专利名称：用于生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的设备和方法
用于生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的
设备和方法
背景技术：
在高速串行系统(HHS)中，接收器(receiver)的一个性能测量是比特误差率或误码率。接收器的比特误差率性能将取决于接收信号中的总抖动，该接收信号中的总抖动是确定性抖动和随机抖动二者的结合。抖动对HSS系统中的比特误差率具有显著的影响，超过每秒吉比特比率。一般地，HHS系统中的发射器(transmitter)输出经由缆线(cable)和底板耦合至接收器的微分信号。微分信号被耦合至均衡器，该均衡器包括比较器，该比较器将微分信号转换成单端(single-ended)信号。单端信号被耦合至时钟恢复电路，该时钟恢复电路基于引入的波形逻辑过渡(transition)的定时制作数据率时钟信号。结果得到的时钟包括在数据上的低频抖动。恢复的时钟设置充当高通抖动滤波器的判定电路的定时。确定性抖动具有相关分量(比如符号间干扰(ISI)、占空比失真(DCD)等)或者不相关分量(比如正弦抖动、某些形式的串扰等)。信号的确定性抖动容易由峰到峰值表征。符号间干扰引起抖动和电压噪声二者，该抖动和电压噪声在垂直和水平两个方向上引起眼闭(eye closure) 0在数据率的有理分数(rational fraction)处出现符号间干扰， 并且具有取决于传输路径的损耗特性的振幅。若干个标准(例如SATA、SAS、DisplayP0rt、 RapidI0、USB3. 0)需要正弦抖动将依据如图1中示出的模板而被应用。为了探查时钟恢复频率响应，在时钟恢复带宽之下和部分单位间隔之上应用多单位间隔(UI)振幅正弦抖动。另一方面，信号的随机抖动可以仅由其统计特性表征，像其概率密度函数(PDF)、 平均值和标准偏差。设计者利用随机抖动的标准偏差(西格马，sigma)，并且将它与确定性抖动组合以便获得信号的总抖动，从而验证系统抖动预算。根据随机抖动的PDF曲线上的采样点位置的比特误差率可被表述为从平均值(from mean)的西格马的倍数(the number of) (No )(其中N是实数)。在这里，比特误差率被看作比特误差概率的近似估计。该方法可以演化(evolve)用于为给定的比特误差率估计抖动预算的理论模型。但是为了在试验上进行验证，这需要具有给定抖动分量的信号的生成和评估比特误差率。典型地对于高斯 PDF，在从平均值的14倍西格马处将出现10_12的比特误差率。在这里，平均值是最坏情况的确定性抖动值。这在具有非常低的概率的PDF的尾端处出现。因此利用真实世界随机抖动，该事件将在非常长的时间之后出现。因此为了实际测量预期的比特误差率，不得不等待长的时间。图2是根据对于6(ib/S串行ATA Gen-3应力信号的采样点时间延迟位置，针对比特误差率(BER)的抖动概率密度函数(槽形图表(bathtub polt))的累积分布函数。通过在由随机抖动引起的长平滑尾部(tail)之后的确定性抖动指示的高概率处的(inward) 位移产生槽形曲线的结构。通过两条曲线之间的距离给出不同比特误差率处的眼开 (eye-opening)，并且通过标称比特周期(bit period)减去比特误差率处的眼开给出总抖动(TJ)。最重要的测试是在图2的虚线之上的高概率区域中，在这里，高概率低振幅随机抖动和有界的高概率抖动(也就是确定性抖动)占优势。高概率处的确定性抖动的影响、图2中大于10_3的比特误差率、以及通常针对大于10_5的比特误差率产生曲线中的大部分结构。例如，在刚刚大于正弦抖动振幅的时间延迟处，比特误差率将经历快速下降。应当在对应于最大的符号间干扰变化的时间延迟处预期比特误差率的类似突然下降。全部该结构都会在虚线之上的区域中出现。在更低的概率处，在虚线以下(小于10_6的比特误差率)， 无界的低概率随机抖动波动将它们的可预测不动摇平滑衰减给予曲线。在图2中等于10_12的比特误差率处的两个点10和12之间的距离给出最大顺应 (compliant)接收器灵敏度。也就是，理想的接收器将具有由两个点10和12之间的距离给出的抖动裕度(margin)，并且以大大小于10_12的比特误差率操作。如果接收器的判定电路中的设置和保持时间精确地是点10和12之间的距离，则接收器不具有裕度，并将以等于 10_12的比特误差率操作。如果设置和保持时间大于两个点10和12之间的距离，则接收器将以大于10_12的比特误差率操作，并且测试失败。接收器顺应测试需要能够生成具有足以探查技术标准的比特误差率需要的波峰因数的信号的信号发生器；10_12的比特误差率需要随机抖动分布中的14 σ扩展(spread)， 等同于7或大约8. 5dB的波峰因数。顺应需要小于10_12的比特误差率在具有合适的置信度的正弦抖动模板的至少两个频率-振幅点上被验证，通常95%的置信度等级上限是令人满意的。忽略顺应(pattern) 中的某些逻辑过渡应用比其他更大的应力并且没有误差出现的事实，对于正弦抖动模板中的每一个点需要3X1012比特采样。随机测试需要数据的大量统计学采样，以便获得精确的置信度等级。为了获得足够的统计学采样以便测试接收器，一直向下至10_12的槽形曲线(all the way down the bathtub curve to 10_12)需要许多分钟；对于至10_15的槽形曲线，需要许多天；并且对于至
年)的槽形曲线，需要许多年。在多个(ib/s数据率处链路的成功操作需要特别高质量的传输路径或能够容忍串扰、抖动以及振幅噪声的接收器体系结构。关于最后十年的通信和计算机标准(比如PCI Express, Serial ATA和10(ΛΕ)格外需要接收器包括允许它们容忍损伤的部件。时钟数据恢复和等效电路允许接收器适应信号，所述信号可以被这样失真(distort)，以至于它们不能被识别为数字信号。“接收器容忍度测试”探查接收器利用降级(degraded)的输入信号进行工作的能力。该想法使得接收器受到明确定义的最坏情况信号的支配，并且需要它以指定的比特误差率(BER)操作，通常为10_12或更低。
发明内容
本发明是一种生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的信号生成装置和方法。该信号生成装置具有显示器、中央处理单元和波形发生电路。中央处理单元在显示器上生成用户界面，其用于为串行数据模式设置参数和为确定性和随机抖动损伤 (impairment)以及将被应用于该串行数据模式的至少一个位移波峰因数仿真损伤设置参数。利用串行数据模式参数、针对确定性和随机抖动以及位移波峰因数仿真损伤的串行数据模式损伤参数，生成波形记录文件。位移波峰因数仿真损伤被选择性地定位在受损的串行数据模式中。波形发生电路基于串行数据模式参数、针对确定性和随机抖动损伤以及至少一个位移波峰因数仿真损伤的参数，接收波形记录文件和生成受损的串行数据模式模拟输出信号，其中位移波峰因数仿真损伤被选择性地定位在受损的串行数据模式模拟输出信号中。针对位移波峰因数仿真损伤的参数是大于随机抖动损伤的四西格马(σ )的低概率、大振幅抖动西格马(σ)值。针对位移波峰因数仿真损伤的多个参数可被应用于串行数据模式，其中针对位移波峰因数仿真损伤的每一个参数具有可选择的低概率、大振幅抖动西格马(σ)值。多个位移波峰因数仿真损伤参数中的每一个位移波峰因数仿真损伤参数被选择性地定位在受损的串行数据模式中，其中用于多个位移波峰因数仿真损伤参数中的每一个的增加的可选择的低概率、大振幅抖动西格马(ο)值被定位在受损的串行数据模式的逐步增长(increasingly longer)的持续时间处。从针对符号间干扰损伤、占空比失真损伤、正弦抖动损伤、扩展频谱时钟损伤以及串扰损伤的参数组中选择针对确定性抖动损伤的参数。串行数据模式对应于具有模板的串行数据标准，其中正弦抖动损伤的频率对应于所述串行数据模式模板的频率。随机抖动损伤是被应用于除了具有中值(median)确定性抖动损伤的过渡之外的串行数据模式的每一个过渡的伪随机抖动损伤。具有中值确定性抖动损伤的过渡具有中值水平(level)符号间干扰和一半正弦振幅。一种生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的方法具有下面的步骤: 生成串行数据模式，将确定性抖动损伤应用于串行数据模式，将随机抖动损伤应用于波形测试信号的所选部分，以及在其中不存在随机抖动损伤的串行数据模式中的位置处应用至少一个位移波峰因数仿真损伤。根据具有确定性抖动损伤、随机抖动损伤、以及位移波峰因数仿真损伤的串行数据模式生成波形测试信号。波形测试信号的生成具有生成波形记录文件的附加步骤，该波形记录文件具有串行数据模式，该串行数据模式表示带有确定性抖动损伤、随机抖动损伤、以及位移波峰因数仿真损伤的波形测试信号。确定性抖动损伤应用步骤具有生成确定性抖动损伤的另一步骤，所述确定性抖动损伤选自针对符号间干扰损伤、占空比失真损伤、正弦抖动损伤、扩展频谱时钟损伤以及串扰损伤的参数组。符号间干扰损伤的生成包括根据S参数数据生成符号间干扰损伤的步骤。S参数数据表征串行通信系统发射器和接收器之间的互连系统的频率响应。应用确定性抖动损伤步骤应用也可以包括生成正弦抖动损伤的步骤。生成正弦抖动损伤的步骤具有根据串行通信系统标准模板设置正弦抖动振幅和频率值的步骤。随机抖动损伤应用步骤具有生成伪随机抖动损伤的另一步骤。位移波峰因数仿真损伤具有大振幅低概率抖动值，所述大振幅低概率抖动值具有大于随机抖动损伤分布的4ο的值。应用至少一个位移波峰因数仿真损伤的步骤具有在具有中值水平符号间干扰和一半正弦振幅的串行数据模式中的过渡位置处生成位移波峰因数仿真损伤的附加步骤。应用至少一个位移波峰因数仿真损伤的步骤具有应用多个位移波峰因数仿真损伤的另一步骤，其中每一个位移波峰因数仿真损伤具有可选择的低概率、 大振幅西格马(σ)抖动值。多个位移波峰因数仿真损伤的应用包括增加用于多个位移波峰因数仿真损伤中的每一个的低概率、大振幅西格马(σ)抖动值，以及将多个位移波峰因数仿真损伤中的每一个增加的低概率、大振幅西格马(σ)抖动值定位在受损的串行数据模式的逐渐增长的持续时间处的步骤。当结合附加权利要求和附图阅读时，本发明的目的、优点和其他新颖的特征从下面的详细描述变得显而易见。
图1是用于通过各种高速串行系统标准将正弦抖动应用于测试信号集合(set)的模板。图2是根据对于6(ib/S串行ATA Gen-3应力信号的采样点时间延迟位置，针对比特误差率(BER)的抖动概率密度函数(槽形图表)的累积分布函数。图3是具有单个低概率10_12离群值(outlier)的IO6实例的高斯分布，用于描述用于依据本发明生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的信号发生器。图如-如描绘典型SATA Gen3波形，所述SATA Gen3波形图示用于依据本发明生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的信号发生器中的10_12概率离群值。图5是图示在用于依据本发明生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的信号发生器中生成合成的二进制测试模式中的步骤的流程图。图6是用于依据本发明生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的信号发生器的正视图。图7是依据本发明的信号发生器的典型框图。图8是用于依据本发明生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的初始用户界面。图9是用于依据本发明生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的用户界面中的基本模式弹出窗口的表示。图10是用于依据本发明生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的用户界面中的发射器弹出窗口的表示。图11是用于依据本发明生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的在用于提供来自Touchstone文件的ISI缩放(scaling)的用户界面中的通道/缆线弹出窗口的表示。图12是用于依据本发明生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的用户界面中的编辑设置弹出窗口的表示。图13是用于依据本发明生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的用于设置存储的波形记录文件的序列的信号发生器10的定序器(sequencer)用户界面的表
7J\ ο图14图示由周期性抖动和单位间隔的波形测试信号中的随机抖动的波峰因数仿真组成的总抖动。图15a图示依据本发明具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号中的正弦抖动。图15b图示依据本发明具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号中的具有波峰因数值的随机抖动。图15c图示作为依据本发明的具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号中的具有波峰因数值的随机抖动和正弦抖动的组合的总抖动。图16是用于实施设置存储的波形记录文件的序列的可替代实施例的信号发生器的定序器用户界面的表示，其用于依据本发明生成具有随机抖动的波峰因数仿真的多个实例的波形测试信号。
具体实施例方式本发明的波峰因数仿真利用深存储器(de印memory)信号发生器(比如由俄勒冈州比弗顿的Tektronix有限公司制造和销售的AWG7102)以便合成包括确定性抖动(比如正弦抖动、符号间干扰、扩展频谱时钟、占空比失真串扰等等)以及随机抖动的完全应力波形。需要应该指出，在测试实验室中，真实的随机的信号不能被复制或控制。本发明的波峰因数仿真以计算的形式应用作为需要的随机抖动的伪随机噪声。波峰因数仿真的本质是合成随机抖动和引入等于10_12的比特误差比率的大振幅低概率实例，其中该实例是最有用的。图3示出了遵循高斯分布的随机抖动实例的分布，该高斯分布包括由在7 σ处的正方形14指示的单个10_12的概率离群值抖动实例。抖动的低概率大振幅实例的引入对频谱没有影响。图如描绘通过信号发生器生成的典型SATA Gen3波形模式，而图4b描绘具有各种损伤的相同波形模式，所述各种损伤比如正弦抖动、符号间干扰、随机抖动等。图4c描绘具有各种损伤但具有如在波形中用虚线示出的7ο随机抖动的实例的相同波形模式。在优选实施例中，7 ο离群值被应用于经历中值水平符号间干扰和一半正弦振幅二者的过渡。中值水平符号间干扰和一半振幅正弦抖动是确定性抖动的最可能实例。7 0随机抖动实例的放置仅是示例，并且7 σ随机抖动实例可被放置在将顺应高速串行系统标准的受损的波形模式中的任何地方。本发明的波峰因数仿真的使用具有超过用于测量达到和低于10_12的比特误差率的现有技术系统和方法的许多优点。在具有本发明的波峰因数仿真的测试和具有现有技术的硬件噪声源的测试之间存在三个差别测试时间、接近(accessto)低概率、以及可重复性。用户需要控制被应用于受测试的接收器的测试信号。在没有控制的情况下，不能针对验证和系统的不确定度破坏精度再进行(reproduce)测试。如果受测试的接收器可以容忍利用波峰因数仿真小心控制的最坏情况的测试信号，则在用几秒来取代如先前的现有技术系统中的多分钟的测试中，接收器的比特误差率确保小于10_12。此外，可以在不增加时间的情况下执行测试容限降至10_15或10_18的相同测试。图5是用于利用信号发生器并执行顺应应力的接收器容限测试来生成具有波峰因数仿真的合成的波形模式的流程图。在步骤20处，利用具有指定的上升和下降时间的信号发生器合成二进制测试模式。通过将损伤添加到模式来对二进制测试模式应用应力。如在步骤22中示出的那样，依据对应于用于在其中接收器运行(function)的配置的底板和缆线确定性抖动需求的S参数，符号间干扰损伤被应用于合成的测试模式。在步骤对中，具有由标准模板规定的振幅和频率的正弦抖动损伤(比如在图1中示出的那些)被应用于合成测试模式。在步骤26处，生成伪随机高斯随机抖动损伤，并将其应用于除了具有中值确定性抖动的一个过渡(也就是具有中值符号间干扰和一半振幅正弦抖动的边缘)之外的合成信号中的每一个过渡。受损的合成测试信号被重复足够的次数，其中正弦摆动(swing) 被表示在每一个唯一的比特轨迹上。在步骤观处，具有中值确定性抖动偏差的过渡的单个 7σ位移被应用于合成测试模式。在步骤30处生成受损的合成测试信号，并在步骤32处将其应用于受测试的接收器。如果如步骤34处所描绘的那样受测试的接收器通过，则正弦抖动的频率被修改，以便与模板上的另一个点相符，并且生成另一个受损的合成测试信号并将其应用于受测试的接收器。生成三个不同的受损的合成测试信号，一个用于时钟恢复带宽内(也就是低于滚降(roll off))的频率处的正弦抖动，一个用于滚降末端处的的正弦频率，并且一个用于时钟恢复带宽以上的频率处。在完成每一个受损的合成测试信号时，如在步骤36处所描绘的那样完成关于是否到达最后的频率测试点的确定。如果还没有到达最后的频率测试点，则顺应应力的接收器容限测试复位至模板上的不同频率点，并且生成新的受损的合成测试信号。如果受测试的接收器未实现(fail)生成受损的合成测试信号中的一个，则确定(一个或多个)误差比特并如在步骤38中所描绘的那样对其进行调试。参照图6，示出了用于实施依据本发明的波峰因数仿真的信号发生器50，比如由俄勒冈州的比弗顿的Tektronix有限公司制造和销售的AWG7102。信号发生器50具有前面板52，所述前面板52具有控制M (比如按钮和旋钮等)以及显示装置56 (比如液晶显示器、阴极射线管等)。信号发生器50也具有用于存储波形数据、可执行程序等的CD或DVD/ CD驱动器58。生成用户定义的信号，并利用与在显示装置56上显示的用户界面相连的前面板控制通过信号发生器50将其输出。参照图7，示出了用于生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的 AWG7102信号发生器50的典型框图。信号发生器50具有中央处理单元(CPU)60，该中央处理单元(CPU) 60依据存储于电子介质上的程序来控制工具(instrument)的操作，该电子介质比如光盘(⑶)。比如RAM存储器之类的存储器62被用于针对CPU 60的工作区，以便读取来自存储装置64的程序，该存储装置64比如硬盘驱动器。用户可以设置信号发生器50， 以便经由工具的前面板52上的按钮、旋钮等M来生成输出波形测试信号。显示装置56可以显示用户界面，用于设置针对输出波形测试信号的各种参数并且根据参数设置可视化输出信号。外部显示器输出电路66提供视频输出，其可以被连接到外部显示器68，以用于提供除了信号发生器的内置显示器56之外的更大的显示区。波形发生电路70基于用户定义的参数生成输出波形测试信号。在该例子中，波形发生电路70具有触发器输入和事件输入以及两个通道输出。输入/输出端口 72用于将外部键盘74、定位装置(比如鼠标76)等连接至信号发生器。外部键盘74和/或鼠标76可以作为用于设置参数的信号发生器50 的前面板控制M的一部分而被包括。各个块经由信号和数据总线78耦合在一起。信号发生器的总线78可以具有用于将信号发生器连接至外部控制器的局域网(LAN)接口 80，该外部控制器比如个人计算机(PC)82或其他测试工具。LAN接口 80允许用户界面在PC 82上操作，并将输出信号数据传递至信号发生器50，并且也使得PC 82能够通过网络来控制信号发生器50。可替代地，通用接口总线(GPIB)接口可被用于LAN接口 80。参照图8，示出了用于设置参数的初始用户界面100，以便在串行数据模式上产生具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号。初始用户界面100和随后的用户界面在具有被存储于存储装置64上的用户界面程序的CPU 60的程序控制下进行操作。用户界面可被显示在显示装置56上或外部显示器68上。可替代地，用户界面程序可被存储并通过PC 82访问，其中PC 82处理参数并且生成被耦合至信号发生器50的输出文件。经由显示装置 56上的图标或通过单击起始标记以及从存储于信号发生器50中的程序列表单击合适的程序，可以访问控制信号发生器50上的各个界面的程序。初始界面100包括通过单击初始用
9户界面100中的各个标记102或按钮104来激活的多个弹出窗口。初始用户界面100具有激活基本模式(BASE PATTERN)弹出窗口 108的基本模式标记106。利用初始用户界面100 自动激活基本模式弹出窗口 108。初始用户界面和相关的弹出窗口允许用户设置串行数据模式参数以及可被应用于信号数据模式的损伤参数。损伤参数包括确定性抖动损伤和随机抖动损伤。确定性抖动损伤可以包括符号间干扰损伤、占空比失真损伤、正弦抖动损伤、扩展频谱时钟损伤和串扰损伤。随机抖动损伤可以包括多种类型的随机抖动，其中每一种类型具有不同的振幅和频率范围。在本发明的具体实施例中，波峰因数仿真损伤被应用于单种类型的随机抖动。图9是基本模式弹出窗口 108的更详细的表示，其示出了基本模式弹出窗口 108的七个定义的区域基本模式(BASE PATTERN) 110，加扰(SCRAMMBLING) 112，编码 (ENCODING) 114，信号(SIGNAL) 116，振幅(AMPLITUDE) 118，上升 / 下降(RISE/FALL) 120，以及标记符设置(MARKER SETTING) 122。基本模式区域110具有按钮124、1 和128，该按钮 124、1沈和1 允许用户选择在其上生成串扰仿真的串行数据模式。单击标准(STANDARD) 按钮124激活标准(STANDARD)框130和模式(PATTERN)框132。单击标准框130允许用户从需要顺应测试的多个串行数据标准中进行选择。在选择具体的串行数据标准之后单击模式框132显示出通过比如PRBS7之类的所选串行数据标准定义的各种波形模式。单击来自文件(FROM FILE)按钮1 加亮(hightlight)文件字段(FILE FIELD)框134，在其中用户可以输入先前存储的数据文件。单击用户模式(USER PATTERN)按钮1 加亮模式字段(PATTERB FIELD)框136，在其中用户可以输入串行数据模式。通过单击合适的二进制 (BINARY)、十六进制(HEX)或符号(SYMBOL)按钮138、140、142，该模式可作为“0”和“ 1 ”二进制数据、十六进制数据或符号数据被输入。加斜纹阴影的框和按钮指示不有效的框和按钮。单击加扰框144激活加扰区域112。该加扰区域112具有多项式(POLYNOMIAL)框 146，在其中用户可以输入用于对所选串行数据模式进行加扰的加扰多项式。寄存器初始值字段(REGISTER INITIAL VALUE FIELD) 148允许用户以二进制或十六进制设置加扰寄存器的初始状态和寄存器的长度。寄存器长度等于多项式的次数(degree)。编码(ENCODING) 区域114具有编码方案(ENCODING SCHEME)框150，该编码方案框150允许用户设置用于串行数据模式的编码方案的类型。用户可以从NRZ、NRZI或4-PAM选择。单击8B10B框 152激活用于将8比特符号映射成10比特符号的算法，以便达到DC平衡和有界的非奇偶性(disparity)。单击非奇偶性(DISPARITY)框巧4允许用户选择正或负的初始非奇偶性。 单击编码区域114之上的PWM(脉宽调制)框156激活允许用户生成脉宽调制信号的脉宽调制函数。脉宽调制函数具有T MINOR框158，在其中用户以单位间隔设置脉宽调制信号中的比特的负状态(negative state)。信号(SIGNAL)区域116具有数据率(DATA RATE) 框160和空闲状态(IDLE STATE)框162。单击数据率框160允许用户设置串行数据的数据率。根据信号发生器类型，可以将数据率从每秒IOMega比特调节至每秒20Giga比特。当激活标准(STANDARD)按钮1 时，根据所选择的串行数据标准自动选择数据率。当在标准框130中选择SATA时，空闲状态框162是有效的，并且在模式框132中选择空闲模式。空闲状态可以被看作模式中DC的可选择的时段(period)。振幅(AMPLITUDE)区域118具有最大振幅(MAXIMUM AMPLITUDE)框164和最小振
10幅(MINIMUM AMPLITUDE)框166。最大振幅框164和最小振幅框166允许用户指定串行数据模式的最大和最小振幅水平。上升/下降(RISE/FALL)区域120具有用于分别选择10/90 或20/80百分比的上升和下降时间的上升/下降时间(RISE/FALL TIME)按钮168和170。 上升(RISE)框172允许用户选择串行数据模式前沿(leading edge)的上升时间。下降 (FALL)框174允许用户设置串行数据模式后沿(trailing edge)的下降时间。单击DCD 框176，激活D⑶区域178从而允许用户改变串行数据模式中的占空比失真(Duty Cycle Distortion)的数量。利用各个设置(SETTING)框180可以以秒或单位间隔定义上升、下降和D⑶时间。标记符设置(MARKER SETTING)区域122具有标记符1 (MARKER1)部分182和标记符2(MARKEM)部分184。每一个标记符部分182、184都具有选项按钮186、188和190。单击基本模式按钮186中的一个设置与基本模式相同的具体的标记符输出。单击时钟(CLOCK) 按钮188中的一个激活时钟模式(CLOCK PATTERN)框192和频率(FREQUENCY)框194。时钟模式框192允许用户从时钟列表进行选择，或者允许用户定义时钟模式。如果用户选择定义时钟模式，则用户可以利用频率框194设置时钟的频率。单击高/低(HIGH/LOW)按钮 190中的一个激活选择(SELECTION)框196，以便允许用户将标记符输出设置为所有都为高 (ALL HIGH)、所有都为低(ALL LOW)或触发(TRIGGER)。选择触发选项激活采样(SAMPLE) 框198，该采样框198允许用户将波形的采样的起始数目(beginning number)设置为高。单击发射器(TRANSMITTER)标记200激活发射器弹出窗口 202，如图10中示出的那样。发射器弹出窗口 202具有三个限定的区域周期性抖动(PERIODIC JITTER) (PK-PK) 204、随机抖动(RANDOM JITTER) (RMS) 206 和 SSC 208。周期性抖动(PK-PK)区域 204允许用户为多至四个正弦波损伤信号设置参数，该四个正弦波损伤信号是可被应用于串行数据模式的Sine (正弦)l、Sine2、Sine3和Sine4。每一个正弦波损伤信号具有用于设置正弦波损伤信号的振幅的振幅(MAGNITUDE)框210和用于以单位间隔或秒限定振幅的相关设置(SETTING)框212。每一个正弦波损伤信号也具有用于为损伤信号设置频率和相位的频率(FREQUENCY)框214和相位(PHASE)框216。随机抖动区域206允许用户设置用于生成“波峰因数仿真”的参数。单击RJl波峰因数(峰值)(RJl CRESTFACTOR(PEAK))框 218激活定标器(SCALER)框20，在此处用户可以输入从1至20的值，该值与西格马(ο) 相乘以便生成单位间隔中的峰值。单击随机种子(RANDOM SEED)框222激活随机种子值 (RANDOM SEED VALU^框224，从而允许用户为具有损伤的数字数据模式的每一个编辑分配用于使用相同的随机抖动序列的最大五位数(digit)种子值。随机抖动区域允许用户为三个随机抖动损伤信号设置参数，所述三个随机抖动损伤信号为可被应用于信号数据模式的 Rjl> Rj2和Rj3。每一个随机抖动损伤信号具有用于设置随机抖动损伤信号的振幅的振幅 (MAGNITUDE)框2 和用于以单位间隔或秒限定振幅的相关设置(SETTING)框228。每一个随机抖动损伤信号也具有用于设置随机抖动的低频率和高频率的低频率(FREQUENCY-LOW) (Hz)框 230 和高频率(FREQUENCY-HIGH) (Hz)框 232。单击SCC框234激活SSC (扩展频谱时钟)区域208，从而允许用户设置可被应用于串行数据模式的扩展频谱时钟的参数。利用形状(SHAPE)框236、扩展(SPREAD)框238和不等的扩展(UNEQUAL SPREAD)框M0，用户可以为SSC信号设置形状、扩展和不等的扩展。 用户也可以通过单击浏览(BROWSE)按钮242和在定制形状(⑶STOM SHAPE)框244中输入
11文件名来选择先前存储的定制形状。SSC区域208包括df/dt部分M6，在此处用户可以在标准SCC简档(profile)中插入偏差。具有偏差(DEVIATION)框250和调制(MODULATION) 框252的频率(FREQUENCY)部分248允许用户设置SSC信号的频率参数。SSC区域208下面的是可以由用户设置的附加参数。单击噪声(NOISE)框2M激活噪声值(NOISE VALUE)框256，允许用户设置以VOLTS (RMS)计的噪声参数，从而将噪声添加至信号数据模式。利用将噪声添加到(ADD NOISE AT)框258，用户具有将噪声放置在信号数据模式的近端或远端处的选项。单击预加重/去加重(PRE/DE-EMPHASIQ框260激活预加重/去加重参数框262，从而允许用户为信号数据模式设置预加重或去加重参数。利用单位(UNITS)框沈4，可以以dB或volts (伏特)设置预加重或去加重参数。单击高级设置(ADVANCED SETUP)框266激活另一个弹出窗口，从而允许用户设置附加的预加重和去加重参数。单击通道/缆线(CHANNEL/CABLE)标记300激活通道/缆线弹出窗口 302，如图11 中示出的那样。通过单击ISI按钮308，用户可以激活ISI框304和设置(SETTING)框306。 在本发明中，用户单击S参数滤波器(S-PARAMETER FILTER)按钮310，以便激活各个S参数滤波器框和按钮。从文件读取(READ FROM FILE)框312和相关的浏览(BROWSE)按钮314 允许用户选择先前存储的S参数Touchstone文件，该S参数Touchstone文件对应于用于在其中接收器运行的配置的底板和缆线确定性抖动需求。单击逆滤波器(INVERSEFILTER) 按钮316激活逆滤波器框318和相关的浏览按钮320，以便允许用户选择先前存储的S参数"Touchstone文件。ISI缩放(ISI SCALING)框322允许用户选择ISI缩放因子值，该 ISI缩放因子值可以以0. 001的增量从0. 000变化到10. 000。ISI缩放框322下面是选择 (SELECTION)区域324，该选择区域3 为由S参数Touchstone文件限定的各个端口显示各个选择选项。返回参照图8，一旦用户已经针对具有确定性和随机抖动损伤的信号数据模式以及具有确定性和随机抖动损伤和位移波峰因数仿真损伤的信号数据模式设置参数(下面将更详细地进行描述)，用户就通过单击图8中的初始用户界面100工具栏344上的编辑设置按钮342来激活编辑设置(COMPILE SETTING)弹出窗口 340，在图12中示出。编辑设置弹出窗口 340具有波形名称(WAVEFORM NAME)框346，其利用具有确定性和随机抖动损伤的用户限定的信号数据模式以及具有确定性和随机抖动损伤和位移波峰因数仿真损伤的信号数据模式，允许用户为由信号发生器50生成的波形记录文件定义名称。紧挨着“数据率”显示利用基本模式弹出窗口 108输入的串行数据模式的数据率。用户可以单击采样率 (SAMPLE RATE)按钮348或每个UI的采样(SAMPLING PER UI)按钮350，以便激活各个采样率或每个UI的采样框352、354。用户可以通过输入基于串行数据模式和数据率的合适的值来手动设置采样率或每个UI的采样。可以通过单击自动(AUTOMATIC)框356来基于数据率和串行数据模式自动设置采样率或每个UI的采样。延迟(DELAY)框358被提供以帮助对准波形序列元素中的起始和停止点。用户可以设置下一个波形序列元素的延迟，以便允许波形序列元素的结束和起始点的振幅对准。序列元素之间重叠(WRAP BETWEEN SEQUENCE ELEMENTS)框360可被单击，以便确保当序列执行从一个序列元素移动至另一个时波形的连续性。编辑设置(COMPILE SETTING)弹出窗口 340具有编辑按钮优选(COMPILE BUTTON
12PREFERENCE)区域 362、重复(REPEAT)区域 364 和带宽扩展滤波器(BANDWIDTH EXPANSION FILTER)区域366。单击编辑按钮优选区域362中的编辑并发送到(COMPILE AND SEND TO) 按钮368允许用户基于数字数据模式和损伤参数来为编辑的波形记录文件选择通道。单击仅编辑(COMPILE ONLY)按钮370将编辑的波形记录文件保存到用户命名的波形记录文件中。重复区域364具有自动(AUTOMATIC)按钮372，当其波激活时，根据重复基于Pj、Rj 和SSC频率值的段(piece)自动构建波形。手动(MANUAL)按钮374允许用户利用手动计数(MANUAL COUNT)框376设置重复计数。可以以计数或秒设置重复计数。单击带宽扩展滤波器(BANDWIDTH EXPANSION FILTER)框378激活带宽扩展滤波器区域366。信号发生器50具有硬件电路，该硬件电路从内部提供针对高采样率(比如12GS/s以及更高)的CHl 和CH2数字至模拟转换器输出的自动交错(interleaving)。用户可以选择停止交错、没有零位调整(zeroing)的交错和具有零位调整的交错。在编辑设置弹出窗口 340的右下侧的是可以通过单击合适的框380而设置的附加参数。参数之一是在编辑之后示出图形(SHOW GRAPH AFTER COMPILE)，其在初始用户界面100的底部的两个图形区域382中显示各种形式的具有确定性和随机抖动损伤的信号数据模式以及具有确定性和随机抖动损伤和位移波峰因数仿真损伤的信号数据模式。在编辑设置弹出窗口 340的底部是编辑(COMPLE)、确定(OK)、取消(CANEL)和帮助(HELP)按钮384、386、388和390，它们允许用户选择与编辑设置弹出窗口 340有关的各个选项。一个选项是单击编辑按钮384，其初始化具有确定性和随机抖动损伤的信号数据模式以及具有确定性和随机抖动损伤和位移波峰因数仿真损伤的信号数据模式的编辑，以便生成各个波形记录文件。由波形发生电路70来处理波形记录文件，以便根据具有确定性抖动损伤、随机抖动损伤和位移波峰因数仿真损伤的波形记录文件生成模拟波形测试串行。另一个选项是单击确定按钮386，其保存在编辑设置弹出窗口 340中选择的参数并且关闭窗口 340。另一个选项是单击取消按钮388，其关闭编辑设置弹出窗口 340，而不保存在窗口 340中选择的参数。单击帮助按钮390激活帮助弹出窗口，用户可以从该帮助弹出窗口寻求帮助。初始用户界面100工具栏344具有编辑按钮392 (如图8中示出的那样)，通过初始化具有各个其他参数的串行数据模式的编辑，该编辑按钮392以与编辑设置弹出窗口 340 中的编辑按钮384(如在图12中示出的)相同的方式运行，以便生成包括数字数据的波形记录文件，以用于生成来自信号发生器50的模拟波形测试信号。现在将利用先前参照图8到12描述的任意的波形信号发生器50和用户界面来描述用于生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的具体实施方式
。通过用户来输入针对串行数据模式的参数，比如模式类型、数据率、振幅上升/下降时间、采样率、每个单位间隔的采样。也通过用户输入针对限定的串行数据模式的确定性抖动损伤和随机抖动损伤。在该实施方式中使用单个正弦波波形和单个随机抖动波形，以用于生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号。对于该第一波形记录文件，Rjl波峰因数(峰值)框220 中的波峰因数(Crest Factor)参数被设置成零。串行数据模式参数连同确定性和随机抖动损伤一起被编辑，以便生成第一波形记录文件χ (η)，其被存储在信号发生器50的存储器 62中。随机抖动参数的编辑被实施为伪随机高斯噪声发生器。利用相同的串行数据模式参数以及确定性和随机抖动参数来生成第二波形记录文件。激活RJl波峰因数(峰值)框218，并且标量值(scalar value)被输入到定标器
13(SCALAR)框220，所述标量值与西格马(σ )相乘以便为该第二波形记录文件产生低概率、 大振幅抖动西格马(ο)值。正如第一波形记录文件，串行数据模式的参数以及周期性和随机噪声参数的参数被编辑，以便生成也被存储在存储器62中的波形记录文件y (η)(具有CF的Rj)。波形记录文件Χ(η)和y (η)(具有CF的Rj)具有相同的抖动统计，除了索引 (index) “k”处的单个采样被改变以满足需要的波峰因数CF。当需要Rj来获得其峰值时基于精确时间来选择“k”。该值可以与峰值确定性抖动精确地同步。在顺应测试波形非常长并且具有重复序列的情况下，每一个所存储的波形记录文件可以包括单个序列的顺应测试波形。参照图13，其示出了用于设置所存储的波形记录文件的序列的信号发生器50的定序器(SEQUENCER)用户界面400。该定序器用户界面400 具有定义单元406的矩阵的行402和列404。行402利用定义索引号的第一列的索引号 (INDEX NO)单元来定义序列。CHl波形(CHI WAVEFORMS)列定义在其中用户可以为序列分配存储的波形记录文件的单元。在信号发生器具有第一和第二输出文件的情况下，CH2波形(CH2 WAVEFORMS)列定义在其中用户可以为序列分配存储的波形记录文件的单元。等待 (WAIT)列定义在其中“等待”状态使得该序列的波形记录等待直至在初始化波形记录的输出之前接收到触发信号为止的单元。重复(REPEAT)列定义具有对于序列中的具体波形记录的重复数“N”的单元。单元中的重复数“N”使得具体的波形记录重复规定的“N”次。事件跳转到(EVENT JUMP TO)列定义具有序号“Μ”的单元，定序器响应于外部事件对其进行访问。每一个单元可以具有具体的序号“Μ”或项“下一个(next)”，该项“下一个”将初始化当前序号之后的下一个序号。转到(GO TO)列定义具有序号“Μ”的单元，其使得定序器在当前序列完成之后访问由序号“Μ”定义的序列。转到序号“Μ”可以是定序器中的下一个序号，或者可以使得定序器跳转至具有下一个序号的序列之外的序号。通过将波形记录的文件名χ (η)装载到序列1的CHl波形(CHI WAVEF0EM)单元中， 将第一波形记录文件χ (η)分配给定序器400中的序列1。通过利用项“无限的(infinite)，， 装载序列1重复(REPEAT)单元，波形记录文件被设置成重复且无限的次数。利用项“下一个”装载事件跳转到(EVENT JUMP TO)单元，这将使得定序器跳转到外部事件之后的下一个序号，该外部事件比如用户激活信号发生器50的前面板52上的强制事件(FORCE EVENT) 按钮。将第二波形记录文件y (n)(具有CF的Rj)被分配给定序器的序列2。序列2的重复计数(REPEAT COUNT)单元被设置成1，从而使得第二波形将仅输出一次。序列2中的转到 (GO TO)单元被设置成3，这将使得定序器跳转至定序器400的序列3。利用波形记录文件 χ (η)的文件名Χ(η)来装载序列3的CHl波形单元。序列3的重复单元被装载有项“无限的”，这使得波形记录文件χ (η)也被连续重复。波形记录文件χ (η)和y (n)(具有CF的Rj) 被提供给波形发生电路30，其基于用户定义的参数将数字波形记录文件转换成模拟输出波形测试信号。提供类似结果的可替代方式将是利用数字“N”装载序列1的重复单元，这使得定序器400重复波形记录χ (η) “N”次数。序列1的事件跳转到(EVENT JUMP TO)单元被留为空，并且序列1的转到单元被装载有表示序列2的数字2。当序列1重复“N”次时，这将使得定序器400跳转至序列2。用于序列2的重复单元被装载有数字1，在这种情况下，定序器400输出波形记录文件y (n)(具有CF的Rj)的波形一次。序列2的转到单元被装载有表示序列3的数字3。这使得定序器400跳转至序列3。序列3的重复单元不改变，并且波形记录文件x(n)被设置成重复且无限的次数。图14图示具有与单位间隔UI有关的强制波峰因数(Crest Factor) CF的随机抖动。在单位间隔(UI)的中央示出采样点。可以产生误差的总抖动等于UI的一半。因此， 当在相同的瞬时出现峰值周期性抖动Pj和随机抖动Rj的波峰因数时，总抖动将是0. 5UI， 这将导致误差。定序器400的序列2中的波形记录文件y (n)(具有CF的Rj)具有带有所需的波峰因数的随机抖动。当定序器400跳转至序列2时将出现比特误差。在波形记录文件y(n)(具有CF的Rj)中，确定性正弦抖动的峰值和随机抖动的峰值(波峰因数值)二者将同时出现。在图14的图示中，峰值正弦抖动是0.3UI，并且强制的波峰因数值是0.2UI。 总抖动将是0.5UI。这将引起比特误差。图15A到15C图示同时出现的随机抖动(波峰因数值)和确定性正弦抖动的峰值。 图15A图示被应用于串行数据模式的正弦抖动。图15B图示具有被应用于串行数据模式的具有波峰因数值的随机抖动。图15C图示被应用于串行数据模式的总抖动，其是正弦抖动和具有波峰因数值的随机抖动的组合。随机抖动Rj的峰值波峰因数值与正弦抖动Sj (确定性抖动Pj)中的峰值相符。图15A到15C图示将随机抖动的低概率、大振幅抖动西格马 (σ )值应用于正弦抖动的一个例子。随机抖动的低概率、大振幅抖动西格马(σ )值不必成为如图15Α到15C示出的正方向，而是也可以在负方向上。尽管优选随机抖动的低概率、大振幅抖动西格马(σ)值与正弦抖动的峰值相符，但也可以将随机抖动的低概率、大振幅抖动西格马(σ)值定位在正弦抖动的任何位置处。用于生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的另一实施例利用随机抖动的多个低概率、大振幅抖动西格马(ο)值。该实施例利用硬件随机噪声源模拟顺应应力的接收器容限测试。参照图16，示出了定序器(SEQUENCER)用户界面400，其具有多个 y(n)(具有CF的Rj)波形记录。每一个波形记录y(η)工至y(η)n(具有CF的Rj)具有随机抖动的不同且增加的低概率、大振幅抖动西格马(ο)值。例如，用于波形记录Y(Il)1的输入到定标器框220的标量值可被设置成5。用于波形记录y (Ii)2的输入到定标器框220的标量值可被设置成6。用于波形记录y (η) 3的输入到定标器框220的标量值可被设置成7。 用于波形记录y (η) 4的输入到定标器框220的标量值可被设置成8等等。定序器用户界面400被配置有第一波形记录文件χ(η)，通过将χ(η)波形记录文件分配到序列1的CHl波形单元中来将所述第一波形记录文件χ (η)分配给序列1。通过使序列1重复单元装载整数值N 1来将波形记录文件设置成重复限定的次数。事件跳转到单元被留为空，并且转到单元被设置成序列2。序列2的CHl波形单元被分配y (η)工(具有CF的 Rj)波形记录文件。序列2的重复计数单元被设置成1，因此Y(Ii)1 (具有CF的Rj)波形记录文件将仅输出一次。序列2中的转到单元被设置成3，这将使得定序器跳转至定序器400 的序列3。序列3的CHl波形单元被分配χ (η)波形记录文件。序列3的重复单元被装载另一整数值Ν2，这将使得波形记录文件χ (η)也重复所选的次数。序列3中的转到单元被设置成4，这将使得定序器跳转至序列4。序列4的CHl波形单元被分配y (η) 2 (具有CF的 Rj)波形记录文件。序列4的重复计数单元被设置成1，因此y(n)2(具有CF的Rj)波形记录文件将仅输出一次。序列4中的转到单元被设置成5，这将使得定序器跳转至定序器400 的序列5。序列5的CHl波形单元被分配波形记录文件χ (η)。序列5的重复单元被装载另一整数值Ν3，这将使得波形记录文件χ (η)也重复所选的次数。序列5中的转到单元被设置
15成6，这将使得定序器跳转至序列6。序列6的CHl波形单元被分配y (η) 3 (具有CF的Rj) 波形记录文件。序列6的重复计数单元被设置成1，因此y (Ii)3(具有CF的Rj)波形记录文件将仅输出一次。序列6中的转到单元被设置成7，这将使得定序器跳转至定序器400的序列7。序列7的CHl波形单元被分配波形记录文件χ (η)。序列7的重复单元被装载另一整数值Ν4，这将使得波形记录文件χ (η)也重复所选的次数。序列7中的转到单元被设置成 8，这将使得定序器跳转至序列8。序列8的CHl波形单元被分配y (η) 4 (具有CF的Rj)波形记录文件。序列8的重复计数单元被设置成1，因此y (Ii)4(具有CF的Rj)波形记录文件将仅输出一次。序列8中的转到单元被设置成9，这将使得定序器跳转至定序器400的序列9。序列9的CHl波形单元被分配波形记录文件χ (η)。序列9的重复单元被装载项“无限的”，这将使得χ (η)波形记录重复无限次。整数值Ν1、Ν2、Ν3、Ν4等表示重复值，在该实施例中，其随着增加的索引号而增加， 因此增加随机抖动的低概率、大振幅抖动西格马(σ)值的实例之间的延迟时间。例如，Nl 可被设置成重复1000次，而Ν2可被设置成重复100，000次。Ν3可被设置成重复10，000, 000 次，并且Ν4可被设置成重复100，000，000次。基于χ(η)波形记录文件被转换成模拟波形测试信号所需要的时间以及随机抖动的低概率、大振幅抖动西格马(σ)值的实例之间的期望延迟时间，χ (η)波形记录被重复多次。尽管该实施例比将随机抖动的低概率、大振幅抖动西格马(ο)值的单个实例应用于波形测试信号用了显著更长的时间，但是该实施例提供允许控制和验证容限测试的可重复性和低概率。对本领域技术技术人员来说将显而易见的是，可以在不改变其基本原理的情况下对本发明的上面描述实施例的细节进行许多改变。因此，本发明的范围将仅由下面的权利要求来确定。
权利要求
1.一种信号生成装置，包括显不器；在显示器上生成用户界面的中央处理单元，其用于为串行数据模式设置参数并且为确定性抖动损伤、随机抖动损伤、以及将被应用于所述串行数据模式的至少一个位移波峰因数仿真损伤设置参数，其中利用串行数据模式参数，以及针对确定性抖动、随机抖动和位移波峰因数仿真损伤的串行数据模式损伤参数生成波形记录文件，其中位移波峰因数仿真损伤被选择性地定位在受损的串行数据模式中；以及波形发生电路，其基于串行数据模式参数以及针对确定性抖动损伤、随机抖动损伤和至少一个位移波峰因数仿真损伤的参数，接收波形记录文件并生成受损的串行数据模式模拟输出信号，其中位移波峰因数仿真损伤被选择性地定位在受损的串行数据模式模拟输出信号中。
2.如权利要求1所述的信号生成装置，其中从针对符号间干扰损伤、占空比失真损伤、 正弦抖动损伤、扩展频谱时钟损伤以及串扰损伤的参数组中选择针对确定性抖动损伤的参数。
3.如权利要求2所述的信号生成装置，其中串行数据模式对应于具有模板的串行数据标准，其中正弦抖动损伤的频率对应于串行数据模式模板的频率。
4.如权利要求2所述的信号生成装置，其中随机抖动损伤进一步包括伪随机抖动损伤，所述伪随机抖动损伤被应用于除了具有中值确定性抖动损伤的过渡之外的串行数据模式的每一个过渡。
5.如权利要求4所述的信号生成装置，其中具有中值确定性抖动损伤的过渡具有中值水平符号间干扰和一半正弦振幅。
6.如权利要求1所述的信号生成装置，其中针对位移波峰因数仿真损伤的参数包括大于随机抖动损伤的四西格马(σ)的低概率、大振幅抖动西格马(ο)值。
7.如权利要求1所述的信号生成装置，其中针对位移波峰因数仿真损伤的参数进一步包括针对位移波峰因数仿真损伤的多个参数，其中针对位移波峰因数仿真损伤的每一个参数具有能够选择的低概率、大振幅抖动西格马(ο)值。
8.如权利要求7所述的信号生成装置，其中多个位移波峰因数仿真损伤参数中的每一个位移波峰因数仿真损伤参数被选择性地定位在受损的串行数据模式中，其中用于多个位移波峰因数仿真损伤参数中的每一个的增加的能够选择的低概率、大振幅抖动西格马(ο ) 值被定位在受损的串行数据模式的逐步增长的持续时间处。
9.一种用于生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的方法，包括步骤生成串行数据模式；将确定性抖动损伤应用于串行数据模式；将随机抖动损伤应用于波形测试信号的所选部分；在其中不存在随机抖动损伤的串行数据模式中的位置处应用至少一个位移波峰因数仿真损伤；根据具有确定性抖动损伤、随机抖动损伤、以及位移波峰因数仿真损伤的串行数据模式生成波形测试信号。
10.如权利要求9所述的生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的方法，其中应用确定性抖动损伤步骤进一步包括生成确定性抖动损伤的步骤，所述确定性抖动损伤选自针对符号间干扰损伤、占空比失真损伤、正弦抖动损伤、扩展频谱时钟损伤以及串扰损伤的参数组。
11.如权利要求10所述的生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的方法， 其中生成符号间干扰损伤步骤进一步包括根据S参数数据生成符号间干扰损伤的步骤。
12.如权利要求11所述的生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的方法， 其中所述S参数数据表征串行通信系统发射器和接收器之间的互连系统的频率响应。
13.如权利要求9所述的生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的方法， 其中应用确定性抖动损伤步骤进一步包括生成正弦抖动损伤的步骤。
14.如权利要求9所述的生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的方法， 其中生成正弦抖动损伤步骤进一步包括根据串行通信系统标准模板设置正弦抖动振幅和频率值的步骤。
15.如权利要求9所述的生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的方法， 其中应用随机抖动损伤步骤进一步包括生成伪随机抖动损伤的步骤。
16.如权利要求9所述的生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的方法， 其中应用至少一个位移波峰因数仿真损伤步骤进一步包括在具有中值水平符号间干扰和一半正弦振幅的数字数据模式中的过渡位置处生成至少一个位移波峰因数仿真损伤的步马聚ο
17.如权利要求16所述的生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的方法， 其中位移波峰因数仿真损伤具有大振幅、低概率抖动值，所述大振幅、低概率抖动值具有大于随机抖动损伤分布的4σ的值。
18.如权利要求9所述的生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的方法， 其中应用至少一个位移波峰因数仿真损伤步骤进一步包括应用多个位移波峰因数仿真损伤的步骤，其中每一个位移波峰因数仿真损伤具有能够选择的低概率、大振幅抖动西格马 (ο)值。
19.如权利要求18所述的生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的方法， 其中应用多个位移波峰因数仿真损伤进一步包括增加用于多个位移波峰因数仿真损伤中的每一个的低概率、大振幅西格马(ο)抖动值，以及将多个位移波峰因数仿真损伤的增加的低概率、大振幅西格马(ο)抖动值中的每一个定位在受损串行数据模式的逐步增长的持续时间处的步骤。
20.如权利要求9所述的生成具有随机抖动的波峰因数仿真的波形测试信号的方法， 其中生成波形测试信号进一步包括生成具有串行数据模式的波形记录文件的步骤，所述串行数据模式表示具有确定性抖动损伤、随机抖动损伤以及位移波峰因数仿真损伤的波形测试信号。
全文摘要
一种信号生成装置具有显示器和中央处理单元，所述中央处理单元用于为串行数据模式设置参数和为确定性和随机抖动损伤、以及将被应用于该串行数据模式的位移波峰因数仿真损伤设置参数。利用串行数据模式参数，针对确定性抖动和随机抖动和位移波峰因数仿真损伤的损伤参数生成波形记录文件。位移波峰因数仿真损伤被选择性地定位在受损的串行数据模式中。波形发生电路基于串行数据模式、确定性和随机抖动损伤和位移波峰因数仿真损伤，接收波形记录文件并生成受损的串行数据模式模拟输出信号，其中位移波峰因数仿真损伤被选择性地定位在受损的串行数据模式模拟输出信号中。
文档编号H04B17/00GK102195722SQ20111006232
公开日2011年9月21日 申请日期2011年2月1日 优先权日2010年2月2日
发明者J·C·卡文, M·卡拉帕图, R·W·斯蒂芬斯, S·R·德賽 申请人:特克特朗尼克公司