话器的声音衰减，该副头戴式受话器具有在头戴式受话器缓冲垫之上的外盖而无内盖。曲线1002示出了经过如下一副头戴式受话器的声音衰减，该副头戴式受话器具有在头戴式受话器缓冲垫之上的外盖和内盖。曲线1004示出了经过如下头戴式受话器组件的声音衰减，该组件具有在头戴式受话器缓冲垫之上的外盖、在内盖中的孔(或者无内盖)和附接于外盖内侧的高密度层。曲线1004示出了在近似500Hz以上从高密度层获得的高衰减益处。参照图11，示出了轴向刚度测试方法的截面图。向可移动板1110施加推动顶板 1120的力1100。如散列标记1140所示，底板1130保持不可移动。头戴式受话器缓冲垫组件1180包括缓冲垫1150、盖1160和附接板1170。在轴向刚度测试期间在顶板1120与底板 1130之间按压头戴式受话器缓冲垫组件1180。距离1195是在顶板1120与底板1130之间的距离。在盖1160中也示出了音频开口 1190。轴向刚度测试过程的步骤如下。将头戴式受话器的标称夹力(针对中等尺寸来调节)确定为耳朵缓冲垫向外表面隔开138mm的平行板施加的力。在顶板1120与底板1130之间放置头戴式受话器缓冲垫组件1180。在与顶板 1120垂直的方向上向顶板1120施加系列已知力1100。力1100的范围应当包括对应头戴式受话器的标称夹力。记录所得距离1195和力1100。将头戴式受话器缓冲垫组件的轴向刚度计算为在对应头戴式受话器的标称夹力、以gf/mm为单位、力1100作为距离1195的函数的斜率。将头戴式受话器缓冲垫组件的接触面积确定为在施加对应头戴式受话器的标称夹力作为力1100时与底板1130接触的盖1160的总面积。将每接触面积的轴向刚度计算为以gf/mm/cm2为单位的、轴向刚度除以缓冲垫的接触面积。应当在少于或者等于IOOgf/ min时施加力1100。备选地，如果在测量力1100和距离1195之前允许两分钟的稳定时间， 则可以迅速施加力1100。参照图12，示出了径向刚度测试方法的截面图。如散列标记1240所示，顶板1220 和底板1230保持不可移动。头戴式受话器缓冲垫组件1280包括缓冲垫1250、盖1260和附接板1270。顶板1220和底板1230具有粘性表面以在顶板1220与底板1230之间保持头戴式受话器缓冲垫组件1280就位。距离1295是在顶板1220与底板1230之间的距离。 压头1297在径向方向上推动头戴式受话器缓冲垫组件。压头1297是直径为3mm的刚性圆柱体。所得力1200回推压头1297。在盖1260中也示出了音频开口 1四0。在进行径向测试过程之前，必须确定距离1295。使用图11中的测试设置，将力1100设置成150gf并且测量所得距离1195。将图12中的距离1295设置成等于在力1100等于150gf时来自图11 中的测试设置的所得距离1195。径向刚度测试过程的步骤如下。在顶板1220与底板1230 之间夹住头戴式受话器缓冲垫组件1观0。将压头1297的轴定位于缓冲垫1250的中心平面中，并且在从与板1220和1230垂直的方向查看时沿着与盖1260的外表面的曲面垂直的方向。向头戴式受话器缓冲垫组件1280中将压头1297推动3. 8mm(从初始接触位置起)。在 2分钟的稳定时间之后，记录压头1297上的所得力1200。将头戴式受话器缓冲垫组件的径向刚度计算为以gf/mm为单位的、所得力1200除以3. 8mm压入距离。参照图13，示出了剥离强度测试方法的截面图。施加力1300以从泡沫样本1320 向上拉盖样本1310。如散列标记1340所示，泡沫样本1320被装配到保持不可移动的板 1330。盖样本1310是宽度大于IOOmm而长度大于150mm的来自头戴式受话器缓冲垫组件的矩形外盖材料件。泡沫样本1320是宽度和长度大于盖样本1310的来自头戴式受话器缓冲垫组件的矩形泡沫件。在泡沫样本1320之上放置盖样本1310，从而盖1310的内表面接触泡沫样本1320。然后向泡沫样本1320上的盖样本1310均勻施加IOkPa的力持续2分钟以允许盖样本1310粘附于泡沫样本1320。剥离强度测试过程的步骤如下。使用分辨率至少为0. OlN的测压元件以测量力1300、在与泡沫样本1320垂直的方向上在60mm/min的速率从泡沫样本1320剥离盖样本1310。根据一种测试协议，可以剥离盖样本1310，从而在盖样本1310与泡沫样本1320之间的角度保持于垂直(在10°范围内)。将平均力1300记录为在剥离距离IOOmm上测量的平均力。剥离方向应当垂直于重力方向。将剥离强度计算为以gf/mm为单位的、平均力1300除以盖样本1310的宽度。参照图14，示出了具有降噪电路的耳机组件的截面图。参照通过引用将全部内容结合于此的美国专利6，597，792。驱动器1400安放于耳机1410中而驱动器板1420从耳机1410的唇部1430向脊部1440向后延伸而麦克风1450与驱动器1400接近相邻并且由线网电阻盖1460覆盖。缓冲垫1470覆盖耳机1410的前开口并且包括泡沫1480。其他实施方式也在所附权利要求书的范围内。
权利要求
1.一种头戴式受话器，包括耳机，具有适于与用户的耳朵相邻的前开口 ；隔板，设置于所述耳机内以限定前腔和后腔；缓冲垫，在所述耳机的所述前开口的外围周围延伸，并且构造和布置成容纳用户的耳朵，所述缓冲垫具有第一密度、内径向部分以及与所述内径向部分相对的外径向部分；缓冲垫盖，基本上包围所述缓冲垫以形成头戴式受话器缓冲垫组件；以及高阻抗部件，具有第二密度并且与所述外径向部分邻近设置以增加所述缓冲垫沿着径向方向的传输损耗。
2.根据权利要求1所述的头戴式受话器，还包括所述耳机内部的变换器。
3.根据权利要求1所述的头戴式受话器，其中所述第二密度明显高于所述第一密度。
4.根据权利要求1所述的头戴式受话器，其中所述高阻抗部件插入于所述缓冲垫的所述外径向部分与所述缓冲垫盖之间。
5.根据权利要求1所述的头戴式受话器，其中所述高阻抗部件插入于所述缓冲垫的所述内径向部分与所述缓冲垫盖之间。
6.根据权利要求1所述的头戴式受话器，其中所述高阻抗部件与所述缓冲垫盖相邻设置。
7.根据权利要求1所述的头戴式受话器，其中所述高阻抗部件包括基本上刚性的环。
8.根据权利要求1所述的头戴式受话器，其中所述高阻抗部件包括胶体环。
9.根据权利要求8所述的头戴式受话器，其中所述高阻抗部件包括凝胶层。
10.根据权利要求1所述的头戴式受话器，其中所述高阻抗部件包括聚安酯泡沫。
11.根据权利要求1至10中的任一权利要求所述的头戴式受话器，其中所述缓冲垫盖包括多个开口，沿着所述缓冲垫的所述内径向部分延伸以在声学上向所述耳机的体积添加所述缓冲垫的体积并且增强所述头戴式受话器的无源衰减。
12.根据权利要求1至10中的任一权利要求所述的头戴式受话器，其中所述缓冲垫盖包括沿着所述缓冲垫的所述内径向部分的声学透明网以在声学上向所述耳机的体积添加所述缓冲垫的体积并且增强所述头戴式受话器的无源衰减。
13.根据权利要求1至10中的任一权利要求所述的头戴式受话器，其中所述缓冲垫的所述外径向部分具有大于约0. 03g/cm2的平均面积密度，而所述头戴式受话器缓冲垫组件具有少于约Sgf/mm/cm2的每接触面积的轴向刚度。
14.根据权利要求1至10中的任一权利要求所述的头戴式受话器，其中所述头戴式受话器缓冲垫组件具有少于约4gf/mm/Cm2的每接触面积的轴向刚度。
15.根据权利要求1至10中的任一权利要求所述的头戴式受话器，其中所述头戴式受话器缓冲垫包括基本上环形形状。
16.根据权利要求1至10中的任一权利要求所述的头戴式受话器，其中所述头戴式受话器缓冲垫组件为护耳式。
17.根据权利要求1至10中的任一权利要求所述的头戴式受话器，其中所述头戴式受话器缓冲垫组件为耳上式。
18.根据权利要求1至10中的任一权利要求所述的头戴式受话器，还包括麦克风，在所述耳机内部与驱动器相邻；以及有源降噪电路，将所述麦克风与所述驱动器相互耦合，构造和布置成提供有源去噪。
19.根据权利要求18所述的头戴式受话器，其中所述缓冲垫盖的所述内径向部分被构造和布置成供应额外阻尼以帮助平滑在用户的耳朵的音频响应，并且在所述头戴式受话器未佩戴于用户的头部上时控制稳定性。
20.根据权利要求19所述的装置，其中所述缓冲垫盖包括多个开口，从而在声学上向所述耳机的体积添加所述缓冲垫的体积。
21.根据权利要求19所述的装置，其中所述缓冲垫粘附于所述缓冲垫盖而剥离强度大于约 0. lgf/mm。
22.根据权利要求19所述的装置，其中所述缓冲垫粘附于所述缓冲垫盖而剥离强度大于约 0. 4gf/mm。
23.根据权利要求19所述的装置，其中所述缓冲垫包括开孔泡沫。
24.根据权利要求19所述的装置，其中所述缓冲垫具有在约2pcf与约6pcf之间的体也/又。
25.根据权利要求19所述的装置，其中所述缓冲垫具有在约lltfa与约IOltfa之间的弹性模量。
26.根据权利要求19所述的装置，其中所述缓冲垫具有在约2kPa与约5kPa之间的弹性模量。
27.根据权利要求1至10中的任一权利要求所述的装置，其中所述高阻抗部件包括有机硅材料。
28.一种用于阻隔声音的装置，所述装置包括 耳机，具有适于与用户的耳朵相邻的前开口 ；以及头戴式受话器缓冲垫组件，在所述耳机的所述前开口的外围周围延伸，所述缓冲垫组件具有内径向部分以及与所述内径向部分相对的外径向部分；其中所述头戴式受话器缓冲垫组件的每接触面积的径向刚度与轴向刚度之比大于约 10cm2。
29.根据权利要求28所述的装置，其中所述头戴式受话器缓冲垫组件包括基本上环形形状。
30.根据权利要求观或者四所述的装置，还包括加强部件，附接到所述头戴式受话器缓冲垫组件的所述外径向部分。
31.根据权利要求30所述的装置，其中所述加强部件包括基本上刚性的支撑环。
32.根据权利要求30所述的装置，其中所述加强部件包括凝胶层。
33.一种头戴式受话器缓冲垫组件，包括缓冲垫，包括开孔泡沫并且适于与用户的耳朵相邻；内缓冲垫盖，基本上覆盖所述缓冲垫的与用户的耳朵邻近的内部分；所述内缓冲垫盖包括多个开口，以及外缓冲垫盖，基本上覆盖所述缓冲垫的与用户的耳朵较远的外部分，所述外缓冲垫盖包括具有平均面积密度少于约0. 03g/cm2的第一层和附接到所述第一层的第二层，所述第二层具有大于约0. 045g/cm2的平均面积密度。
全文摘要
一种头戴式受话器包括耳机，具有适于与用户的耳朵相邻的前开口；隔板，设置于耳机内以限定前腔和后腔；缓冲垫，在耳机的前开口的外围周围延伸并且构造和布置成容纳用户的耳朵，缓冲垫具有第一密度、内径向部分以及与该内径向部分相对的外径向部分；缓冲垫盖，基本上包围缓冲垫以形成头戴式受话器缓冲垫组件；以及高阻抗部件，具有第二密度并且位于外径向部分附近以增加缓冲垫沿着径向方向的传输损耗。
文档编号H04R1/10GK102224742SQ200980146534
公开日2011年10月19日 申请日期2009年11月25日 优先权日2008年11月26日
发明者I·M·科利尔, J·哈洛, K·P·阿农齐亚托, R·萨皮杰维斯基 申请人:伯斯有限公司