技术总结
本发明公开双并联MZI型电光调制器光学损耗的自动测试方法，包括步骤：设置测试光源的出光波长通道，获得调制器的进光功率和不施加偏置电压时的出光功率P0；调节调制器I路的偏置电压，使调制器的出光功率达到最大；调节调制器Q路的偏置电压，使调制器的出光功率达到最大；调节调制器P路的偏置电压，使调制器的出光功率达到最大；记录调制器此时的出光功率P，将光功率P值减去出光功率P0获得功率增量ΔP，计算获得增量百分比ΔP/P；比较增量百分比ΔP/P和预设的阈值百分比，当增量百分比ΔP/P大于预设的阈值百分比，返回上步骤；若增量百分比ΔP/P小于或等于阈值百分比，则进入计算该波长通道的光学损耗；本发明测试方法简捷、测试电路设计简单。
技术研发人员：黄钊;张博;钱坤;胡毅;马卫东
受保护的技术使用者：武汉光迅科技股份有限公司
文档号码：201610785993
技术研发日：2016.08.31
技术公布日：2017.02.15