本发明涉及调试领域，尤其涉及光模块的调试领域，具体是指一种光模块测试系统。
背景技术：
在常规的光模块测试中，需要测试光模块的眼图、接收灵敏度、光谱、ddm上报等各种参数。但由于onu模块采用收发一体的设计方式，往往测试时都是先测发送、后测接收、然后扫描光谱等一步步独立的测试。这样的测试方法不仅每次都要插拔光纤，浪费时间，也带进了很多的插拔误差，使测试数据不够一致。而且在高低温测试时，如果打开温箱然后进行插拔光纤的操作，一是不安全，因为高温85度容易烫伤，低温-45度容易冻伤。二是在插拔的时候带进去插拔损耗，使测试数据不准确。三还会使温箱里面的温度急剧降低或者升高，要回到测试温度得花费大量的时间。
请参阅图1所示，其为现有技术的一光模块测试系统的架构示意图。其在温箱里面一次性放n个模块，然后其中一个模块插到测试板上电测试，引出的光纤先和光功率计连接，测试光功率，然后拔下和光谱仪连接，测试光谱，然后再拔下和眼图仪链接测试眼图。以此类推，每测试一项都得插拔一次光纤，而且插拔光纤后得用端面检测仪检测端面，如果端面脏了还得清洁。待一个模块测完后，需要打开温箱，然后快速更换一个模块再接着测试。待所有模块测完后再改变温箱温度，重复上述步骤。
请参阅图2所示，其为现有技术的另一光模块测试系统的架构示意图。其在温箱里面一次放一个模块，引出的光纤先和光功率计连接，测试光功率，然后拔下和光谱仪连接，测试光谱，然后再拔下和眼图仪链接测试眼图。以此类推，每测试一项都得插拔一次光纤，而且插拔光纤后得用端面检测仪检测端面，如果端面脏了还得清洁。测完常温后对温箱进行升温测试高温，测完高温后对温箱进行降温，测试低温。
而现有技术中的上述方案，存在以下缺点：
1、成本高，需要双通道误码仪；
2、测试时间长，每测一个项目都得人工插拔光纤切换设备；
3、重复的插拔光纤导致精度下降，对光纤的损伤也大；
4、在高低温下更换温箱里面的模块容易造成烫伤或者冻伤，不安全；
5、高低温下打开温箱后会使温箱内部温度改变，需要很久才能恢复稳定；
6、低温下打开温箱会进水汽，使板子容易结霜，造成板子短路；
7、无法测试模块接收电眼图；
8、每测试一次都得插拔一次光纤，浪费时间；
9、一次只能测试一个模块，效率低；
10、每测一次模块都得升降温一次，浪费电。
技术实现要素：
本发明的目的是克服了上述现有技术的缺点，提供了一种能够降低成本的光模块测试系统。
为了实现上述目的，本发明的光模块测试系统具有如下构成：
该光模块测试系统，其主要特点是，所述的系统包括至少两个待测光模块、第一分路器、第二分路器、单通道误码仪、olt模块和至少两个光模块测试仪器；
所述的至少两个待测光模块与所述的第一分路器相连接，且所述的至少两个待测光模块择一放置于一待测板上；
所述的第一分路器与所述的第二分路器相连接，且所述的第一分路器与所述的至少两个待测光模块相连接；
所述的第二分路器与所述的至少两个光模块测试仪器相连接；
所述的单通道误码仪分别与所述的至少两个光模块测试仪器的一个光模块测试仪器、所述的待测板、所述的olt模块相连接；
所述的olt模块与所述的至少两个光模块测试仪器相连接。
该光模块测试系统的至少两个待测光模块为八个待测光模块，所述的八个待测光模块分别为第一待测光模块、第二待测光模块、第三待测光模块、第四待测光模块、第五待测光模块、第六待测光模块、第七待测光模块和第八待测光模块，所述的第一分路器为一分八光分路器，所述的第一待测光模块、第二待测光模块、第三待测光模块、第四待测光模块、第五待测光模块、第六待测光模块、第七待测光模块和第八待测光模块均与所述的一分八光分路器相连接，所述的第八待测光模块放置于所述的待测板上。
该光模块测试系统的至少两个光模块测试仪器包括眼图仪、功率计、光谱仪和voa光衰减测试模块，所述的眼图仪、功率计、光谱仪和voa光衰减测试模块均具有输出端，所述的第二分路器为一分四光分路器，所述的一分四光分路器具有第一一分四光分路器输入端、第二一分四光分路器输入端、第三一分四光分路器输入端、第四一分四光分路器输入端和第五一分四光分路器输入端，所述的眼图仪、功率计、光谱仪和voa光衰减测试模块的输出端分别与所述的第一一分四光分路器输入端、第二一分四光分路器输入端、第三一分四光分路器输入端和第四一分四光分路器输入端相连接。
该光模块测试系统的单通道误码仪具有发射正极输出端和发射负极输出端，所述的待测板具有待测板输入端，所述的olt模块具有olt模块输入端，所述的发射正极输出端与所述的待测板输入端相连接，所述的发射负极输出端与所述的olt模块输入端块相连接。
该光模块测试系统的待测板具有接收正极输出端和接收负极输出端，所述的接收正极输出端与所述的至少两个光模块测试仪器的一个光模块测试仪器相连接，所述的接收负极输出端与单通道误码仪的输入端相连接。
该光模块测试系统的单通道误码仪具有单通道误码仪输出端，所述的眼图仪具有眼图仪第一输入端和眼图仪第二输入端，所述的单通道误码仪输出端与所述的眼图仪第一输入端相连接。
该光模块测试系统的接收正极输出端与所述的眼图仪第二输入端相连接。
该光模块测试系统的一分八光分路器具有一分八光分路器输出端，所述的一分八光分路器输出端与所述的第五一分四光分路器输入端相连接。
该光模块测试系统的olt模块具有olt模块输出端，所述的voa光衰减器具有voa光衰减器输入端，所述的olt模块输出端与所述的voa光衰减器输入端相连接。
采用了该发明中的光模块测试系统，通过单通道误码仪代替现有技术中的双通道误码仪，节省了成本，同时在测试眼图、功率、以及灵敏度时不再需要插拔光纤，大大提高了效率，也减少了光纤的损耗，更重要的是可一次性测试多个模块，以及多个模块中的接收电眼图，相较于现有技术，安全而省电，具有更广泛的应用范围。
附图说明
图1为现有技术的一光模块测试系统的架构示意图。
图2为现有技术的另一光模块测试系统的架构示意图。
图3为本发明的光模块测试系统的架构示意图。
具体实施方式
为了能够更清楚地描述本发明的技术内容，下面结合具体实施例来进行进一步的描述。
请参阅图3所示，其为本发明的光模块测试系统的架构示意图。该光模块测试系统，其主要特点是，所述的系统包括至少两个待测光模块、第一分路器、第二分路器、单通道误码仪、olt模块和至少两个光模块测试仪器；
所述的至少两个待测光模块与所述的第一分路器相连接，且所述的至少两个待测光模块择一放置于一待测板上；
所述的第一分路器与所述的第二分路器相连接，且所述的第一分路器与所述的至少两个待测光模块相连接；
所述的第二分路器与所述的至少两个光模块测试仪器相连接；
所述的单通道误码仪分别与所述的至少两个光模块测试仪器的一个光模块测试仪器、所述的待测板、所述的olt模块相连接；
所述的olt模块与所述的至少两个光模块测试仪器相连接。
该光模块测试系统的至少两个待测光模块为八个待测光模块，所述的八个待测光模块分别为第一待测光模块、第二待测光模块、第三待测光模块、第四待测光模块、第五待测光模块、第六待测光模块、第七待测光模块和第八待测光模块，所述的第一分路器为一分八光分路器，所述的第一待测光模块、第二待测光模块、第三待测光模块、第四待测光模块、第五待测光模块、第六待测光模块、第七待测光模块和第八待测光模块均与所述的一分八光分路器相连接，所述的第八待测光模块放置于所述的待测板上。
该光模块测试系统的至少两个光模块测试仪器包括眼图仪、功率计、光谱仪和voa光衰减测试模块，所述的眼图仪、功率计、光谱仪和voa光衰减测试模块均具有输出端，所述的第二分路器为一分四光分路器，所述的一分四光分路器具有第一一分四光分路器输入端、第二一分四光分路器输入端、第三一分四光分路器输入端、第四一分四光分路器输入端和第五一分四光分路器输入端，所述的眼图仪、功率计、光谱仪和voa光衰减测试模块的输出端分别与所述的第一一分四光分路器输入端、第二一分四光分路器输入端、第三一分四光分路器输入端和第四一分四光分路器输入端相连接。
该光模块测试系统的单通道误码仪具有发射正极输出端和发射负极输出端，所述的待测板具有待测板输入端，所述的olt模块具有olt模块输入端，所述的发射正极输出端与所述的待测板输入端相连接，所述的发射负极输出端与所述的olt模块输入端块相连接。
该光模块测试系统的待测板具有接收正极输出端和接收负极输出端，所述的接收正极输出端与所述的至少两个光模块测试仪器的一个光模块测试仪器相连接，所述的接收负极输出端与单通道误码仪的输入端相连接。
该光模块测试系统的单通道误码仪具有单通道误码仪输出端，所述的眼图仪具有眼图仪第一输入端和眼图仪第二输入端，所述的单通道误码仪输出端与所述的眼图仪第一输入端相连接。
该光模块测试系统的接收正极输出端与所述的眼图仪第二输入端相连接。
该光模块测试系统的一分八光分路器具有一分八光分路器输出端，所述的一分八光分路器输出端与所述的第五一分四光分路器输入端相连接。
该光模块测试系统的olt模块具有olt模块输出端，所述的voa光衰减器具有voa光衰减器输入端，所述的olt模块输出端与所述的voa光衰减器输入端相连接。
在实际应用中，本发明的光模块测试系统采用单通道误码仪，将tx+接到温箱里面的测试版，给带测试的光模块提供tx信号，将误码仪的tx-接到olt测试版，给olt提供发射信号。然后将测试版的rx-环回到误码仪，测试模块的接收灵敏度，rx+接到眼图仪的电口，方便测试模块的接收电眼图。
在实际应用中，温箱里面一次性放8个模块，然后通过1×8的光分路器连接起来，一个模块插在测试版上面上电测试，另外七个放在温箱内预冷或者预热。然后1×8分路器的公共端和1×4分路器的公共端相连接，1×4分路器的4个口分别和眼图仪，光谱仪、功率计、voa相连接。这样在测试时无需插拔光纤，可直接测试光功率、眼图、接收灵敏度、光谱等。而且测试光模块的rx眼图时也不用去拆sma线，直接切换下眼图仪的通道就可以直接测试。
在实际应用中，待一个模块测试完后，打开温箱直接更换另一个模块，这个过程只需要几秒钟就可以实现。按照现有技术中的方法打开温箱，然后拔下模块，然后拔下光纤，再把光纤插到新的模块，再把模块插到测试板。这中间要花费大半分钟，在插拔过程中容易烫伤、冻伤。而且开门时间一长，高温85°时温箱温度会下降很快，关门后得重新升温，浪费时间和电。低温-40°时，不仅温度会升高回温需要很长时间，浪费时间浪费电。而且会进去很多水汽，导致测试版结霜短路。
采用了该发明中的光模块测试系统，通过单通道误码仪代替现有技术中的双通道误码仪，节省了成本，同时在测试眼图、功率、以及灵敏度时不再需要插拔光纤，大大提高了效率，也减少了光纤的损耗，更重要的是可一次性测试多个模块，以及多个模块中的接收电眼图，相较于现有技术，安全而省电，具有更广泛的应用范围。
在此说明书中，本发明已参照其特定的实施例作了描述。但是，很显然仍可以作出各种修改和变换而不背离本发明的精神和范围。因此，说明书和附图应被认为是说明性的而非限制性的。