2m数字电路的多功能环回测试器的制造方法
【技术领域】
[0001 ]本发明涉及2M数字电路的环回测试技术领域。
【背景技术】
[0002]2M数字电路是承载光纤传输骨干网进行信息传送的全透明电路通道，是光纤通信系统中应用最为广泛的基准电路，因此对于2M数字电路的维护、故障处理极为重要，而2M环回测试手段正是2M数字电路的维护、故障处理的最常用、最重要的手段。
[0003]传统的2M数字电路的环回测试一般采用音频跳线，这种方法主要存在以下问题:
[0004]1、物理接触不紧固，经常发生虚接情况，影响测试效果和对故障的判断。
[0005]2、环回操作时间长，一般需要2-3分钟才能完成，影响对2M数字电路故障处理的判断时间。
[0006]3、音频跳线较软，容易变形，由于操作不当，易造成内外芯短路，损坏2M接口板。
【发明内容】
[0007]本发明是为了解决对2M数字电路的环回测试时器件接触不牢固、环回操作时间长和容易发生内外芯短路的问题，从而提供2M数字电路的多功能环回测试器。
[0008]2M数字电路的多功能环回测试器，包括2M同轴电缆和2N个2M数字连接头，2M同轴电缆包括N根2M同轴电缆芯线和2M同轴电缆外皮，N根2M同轴电缆芯线外均覆盖有屏蔽层，2M同轴电缆的中间部分覆盖2M同轴电缆外皮、两端呈裸露状态，N根2M同轴电缆芯线的两端分别连接2N个2M数字连接头，N为正整数。
[0009]本发明所述的2M数字电路的多功能环回测试器，包括2M同轴电缆和2N个2M数字连接头，2M同轴电缆包括N根2M同轴电缆芯线和2M同轴电缆外皮，N根2M同轴电缆芯线的两端分别连接2N个2M数字连接头，本发明所述的测试器物理接触牢固，不会发生虚接情况，环回操作时间短，只需10秒钟左右，测试效果和故障判断快速准确，不会发生内外芯短路，避免2M接口板损坏的情况。
【附图说明】
[0010]图1是【具体实施方式】一所述的2M数字电路的多功能环回测试器的结构示意图。
【具体实施方式】
[0011]【具体实施方式】一:参照图1具体说明本实施方式，本实施方式所述的2M数字电路的多功能环回测试器，包括2M同轴电缆和2N个2M数字连接头3，2M同轴电缆包括N根2M同轴电缆芯线I和2M同轴电缆外皮2，N根2M同轴电缆芯线I外均覆盖有屏蔽层，2M同轴电缆的中间部分覆盖2M同轴电缆外皮2、两端呈裸露状态，N根2M同轴电缆芯线的两端分别连接2N个2M数字连接头3，N为正整数。
[0012]【具体实施方式】二:本实施方式是对【具体实施方式】一所述的2M数字电路的多功能环回测试器作进一步说明，本实施方式中4为4。
[0013]【具体实施方式】三:本实施方式是对【具体实施方式】二所述的2M数字电路的多功能环回测试器作进一步说明，本实施方式中，4根2M同轴电缆芯线I的一端分别连接L9型号、CC4型号、BNC型号和LEG型号的2M数字连接头3，4根2M同轴电缆芯线I的另一端分别对应连接L9型号、CC4型号、BNC型号、LEG型号的2M数字连接头3。
[0014]现有2M数字电路中的2M数字连接头3的型号通常为L9型号、CC4型号、BNC型号或LEG型号，本实施方式采用上述型号的2M数字连接头3可以与现有电路更好的配合，方便使用。
[0015]【具体实施方式】四:本实施方式是对【具体实施方式】一、二或三所述的2M数字电路的多功能环回测试器作进一步说明，本实施方式中，2M同轴电缆芯线I与2N个2M数字连接头3的连接方式为焊接。
[0016]制作步骤:
[0017]1、将2M同轴电缆去掉2M同轴电缆外皮2，切割2M同轴电缆芯线1，将2M同轴电缆芯线I的两端与屏蔽层分离。
[0018]2、将L9型号、CC4型号、BNC型号、LEG型号的2M数字连接头3进行焊接。
[0019]3、进行联通测试。
【主权项】
1.2M数字电路的多功能环回测试器，其特征在于，包括2M同轴电缆和2N个2M数字连接头(3)，2M同轴电缆包括N根2M同轴电缆芯线(I)和2M同轴电缆外皮(2)，N根2M同轴电缆芯线(I)外均覆盖有屏蔽层，2M同轴电缆的中间部分覆盖2M同轴电缆外皮(2)、两端呈裸露状态，N根2M同轴电缆芯线的两端分别连接2N个2M数字连接头(3)，N为正整数。2.根据权利要求1所述的2M数字电路的多功能环回测试器，其特征在于，N为4。3.根据权利要求2所述的2M数字电路的多功能环回测试器，其特征在于，4根2M同轴电缆芯线(I)的一端分别连接L9型号、CC4型号、BNC型号和LEG型号的2M数字连接头(3)，4根2M同轴电缆芯线(I)的另一端分别对应连接L9型号、CC4型号、BNC型号、LEG型号的2M数字连接头⑶。4.根据权利要求1、2或3所述的2M数字电路的多功能环回测试器，其特征在于，2M同轴电缆芯线(I)与2M数字连接头(3)的连接方式为焊接。
【专利摘要】2M数字电路的多功能环回测试器，涉及2M数字电路的环回测试技术领域。为了解决对2M数字电路的环回测试时器件接触不牢固、环回操作时间长和容易发生内外芯短路的问题，该测试器包括2M同轴电缆和2N个2M数字连接头，N根2M同轴电缆芯线的两端分别连接2N个2M数字连接头，本发明所述的测试器物理接触牢固，不会发生虚接情况，环回操作时间短，只需10秒钟左右，测试效果和故障判断快速准确，不会发生内外芯短路，避免2M接口板损坏的情况。适用于环回测试2M数字电路。
【IPC分类】G01R31/02, H04B10/073
【公开号】CN105515647
【申请号】CN201510849532
【发明人】王义春, 刘长银, 李荣春, 李维, 赵俊涛, 韩力杰, 于波, 侯艳权, 姚越, 赵晨宇
【申请人】国家电网公司, 国网黑龙江省电力有限公司七台河供电公司
【公开日】2016年4月20日
【申请日】2015年11月27日