本发明涉及光学技术领域，具体涉及一种无需眼图仪的光模块发射端眼图调试方法。
背景技术：
在各种光模块的生产过程中，光模块发射端眼图调试需要配合眼图仪、误码仪、光功率计、光衰减器等专用设备，特别是眼图仪(dca,digitalcommunicationanalyzer,如agilent86100系列产品)，设备价格昂贵，且调试眼图占用设备时间长，造成测试成本高昂。
为了节省成本，目前行业内也有采用其它替代方法，大致分为两种：
1、在产品初测过程中，对光模块发射端眼图不进行具体调试，只是写入一个经验值，大致保证光模块发射端工作在一个正常状态即可。在对产品进行老化之后，在产品终测过程中再对光模块发射端眼图进行精确调整。这种方法在产品初调阶段不需要使用眼图仪，节省了产品的产品初调时间，但是，同时也带来了产品在老化期间处于不确定状态的风险，且增加了产品终测时间和复杂性，且给增加了产品品质控制的风险。
2、在产品初调过程中，首先调节激光器偏置，设定2(或多个)个直流工作点，通过对光模块发射端激光器liv(light-current-voltage)曲线进行扫描拟合，之后再通过计算得到激光器的调制电流和偏置电流数值，从而设定光模块发射端眼图，这种方法较第一种方法有了很大的改善，已经可以做到不需要眼图仪即可进行眼图调试的目的。但是因为这种方法需要使用光模块内部的单片机(mcu)或者主芯片内部自带的控制器内部的电流源和adc采样等设备，而这些片上设备的精度通常较差，所以拟合出来的激光器liv曲线精度也较差，从而影响最后眼图调整的效果；另外，这种方法需要对激光器进行至少2点的测试之后再拟合出大致的liv曲线，需要花费较长的测试时间。
技术实现要素：
针对现有技术的不足，本发明旨在提供一种无需眼图仪的光模块发射端眼图调试方法。
为了实现上述目的，本发明采用的技术方案如下：
一种无需眼图仪的光模块发射端眼图调试方法，包括如下步骤：
s1、在光器件生产过程中，都需要使用专业的liv测试对光器件的liv曲线进行测量，作为光器件的出货性能指标。在本步骤中，将光模块中各个光器件的liv曲线数据存储在服务器数据库中，各个光模块的liv曲线数据与各个光模块的外部条码一一对应；
s2、在光模块初测过程中，首先扫描光模块各个光器件的条形码，在所述服务器数据库中查找并且调入对应光器件的liv曲线数据，在对应的liv曲线数据上查找最佳眼图对应的调制电流和偏置电流，根据需要设定好调制电流和偏置电流数值，从而得到需要的光模块发射端眼图。
进一步地，步骤s2中，在自动增益控制模式下，偏置电流用对应的背光电流值数字代替。
本发明的有益效果在于，测试方法简单、测试时间短，测试成本低，通用型较强。
具体实施方式
以下将对本发明作进一步的描述，需要说明的是，本实施例以本技术方案为前提，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本发明的保护范围并不限于本实施例。
一种无需眼图仪的光模块发射端眼图调试方法，包括如下步骤：
s1、在光器件生产过程中，都需要使用专业的liv测试对光器件的liv曲线进行测量，作为光器件的出货性能指标。在本步骤中，将光模块中各个光器件的liv曲线数据存储在服务器数据库中，各个光模块的liv曲线数据与各个光模块的外部条码一一对应。
一般地，liv曲线数据中包括激光器ith(阈值电流)、调制电流、偏置电流、所有电流工作点对应的光功率值、背光电流值等数据信息。
s2、在光模块初测过程中，首先扫描光模块各个光器件的条形码，在所述服务器数据库中查找并且调入对应光器件的liv曲线数据，在对应的liv曲线数据上查找最佳眼图对应的调制电流和偏置电流，设定好调制电流和偏置电流数值，从而得到需要的光模块发射端眼图。
进一步地，步骤s2中，在自动增益控制模式下，偏置电流用对应的背光电流值数字代替。
对于本领域的技术人员来说，可以根据以上的技术方案和构思，作出各种相应的改变和变形，而所有的这些改变和变形都应该包括在本发明权利要求的保护范围之内。
1.一种无需眼图仪的光模块发射端眼图调试方法，其特征在于，包括如下步骤：
s1、将光模块中各个光器件的liv曲线数据存储在服务器数据库中，各个光模块的liv曲线数据与各个光模块的外部条码一一对应；
s2、在光模块初测过程中，首先扫描光模块各个光器件的条形码，在所述服务器数据库中查找并且调入对应光器件的liv曲线数据，在对应的liv曲线数据上查找最佳眼图对应的调制电流和偏置电流，根据需要设定好调制电流和偏置电流数值，从而得到需要的光模块发射端眼图。
2.根据权利要求1所述的无需眼图仪的光模块发射端眼图调试方法，其特征在于，步骤s2中，在自动增益控制模式下，偏置电流用对应的背光电流值数字代替。