1.一种cis芯片动态坏点处理方法，该方法包括：
以一个像素点为中心形成矩阵像素阵列，该像素点为待检测是否为坏点的像素点，该像素点为g中心；
令gmax为矩阵中的所有像素点的像素中的最大值，gmin为矩阵中的所有像素点的像素中的最小值，gavg为矩阵中去除g中心、gmax和gmin外剩余点的平均值，gdif＝gmax-gmin；
判断g中心是否为坏点，若g中心>gavg+gdif或g中心<gavg+gdif，则g中心为坏点；
如g中心为坏点，如g中心为坏点，令g中心＝g矫正；
对图像中的其它的每一像素点都重复上述步骤进行处理。
2.根据权利要求1所述的cis芯片动态坏点处理方法，其特征在于：所述矩阵像素阵列为3*3像素阵列。
3.根据权利要求1所述的cis芯片动态坏点处理方法，其特征在于：所述矩阵像素阵列为5*5像素阵列。
4.根据权利要求1-3任一所述的cis芯片动态坏点处理方法，其特征在于：所述g矫正为去除g中心gmax、和gmin外剩余点进行数值大小排序后的中间两个点的均值。
5.一种cis芯片动态坏点处理系统，其特征在于该cis芯片动态坏点处理系统包括：
取点模块，以一个像素点为中心形成矩阵像素阵列，该像素点为待检测是否为坏点的像素点，该像素点为g中心；
计算模块，令gmax为矩阵中的所有像素点的像素中的最大值，gmin为矩阵中的所有像素点的像素中的最小值，gavg为矩阵中去除g中心、gmax和gmin外剩余点的平均值，gdif＝gmax-gmin；
坏点判断模块，判断g中心是否为坏点，若g中心>gavg+gdif或g中心<gavg+gdif，则g中心为坏点；
坏点处理模块，如g中心为坏点，令g中心＝g矫。
6.根据权利要求5所述的cis芯片动态坏点处理系统，其特征在于：所述g矫正为去除g中心gmax、和gmin外剩余点进行数值大小排序后的中间两个点的均值。