技术总结
本发明公开了一种PCIE设备可靠性的加速检测方法，所述方法通过建立PCIE可靠性测试控制单元，实现PCIE设备数据的发送与设备状态控制，待测PCIE设备直连安装于该PCIE可靠性测试控制单元上，所述PCIE可靠性测试控制单元的PCIE数据总线直接连接至待测PCIE设备上，同时所述PCIE可靠性测试控制单元直接控制待测PCIE设备的复位reset信号，实现硬复位控制权限，通过采用多组高强度、高频次的集中式快速强化功能单项测试，将PCIE设备的潜在隐患快速抓取出来。本发明方法可以很方便的实现PCIE设备可靠性的加速检测，不仅达到了可靠性要求，而且实现高性能要求，实现服务器系统的可靠性、稳定性。
技术研发人员：刘涛
受保护的技术使用者：郑州云海信息技术有限公司
文档号码：201610946650
技术研发日：2016.10.24
技术公布日：2017.02.22