技术总结
本发明提供了一种提高时间戳测量精度的方法及装置，所述方法包括：获取与被测周期信号具有预设频率偏差的采样时钟；被测周期信号的频率为f1，采样时钟的频率为f2，f2＝(1+1/N)*f1，N≥2，N为正整数；利用采样时钟对被测周期信号进行采样，获得一个周期性采样信号，该周期性采样信号的周期为被测周期信号的周期T1的N倍；当在某时刻检测到被测事件时，获取与该时刻对应的粗计数器的计数值n，以及细计数器的计数值m，并根据n和m获取被测事件的时间戳[n+m*(1/N)]*T2。本发明提供的提高时间戳测量精度的方法及装置，实现起来较为方便，对器件性能要求较低，且根据需要能够达到优于传统时钟计数法的时间精度。
技术研发人员：杨振华;曹忻军;陈洪顺;徐统业
受保护的技术使用者：北京飞利信电子技术有限公司
文档号码：201610787322
技术研发日：2016.08.30
技术公布日：2017.01.04