专利名称：一种有源天线系统射频指标及无线指标的测试方法与装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及无线通信技术领域，尤其涉及一种有源天线系统射频指标及无线指标的测试方法与装置。
背景技术：
传统基站设备本身具有射频端口，射频指标的测试通常采用传导测试方法，测试的参考点在设备的射频端口。有源天线系统(AAS)作为一种多通道收发信机与基站天线集成的基站通信子系统，它是天线和多通道收发信机的一体化设备，相互之间的接口表现为内部接口，工程上难以直接进行射频端口测试，这样对有源天线系统的测试带来了挑战。
使用传统基站设备的传导测试方法来测试有源天线系统，需要将有源天线系统的有源部分和天线阵列部分割裂开。对于有源天线系统来说，破坏了其一体化的拓扑结构，同时增加了设计的复杂度，影响了设备集成度。通常认为，可以采用OTA (Over The Air，空间射频)对AAS进行测试，它可以完全测试AAS的空间特性和射频性能。但OTA测试需要专业的暗室和同步设备，并且需要复杂的测试流程和较长的测试周期。并且，因其测试成本高和测试效率低，所以比较适合于研发和抽样认证测试等。而对于生产批量测试等情况使用OTA测试则没有必要；同时对于一些CE认证测试，要求在密闭的高低温环境下进行，用OTA测试实现很困难。
发明内容
本发明解决的一个技术问题是提供一种有源天线系统射频指标的测试方法与装置，采用一种探针式测试方法和装置，能够完成对AAS设备拓扑结构中虚拟有源和无源阵子测试参考面(本文中也将测试参考面称为界面)的射频性能的测量。为解决上述技术问题，本发明提供了一种有源天线系统射频指标的测试方法，采用测试罩对被测有源天线系统的射频指标进行测试，所述方法包括测试罩单体校准，通过矢量网络分析仪对所述测试罩的各天线射频线进行线缆差损的校准；测试罩环境校准，在单体校准后的所述测试罩内放置天线部件，并固定其与测试探针之间的空间关系，通过移动所述测试探针对所述天线部件的各阵子与所述测试罩之间的近场耦合环境进行校准；其中所述天线部件的阵子结构和组成方式与所述被测有源天线系统天馈部分相同，所述测试探针为一个标准的天线阵子；射频指标测试，将所述被测有源天线系统置于环境校准后的所述测试罩中并固定其对应阵子与所述测试探针之间的空间关系，其测试环境与所述测试罩环境校准后的测试环境相同；根据所述校准得到的校准结果对所述测试环境进行补偿后，通过所述测试探针的射频端口对所述被测有源天线系统进行射频测试，得到所述被测有源天线系统射频端口的射频指标。
进一步地，上述方法还可具有如下特点根据所述校准得到的校准结果对所述测试环境进行补偿，是指根据所述测试罩单体校准得到的测试罩单体校准表，以及所述测试罩环境校准得到的测试环境校准表，对所述测试环境进行补偿。进一步地，上述方法还可具有如下特点所述方法还包括采用所述天线部件对所述被测有源天线系统的天线电气性能进行测试。进一步地，上述方法还可具有如下特点固定所述被测有源天线系统对应阵子与所述测试探针之间的空间关系，是指使 得所述测试探针的极化方向与所述被测有源天线系统对应阵子的极化方向同向。本发明还提供了一种有源天线系统射频指标的测试装置，所述测试装置包括屏蔽箱、定位支架、天线部件、天线射频线、测试探针、探针位置调整单元和可开合吸波板，所述天线部件具有与被测有源天线系统天馈部分相同的阵子结构和组成方式，用于所述测试装置的校准和所述被测有源天线系统的天线阵列测试；所述测试探针为一个标准的天线阵子；所述屏蔽箱用于形成所述测试装置与所述被测有源天线系统之间的空间电磁环境；所述吸波板位于所述定位支架与所述测试探针之间；所述定位支架用于固定所述天线部件或者被测有源天线系统，以及调整所述天线部件或者被测有源天线系统的方位。进一步地，上述装置还可具有如下特点所述装置还包括探针位置调整单元，所述探针位置调整单元用于固定并调整所述测试探针的方位。进一步地，上述装置还可具有如下特点所述探针位置调整单元包括设在所述屏蔽箱体上的滑动导轨。进一步地，上述装置还可具有如下特点在测试所述被测有源天线的支路时，所述测试探针与所述支路对应的阵子之间的吸波板打开，其他位置的吸波板闭合。本发明解决的另一个技术问题是提供一种有源天线系统无线指标的测试方法与装置，采用一种综合的测试方法，在满足对AAS无线性能指标测试要求的前提下，在测试成本和测试效率上达到优化。为解决上述技术问题，本发明提供了一种有源天线系统无线指标的测试方法，包括如上所述的射频指标测试,还包括采用空间射频(OTA)测试对所述被测有源天线系统的空间特性指标进行测试。进一步地，上述方法还可具有如下特点所述OTA测试在暗室或者模拟自由空间环境中进行，测试所述被测有源天线系统的方向图。进一步地，上述方法还可具有如下特点所述方法还包括对所述OTA测试环境进行校准。进一步地，上述方法还可具有如下特点
所述OTA测试包括所述被测有源天线系统的下行空间特性测试通过对所述被测有源天线系统的方向图进行补偿，得到等效全向辐射功率(EIRP)。进一步地，上述方法还可具有如下特点所述OTA测试包括所述被测有源天线系统的上行空间特性测试通过对所述被测有源天线系统的方向图进行补偿，分别等效全向接收灵敏度(EIRS)。综上所述，本发明提供了一种适用于AAS射频指标性能的测试方法和装置，在解决目前AAS在测试方法遇到的实际问题的基础上，有效的提高了测试效率，降低了测试成本。本发明的AAS射频指标性能的测试方法和装置可以应用于AAS的批量生产和认证测试工作，同时还可与OTA的空间测试相配合，从而能够全面的测试AAS的特性。
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中图I是探针式测试装置的基本组成框图。图2是探针式测试装置校准原理框图。图3是探针式测试装置测试原理框图。图4是探针式测试装置校准工作流程图。图5是探针式测试装置测试工作流程图。图6是OTA测试环境校准工作原理框图；图7是有源天线系统下行空间特性测试工作原理框图；图8是有源天线系统上行空间特性测试工作原理框图；图9是本发明实施例的OTA测试环境校准工作流程图；图10是本发明实施例的有源天线系统下行空间特性测试工作流程图；图11是本发明实施例的有源天线系统上行空间特性测试工作流程图。
具体实施例方式为了便于阐述本发明，以下将结合附图及具体实施例对本发明技术方案的实施作进一步详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。本发明实施例提供一种有源天线系统射频指标的测试装置，该装置相当于一个测试装置，如图I所示，由以下几部分组成，天线部件101，和被测件AAS完全相同的天线阵列，用于AAS的天线阵列测试和测试装置的校准；天线射频线102，连接天线部件端口和外部连接器之间射频线缆，用于引入/引出天线部件各阵子的射频信号；测试探针103，一个标准的天线阵子，其阵子结构具有固定的极化方向、增益和驻波比等要求；
探针射频线104，用于引入/引出测试探针射频信号的射频线缆；探针位置调整单元105，一个可以对测试探针103进行固定和定向移动的装置，该装置可以在箱体的导轨106上定向移动；导轨106，用于限定探针位置调整单元105的移动轨迹，可以使其做等间距的定向移动；定位支架107，用于调整和固定探针位置调整单元106和被测试件之间的空间关系;吸波板108，放置在被测件和导轨106之间的吸波材料，可以减少测试探针103和被测试件的阵子之间受内部信号的反射、折射等干扰。吸波板108可以随探针位置调整单元105的移动自动开合。屏蔽箱109，测试装置的金属外壳，可以对其内部和外部的信号进行屏蔽，使其具 有良好的空间电磁屏蔽能力。本测试装置的具体连接关系为在屏蔽箱109中，被测件AAS通过定位支架107固定在箱体内的一侧，另一侧是安装在探针位置调整单元105上的测试探针103，可以通过调整测试探针103和定位支架107之间的相对位置，改变被测件AAS和测试探针103之间的空间关系；箱体中有滑动导轨106，探针位置调整单元105在导轨上滑动，导轨上具有限位定距的功能，保证测试探针103可以遍历测试被测件AAS的每个支路。测试探针103通过探针射频线104外接到的测试仪表。当测试某支路时，则测试探针103和被测件支路对应阵子之间的吸波板108会自动打开，其它阵子的位置会自动遮挡。这样可以提供一个良好的测试环境。天线部件101作为测试装置的一部分，是和被测件AAS的天线部分完全相同的，主要用于AAS的天线阵列的测试和测试装置的校准。本发明实施例提供一种有源天线系统射频指标的测试方法，该测试方法主要包括测试装置校准、测试装置测试和天线电气性能测试。该测试方法的具体测试过程描述如下I、测试装置校准需要对测试装置单体及近场耦合的测试环境分别校准。测试装置单体校准，主要是对测试装置的天线射频线102的校准，通过矢量网络分析仪对各天线射频线进行线损的校准和记录，产生测试装置单体校准表。测试环境校准，主要是对测试装置的近场耦合测试环境进行校准，放置天线部件101在测试装置中，固定它与测试探针103之间的空间关系，并且使得测试探针的极化方向和被测件对应阵子的极化方向同向；通过测试探针103在测试装置上的定位滑动，实现对天线部件101的各阵子及近场耦合环境的校准测试，产生测试环境校准表。2、测试装置测试放置被测件有源天线系统在测试装置中，固定它与测试探针103之间的空间关系，测试探针103在装置上做等间距的定位移动，通过探针射频线104可以实现射频信号的输入或输出，可以将被测件有源天线系统作为一个黑盒子进行射频测试，得到相应的测量结果。通过查找测试装置单体校准表和测试环境校准表，得到校准值，将其补偿到测试环境中，和测量结果一起可以推算出被测件有源天线系统的射频端口的无线射频指标。
3、天线电气性能测试由于测试装置的天线部件101和被测件有源天线系统天线阵列部分完全相同，对测试装置的天线部件电气性能的测试，可以表征有源天线系统天线部分的电气特性；测试项可以包括电压驻波比测试，隔离度测试，校准电路参数测试(针对带校准电路的天线)和交调测试等，这些测试项和传统天线阵列的测试方法相同，主要通过矢量网络分析仪来测试天线的端口的S参数和无源交调分析仪来测试交调产物得到。由于天线阵列的性能是天线设计的机械性能决定的，可以保证在大批量的生产中，性能是稳定的，并且可以满足重复测试要求，所以天线电气性能测试只须一次或几次，就可以表征AAS的天线电气特性。此外，本发明还提供了有源天线系统空间特性指标的测试方法，AAS空间特性测试可以继承传统的基站天线测试环境，需要在暗室等天线测试场进行。主要测试AAS的空间特性，AAS空间特性主要包括:AAS的波束控制能力和精度，空间合成增益测试，半功率波束 宽度、前后比、交叉极化比、副瓣电平测量，下倾角测试等，首先通过天线测试场的环境，测试AAS的方向图(相对量)，然后对测试场的进行校准；对方向图补偿后就可以得到表征AAS空间特性的绝对量，分别为EIRP (Effective Isotropic Radiated Power,等效全向福射功率)和 EIRS (Effective Isotropic Reference Sensitivity,等效全向接收灵敏度)。以下将结合具体应用实例，对本发明的有源天线系统射频测试的测试方法及装置的实施作进一步详细描述。I、测试装置校准I)测试装置单体校准如图2所示建立测试环境，并可按照图4中的步骤401所示进行测试步骤401，在指定频段内设置频点，用矢量网络分析仪对测试装置的天线射频线102的两端(b界面和c界面)进行S参数测试，得到各射频线的差损为G_bc_nm(其中对于NXM 阵列有源天线系统，η = I, . . . , N ；m = I, . . . , Μ)；2)测试装置环境校准如图2所示建立近场耦合的校准环境，放置天线部件101在测试装置中，通过探针位置调整单元105和定位支架107固定它与测试探针103之间的空间关系，并且测试探针103的极化方向和被测件对应阵子的极化方向同向；通过探针位置调整单元105在装置上的定位滑动，实现对天线部件101的各阵子及近场耦合环境的校准测试，并可按照图4步骤402 404所示进行测试。步骤402，在指定频段内设置频点，用矢量网络分析仪测试测探针射频线104外部测试端口(a界面)和天线射频线102外部测试端口(c界面)之间的S参数，得到各支路射频端口的差损为G_ac_nm(其中对于NXM阵列有源天线系统，η = 1，. . .，N ;m = 1，...，Μ)。步骤403，推算出在该测试环境下，从测试探针103的测试端口和被测件天线阵列的测试端口之间的差损G_ab_nm为，G_ab_nm = G_ac_nm_G_bc_nm其中，对于NXM阵列有源天线系统，η = 1，· ·，N ;m = 1，· · ·，M ;G_bc_nm为测试装置单体校准值；
G_ac_nm为测试装置环境校准值。步骤404，在要求的测试频段内，可以选择高中低三个频点重复步骤401 403，也可以根据测试精度的要求进行多频点校准。最后对多组校准数据做插值等数学计算，得到探针式测试装置的测试环境下对应校准频率和校准值的二维表格或曲线。通过查表就可以得到各支路中指定频段内任意频点的校准值AGc。2、射频指标测试如图3建立测试环境，测试环境和校准环节基本相同，和校准测试比较，是用被测件AAS替代了校准测试用的天线部件及天线射频线。按照图5所示步骤进行测试步骤501，首先需要对每个支路的增益进行补偿。补偿的近似值AGc通过校准环节中的校准表查得。补偿的位置可以在有源天线系统的数字域中，也可以在测试仪表中。步骤502，对测试装置补偿后，按照3GPP协议针对AAS BS的要求，通过测试探针对 被测件的AAS各通道进行各项射频指标测试。测试参考点相当于被测有源天线系统的射频端口。以下将对本发明提出的有源天线系统的AAS空间特性的测试方法和装置的具体实现进行详细描述。I)测试环境校准结合图6所示，建立测试环境。在暗室201环境下，增益基准天线202安装在天线转台206上，并通过射频线缆204和矢量信号发生器208相连，另一端，接收天线203安装在天线支架207上，并将接收天线203通过射频线缆205连接到频谱分析仪(或功率计)209上。环境校准可参照图9所示的步骤进行，具体包括如下主要步骤步骤901，调整天线转台206和天线支架207使得增益基准天线202与接收天线203向对准。步骤902，设置矢量信号发生器208发射指定频段的下行连续模拟信号。步骤903，通过接收天线203接收此信号，输入给频谱分析仪或功率计209，得到相应的接收信号功率并记录数据，计算方法如下Py-Px = Lx+(Ly-Gh+Ls)-Gs 公式(I)其中，Py为矢量信号发生器208输出连续模拟信号功率值；Px为频谱仪或功率计测量209的功率值；Gh为接收天线的增益；Gs为增益基准天线的增益；Ly为射频线缆204的差损；Lx为射频线缆205的差损；Ls为OTA环境中空间路径损耗。公式⑴中，Py和Gs已知。Px和Lx可以测量得到，通过公式计算可以得到测试环境链路(包括空间损耗、线缆差损、接收天线增益等)的校准参数APc。APc= (Ly-Gh+Ls) = Py-Px-Lx+Gs 公式(2)此校准参数APc就是测试环境下进行有源天线系统各项测试的基准参数。2)有源天线系统下行空间特性测试
按照图7所示建立测试环境，在暗室301环境下，有源天线系统302安装在天线转台306上，并通过光纤304和后台配置设备308相连，另一端，接收天线303安装在天线支架307上，通过射频线缆305和频谱分析仪或无线通信综测仪309连接。参照图10所示的步骤进行，具体包括如下主要步骤步骤1001，有源天线系统302和后台配置设备308启动并正常工作，通过对后台配置参数使得有源天线系统302处于发射模式，在指定频段内发射额定功率的固定无线波束。步骤1002，调整天线转台306使得有源天线系统302与接收天线303在水平和俯仰上达到最佳指向，使其频谱分析仪或无线通信综测仪309的测量功率值(Pg)为最大(用于主极化测试)或最小(用于交叉极化测试)。步骤1003，有源天线系统302在天线转台306上做方位旋转，并将频谱分析仪接收 到的功率值(Pg)作为角度的函数记录下来；同时调整有源天线系统302的安装方式(水平或者垂直)以及接收天线303的极化方向，可以得到不同主平面(水平或垂直)和不同极化的方向图等。步骤1004，调整或者重新配置有源天线系统302配置参数(包括天线阵元的权值)，重复步骤1002、步骤1003可以得到不同指向波束的方向图；步骤1005，根据步骤1002 步骤1004的测试数据，分析AAS的下行空间特性，并根据校准过程得到的APc，可以得到EIRP:EIRP = Pt+Gt = Pg+ (Ly-Gh+Ls) = Pg+ Δ Pc 公式⑶其中，Pt为有源天线系统输出额定功率；Gt为发射天线阵元增益；Pg为频谱分析仪309测量的功率值；APc为校准参数。3)有源天线系统上行空间特性测试按照图8所示建立测试环境，在暗室401环境下，有源天线系统402安装在天线转台406上，并通过光纤404和后台配置设备408相连；另一端，发射天线403安装在天线支架407上，通过射频线缆405和矢量信号发生器409连接。按照图11所示步骤进行测试，具体包括如下主要步骤步骤1101，先将有源天线系统402和后台配置设备408启动并正常工作，通过对后台配置参数使得有源天线系统402处于接收模式，并可以接收指定频段固定指向的无线波束。步骤1102，设置矢量信号发生器409在指定频段内发射某种制式(GSM，CDMA,WCDMA或LTE等)的模拟调制信号，调整天线转台406使得有源天线系统402与发射天线403在水平和俯仰上达到最佳指向，使其有源天线系统402测量功率值为最大(用于主极化测试)或最小(用于交叉极化测试)。步骤1103，有源天线系统402在测试转台上做方位旋转，并将其接收功率值(Rs)作为角度的函数记录下来。可以分别调整有源天线系统402的安装方式(水平或者垂直)以及发射天线403的极化方向，可以得到不同主平面(水平或垂直)和不同极化的方向图。步骤1104，调整有源天线系统402配置参数(包括天线阵元的权值)，重复步骤1102、步骤1103可以得到不同指向波束的方向图；步骤1105，根据步骤1101 1104的测试数据，分析AAS的上行空间特性；调整矢量信号发生器409的信号幅度(Ps)，使得有源天线系统402对调制信号的解调灵敏度达到最小，可以得到EIRS EIRS = Rs-Gr = Ps- (Ly-Gh+Ls) = Ps- Δ Pc 公式(4)其中，Rs为有源天线系统检测到的接收功率电平；Gr为接收天线增益；Ps为矢量信号发生器409输出调制信号功率值；APc为校准参数。
由于有源天线系统的天线阵列部分的性能是天线设计的机械性能决定的，可以保证在大批量的生产中，性能是稳定的，并且可以满足重复测试要求，所以有源天线系统的空间特性测试的只须一次或几次，就可以获得AAS的空间特性。综上所述，采用本发明所述方法和装置，可以实现对有源天线系统的无线指标，包括射频指标和空间指标的全面的测试。与现有技术相比，很好的解决OTA测试带来的测试效率和测试成本问题，同时，通过这种探针式测试这种近场耦合的方式，解决了有源天线系统设备没有外部射频端口带来的问题，可以把被测件当作一个黑盒子进行测试，可以很好的继承传统基站的测试标准、测试方法、测试工具以及测试环境等，在设备生产和产品认证等环节是一种有效的实用测试方法；总之在保证测试要求的前提下，节省了测试成本，提高了测试效率，同时可以被使用者很容易接受和认证。以上仅为本发明的优选实施案例而已，并不用于限制本发明，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员可根据本发明做出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
权利要求
1.一种有源天线系统射频指标的测试方法，其特征在于，采用测试罩对被测有源天线系统的射频指标进行测试，所述方法包括 测试罩单体校准，通过矢量网络分析仪对所述测试罩的各天线射频线进行线缆差损的校准； 测试罩环境校准，在单体校准后的所述测试罩内放置天线部件，并固定其与测试探针之间的空间关系，通过移动所述测试探针对所述天线部件的各阵子与所述测试罩之间的近 场耦合环境进行校准；其中所述天线部件的阵子结构和组成方式与所述被测有源天线系统天馈部分相同，所述测试探针为一个标准的天线阵子； 射频指标测试，将所述被测有源天线系统置于环境校准后的所述测试罩中并固定其对应阵子与所述测试探针之间的空间关系，其测试环境与所述测试罩环境校准后的测试环境相同；根据所述校准得到的校准结果对所述测试环境进行补偿后，通过所述测试探针的射频端口对所述被测有源天线系统进行射频测试，得到所述被测有源天线系统射频端口的射频指标。
2.如权利要求I所述的方法，其特征在于，根据所述校准得到的校准结果对所述测试环境进行补偿，是指 根据所述测试罩单体校准得到的测试罩单体校准表，以及所述测试罩环境校准得到的测试环境校准表，对所述测试环境进行补偿。
3.如权利要求I所述的方法，其特征在于，所述方法还包括 采用所述天线部件对所述被测有源天线系统的天线电气性能进行测试。
4.如权利要求I所述的方法，其特征在于， 固定所述被测有源天线系统对应阵子与所述测试探针之间的空间关系，是指使得所述测试探针的极化方向与所述被测有源天线系统对应阵子的极化方向同向。
5.一种有源天线系统无线指标的测试方法，其特征在于，包括如权利要求1、2、3或4之任一项所述的射频指标测试，还包括 采用空间射频(OTA)测试对所述被测有源天线系统的空间特性指标进行测试。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于， 所述OTA测试在暗室或者模拟自由空间环境中进行，测试所述被测有源天线系统的方向图。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括 对所述OTA测试环境进行校准。
8.如权利要求5、6或7所述的方法，其特征在于，所述OTA测试包括 所述被测有源天线系统的下行空间特性测试通过对所述被测有源天线系统的方向图进行补偿，得到等效全向辐射功率(EIRP)。
9.如权利要求5、6或7所述的方法，其特征在于，所述OTA测试包括 所述被测有源天线系统的上行空间特性测试通过对所述被测有源天线系统的方向图进行补偿，分别等效全向接收灵敏度(EIRS)。
10.一种有源天线系统射频指标的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括屏蔽箱、定位支架、天线部件、天线射频线、测试探针、探针位置调整单元和可开合吸波板， 所述天线部件具有与被测有源天线系统天馈部分相同的阵子结构和组成方式，用于所述测试装置的校准和所述被测有源天线系统的天线阵列测试； 所述测试探针为一个标准的天线阵子； 所述屏蔽箱用于形成所述测试装置与所述被测有源天线系统之间的空间电磁环境； 所述吸波板位于所述定位支架与所述测试探针之间； 所述定位支架用于固定所述天线部件或者被测有源天线系统，以及调整所述天线部件或者被测有源天线系统的方位。
11.如权利要求10所述的装置，其特征在于，所述装置还包括探针位置调整单元， 所述探针位置调整单元用于固定并调整所述测试探针的方位。
12.如权利要求11所述的装置，其特征在于， 所述探针位置调整单元包括设在所述屏蔽箱体上的滑动导轨。
13.如权利要求10、11或12所述的装置，其特征在于， 在测试所述被测有源天线的支路时，所述测试探针与所述支路对应的阵子之间的吸波板打开，其他位置的吸波板闭合。
全文摘要
本发明公开了一种有源天线系统射频指标及无线指标的测试方法与装置，采用基于近场耦合方式的一种探针式的测试罩，对被测有源天线系统的射频指标进行测试，包括测试罩单体校准；测试罩环境校准；射频指标测试，将被测有源天线系统置于测试罩中，测试环境与校准环境相同，根据校准得到的校准结果对测试环境进行补偿后，通过测试探针的射频端口对被测有源天线系统进行射频测试。本发明同时提出一种综合的测试方法，分别采用空间射频(OTA)测试对有源天线系统的空间特性进行测试，采用近场耦合方式对有源天线系统的射频指标进行测试，充分结合了两种测试方法的优点，克服了两者的缺陷和问题，从而在测试效率和测试成本上达到最优化。
文档编号H04B17/00GK102830298SQ20121026418
公开日2012年12月19日 申请日期2012年7月27日 优先权日2012年7月27日
发明者王博明, 李香玲, 郭险峰, 王鹏 申请人:中兴通讯股份有限公司