用，该测试系统的测试方法步骤如下:初始化遮挡开关装置，使其处于遮挡或避开通光孔状态;根据遮挡开关装置的状态，测试系统对摄像头模组进行相应的暗环境或亮环境测试;测试完成后，向遮挡开关装置的线圈供应相反方向的电流，使得遮挡开关装置切换至避开或遮挡通光孔状态;根据遮挡开关装置的状态，测试系统对摄像头模组进行相应的亮环境或暗环境测试。
[0019]所述测试系统包括测试模块、处理模块和用于摄像头模组测试的测试用具。其中，如图1所示，所述用于摄像头模组测试的测试用具包括基板1、设置在基板1上的通光孔
2和遮挡开关装置3，该遮挡开关装置3用于遮挡或避开所述通光孔2，以实现摄像头模组的亮环境和暗环境测试环境的自动切换功能。所述遮挡开关装置3包括开关承载板31、开关挡板32、圆形磁铁33、拨杆36和线圈34;所述开关承载板31固定安装在所述顶盖上，用于承载所述遮挡开关装置3的零部件;所述开关挡板32固定在所述拨杆36上，所述拨杆36固定在所述圆形磁铁33上;所述圆形磁铁33通过定位柱35设置在所述开关承载板31，所述线圈34位于所述圆形磁铁33的上方一侧，所述线圈34通电后产生磁场驱动该圆形磁铁33绕该定位柱35旋转，经所述拨杆36带动所述开关挡板32运动以遮挡或避开所述通光孔2，实现亮环境和暗环境状态的切换。所述遮挡开关装置3还包括位于所述圆形磁铁33侧边的铁块37、与线圈34电连接的驱动装置;所述铁块37用于维持圆形磁铁33的稳定状态;所述驱动装置优选但不限定为D/A驱动芯片，用于向线圈34提供不同方向的电流，以驱动圆形磁铁33运动。
[0020]所述处理模块分别与测试模块及驱动装置连接，所述处理模块用于输出控制指令至所述测试模块和驱动装置，以及接收所述测试模块和驱动装置反馈的状态信号，并显示在与处理模块连接的显示屏上。所述测试模块用于对摄像头模组在亮环境和/或暗环境下进行测试，其为现有技术，在此不再赘述。所述驱动装置与遮挡开关装置的线圈电连接，用于接收所述处理模块发送的控制指令，并输出相应的电流至所述线圈。
[0021]所述测试系统的测试方法，具体包括以下步骤:将待测试摄像头模组镜头对应测试用具上的通光孔;初始化遮挡开关装置，使遮挡开关装置处于遮挡或避开通光孔状态，即经驱动装置向线圈供应一电流，线圈根据电流产生磁场，驱动圆形磁铁绕定位柱旋转，经拨杆带动开关挡板旋转以遮挡或避开通光孔，驱动装置停止电流输出，反馈状态信号至处理模块;根据当前遮挡开关装置的状态，处理模块发出测试的控制指令至测试模块，测试模块对待测试摄像头模组进行暗环境或亮环境测试，测试完成后，反馈测试完成状态信号至处理模块;判断是否需要进行另一种环境测试，若否，则停机;若是，处理模块发送驱动开关的控制指令至驱动装置，驱动装置向遮挡开关装置的线圈供应相反方向的电流，使得遮挡开关装置切换为避开或遮挡通光孔状态，即通过驱动装置向遮挡开关装置的线圈供应相反方向的电流，产生相反的力，驱动圆形磁铁绕定位柱旋转，经所述拨杆带动所述开关挡板运动以避开所述通光孔，实现亮环境和暗环境状态的切换，驱动装置停止电流输出，反馈状态信号至处理模块;根据当前遮挡开关装置的状态，处理模块发出测试的控制指令至测试模块，测试模块对待测试摄像头模组进行暗环境或亮环境测试，测试完成后，反馈测试完成状态信号至处理模块。所述处理模块发送测试模块反馈的测试结果至显示屏，在显示屏上显示测试结果。
[0022]需要说明的是，在所述测试系统中，除了使用所述测试用具外，还包括其他测试所需的其他零部件，但这些零部件均为现有技术，在此不再赘述。
[0023]使用了所述测试用具的摄像头模组的测试系统，可到达完全自动化测试，减少操作流程，且提高工作效率，同时不影响测试效果，降低生产成本，具有良好的经济效益。
[0024]以上所述实施例仅表达了本发明的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制，但凡采用等同替换或等效变换的形式所获得的技术方案，均应落在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.用于摄像头模组测试的测试用具，其特征在于，包括基板、设置在基板上的通光孔和遮挡开关装置，该遮挡开关装置用于遮挡或避开所述通光孔;所述遮挡开关装置包括开关承载板、开关挡板、圆形磁铁和线圈；所述圆形磁铁通过定位柱设置在所述开关承载板，所述线圈位于所述圆形磁铁的上方，所述开关挡板通过拨杆与所述圆形磁铁连接，所述线圈用于驱动该圆形磁铁绕该定位柱旋转，带动所述开关挡板运动以遮挡或避开所述通光孔。2.根据权利要求1所述的用于摄像头模组测试的测试用具，其特征在于，所述遮挡开关装置还包括位于所述圆形磁铁侧边的铁块。3.根据权利要求1所述的用于摄像头模组测试的测试用具，其特征在于，所述遮挡开关装置还包括驱动装置，其与所述线圈电连接，用于向线圈提供不同方向的电流，以驱动圆形磁铁运动。4.根据权利要求1所述的用于摄像头模组测试的测试用具，其特征在于，还包括与基板相对设置的底板，其具有容纳摄像头模组的定位凹槽。5.—种如权利要求1所述的用于摄像头模组测试的测试用具在摄像头模组测试系统的应用。6.—种使用如权利要求1所述的用于摄像头模组测试的测试用具的测试方法，其包括如下步骤:初始化遮挡开关装置，使其处于遮挡或避开通光孔状态;根据遮挡开关装置的状态，测试系统对摄像头模组进行相应的暗环境或亮环境测试;测试完成后，向遮挡开关装置的线圈供应相反方向的电流，使得遮挡开关装置切换至避开或遮挡通光孔状态;根据遮挡开关装置的状态，测试系统对摄像头模组进行相应的亮环境或暗环境测试。
【专利摘要】本发明公开了一种用于摄像头模组测试的测试用具，包括基板、设置在基板上的通光孔和遮挡开关装置，该遮挡开关装置用于遮挡或避开所述通光孔；所述遮挡开关装置包括开关承载板、开关挡板、圆形磁铁和线圈；所述圆形磁铁通过定位柱设置在所述开关承载板，所述线圈位于所述圆形磁铁的上方，所述开关挡板通过拨杆与所述圆形磁铁连接，所述线圈用于驱动该圆形磁铁绕该定位柱旋转，带动所述开关挡板运动以遮挡或避开所述通光孔。该用于摄像头模组测试的测试用具集成有遮挡开关装置，智能地遮挡镜头通光孔和避开镜头通光孔，实现影像亮环境测试和暗环境测试自动切换测试功能，提高生产效率，降低生产成本，且其结构简单、体积小，与目前调焦或测试等设备共用，增加其应用范围及使用效率，具有良好的经济效益。
【IPC分类】H04N17/00
【公开号】CN105472379
【申请号】CN201510942816
【发明人】高艳朋, 李建华
【申请人】信利光电股份有限公司
【公开日】2016年4月6日
【申请日】2015年12月16日