若同步相关指示的总个数N为奇数，将对所述待测数据进行采样的采样脉冲调整 到与所述待测数据的第（N+1)/2个采样位置的采样时钟同相位。
[0095] 本实施方式，可快速实现相位同步。
[0096] 待测数据为数字信号时，其最佳的采样位置为信号的中央位置。在初始同步时， 接收的采样脉冲（采样数据）和发送的待测数据的相位不一致，需要调整。在同步建立之 后，可能由于发送端或接收端移动，导致发射端和接收端相对位置发生改变，导致接收采样 脉冲和发送的待测数据的相位不一致。为了能让采样脉冲在接收的数字信号的中间位置对 信号采样，可通过多倍采样脉冲来采样数据，进行相位同步，同步后对采样脉冲进行相位调 整。对于N倍采样脉冲采到的同步码，理论上应该有N个相关指示产生，第N/2 (N为偶数） 或第N/2+l(N为偶数）或者（N+1)/2(N为奇数）个采样位置就是中间位置，也就是最佳采 样位置。将采样脉冲调整到和同步码该位置的采样时钟同相位即可完成相位的同步。
[0097] 请参阅图6,图6是本发明的同步信息检测系统第一实施方式的结构示意图。
[0098] 本实施方式的所述同步信息检测系统，可包括采样模块100、读取模块200、异或 模块300、统计模块400和指示模块500,其中：
[0099] 采样模块100,用于根据采样时钟对待测数据进行采样生成第一采样数据，并存储 所述第一采样数据。
[0100] 读取模块200,用于依次以预存的同步码的各码间距离为位置间隔，每隔一个位置 间隔从相应存储位置读取存储的第二采样数据，所述码间距离为所述预存的同步码相邻两 段相关码间的距离。
[0101] 异或模块300,用于将各个所述第二采样数据分别与所述预存的同步码进行异或 运算生成分别与各相应存储位置对应的异或结果。
[0102] 统计模块400,用于分别获取各异或结果中用于标识所述第二采样数据与所述预 存的同步码间不同比特的标识信息的数目总和，生成分别与各相应存储位置对应的不同比 特数。
[0103] 指示模块500,用于分别判断与各相应存储位置对应的不同比特数与预设错误比 特容限是否匹配，若匹配，则分别对应各相应存储位置生成相应的同步相关指示。
[0104] 本实施方式，以预存的同步码的各相邻两段相关码间的距离为位置间隔从相应存 储位置读取存储的第二采样数据；将各个所述第二采样数据分别与所述预存的同步码进行 异或运算生成分别与各相应存储位置对应的异或结果；分别获取各异或结果中用于标识所 述第二采样数据与所述预存的同步码间不同比特的标识信息的数目总和，生成分别与各相 应存储位置对应的不同比特数；在不同比特数与预设错误比特容限匹配时生成相应的同步 相关指示。通过预存的同步码的各相邻两段相关码间的距离可快速精确地检测出待测数据 与分布在时域中任意位置的多段同步码的同步相关性。
[0105] 其中，对于采样模块100,所述采样时钟优选地可根据待测数据的信号长度或信号 周期进行预设。可在所述采样时钟的上升沿对所述待测数据进行采样。
[0106] 对于读取模块200,所述预存的同步码可为多段同步码，还可为单段同步码。多段 同步码的各段相关码可为相同种类的同步码，也可为不同种类的同步码。
[0107] 优选地，在预存同步码时，可每次预存一种同步码，每次检测待测数据与一种同步 码间的同步相关性。可分多次预存多种同步码，相应的分多次分别检测待测数据与多种同 步码间的同步相关性。
[0108] 优选地，各码间距离分别为按先后排列次序依次获取的所述预存的同步码的各相 邻两段相关码间的距离。在读取第二采样数据时，按先后排列次序，选取两段相邻相关码间 的距离为位置距离，读取采样数据，相邻两次读取的第二采样数据的存储位置的位置间隔 依次为各码间距离。
[0109] 进一步地，在读取第二采样数据时，从当前最新存储的数据的存储地址开始读取， 然后按先后排列次序，选取两段相邻相关码间的距离为位置距离，读取采样数据。
[0110] 在一个实施例中，读取模块200可在距离存储所述采样数据的存储时间的两个系 统时钟周期后，依次以预存的同步码的各码间距离为位置间隔，每隔一个位置间隔从相应 存储位置读取存储的第二采样数据。
[0111] 其中，两个系统时钟周期后，第一采样数据在存储位置存储稳定，每一个第一采样 数据从被采样到第一次被用来进行异或运算最多只消耗了 4个系统时钟。
[0112] 对于异或模块300,可通过各个异或运算设备将各个所述第二采样数据分别与所 述预存的同步码进行异或运算生成分别与各相应存储位置对应的异或结果，一个异或运算 设备对一个所述第二采样数据与所述预存的同步码进行异或运算。
[0113] 在一个实施例中，异或模块300还可用于：
[0114] 将各个所述第二采样数据分别缓存到不同的移位寄存器，其中，所述移位寄存器 以所述预存的同步码的最大长度为列数，以对所述待测数据进行采样的采样速率为行数， 构建移位寄存矩阵。
[0115] 分别将从各移位寄存器的输出端输出的数据与所述预存的同步码进行异或运算 生成分别与各相应存储位置对应的异或结果。
[0116] 优选地，所述移位寄存器的移位寄存矩阵如图2所示，每次进行异或运算，移位寄 存器的输出端输出一行数据，便于监控异或运算。
[0117] 对于统计模块400,优选地，用于标识所述第二采样数据与所述预存的同步码间不 同比特的标识信息可为异或运算结果中的数字1。
[0118] 优选地，统计模块400还可用于统计帧同步信息，所述帧同步信息用于表示所述 待测数据与所述预存的同步码的相关特性以及信道的质量。
[0119] 进一步地，生成的不同比特数所对应的存储位置为所述不同比特数所标识的第二 采样位置的存储位置。
[0120] 在一个实施例中，统计模块400还可用于：
[0121] 通过流水线技术将与每个相应存储位置对应的异或结果划分为四组异或结果。
[0122] 分别从四组异或结果中查询用于标识所述第二采样数据与所述预存的同步码间 不同比特的标识信息。
[0123] 将从四组异或结果查询的不同比特的标识信息的数目相加，生成与所述相应存储 位置对应的不同比特数。
[0124] 本实施例，可适应更高速的系统时钟，满足更高的时序要求。
[0125] 优选地，所述流水线技术的原理如图3所示。
[0126] 对于指示模块500,所述同步相关指示包括正相关指示和反相关指示，用于表示采 集的待测数据与所述预存的同步码间的同步相关性。
[0127] 优选地，所述预设错误比特容限为所述第二采样数据与所述预设的同步码间存在 相关性时所允许出现的不同比特的数目的最大值。若不同比特数在所述预设错误比特容限 内，则不同比特数与预设错误比特容限匹配。
[0128] 以下所述是本发明的同步信息检测系统的第二实施方式。
[0129] 本实施方式的所述同步信息检测系统与第一实施方式的区别在于：指示模块400 还可进一步用于：
[0130] 比较与每个相应存储位置对应的不同比特数是否小于所述预设错误比特容限。
[0131] 若小于，则对应所述相应存储位置生成相应的同步正相关指示。
[0132] 若不小于，则将所述预存的同步码的长度减去与所述相应存储位置对应的不同比 特数，生成差值。
[0133] 比较所述差值是否小于所述预设错误比特容限。
[0134] 若小于，则对应所述相应存储位置生成相应的同步反相关指示。
[0135] 本实施方式，可快速生成相应的相关指示。
[0136] 优选地，所述预存的同步码的长度减去与所述相应存储位置对应的不同比特数， 为从所述相应存储位置读取的第二采样数据与所述预存的同步码间相同比特的数目。
[0137] 请参阅图7,图7是本发明的同步信息检测系统的第三实施方式的结构示意图。
[0138] 本实施方式的所述同步信息检测系统与第二实施方式的区别在于：还包括相关判 断模块600,用于：
[0139] 判断连续K个采样时钟采样的采样数据中是否存在M个相应存储位置对应的同步 相关指