一种用于结构光模组的检测治具的制作方法

本申请涉及检测治具的技术领域，具体是涉及一种用于结构光模组的检测治具。

背景技术：

目前，结构光模组可以实现3d成像，被广泛应用于电子设备中以实现自拍、面部识别等功能，同时，结构光模组的相应部件无须全部暴露在电子设备的整机正面，在进一步开创全面屏记录的同时，也提供了全面屏“无刘海”自拍和解锁的可行解决办法。

结构光模组主要包括红外摄像头、前置摄像头、点阵投影器等部件，这些部件依次固定在支架上，其中，结构光模组被组装到电子设备之前需要检测前置摄像头等部件在支架上的位置是否合格。

技术实现要素：

本申请实施例提供了一种用于结构光模组的检测治具，结构光模组包括支架及摄像头，摄像头与支架连接，其中，检测治具包括定位基座及检测件，定位基座设置有第一定位部及第二定位部，第一定位部用于在结构光模组置于定位基座时对支架进行定位，第二定位部用于在检测件置于定位基座时对检测件进行定位，检测件包括检测窗口，以在结构光模组及检测件置于定位基座时，检测检测窗口与摄像头的位置关系。

本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请提供的检测治具包括定位基座及检测件，定位基座设置有第一定位部及第二定位部，检测件包括检测窗口，在结构光模组及检测件依次置于定位基座时，第一定位部对结构光模组的支架进行定位，第二定位部对检测件进行定位，以使得检测件与结构光模组在检测治具中的位置关系相对确定，从而检测检测窗口与结构光模组的摄像头的位置关系，进而判断摄像头在支架上的位置是否合格。通过这种检测方式，不仅检测现象明显，还可以提高检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请中结构光模组的结构示意图；

图2是本申请提供的用于结构光模组的检测治具第一实施例的结构示意图；

图3是图2中定位基座的俯视示意图；

图4是图2中检测治具容置有结构光模组的结构示意图；

图5是图4中检测件盖设于定位基座后沿v-v向的截面示意图；

图6是图4中检测件与定位基座通过连接件连接的结构示意图；

图7是图4中检测窗口与摄像头的位置关系可能情况的示意图；

图8是图4中检测件的一其他实施例的结构示意图；

图9是本申请提供的检测治具对结构光模组进行检测的一般流程示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本申请作进一步的详细描述。特别指出的是，以下实施例仅用于说明本申请，但不对本申请的范围进行限定。同样的，以下实施例仅为本申请的部分实施例而非全部实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

本申请中，电子设备可以是任何具有面部识别、自拍等功能的设备，例如，智能手机、平板电脑等。

目前，结构光模组可以实现3d成像，被广泛应用于电子设备中以实现自拍、面部识别等功能，同时，结构光模组的相应部件无须全部暴露在电子设备的整机正面，在进一步开创全面屏记录的同时，也提供了全面屏“无刘海”自拍和解锁的可行解决办法。

结构光模组主要包括红外摄像头、前置摄像头、点阵投影器等部件，这些部件依次固定在支架上，在工业生产中，先将前置摄像头等部件集成在结构光模组上，再将结构光模组装配到电子设备里，由于支架的存在导致其结构比正常机型复杂，无法很好地控制其外形及位置尺寸公差，使得前置摄像头的偏位不良较高，为此需要对结构光模组进行单体检测挑选，以保证前置摄像头在支架上的位置满足设计要求。

本申请的发明人经过长期研究发现：采用二次元设备测量关键尺寸以对结构光模组进行检测挑选时，由于涉及偏位的尺寸较多，测量较为复杂，通常一个结构光模组的检测时间达到5分钟以上，根本无法供应组装段的产能需求。为此，本申请提供了如下实施例。

参阅图1，图1是本申请中结构光模组的结构示意图。

本申请的结构光模组100包括红外摄像头101、摄像头102、点阵投影器103及支架104。

可选地，摄像头102为前置摄像头。

其中，红外摄像头101、摄像头102、点阵投影器103位于支架104同侧，并分别与支架104连接，例如，支架104开设有凹槽式的固定座，可以将摄像头102固定于凹槽内。

需要说明的是，由于电子设备内部空间有限，需要放置的零部件又较多，支架104的大小、形状及结构等一般会根据零部件的放置需要而发生变化，本申请中以支架104为规则的几何形状为例进行说明，如图1所示。

参阅图2，图2是本申请提供的用于结构光模组的检测治具第一实施例的结构示意图。

本实施例的检测治具10包括定位基座11及检测件12，检测件12可盖设于定位基座11。

其中，定位基座11包括底壁111及侧壁112，侧壁112立于底壁111，侧壁112包括第一壁段1121及第二壁段1122，第一壁段1121与底壁111连接并形成第一容纳空间113，第一容纳空间113用于容纳结构光模组100，第二壁段1122远离底壁111并与第一壁段1121形成阶梯面1123，阶梯面1123平行于底壁111，第二壁段1122与阶梯面1123形成第二容纳空间114，第二容纳空间114与第一容纳空间113在竖直方向上连通并用于容纳检测件12。

本实施例中，竖直方向可以指垂直于底壁111的方向，第二容纳空间114与第一容纳空间113在竖直方向上连通，以使得结构光模组100置于第一容纳空间113时，至少部分先穿过第二容纳空间114。

可选地，定位基座11由铝合金材料加工制得，当然也可以是其他材料，在此不做限制。

可选地，阶梯面1123与第一壁段1121的连接处呈倒角或圆角设置，以避免结构光模组100置于第一容纳空间113的过程中与定位基座11发生碰撞，也可以避免定位基座11刮伤结构光模组100。

可选地，侧壁112还设置有缺口1124，缺口1124在水平方向上贯穿侧壁112，以使得结构光模组100可通过缺口1124被取出，以便于在检测完成之后取出结构光模组100，提高工作效率。

本实施例中，水平方向可以指平行于底壁111的方向。

可选地，底壁111还设置有顶出孔1111，顶出孔1111在竖直方向上贯穿底壁111，以使得结构光模组100可通过顶出孔1111被顶出，以便于在检测完成之后取出结构光模组100，提高工作效率，还可以防止在取出结构光模组100的过程中支架104发生变形。

共同参阅图2及图3，图3是图2中定位基座11的俯视示意图。

定位基座11上设置有第一限位部13及第二限位部14，第一定位部13用于在结构光模组100置于定位基座11时对支架104进行定位，第二定位部14用于在检测件12置于定位基座11时对检测件12进行定位。

本实施例中，以第一定位部13及第二定位部14分别设置于第一壁段1121及第二壁段1122为例。

可选地，第一定位部13的数量为多个，多个第一定位部13的位置分布与其在电子设备中的实际情况相吻合，从而通过将结构光模组100置于定位基座11来模仿结构光模组100在电子设备中的装配过程，换句话说，结构光模组100在定位基座11内的放置位置与其在电子设备中的安装位置是一致的。

可选地，第二定位部14类似于电子设备的中框，也即是，电子设备中容纳显示屏的那一部分。

本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

可选地，第二壁段1122还设置有第一定向部11221。

可选地，定位基座11上还设置有第三定位部15，本实施例中以第三定位部15设置于底壁111为例，第三定位部15用于在结构光模组100容置于第一容纳空间113时，使得支架104处于预设姿势。

本实施例中，预设姿势可以指支架104在电子设备中的安装姿势，例如，支架104的安装姿势为平行于电子设备的显示屏，换句话说，支架104在定位基座11中的放置姿势与其在电子设备中的安装姿势是一致的。

本申请中的术语“第一”、“第二”及“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”及“第三”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。

可选地，第一定位部13部分凸出于第一壁段1121，第二定位部14部分凸出于第二壁段1122，第三定位部15部分凸出于底壁111，以在加工制作检测治具10的过程中，仅仅对这些第一定位部13、第二定位部14及第三定位部15进行精加工即可。这样，一方面可以增加检测治具10对结构光模组100及检测件12的定位精度，另一方面可以减少检测治具10中需要精加工的面积，从而节省成本。

可选地，第一定位部13与第一壁段1121活动设置，以在结构光模组100容置于第一容纳空间113时，第一定位部13在水平方向上可朝向支架104移动，以使得支架104与第一定位部13在水平方向上的距离小于或等于第一距离阈值，第二定位部14与第二壁段1122活动设置，以在检测件12容置于第二容纳空间104时，第二定位部14在水平方向上可朝向检测件12移动，以使得检测件12与第二定位部1122在水平方向上的距离小于或等于第二距离阈值。

通过这种方式，当结构光模组100的大小、形状及结构等发生变化时，通过调整第一定位部13及第二定位部14分别相对于第一壁段1121及第二壁段1122的位置，可以使得检测治具满足检测的需求，从而增加检测治具的适用范围。

共同参阅图4及图5，图4是图2中检测治具10容置有结构光模组100的结构示意图，图5是图4中检测件12盖设于定位基座11后沿v-v向的截面示意图。

在结构光模组100容置于第一容纳空间113时，支架104与第一限位部13在水平方向上的距离小于或等于第一距离阈值，并在检测件12容置于第二容纳空间114时，检测件12与第二限位部14在水平方向上的距离小于或等于第二距离阈值。

可选地，第一距离阈值小于或等于0.01mm。

可选地，第二距离阈值小于或等于0.01mm。

检测件12包括检测窗口121，以在结构光模组100及检测件12置于定位基座11时，检测检测窗口121与摄像头102的位置关系。

可选地，检测件12为钢材，检测窗口121通过线切割加工制得，加工误差在±0.01mm之内，其大小及位置与摄像头102保持一致，当然也可以是其他材料，通过其他加工方式制得，在此不做限制。

可选地，检测窗口121在检测件12上的大小及位置是可变化的，以适应于不同规格型号的结构光模组100的检测需求，从而增加检测治具10的适用范围。

本实施例中，先将结构光模组100容置于第一容纳空间113，再将检测件12容置于第二容纳空间114。

可选地，结构光模组100在垂直方向上低于或平齐于阶梯面1123，以使得检测件12容置于第二容纳空间114时，检测件12贴设于阶梯面1123。

可选地，检测件12还包括第二定向部122，在第二定向部122与第一定向部11221配合，且检测件12贴设于阶梯面1123时，检测窗口121位于预设位置。

本实施例中，检测窗口121位于预设位置时，检测窗口121可与摄像头102相对应，避免检测件12盖设于定位基座11时出现“盖反”的现象，从而提高检测效率。

在其他一些实施例中，检测治具10还包括连接件16，连接件16用于连接检测件12与定位基座11，如图6所示，以使得检测件12贴设于阶梯面1123时，检测窗口121位于预设位置。通过这种方式，不仅可以避免检测件12盖设于定位基座11时出现“盖反”的现象，从而提高检测效率，还可以避免检测件12遗失。

如前所述，结构光模组100在定位基座11中的放置位置及放置姿势与其在电子设备中的安装位置及安装姿势是一致的，同时，检测件12类似于电子设备的显示屏，通过将检测件12置于定位基座11来模仿显示屏在电子设备中的装配过程，换句话说，检测件12在定位基座11内的放置位置与显示屏在电子设备中的安装位置是一致的。

进一步地，检测窗口121类似于电子设备显示屏上开设的窗口，该窗口一般与前置摄像头相对应，以使得前置摄像头可接收外界的光线，从而实现自拍、面部识别等功能。一般地，显示屏上开设的窗口呈圆形，且其直径大于前置摄像头的直径，以减小前置摄像头的摄像盲区，为此，还需要前置摄像头与显示屏上的窗口同轴设置，也即是，前置摄像头位于窗口的正中间，这样还可以增加电子设备的美观度。

本实施例中，将结构光模组100及检测件12依次置于定位基座11之后，再在ccd放大镜下观察检测窗口121与摄像头102的位置关系，从而实现检测治具10对结构光模组100的检测，可以包括，检测摄像头102在支架104上的位置是否满足设计要求。

一般地，当检测窗口121与摄像头102的位置关系如图7中(a)所示的情况时，摄像头102在支架104上的位置满足设计要求；当检测窗口121与摄像头102的位置关系如图7中(b)所示的情况时，摄像头102在支架104上的位置不满足设计要求。

本申请的发明人经过长期的生产操作发现：通过上述方式检测摄像头102在支架104上的位置是否满足设计要求，不仅检测现象明显，还可以10秒钟左右完成一个结构光模组100的检测，大大提高了检测效率。

参阅图8，图8是图4中检测件12的一其他实施例的结构示意图。

在该一其他实施例中，摄像头102的数量为多个，检测窗口121的数量也为多个，在结构光模组100及检测件12置于定位基座11时，检测多个检测窗口121分别与多个摄像头102的位置关系，这样可以提高检测效率。

例如，检测窗口121的数量可以是两个，分别对应于红外摄像头101和前置摄像头102，那么，在按照如前所述的方式对前置摄像头102进行检测时，还可以同时对红外摄像头101进行检测，不仅可以提高检测效率，还可以降低单独分别对红外摄像头101和前置摄像头102进行检测的误差。

再例如，检测窗口121的数量可以较摄像头102的更多，每个检测窗口121可以对应于不同规格型号的结构光模组100，从而增加检测治具10的适用范围。

图9是本申请提供的检测治具对结构光模组进行检测的一般流程示意图。

本检测方法以上述第一实施例中的检测治具为例进行说明。

步骤s201：将结构光模组置于定位基座。

本步骤s201可结合图4及图5进行理解，具体地，结构光模组100容置于第一容纳空间113，并通过第一定位部13及第三定位部15对支架104进行定位，以使得结构光模组100在定位基座11中的放置位置及放置姿势与其在电子设备中的安装位置及安装姿势是一致的。

步骤s202：将检测件置于定位基座。

本步骤s202可结合图4及图5进行理解，具体地，检测件12容置于第二容纳空间114，并通过第二定位部14对检测件12进行定位，检测件12在定位基座11内的放置位置与显示屏在电子设备中的安装位置是一致的。

通过步骤s201及步骤s202，可以使得检测件12与结构光模组100在检测治具10中的位置关系相对确定，从而便于后续的检测。

步骤s203：将检测治具置于放大镜下进行检测。

本步骤s203可结合图7进行理解，具体地，通过检测检测窗口121与摄像头102的位置关系，可以判断摄像头102在支架104上的位置是否合格。

可选地，放大镜为ccd放大镜，当然也可以是其他放大镜，在此不做限制。

区别于现有技术的情况，本申请提供的检测治具包括定位基座及检测件，定位基座设置有第一定位部及第二定位部，检测件包括检测窗口，在结构光模组及检测件依次置于定位基座时，第一定位部对结构光模组的支架进行定位，第二定位部对检测件进行定位，以使得检测件与结构光模组在检测治具中的位置关系相对确定，从而检测检测窗口与结构光模组的摄像头的位置关系，进而判断摄像头在支架上的位置是否合格。通过这种检测方式，不仅检测现象明显，还可以提高检测效率。

以上所述仅为本申请的部分实施例，并非因此限制本申请的保护范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效装置或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。