上IQ 调制器的正交调制误差、频谱仪的测量误差等因素，可能会导致一次IQ调制器本振泄漏校 准后校准精度指标不能满足要求，此时可迭代执行上述测量过程，提高本振泄漏校准精度。 迭代使用本校准方法时，每次测得I路和Q路直流偏置误差后，就将对应的直流偏置误差补 偿进IQ调制器，而后启动下一轮校准过程，并将测得的直流偏置误差量再次累加补偿进IQ 调制器;按照上述迭代校准过程，经过2至3次的校准过程后，即可达到理想状态。
[0086] 利用本振泄漏校准装置进行本振泄漏校准的方法二，采用迭代的模式进行校准， 该校准过程和非迭代模式下的校准流程十分接近，不再寶述;下面对方法二的主要步骤进 行说明，其包括W下步骤：
[0087] T1、为IQ调制器供电、提供本振信号激励，使IQ调制器正常工作；
[0088] T2、将IQ调制器的I路和Q路的直流偏置设置为最大值Imax,再利用频谱仪测量IQ调 制器的射频输出信号的电平Al;
[0089] T3、将IQ调制器的I路和Q路的直流偏置补偿值为0,即Ip = O, Qp = O;
[0090] T4、将IQ调制器的I路直流偏置设置为Ip,将IQ调制器的Q路直流偏置设置为Qp,再 利用频谱仪测量IQ调制器的射频输出信号的电平A2;
[0091] T5、根据A2/A1的大小判断是否满足本振泄漏校准精度要求，如果A2/A1含预设的本 振泄漏精度要求R，则满足本振泄漏校准精度要求，退出迭代校准，本振泄漏校准结束;如果 A2/Ai>预设的本振泄漏精度要求R，则不满足本振泄漏校准精度要求，则进入步骤T6;
[0092] T6、将IQ调制器的I路直流偏置设置为Ip+Imax*A2/Ai，将IQ调制器的Q路直流偏置设 置为Qp,再利用频谱仪测量IQ调制器的射频输出信号的电平A3;
[0093] T7、将IQ调制器的I路直流偏置设置为Ip,将IQ调制器的Q路直流偏置设置为Qp+ Imax*A2/Al，再利用频谱仪测量IQ调制器的射频输出信号的电平A4;
[0094] T8、将IQ调制器的I路直流偏置设置为Ip-Imax*A2/Ai，将IQ调制器的Q路直流偏置设 置为Qp,再利用频谱仪测量IQ调制器的射频输出信号的电平As;
[00对 T9、根据公式（10)计算出IQ调制器的I路和Q路的直流偏置补偿值Ip、Qp，再返回步 骤T4;
[0097] 其中，Iadjust= Imax*A2/Al。
[0098] 尽管上面对本发明说明性的【具体实施方式】进行了描述，W便于本技术领域的技术 人员理解本发明，但应该清楚，本发明不限于【具体实施方式】的范围，对本技术领域的普通技 术人员来讲，只要各种变化在所附的权利要求限定和确定的本发明的精神和范围内，运些 变化是显而易见的，一切利用本发明构思的发明创造均在保护之列。
【主权项】
1. 一种面向IQ调制器的快速本振泄漏校准装置，其特征在于，包括:一射频信号源、一 频谱仪和一待校准的IQ调制器;其中，IQ调制器内置有可分别补偿I路和Q路直流偏置误差 的直流偏置误差补偿DAC; 其中，所述的射频信号源接IQ调制器本振信号输入端口，所述的频谱仪接IQ调制器的 射频信号输出端口； 通过改变射频信号源输出信号的频率和幅，为IQ调制器提供本振信号，通过控制IQ调 制器内置的I路和Q路直流偏置误差补偿DAC，五次改变IQ调制器I路和Q路直流偏置电平，再 利用频谱仪测量不同直流偏置条件下IQ调制器输出射频信号电平幅度大小，利用I路和Q路 直流偏置电平和输出射频信号电平幅度大小间的关系构建方程组并求解，得到IQ调制器I 路和Q路直流偏置误差补偿值Ip和Qp，而后通过控制IQ调制器内置的I路和Q路直流偏置误差 补偿DAC分别设置I路和Q路直流偏置电平为Ip和Qp，从而降低或消除IQ调制器的本振泄漏， 实现本振泄漏校准的目标。2. 利用权利要求1所述的快速本振泄漏校准装置进行本振泄漏校准的方法，其特征在 于，包括W下步骤： (1) 、将IQ调制器的I路和Q路的直流偏置设置为最大值Imax，再利用频谱仪测量IQ调制 器的射频输出信号的电平Ai; (2) 、将IQ调制器的I路和Q路的直流偏置设置为0,再利用频谱仪测量IQ调制器的射频 输出信号的电平A2; (3) 、将IQ调制器的I路直流偏置设置为Imax*A2/Ai，将IQ调制器的Q路直流偏置设置为0， 再利用频谱仪测量IQ调制器的射频输出信号的电平A3; (4) 、将IQ调制器的I路直流偏置设置为为0,将IQ调制器的Q路直流偏置设置为Imax*A2/ Ai，再利用频谱仪测量IQ调制器的射频输出信号的电平A4; (5) 、将IQ调制器的I路直流偏置设置为-Imax*A2/Ai，将IQ调制器的I路直流偏置设置为 0,再利用频谱仪测量IQ调制器的射频输出信号的电平As; (6) 、根据公式(1)计算出IQ调制器的I路和Q路的直流偏置补偿值Ip、Qp;(1) 其中，lad扣st=Imax*A2/Al; (7) 、将IQ调制器的I路直流偏置设置为Ip，将IQ调制器的Q路直流偏置设置为Qp，再次利 用频谱仪测量IQ调制器的射频输出信号的电平A6,再将电平A6与电平Ai的比值作为本振泄 漏校准精度。3. 利用权利要求1所述的快速本振泄漏校准装置进行本振泄漏校准的方法，其特征在 于，该校准方法还可W迭代使用，其步骤如下： (1)、将IQ调制器的I路和Q路的直流偏置设置为最大值Imax，再利用频谱仪测量IQ调制 器的射频输出信号的电平Ai; (2) 、将IQ调制器的I路和Q路的直流偏置补偿值为ο，即Ip = ο，Qp = ο; (3) 、将IQ调制器的I路直流偏置设置为Ιρ，将IQ调制器的Q路直流偏置设置为Qp，再利用 频谱仪测量IQ调制器的射频输出信号的电平A2; (4) 、根据A2/A1的大小判断是否满足本振泄漏校准精度要求，如果A2/Ai<预设的本振泄 漏精度要求R，则满足本振泄漏校准精度要求，退出迭代校准，本振泄漏校准结束;如果A2/A1 >预设的本振泄漏精度要求R，则不满足本振泄漏校准精度要求，则进入步骤(5); (5) 、将IQ调制器的Q路直流偏置设置为IpWmax*A2/Ai，将IQ调制器的Q路直流偏置设置 为Qp，再利用频谱仪测量IQ调制器的射频输出信号的电平A3; (6) 、将IQ调制器的I路直流偏置设置为Ip,将IQ调制器的Q路直流偏置设置为QpWmax* A2/A1，再利用频谱仪测量IQ调制器的射频输出信号的电平A4; (7) 、将IQ调制器的I路直流偏置设置为Ip-Imax*A2/Ai，将IQ调制器的Q路直流偏置设置 为Qp，再利用频谱仪测量IQ调制器的射频输出信号的电平As; (8) 、根据公式（2)计算出IQ调制器的I路和Q路的直流偏置补偿值Ip、Qp，再返回步骤(3); (2) 其中，lad扣st=Imax*A2/Al。4. 根据权利要求1所述的快速本振泄漏校准装置，其特征在于，所述的IQ调制器还可W 采用外置I路和Q路直流偏置误差补偿DAC分别产生I路和Q路直流偏置补偿电平，并通过外 置I路和Q路输入到IQ调制器，再按照控制内置直流偏置补偿DAC的相同方法和步骤，实现IQ 调制器I路和Q路直流偏置误差补偿量的计算和校准。5. 根据权利要求1所述的快速本振泄漏校准装置，其特征在于，所述的射频信号源和频 谱仪间采用共时基方式。
【专利摘要】本发明公开了一种面向IQ调制器的快速本振泄漏校准装置，通过射频信号源提供本振信号，使用频谱仪测量IQ调制器输出本振泄漏信号幅度大小；在实际的操作时，将射频信号源射频信号输出端接IQ调制器本振信号输入端，将频谱仪接IQ调制器射频信号输出端口，通过控制IQ调制器，使其五次改变内置I路和Q路的直流偏置补偿DAC的输出电平，再通过计算得到IQ调制器I路和Q路的直流偏置误差补偿值，进一步完成对IQ调制器的本振泄漏的校准。
【IPC分类】H04L25/06, H04B17/11
【公开号】CN105577594
【申请号】CN201510927488
【发明人】白新跃, 何建
【申请人】电子科技大学
【公开日】2016年5月11日
【申请日】2015年12月14日