替换该坏点；
[0075]针对最大行或者最大列的像素P(i，j)的坏点的校正过程，其包括:
[0076]请继续参阅图2，若某一个坏点P(i，j)为R像素，则采用(P(1-2，j-2)+P(i，j-2) +P(1-2，j) )/3替换该坏点；
[0077]请继续参阅图3，若某一个坏点P(i，j)为B像素，则采用(P(1-2，j-2)+P(i，j-2) +P(1-2，j) )/3替换该坏点；
[0078]请继续参阅图4，若某一个坏点P(i，j)为G像素，则采用(P( i_l，j-1 )+P( 1-2，j )+P(i，j-2) )/3替换该坏点。
[0079]虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然所述实施例仅为了便于说明而举例而已，并非用以限定本发明，本领域的技术人员在不脱离本发明精神和范围的前提下可作若干的更动与润饰，本发明所主张的保护范围应以权利要求书所述为准。
【主权项】
1.一种图像处理中坏点去除的方法，其特征在于，包括: 步骤Ol:采集一张全黑的raw图像； 步骤02:确认所述raw图像中的坏点； 步骤03:对坏点进行校正，采用与该坏点相邻最近的同一颜色的非坏点像素来替换该坏点； 其中， 步骤02中，针对第一行、第二行、第一列和第二列中每一行或每一列中的所有单号像素和双号像素分别设定像素阈值，并且比较单号像素的值或双号像素的值与所设定的相应像素阈值的大小，当单号像素的值或双号像素的值大于所设定的相应像素阈值时，则该单号像素或双号像素为坏点；从第三行和第三列开始，针对每一个像素设定像素阈值，并且比较每一个像素的值与所设定的相应像素阈值的大小，当某个像素的值大于所设定的相应像素阈值时，则该像素为坏点； 并且，从第三行和第三列开始，针对每一个坏点的确认和校正交替进行。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，针对所述单号像素的坏点确认包括: 步骤0201:设定一个阈值系数，分别计算出第一行、第二行、第一列和第二列中每一行或每一列中所有单号像素的中值； 步骤0202:将所述中值和所述阈值系数的乘积作为所述单号像素的像素阈值； 步骤0203:比较所述单号像素的值与所述单号像素的像素阈值，当所述单号像素的值大于所述单号像素的像素阈值时，则该单号像素为所述每一行或每一列的坏点； 针对所述双号像素的坏点确认包括: 步骤0204:设定一个阈值系数，分别计算出第一行、第二行、第一列和第二列中每一行或每一列中所有双号像素的中值； 步骤0205:将所述中值和所述阈值系数的乘积作为所述双号像素的像素阈值； 步骤0206:比较所述双号像素的值与所述双号像素的像素阈值，当所述双号像素的值大于所述双号像素的像素阈值时，则该双号像素为所述每一行或每一列的坏点。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述单号像素的中值或所述双号像素的中值的计算包括:将第一行、第二行、第一列和第二列中的每一行的像素值求平均值或每一列的像素值求平均值。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，从第三行和第三列开始，针对每一个坏点的确认和校正交替进行的过程中，针对坏点的确认过程具体包括: 若某一个像素P( i，j)为R像素，则设定一个阈值系数，该像素的像素阈值为该阈值系数乘以(P(1-2，j-2)+P(i，j-2)+P(i+2，j-2)+P(1-2，j))/4;比较该像素的值与该像素的像素阈值，当该像素的值大于该像素的像素阈值时，则该像素为坏点； 若某一个像素P( i，j)为B像素，则设定一个阈值系数，该像素的像素阈值为该阈值系数乘以(P(1-2，j-2)+P(i，j-2)+P(i+2，j-2)+P(1-2，j))/4;比较该像素的值与该像素的像素阈值，当该像素的值大于该像素的像素阈值时，则该像素为坏点； 若某一个像素P( i，j)为G像素，则设定一个阈值系数，该像素的像素阈值为该阈值系数乘以(P (1-1，j -1) +P (i+1，j -1)) /2;比较该像素的值与该像素的像素阈值，当该像素的值大于该像素的像素阈值时，则该像素为坏点。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，从第三行和第三列开始，针对每一个坏点的确认和校正交替进行的过程中，针对坏点的确认过程还包括:针对最大行或者最大列的像素P( i，j)的坏点确认方法包括: 若某一像素P(i，j)为R像素，则设定一个阈值系数，该像素的像素阈值为该阈值系数乘以(P(1-2，j-2) +P(i，j-2) +P(1-2，j))/3;比较该像素的值与该像素的像素阈值，当该像素的值大于该像素的像素阈值时，则该像素为坏点； 若某一像素P(i，j)为B像素，则设定一个阈值系数，该像素的像素阈值为该阈值系数乘以(P(1-2，j-2) +P(i，j-2) +P(1-2，j))/3;比较该像素的值与该像素的像素阈值，当该像素的值大于该像素的像素阈值时，则该像素为坏点； 若某一像素P(i，j)为G像素，则设定一个阈值系数，该像素的像素阈值为该阈值系数乘以(P(1-1，j-1) +P(1-2，j) +P(i，j-2))/3;比较该像素的值与该像素的像素阈值，当该像素的值大于该像素的像素阈值时，则该像素为坏点。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述阈值系数为I?2.5。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤03包括: 针对第一行和第二行的校正过程包括:若坏点所在单号像素PU，j)是独立的，即p(1-2，j)、P(i+2，j)不为坏点，则令P(i，j) = (P( i_2，j)+P( i+2，j) )/2;若坏点所在的单号像素P(i，j)是连在一起的，即P( i，j)、P( i+2，j)都为坏点，则令P( i，j) =P(1-2，j)，P(i+2，j) = (P(i，j )+P( i+4，j) )/2;若坏点所在双号像素P( i，j)是独立的，即P( 1-2，j)、P( i+2，j)不为坏点，则令P( i，j) = (P( 1-2，j )+P( i+2，j) )/2;若坏点所在的双号像素P( i，j)是连在一起的，即？(1，]_)，？(1+2，]_)都为坏点，则令?(1，]_)=?(1-2」)，？(1+2」)=(?(1，]_)+卩(1+4」))/2; 针对第一列和第二列的校正过程包括:若坏点所在单号像素P(i_4，j+4)是独立的，SPP(1-4，」+2)、？(卜4，」+6)不为坏点，则令？(1-4，」+4) = (?(1-4，」+2)+?(1-4，」+6))/2;若坏点所在的单号像素P(i_4，j+4)是连在一起的，S卩P(1-4，j+4)与P(1-4，j+2)都为坏点，则令P(1-4，j+2)=P(1-4，j)，P(1-4，j+4) = (P(1-4，j+2)+P(1-4，j+6))/2;若坏点所在双号像素 P(卜4，]_+4)是独立的，8口？(1-4，]_+2)、？(卜4，]_+6)不为坏点，则令？(卜4，]_+4)=(卩(1-4，]_+2)+卩(1-4，」+6))/2;若坏点所在的双号像素？(1-4，」+4)是连在一起的，8吒(1-4，」+4)与？(1-4，」+2)都为坏点，则令？(卜4，」+2)=?(卜4，」)，？(卜4，」+4) = (?(卜4，」+2)+卩(卜4，」+6))/2。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，从第三行和第三列开始，针对每一个坏点的确认和校正交替进行的过程中，对坏点的校正过程具体包括: 若某一个坏点 PU，j)为R像素，则采用(P(i_2，j-2)+P(i，j-2)+P(i+2，j-2)+P(1-2，j ))/4来替换该坏点； 若某一个坏点 PU，j)为B像素，则采用(P(i_2，j-2)+P(i，j-2)+P(i+2，j-2)+P(1-2，j ))/4来替换该坏点； 若某一个坏点P(i，j)为G像素，则采用(P(1-l，j-l)+P(i_l，j+l))/2来替换该坏点。9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，从第三行和第三列开始，针对每一个坏点的确认和校正交替进行的过程中，对坏点的校正过程还包括:针对最大行或者最大列的像素P( i，j)的坏点的校正过程，其包括: 若某一个坏点P(i，j)为R像素，则采用(P(1-2，j-2)+P(i，j-2)+P(1-2，j))/3替换该坏占.^ \\Λ ， 若某一个坏点？(1」)为糾象素，则采用(？(1-2，」-2)+?(1，」-2)+?(1-2，」))/3替换该坏占.V“、， 若某一个坏点P(i，j)为G像素，则采用(P(1-l，j-l)+P(1-2，j)+P(i，j-2))/3替换该坏点。10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述全黑的raw图像为理论上整个图像的像素值为O的raw图像。
【专利摘要】本发明提供了一种图像处理中坏点去除的方法，包括：采集一张全黑的raw图像；确认raw图像中的坏点；对坏点进行校正，采用与该坏点相邻最近的同一颜色的非坏点像素来替换该坏点；其中，针对第一行、第二行、第一列和第二列中每一行或每一列中的所有单号像素和双号像素分别设定像素阈值，比较单号或双号像素的值与所设定的相应像素阈值的大小，当单号或双号像素的值大于所设定的相应像素阈值时，则该像素为坏点；从第三行和第三列开始，针对每一个像素设定像素阈值，并且比较每一个像素的值与所设定的相应像素阈值的大小，当某个像素的值大于所设定的相应像素阈值时，则该像素为坏点；从第三行和第三列开始，针对每一个坏点的确认和校正交替进行。
【IPC分类】H04N9/04, H04N5/367
【公开号】CN105704406
【申请号】CN201610070948
【发明人】李赟晟, 王勇, 王凯, 叶红磊
【申请人】上海集成电路研发中心有限公司
【公开日】2016年6月22日
【申请日】2016年2月1日